整机测试标准——
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2PCS
1)功能测试OK; 2)I/O口/充电器/耳机接口及pin 脚无起翘不良。磨损以正常插拔 不影响功能为合格;
1)功能测试OK,重点检验耳机功 能; 2PCS 2)USB塞插拔无过松、过紧、断 裂、掉漆不良;
3)I/O口无损坏;
检验电池/电池后盖的
电池/电池 装配寿命;
23 后盖插拔试 检验手机长期插拔电 模拟用户正常使用插拔电池/电池后盖1500次;
5 高温工作 6 低温工作
检验手机在高温环境 条件下使用的适应性
检验手机在低温环境 条件下使用的适应性
1)测试机装卡装电池开机。试验箱内任意2部机之间留有间隙; 2)使温度达到55±2℃,温度稳定后持续8时。取出后立即进行射频测试; 3)如有条件在温度箱内测试射频,则持续4小时后测试即可完成试验。
1)测试机装卡装电池开机。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2)使温度达到-25±2℃,温度稳定后持续8时,取出后立即进行射频测试 3)如有条件在温度箱内测试射频,则持续4小时后测试即可完成试验;
26
指示灯寿命 检验手机指示灯的寿
试验
命
将试验样机设置成指示灯长时间点亮状态,试验时间不少于120小时。断续点 亮状态试验可伴随按键寿命试验同时进行。每2小时检查LED点亮情况
27 响铃寿命试 检验手机Speak的寿命 将试验样机设置成长时间响铃状态,音量等级最大,试验时间不少于96小时。
验
每2小时检查响铃情况。
1)插sim卡TF卡,装电池开机; 2)自由跌落顺序:电池面—左侧面—右侧面—顶面—下面—镜片面—左上角 —左下角—右上角—右下角; 3)跌3个循环,每个循环检验1次功能、外观;全部跌完拆壳检验; 4)LCD>2.4寸跌落高度改为0.8M。
10
10cm重复跌
检验手机(器件)在 使用中产生轻度撞击
1)手机插卡开机,合翻盖/合滑盖待机; 2)自由跌落顺序:正面--反面
循环1000次开关操作;开机音乐、搜网完成则可以继续下一循环;
1)2PCS1组互拨1000次,主叫手机听到对方铃声,被呼叫手机来电铃响则可以 挂断; 2)移动—联通挂断500次,内网卡接通500次; 取手机RF接口或双工输出端,并与综测仪连接,调节综测仪广播控制信道的 BS/RX LEV,观察手机信号显示条,并使手机的信号显示条从高到低依此递 减,记录每格信号条时的手机接收电平,即可得出手机接收信号强度
2PCS 2PCS
1、功能、外观测试OK; 2、射频测试OK; 3、拆机检查是否有腐蚀;
1、LCD、摄像头不允许进尘; 2、功能正常(重点检查按键) 3、speaker、mic寿命合格; 4、射频指标合格; 5、拆机检查各进尘处,是否有失 效潜在可能;
9 1米跌落
检验手机由于粗率搬 运及用户使用中不小 心掉落导致跌落的适 应性
1、手机正常使用状态(各处塞子塞上,装电池开机),正反面及侧面分别朝
1、检验手机结构密闭 性; 2、灰尘侵入对手机功 能寿命的影响
上状态;(如侧面无塞子、侧键等则不做); 2、沙尘组成:300目滑石粉和石英砂的混合物,风速≤3m/s、灰尘浓度:风速 下可以被完全吹开,不会行成累积、温度25±2℃、持续时间4h; 3、试验结束后待待沙尘完全沉降后再取出样机,清理表面灰尘后检查;
样品数
2PCS 2PCS 2PCS
测试标准
1、功能、外观测试OK; 2、射频测试OK; 3、拆机检查结构OK;重点检查螺 母柱、结构组件强度;
1、功能、外观测试OK; 2、射频测试OK; 3、拆机检查结构OK;重点检查螺 母柱、结构组件强度; 1、功能、外观测试OK; 2、射频测试OK; 3、拆机检查结构OK;重点检查螺 母柱、结构组件强度;
测试
性,发现低复现率功
能隐患
32
循环拨号测 试
检验手机在发射、接 通时是否出现功能性 故障
33 接收信号强 测试手机接收微弱信
度测试
号的能力
将试验样机设置成长时间振动状态,试验时间不少于96小时。每2小时检查振 动情况
1)给手机充电,至纽扣电池完全充满电; 2)核对时间,取下锂电,24小时后开机核对时间;要求误差≤5秒; 3)如误差≥2秒,核对时间,取下锂电,24小时后开机核对时间,看总是否误 差继续增加; 4)重复3)直到总误差不再增加则判OK或者累计≥5秒则判NG;
15 吊带孔耐力 检验吊带孔结构强度 试验
寿命测试
1、手机插卡插电池开机; 2)按5转/分钟的频率,50cm高度,做旋转500转。第300/400/450/500转检验 。 3)每次检验外观和功能;第500次进行射频检验、拆机检验结构。
1)带电池不开机,放入-25℃的试验箱内放置2小时; 2)取出后检验功能、外观,进行1米跌落试验; 3)LCD>2.4寸跌落高度改为0.8M。 1)测试机插卡装电池待机状态; 2)垂直方向以25kg的力对手机正面及左侧面或右侧面(根据结构选)挤压 1000次;频率为30次/分; 1)测试机装卡装电池待机状态; 2)上下两端侧各夹住15mm,对其施加相应的扭矩(手机在关机状态下承受的 数值为手机厚度的0.08倍,厚度单位为mm,力度最大不超过2N.m,最小不小于 0.5N.m,顺逆扭曲交错500次,频率为30次/分; 拉住吊绳的尾端,静力5kg,持续10秒,然后再以每秒2圈的速度甩动60次(吊 绳穿上后长度10-15cm)
耳机和充电器二合一则寿命≥3000次;如不共用,则耳机插拔寿命寿命≥2000
寿命
用寿命
次;充电器插拔寿命≥2000次;
2PCS
2PCS 2PCS 2PCS
1)手机功能正常,未复现掉电故 障10万次以内不允许出现,总次 数≤1次; 2)按键外观表面颜色及字符应无 磨损、脱落;导电胶未有裂纹/破 损; 3)测试按键接地阻抗正常; 4)拆机检查dome片无裂纹、按键 板铜箔周围绿油是否有掉,铜箔 周 1)围表器面件无是损否伤有;松脱。 2)直线性,划线经过无飞线、偏 移; 3)端间电阻试验后与实验前比较 △R≤±10欧; 4)触屏校准1-2次后点击、划线 无 1)偏表位面、无飞损线伤等;不良。 2)直线性,划线经过无飞线、偏 移; 3)端间电阻试验后与实验前比较 △R≤±10欧; 4)触屏校准1-2次后点击、划线 无偏位、飞线等不良; 不允许机壳掉漆、手写笔内管与 外管变形、笔头断、漏润滑油、 插入壁管内松、紧等不良现象;
4)对掉电等故障记录出现次数,开机后可继续测试;
1)测试插装电池开机;
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触摸屏点击 检验手机触摸屏的使
测试
用寿命
2)用尖端R0.8的POM笔,加载250g力,每秒2次点击用户正常使用触摸屏,点 笔可触及的区域,进行100万次;
1)测试插装电池开机;
19
触摸屏划线 检验手机触摸屏的使
测试
用寿命
2)用尖端R0.8的POM笔,加载250g力,每秒1次在用户正常使用触摸屏点笔可 触及的区域,进行10万次划线测试。
4 恒定湿热
检验手机在恒定湿热 环境条件下使用的适 应性
1)测试机装sim卡装电池开机,按工作位置(翻盖/滑盖要打开)放进试验 箱,任意2部机之间留有间隙。 2)在温度达到70±2℃,湿度达到90%—95%,稳定后持续48小时; 3)试验后,在正常大气条件下放置2h。
2PCS
1、功能、外观测试OK; 2、射频测试OK; 3、拆机检查结构OK;重点检查螺 母柱、结构组件强度;
验
池对相关器件的影
响;
24
SIM卡/TF卡 检验SIM卡/TF卡结构 插拔寿命 稳定性
1)插拔SIM卡/TF卡500次;每100次开机检验功能OK; 2)测试完成后做1米跌落、10cm重复跌落不应出现掉卡不量;
25
背光点亮寿 检验手机背光灯的寿
Fra Baidu bibliotek
命试验
命
将试验样机设置成EL背光长时间点亮状态,试验时间不少于48小时。断续点亮 状态试验可伴随翻盖寿命试验同时进行。每2小时检查EL背光显示情况
2PCS
1、射频测试OK; 2、功能测试OK;
2PCS
通过基本功能测试;外观和结构 正常
7 盐雾试验 8 沙尘试验 机械测试
检验手机产品抗盐雾 腐蚀的能力
1)样机不包装、装上配套的电池放入盐雾箱内,在20-35℃,pH值在6.5-7.2 之间,浓度为5.0±1%氯化钠盐溶液下喷雾24H。 2)取出样机,清水擦拭后烘干,进行试验后检查。
3)中间位置1部,左或者右位置1部;
20
点笔插拔测 试
检验点笔的使用寿命
1)对手写笔与手机进行外观检查并进行配合检查。 2)将手写笔插入手机壁管再拔出,插拔为一次;速率:30次/分钟,试验次 数:3000次
检验手机长期插拔充
1)测试插装电池开机; 2)垂直方向插拔充电器/耳机/数据线插头,检查手机软件是否有连接/拔出提
2 高温存储 3 热冲击
检验手机在高温环境 条件下贮存的适应性
检验手机经受环境温 度迅速变化的能力
1) 测试机不包装、不带电池 。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2)试验箱内温度按≤3℃/min的速率达到70±2℃开始计时,持续48小时。 3)放置2h,检查被测样机;
1) 测试机不包装、不带电池 。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2)高温为70℃,稳定温度保持时间0.5h;低温为-30℃,稳定温度保持时间 0.5h;转换时间≤5分钟;循环次数为12次共12小时。 3)试验后,在正常大气条件下放置2h。
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I/O充电口 插拔试验
电器对相关器件的影 响 检验充电器、耳机、 数据线与手机的匹配
示。 3)每500次检验手机功能,最后500次每100次检验功能; 4)耳机和充电器二合一则寿命≥3000次;如不共用,则耳机插拔寿命寿命≥ 2000次;充电器插拔寿命≥2000次;
22
USB塞插拔
检验USB塞与手机I/O 口的配合及USB塞的使
1)测试机插卡装电池开机;
2)以50~60次/分的速度、3.5N的力度均匀地按键(按压点为按键中心位
17
检验手机按键(按键 按键寿命试 弹片)的使用寿命及
置),按下、松开为一次,寿命≥12万次,独立的开关机键及侧键按压5万 次;
验
按键对周围器件的影 响
3)每2万次进行基本功能测试,外观测试注意按键弹性弱、无弹性不良;试验 结束开壳检查内部结构;
落试验
的适应性
3)按15次/分的速率跌落在刚性表面上,每个面跌落3000次; 4)每个循环检验功能、外观;最后增加射频检验和拆机检验。
11 滚筒跌落
确定手机频繁跌落到 硬表面时,经受重复 跌落的适应性
12 低温跌落试 低温下跌落的可靠性 验
13 挤压试验 检验手机的抗压性能
14 扭曲试验
验证手机的抗扭力能 力
2PCS
2PCS 2PCS 2PCS 2PCS 2PCS 2PCS
4PCS
1、功能、外观测试OK; 2、射频测试OK; 3、对接地点阻止测量; 4、拆机检查结构OK;重点检查螺 母柱、小元器件; 1、功能、外观测试OK;注意掉卡 不良; 2、射频测试OK; 3、对接地点阻止测量; 4、拆机检查结构OK;重点检查螺 母柱、小元器件;
整机测试标准
试验室环境:温度15—35℃,相对湿度:45%—75%RH,大气压力:86—106KPa
环境测试
序号 测试项目
测试目的
测试方法
1 低温存储
检验手机在低温环境 条件下贮存的适应性
1) 测试机不包装、不带电池 。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2)试验箱内温度按≤3℃/min的速率达到-40±2℃开始计时,持续48小时。 3)放置2h,检查被测样机;
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受话器寿命 检验手机受话器的寿
试验
命
被测样机使用入网卡彼此通话,另用声源对准每个试验手机的咪头孔,检验受 话寿命,试验时间不少于96小时。每2小时检查通话情况
29
马达振动寿 命试验
检验手机马达的寿命
电性能测试
30
GSM手机时 钟维持试验
检验手机内部时钟在 没有外部电源情况下 的维持能力
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循环开关机 检验手机功能稳定
功能、外观测试OK;需拆机检查 结构;
功能、外观测试OK;需拆机检查 结构;
功能、外观OK,需要拆机检查
功能、结构OK,需要拆机检查
无断裂、裂纹
1)翻(滑)盖寿命≤12W万次判 NG,超过10万次则限期改善,超 差使用; 2)外观和结构正常,无裂纹/破 损;无异常响声;10万次后允许 打开时有阻滞感,打开后整个翻 (滑)盖组件可有轻微晃动; 3)功能测试OK。
验证机壳材料、FPC、
1)测试机插卡装电池开机; 2)以25~30次/分的速度翻动翻盖,来回为一次,要求翻(滑)盖达到最大活
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翻(滑)盖 转轴的寿命,以及翻 寿命试验 (滑)盖组件结构的
配合寿命
动位置,寿命≥12万次; 3)每2小时进行基本功能测试,记录外观结构损伤地方和功能异常项目,试验 结束开壳检查内部结构;