C题 多功能晶体管测试仪
QT2晶体管测试仪.
仪器型号仪器名称 QT2 晶体管测试仪上海科梯达电子科技有限公司文件编号版本 QG/ESM04-2011-04-008 页码 8/6 KTD 操作指导书 A/0 被测管2012/05/22 生效日期二极管测试其主要的原理即使仪器提供一个被测管需要的正反二个方向的电压，并且通过 Y 电流/度及 X 电压/度的选择，使其在示波管上显示所要的测量值。
本仪器提供了二种测试手段，当反压小于 500V 电流小于 5mA 时，可在上述的三极管测试中，利用 C、E 二极进行正向和反向测试，当反压小于 500V 电流小于 5mA 时，可在专用的二极管测试插孔中进行测试。
在小于500V 二极管测试中电压极性也由测试选择开关进行转换，当置于“NPN”档二极管特性测试示波器取样电阻示波管操级时，其集电极插孔为正电压，置于“PNP”档级时，集电极插孔为负电压。
而在 3000V 二极管测试中其极性不变，可以通过二极管的测量端的变换达到极性的转换。
二极管的测试方法： 1. 通过二砐管的测试盒与仪器二极管测试孔相连，在特殊的情况下也可用合适的耐高作 B 8-1 B 8-2 图 B8-1 调压变压器 B8-2 高压变压器压线与插孔相连，被测管按面板所示的二极管极性与测试孔相连。
2. 3. 将集电极输出电压琴键按至 3000V 档级，此时并将峰值电压逆时针方向旋转至零。
示将 Y 电流/度置于 IB 范围内的合适档级，并将X 电压/度置于 UD 范围内的合适档级。
图(6 4．按入“测试”按钮，并徐徐缓慢升高峰值电压直至要求值或二极管击穿电流超过规定值的电压时止。
5．由于高压测试插孔中具有高压，因此在按入“测试”按钮时，切勿接确测试插孔的任一端。
变更履历标记日期编制审核备注：核准审核编制仪器型号仪器名称 QT2 晶体管测试仪上海科梯达电子科技有限公司文件编号版本 QG/ESM04-2011-04-008 功耗限制电阻页码 8/7 KTD 操作指导书 A/0 2012/05/22 生效日期场效应管的测试可根据需要对漏源电流(IDS，最大漏源电流(IDSM饱和漏源电流被测管示波管放大器 (IDSS夹断电压(VP跨导(ｇＭ，最大电源电压(BVDS等参数进行测试。
多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料
多功能晶体管测试仪使用说明V2.01120150301 1、功能介绍1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、电感等，可测电容ESR(非在线测量)等功能。
1.2、简易信号发生器(方波)：最高4MHz, 频率可调非连续输出，如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。
单键调整输出稍麻烦一点，但可满足一般性使用。
输出信号电压：4.5V 串680欧电阻。
本功能状态下不自动关机，也不能手动关机，1.3、A频率计：0-3.8Mhz，输入信号电压2.5-5V.，分辨率1Hz。
可定制为7.6MHz高分辨率模式，0.1hz-130Khz 分辨率0.001hz, 100hz以下1-10秒，在测频状态下单击，屏幕上显示“Hi”，切换为高分辨率模式，超过130Khz自动切回正常模式。
已校准过B高精度频率计，16Hz-100Mhz.，输入信号电压2.5-5V，分辨率16Hz。
高分辨率模式，2hz-2.1Mhz 分辨率0.02hz, 1.6K以下1-10秒，在100M状态下单击，切换为高分辨率模式，屏幕上显示“Hi”，超过2.1M自动切回正常模式。
已校准过C高精度频率计，1024Hz-2.4Ghz.，输入信号电压30mV，分辨率1024Hz。
可用于对讲机发射频率测试。
高分辨率模式，102hz-137Mhz 分辨率1hz, 100K以下1-10秒，在2.4G状态下单击，切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”，超过137M自动切回正常模式。
由于易受干扰500K 以下不能很好测量。
非完全测试,2.4G没条件测试，500MHz测试ok。
已校准过,2.4G 灵敏度高，有时不接输入信号也会有输出，易受到干扰。
信号输入线宜用屏蔽线。
可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号，并且双击切换档位，显示2.4G 或100M ABC为三选一功能1.4、可在线ESR: 测量时接入 1 3 口， 0.01-20欧，分辨率为0.01欧姆，且同时测量容量;精度不高但用来判断电容的好坏是没问题的。
晶体管测试仪简介
开始/测试按键SMD 器件测试座电容放电电阻外接表笔座DC 电源接口LCD 显示屏开始/测试按键小元件放置区插件元件测试座一. 产品概述本仪表是一款针对于电子爱好者、开发者、电子维修及生产工厂研发的小仪器。
可测直插式器件,也可测试贴片器件，可测各种二极管、三极管、可控硅、MOS管；能判断器件类型、引脚的极性、输出HFE、阀电压，场效应管的结电容，可测电容和电阻等。
二. 注意事项● 在测试电容前,请务必先进行放电,否则有可能损坏仪表。
● 使用适配器供电时，请使用DC 9V -12V(含9V,12V)电压范围的适配器。
● 本仪表不会对电池进行充电，当电池电量低于6V 时,请更换电池。
三. 技术指标电阻：0Ω-50MΩ 分辨率： 0.01Ω电容：25pF-100mF 分辨率：1pF电感：0.01mH-20H 分辨率：0.01mH 测量电容ESR 的分辨率: 0.01Ω四. 使用方法a. 按“开机/测试”可以实现开机和一次测试的功能，多次测量可重复按此键；测完后20秒无操作自动关机。
b. 本仪表提供贴片、插件和外置表笔三种测量方式，每种方式的1，2，3脚都是相同的对应关系。
c. 放置器件无需区分管脚顺序，测量完成后屏幕会显每个管脚对应的器件功能。
d. 仪表背面印有电解电容对应的ESR 典型值参照表，该表仅供参考，请以各生产厂家公布的数据为准。
五. 校准短接1，2，3 测试点，按“开机/测试”按键，屏幕提示是否进入校准，在2秒内此按“开机/测试”按键确认，进入校准。
之后屏幕提示断开1，2，3测试点，断开后继续，直到提示校准结束。
POWER/TEST SMD Devices Socket Capacitor Discharge Resistor Probe SocketDC IN LCD Screen POWER/TESTSmall Devices Container Plug-in Devices Socket1. Product DescriptionThis Meter is a small tool design for Engineer, Electronic Maintenance and Factory. It’s very easy to test plug-in and SMD devices, also can test different kinds of Diodes, Triodes, Thyristors, MOSFET; able to analysis the device type, the polarity of the pin, the output HFE, the valve voltage, the junction capacitance of the FET.2. Cautions● Before testing the capacitor, be sure to discharge it, otherwise it may damage the internal circuit.● If using DC supply , please choose DC 9V -12V adapter(including 9V and 12V).● When the battery power is under 6V, please replace a new one .3. Measuring parametersResistor : 0Ω-50MΩ Resolution : 0.01ΩCapacitor: 25pF-100mF Resolution : 1pF Inductor: 0.01mH-20H Resolution : 0.01mH Capacitor ESR measuring resolution : 0.01Ω4. Instructionsa. Push "POWER/TEST" to power on and start a test, multiple measurements can be repeated by this key; auto power off 20 seconds after measurement.b. Provide three kinds of socket, each socket pin1, pin2 and pin3 are connected.c. There 's a table "Typical ESR value of Electrolytic Capacitor" at the back, it’s for guide only, these are typical value for standard grade Electrolytic capacitor at room temperature.5. CalibrationShort the test pin 1,2,3 together, and push "POWER/TEST" button, then the screen prompts to enter Calibration, push the button again whin 2 seconds to confirm. Few seconds latter the screen prompts to release pin 1,2,3, release them and wait for calibration finish.晶体管测试仪大屏幕128*64点阵屏倾斜设计大视角左右按键大体积，操作简便方便左手或右手操作多种供电方式电池：9V（6F22，万用表电池)DC供电：9~12V贴片测试支持多种不同的封装的SMD器件：贴片电感，电容SMA，SMB，SMC，TO-252，SOT23，SOP8, 0603,0805，1206等插件测试弹片式插座支持各种2或3脚插件类器件电解电容放电电解电容测试前需先放电内部提供1K /1W 的放电电阻，最大支持2000uF/50V电容可外接探头提供外部探头插座：支持万用表笔支持鳄鱼夹支持电容测试夹ESR阻值表附电解电容ESR值参考表方便用户判断电容是否合格此表参数仅供参考，不同厂家生产的电容，ESR值可能不一样。
多功能晶体管测试仪毕设论文
摘要晶体管的出现在电子器件的历史上具有划时代的意义，在当今社会的重要性更是不容忽略，它实际上是所有现代电器的关键活动元件。
因而研究测量其参数的测试仪器的具有重大的意义。
在分析传统XJ4810 型晶体管特性图示仪的电路结构和功能实现的基础上，结合模拟和数字电子技术的特点，确立了整个系统构成。
本系统以凌阳16位单片机SPCE061A 为核心，其内部集成了两路10位DA和7通道的AD，用一路DA输出作为压控电压源的输入端，压控电压源的输出端作为集电极电压的控制端；另一路DA则作为压控恒流源的输入端，压控恒流源的输出端则作为基极的电流控制端。
用其中的两路AD分别采样基极和集电极电压，采样结果送CPU处理后再送液晶显示器显示。
系统采用的液晶显示器是LCM12664ZK点阵图形液晶模块，显示效果好。
系统软件采用C语言在凌阳单片机集成开发环境μ’nSP™ IDE 2.0.0上编程，利用模块化的程序设计方法编写系统各模块程序，使整个系统性能稳定，易于扩展。
本系统的压控恒流源和压控电压源都是采用运放构成，电路简单，精度能满足设计要求。
经测定恒流源的输出范围为±100uA，误差为±0.5uA；电压源的输出范围±10V, 误差为±0.02V。
本测试系统目前能够完成三极管管型和极性判别、输入、输出特性曲线、放大倍数等参数以及二极管一些参数的测定。
它具有功能稳定，精确度较高，易于功能扩展等特点。
关键词：SPCE061A；LCM12864ZK；晶体管参数；压控恒流源；压控电压源AbstractThe appearance of transistor has an epochal impact on the history of electronic element, and its significance could not ignore as the active component of all most of electronic devices. So, taking a research on the transistor tester for measuring its parameter has great importance.Based on the analysis of general configuration and working principle the tradition instrument XJ4810, combined with the analog and digital electronic technology, we ascertain the system’s structure. This system bases on SPCE061A, which contains two DAC and seven ADC, one DAC is used as the input of VCVS(V oltage Controlled V oltage Source), which output is used to control the voltage of collector. The other DAC is used as the input of VCCS(V oltage Controlled Current Source), which output is used to control the current of base. The two of seven ADC are used to sample the voltage of collector and base respectively, and the result is send to the display after processing of processor. This system used LCM12864ZK as the display, which has nice display effect. This system software is developed on Integrated Development Environment μ’nSP™ 2.0.0 using C langue, and we utilize the modularization method of program design to make the system stable function and to be pronged to other function.This system’s VCCS and VCVS are both compose of amplifier. The circuit is simple, and the precision can meet the demands of design. The result of experiments proves that the range of output current of VCCS is from -100uA to +100uA, the error is ±2.0uA and the range of output voltage of VCVS is from -10V to +10V, and the error is ±0.05V.The system can measure the type and polarity, the input characteristic curve, the output characteristic curve, and amplification of transistor parameter and diodes. It has the stable function and high accuracy. It is easy to be expanded its function.Key words：SPCE061A;LCM12864ZK;Transistor Parameter ;VCCS;VCVS目录引言 (1)1 设计任务及要求 (1)2 设计方案比较与论证 (1)2.1 系统构架比较 (2)2.2 显示方案比较 (2)2.3 受控源 (3)2.3.1受控源选择 (3)2.3.2电流源 (4)2.3.3电压源 (4)2.4 调理模块 (5)3 硬件电路设计 (5)3.1 凌阳16位单片机SPCE061A简介 (5)3.1.1SPCE061A单片机概述 (5)3.1.2内部结构简要说明 (6)3.1.3“61A”板介绍 (7)3.2 测量电路的设计 (8)3.3 压控恒流源电路 (9)3.4 压控电压源电路 (11)3.5 电压调理电路 (12)3.6 键盘和LCD显示电路 (13)4 系统软件设计 (14)4.1 系统软件设计概述 (14)4.2 端口分配 (16)4.3 液晶模块程序编写 (16)4.3.1LCM12864ZK介绍 (16)4.3.2基础驱动程序编写 (17)4.3.3用户API 功能函数编写 (18)4.4 功能模块编程 (20)4.4.1管型和极性的判别 (20)4.4.2直流放大倍数的测量 (21)4.4.3输入特性曲线测量 (22)4.4.4输出特性曲线测量 (23)4.4.5其它功能扩展 (24)5 系统调试及测定 (25)5.1 硬件调试方法及过程 (25)5.1.1调试仪器 (25)5.1.2调试过程 (25)5.2 软件调试及标定 (25)5.2.1恒流源测定 (25)5.2.2压控电压源的测定 (27)5.2.3AD电压采样的测定 (29)6 结果测量及分析 (30)6.1 测试仪器 (30)6.2 测试数据及分析 (30)6.2.1管型判别 (30)6.2.2放大倍数的测量 (30)6.2.3输入特性曲线的测量 (31)6.2.4输出特性曲线的测量 (32)7 总结 (33)谢辞 (34)参考文献 (35)附录 (36)引言50 年代起，电子器件出现了重大的突破，晶体管逐渐代替了电子管器件，使电子工业由电子管时代迈向晶体管时代，这是一次阶段性的飞跃。
晶体管测试仪使用说明
晶体管测试仪使用说明输入电压：直流6.8V-12V工作电流30mA左右，输入7.5V直流电压时实测●晶体管测试仪控制测试仪由一个旋转编码器开关控制，旋转编码器开关一共可以有4种操作，短按、长按、左旋、右旋。
在关机状态下短按一次，就能打开电源，开始测试。
在一次测试完成后，如果没有检测到器件。
长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单，进入功能菜单后，左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择，要进入某一个功能项，则短按一次开关。
当需要从某个功能里退出时，则长按开关。
●测试器件测试仪一共有3个测试点，TP1、TP2、TP3。
这三个测试点在测试座里的分布如下：在测试座的右边是贴片元件的测试位置，上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3测试只有2个引脚的元件时，引脚不分测试顺序，2个引脚任意选择2个测试点，3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中，不分顺序。
经过测试后，测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点，并显示在屏幕上。
测试只有2个脚的元件时，如果使用的是TP1和TP3两个测试点，则测试完成后自动进入连续测试模式，这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件，不用再按开关。
如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试，则只测试一次。
要再一次测试则按一次开关。
测试电容器前，先给电容器放电，再插入测试座测量，否则有可能损坏测试仪的单片机。
●校准测试仪校准是用于消除自身元器件的误差，使得最后的测试结果更加精确。
校准分为快速校准和全功能校准。
快速校准的操作方法：用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接，然后按下测试按钮，同时注意观察屏幕。
屏幕颜色会变成黑底白字，在出现提示信息”Selftest mode..? ”后，按一下测试按钮，就进入到快速校准过程；如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后，2秒钟内没有按键，则进行一次正常的测试过程，最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。
晶体管在线测试仪原理
6.15 晶体管在线测试仪在维修家用电路时经常会对晶体三极管的好坏进行判别，特别是焊在电路板上的三极管，如果不焊开引脚，则判别好坏比较困难，如果用本节介绍的小仪器便可使该问题迎刃而解。
1、电路原理晶体管在线测试仪电路如图所示，测试仪主要由对称方波发生器、反向器、测试电路等部分组成。
对称方波发生器由555时基电路A2和阻容元件R3、C1构成，A2第三脚输出的方波频率f=0.722/R3*C1≈4.6Hz。
反向器由555时基电路A1构成，它接成施密特触发器，A1的2、6两脚输入电平直接取自A2的第3脚，当输入低电平时，A1置位，第3脚输出高电平；当输入高电平时，A1复位，第3脚输出低电平，所以A1输出与A2输出始终保持反向。
A1与A2共同为仪器的测试部分提供极性定时改变的交变电源。
测试电路由三极管VT1、VT2、电位器RP1、RP2等组成的双向辅助电源与LED1、LED2极性相反的并联发光二极管构成的显示电路两部分构成。
合上电源开关S，仪器工作指示灯LED3长亮发光、LED1、LED2则交替发光。
若用鳄鱼夹将一只完好的NPN三极管按电路所示连接相应c、b、e插孔，由于被测管集电极c和发射极e之间存在饱和压降，负半周时，LED1、LED2均不发光，正半周时，通过R1提供基极偏流使被测管导通，LED2被旁路不发光而LED1发光；当待测的是PNP三极管时，情况正好相反，LED1被旁路不发光而LED2发光，从而可判断晶体管是PNP型还是NPN型。
如果被测管是坏管则有3种情况：①集电极与发射极间短路：此时c-e间无压降，发光管LED1、LED2被旁路，且是双向旁路均不发光；②集电极与发射极间开路：这时相当于电路未接入待测管，LED1、LED2都发光；③基极与集电极（或基极与发射极）存在短路或开路：它们都会使LED1、LED2、发光。
2、元器件选择LED1、LED2和LED3最好分别采用红色、绿色、和黄色3种不同颜色的发光二极管。
晶体管性能测试题及答案
晶体管性能测试题及答案一、单选题1. 晶体管的放大作用是通过改变哪个参数来实现的？A. 基极电流B. 发射极电流C. 集电极电流D. 漏极电流答案：A2. 在NPN型晶体管中，哪个区域掺杂浓度最高？A. 发射区B. 基区C. 集电区D. 所有区域掺杂浓度相同答案：A3. 晶体管的截止状态是指哪个区域的电流为零？A. 发射区B. 基区C. 集电区D. 所有区域电流都为零答案：B4. 晶体管的饱和状态是指哪个区域的电流最大？A. 发射区B. 基区C. 集电区D. 所有区域电流都最大答案：C5. 在晶体管中，哪个区域的掺杂浓度最低？A. 发射区B. 基区C. 集电区D. 所有区域掺杂浓度相同答案：B二、多选题6. 晶体管的三种工作状态包括哪些？A. 截止状态B. 放大状态C. 饱和状态D. 线性状态答案：A、B、C7. 影响晶体管性能的主要参数有哪些？A. 电流增益B. 功耗C. 频率响应D. 温度稳定性答案：A、B、C、D三、判断题8. 晶体管的放大作用是线性的。
答案：错误9. 晶体管的集电极电流是由基极电流控制的。
答案：正确10. 在晶体管的放大状态中，基极电流的变化会导致集电极电流成比例变化。
答案：正确四、简答题11. 简述晶体管的工作原理。
答案：晶体管的工作原理基于半导体材料的PN结特性。
在NPN型晶体管中，通过控制基极电流，可以控制集电极和发射极之间的电流，实现放大作用。
在BJT中，基极电流的微小变化可以引起集电极电流的较大变化，从而实现信号的放大。
12. 晶体管的截止状态和饱和状态有何不同？答案：晶体管的截止状态是指基极电流为零，导致集电极电流也为零的状态。
而饱和状态是指基极电流足够大，使得集电极电流达到最大值，此时晶体管的输出特性曲线接近于一条直线，输出电压接近于零。
结束语：以上是晶体管性能测试题及答案，希望能够帮助大家更好地理解和掌握晶体管的相关知识。
晶体管特性测试仪的使用
⑦峰值电压范围。通过集电极变压器的不同输出电压的选择而分为5V(5A)、50V(1A)、500V(0.1A)、3000V(2mA)4挡,在测试半导体器件时,应由低挡改换到高挡,在换挡时必须将“峰值电压%”调到0,再慢慢增加,否则易击穿被测管。
(2)Y轴部分
①电流/度开关。它是一种具有25挡、4种偏转作用的开关,是测量二极管反向漏电流及三极管集电极电流的量程开关。集电极电流共20挡(10μA/div～0.5A/div);二极管漏电流共5挡(0.2～5μA/div)。当开关置于“基极电流或基极源电压”位置时,可使屏幕Y轴代表基极电流或电压;当开关置于“外接”时,Y轴系统处于外接收状态,外接是由后面板插座直接输入到Y轴放大器,经放大后取得其偏转值。
下面介绍晶体管特性测试仪的应用举例。
(1)二极管正向特性的测量:下面以硅整流二极管1N4007为例,说明二极管正向特性曲线的测量方法。
测量时,将屏幕上的光点移至左下角,测试仪面板上的有关开关、按钮置于如下位置:
峰值电压范围:0～5V
极性பைடு நூலகம்正(+)
功耗电阻:2.5Ω
X轴:集电极电压0.1V/div
(2)三极管的测量:下面以NPN型三极管9011为例,说明三极管的ICVCE特性曲线的测量方法。测量时,将屏幕上的光点移至左下角,测试仪面板上的有关开关、按钮置于如下位置:峰值电压范围:0～20V,极性为正
功耗电阻:250Ω
X轴:集电极电压1V/div
Y轴:集电极电流1mA/div
阶梯信号:重复,极性为正
②Y轴移位。它可使被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动。
(3)X轴部分
晶体管直流参数测试仪DY294
晶体管直流参数测试仪DY294概述晶体管直流参数测试仪DY294是一款用于测试晶体管静态参数的仪器。
它可以测量晶体管的静态参数，如基极-发射极电压，基极-集电极电压，集电极-发射极电流等。
该仪器适用于电子工业、科研院所和高校教学实验室。
技术参数参数数值基极-发射极电压0~40V基极-集电极电压0~40V集电极-发射极电流0~100mA基极-发射极电流0~10mA电源电压AC220V±10%工作温度-10℃~+40℃相对湿度≤70%RH使用方法准备工作1.检查DY294的供电电压是否为AC220V±10%；2.检查DY294的工作温度是否在-10℃~+40℃之间；3.连接测量被测晶体管的电源和四根测试线。
测试线颜色测试线接口被测管脚编号黄色BASE1红色COLLECTOR2黑色EMITTER3绿色BATTERY-测试流程1.接通DY294的电源开关；2.调节TEST SELECTOR旋钮，使其与被测晶体管对应的参数相符（如测试NPN晶体管的集电极-发射极电流，则将TEST SELECTOR旋钮拨至ICE）；3.轻轻按下TEST未装置开关，测得被测晶体管的电参数。
注意事项1.测量前请先确认DY294的供电电压和被测晶体管型号是否相符；2.测量前请先确认DY294的工作温度是否在-10℃~+40℃之间；3.测量前请先确认被测晶体管是否已正确连接测试线；4.测量前请先确认DY294的TEST SELECTOR旋钮是否与被测晶体管对应的参数相符；5.测量时请轻轻按下TEST未装置开关，以保证测量结果的准确性；6.测量完毕，请关闭DY294的电源开关，并断开电源线和测试线。
总结晶体管直流参数测试仪DY294是一款用于测试晶体管静态参数的仪器。
该仪器具有测量范围宽，测量精度高，操作简单等优点，适用于电子工业、科研院所和高校教学实验室。
在测量前请注意DY294的供电电压和被测晶体管型号是否相符，以及DY294的工作温度是否在规定范围内，以保证测量结果的准确性。
晶体管测试仪使用方法
晶体管测试仪使用方法晶体管测试仪是一种用于检测和测试晶体管性能的仪器。
晶体管测试仪可以帮助我们了解晶体管的工作状态和参数，从而判断其是否正常工作，以及是否符合设计要求。
下面是晶体管测试仪的使用方法的详细介绍。
首先，使用晶体管测试仪之前，我们需要准备好所需的设备和材料。
除了晶体管测试仪本身外，还需要晶体管样品和连接晶体管的测试电路。
同时还需要一些测试引线和测试探头。
在使用晶体管测试仪之前，我们需要确保仪器和测试电路的电源已经连接好，并检查各个连接口和电源线是否牢固。
接下来，我们可以按照以下步骤来使用晶体管测试仪。
第一步是将待测的晶体管样品插入晶体管测试仪的测试插槽中。
在插入之前，需要先检查晶体管的引脚是否正确对应测试插槽的引脚。
插入晶体管后，要确保其引脚与测试插槽的引脚有良好的接触。
接下来，我们可以选择所需的测试模式和测量范围。
晶体管测试仪通常具有多种测试模式和测量范围可供选择，以适应不同类型和参数的晶体管。
通过仪器面板上的旋钮或按钮，我们可以选择所需的测试模式和测量范围，并通过仪器上的显示屏来查看测试结果。
在选择测试模式和测量范围之后，我们需要根据具体的测试要求和参数设置一些测试条件。
例如，我们可以设置测试的输入电压或电流的大小，以及测试的频率范围等。
这些测试条件可以通过仪器上的按钮或旋钮进行设置。
接下来，我们可以启动晶体管测试仪，并进行测试。
在测试过程中，我们需要仔细观察仪器上显示的测试结果，并记录下来。
同时，我们还可以通过仪器上的其他功能和参数来了解晶体管的更多信息，如输出功率、增益、频响等。
最后，在测试完成后，我们需要通过仪器上的按钮或旋钮来停止测试，并将测试结果进行保存和记录。
同时，还需要将晶体管从测试插槽中取出，并确保其他连接线和测试电路的电源已经关闭。
总结一下，晶体管测试仪是一种用于检测和测试晶体管性能的仪器。
在使用晶体管测试仪之前，我们需要准备好所需的设备和材料，并确保仪器和测试电路的电源已经连接好。
多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料
多功能晶体管测试仪使用说明V2.01120150301 1、功能介绍1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、电感等，可测电容ESR(非在线测量)等功能。
1.2、简易信号发生器(方波)：最高4MHz, 频率可调非连续输出，如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。
单键调整输出稍麻烦一点，但可满足一般性使用。
输出信号电压：4.5V 串680欧电阻。
本功能状态下不自动关机，也不能手动关机，1.3、A频率计：0-3.8Mhz，输入信号电压2.5-5V.，分辨率1Hz。
可定制为7.6MHz高分辨率模式，0.1hz-130Khz 分辨率0.001hz, 100hz以下1-10秒，在测频状态下单击，屏幕上显示“Hi”，切换为高分辨率模式，超过130Khz自动切回正常模式。
已校准过B高精度频率计，16Hz-100Mhz.，输入信号电压2.5-5V，分辨率16Hz。
高分辨率模式，2hz-2.1Mhz 分辨率0.02hz, 1.6K以下1-10秒，在100M状态下单击，切换为高分辨率模式，屏幕上显示“Hi”，超过2.1M自动切回正常模式。
已校准过C高精度频率计，1024Hz-2.4Ghz.，输入信号电压30mV，分辨率1024Hz。
可用于对讲机发射频率测试。
高分辨率模式，102hz-137Mhz 分辨率1hz, 100K以下1-10秒，在2.4G状态下单击，切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”，超过137M自动切回正常模式。
由于易受干扰500K 以下不能很好测量。
非完全测试,2.4G没条件测试，500MHz测试ok。
已校准过,2.4G 灵敏度高，有时不接输入信号也会有输出，易受到干扰。
信号输入线宜用屏蔽线。
可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号，并且双击切换档位，显示2.4G 或100M ABC为三选一功能1.4、可在线ESR: 测量时接入 1 3 口， 0.01-20欧，分辨率为0.01欧姆，且同时测量容量;精度不高但用来判断电容的好坏是没问题的。
晶体管测试仪原理
晶体管测试仪原理
晶体管测试仪是用于测试晶体管电性能的一种仪器。
它可以通过测量晶体管的电流放大倍数、漏极电流以及电流增益等指标来评估晶体管的工作状态和性能。
实现这些测试的原理主要包括以下几个方面。
首先，晶体管测试仪需要提供适当的电源电压和电流，以确保晶体管工作在正常的工作电压和电流范围内。
在测试时，晶体管通常会被连接到测试仪上，并通过适当的电路被驱动。
适当的电源电压和电流可以通过测试仪的控制面板或者控制程序进行设置。
其次，晶体管测试仪需要提供适当的测量电路来测量晶体管的电流放大倍数和漏极电流。
这通常通过建立一个特定的电路来实现，该电路包含了适当的电阻和电压测量装置。
在测试时，测量电路会将晶体管的输入信号和输出信号与适当的电阻相连，并通过电压测量装置来测量电阻上的电压。
根据欧姆定律和基尔霍夫定律，可以通过测量电压和电阻值来计算晶体管的电流放大倍数和漏极电流。
最后，晶体管测试仪可以通过适当的数据处理和显示装置来分析和显示测试结果。
数据处理通常涉及计算和记录测试结果，并将其显示在仪器的显示屏上。
这样，测试人员可以直观地了解晶体管的工作状态和性能。
总之，晶体管测试仪通过提供适当的电源和测量电路，以及数据处理和显示装置，可以实现对晶体管电性能的测量和评估。
这些测试的原理主要是基于电流和电压的测量，通过计算和分析来得出晶体管的工作参数。
仪器使用实验方法晶体管测试分析PPT教案
例如 ：
103 容量为10×103pF=10000pF，即0.01µF 104 容量为100000pF，即0.1µF。 332 容量为3300pF 473 容量为47000pF，即0.047 µF
注意 ： 例如 ：
第三位数如果是9，则倍乘数为10-1 。 229表示22× 10-1pF，即2. 2 pF 339表示33× 10-1pF，即3. 3 pF
5.电容器示例
0.22 63V
0.22µF
耐 压
103
容量
耐压 6V 100µF
负极
容量100 µF 正极
2.面积大的颜色所对管 脚为正
1.管脚长的为正
铝电解
负极标志
电容
CD25V 47µF
正极
负极
负极标记
实验目的
❖1、 了解常用的几种电子仪器的基本原理:电源、 示波器、 函数信号发生器、 交流毫伏表和半导体
(g) 隧道二极管
二极管正向特性曲线
横轴选取0.1V/div, 纵轴选取2mA/div 或5mA/div
确定坐标：被测参数/显示的格数
Y轴： X轴：
20mA / 10div 2mA / div
集电极电压：1)等级110vV/ 10div 0.1v / div
2）极性：﹢
3）峰压：0
4）功耗电阻：
仪器使用实验方法晶体管测试分析
会计学
1
实验安排
❖1、3.1 仪器使用 实验方法与晶体管测试 ❖2、3.2单级晶体管放大器 (4小时) ❖3、3.13 运算放大器 ❖ 4、3.6电压比较器 ❖ 5、3.7波形发生器 ❖6、3.18用EWB仿真模拟电路 (上机) ❖ 7、考试
成绩评定
多功能晶体管筛选仪操指引
拟定审核批准生效日期版次/状态文件编号版次号修订日期修订者A/1--受控QAWI-A-0311.测试前准备:根据被2.开启测试仪器(左边红色按钮),3.调用测试参数及测"DY-2993"时按调用输入正确则按"置数"键备注:H .U-最高电压 L.U-最H .F-最大的HFE L.F-最H .I-最大漏电流d .I-漏电流的变化量d .U-电压的变化量d .F-HFE的变化量变更履历的晶体管BCE脚对号插入测试底座,按下测试键,程序自动对晶体管进行详细测试.4.合格与不合格的判定:测试PASS,数码管显示FO ***.测试FAIL,数码显示不合格项目,且不合格灯亮起.操作流程■测试 ■点检 ■操作作业类别1.按下"0(Hfe)"键显示测试结果并进行记录,再按下显示键记录记录d.F值.1.(Vbe)、3(Vces)、5(Iceo)、7(Vcbo)2.按下"1(Vbe)"键显示测试结果并进行记录,再按下显示键记录记录d.F值.1.(Vbe)、3(Vces)、5(Iceo)、7(Vcbo)5项检测参数4.按下"5(Iceo)"键显示测试结果并进行记录,再按下显示键记录Sd值.PNP记录第四项"Icbo"5.按下"7(Vbeo)"键显示测试结果并进行记录,结果判定 2.将晶体管的"5(Vde)"测试结果进行比较,用最大值与最小值进行减法运算,其结果不能超出100mV.不符为FAIL1.将晶体管的"1(Vde)"测试结果进行比较,用最大与最小进行减法运算,其结果不能超出20mV。
若不符为FAIL注意事项 1.用万用表先识别晶体管BCE极,插入设备座对应插口;测试后按"调零"键复位.2.晶体管测试前先消除漏电流的影响,测试时严重用手触摸晶体管引脚及金属部分,以防电击,高压危险!!LOGO多功能晶体管筛选仪操作指引3.按下"3(Vces)"键显示测试结果并进行记录,仪器型号修改内容简述DY-2993测试仪电源开关晶体管引脚步插口显示窗口设置键和测试键页码：002。
电子仪器仪表检定实训教案晶体管特性测试仪
5、BVCEO测试(2)
30
第五节 测试方法及原理
四、PNP晶体三极管特性测试
PNP晶体管的测试方法与NPN晶体管的测试方法相似， 只需把晶体管的类型改为PNP，将X、Y以及阶梯信号极性 由“＋”改为“－”即可。
31
晶体管特性测试仪 succeed！
32
11
第四节 测试前的开机与调节
四、阶梯调零
12
第四节 测试前的开机与调节
五、电容性电流平衡
集电极电压调节从0慢慢加大至100%，调节电容平衡电位器 (R608,R601)使屏幕上Y向图形达到最小值即可。
13
第四节 测试前的开机与调节
六、集电极电压检查
14
第五节 测试方法及原理
一、晶体二极管伏安特性测试 1、原理
+
i
(Y)
V
r Vr
-
0
V (X)
i
将一个随时间作线性变化的锯齿波电压信号同时加于被测
二极管D和示波管的X轴偏转板上。 在二极管和锯齿电压之间串入一个电阻r，用r两端的电压
来表征二极管中的电流并将其加到示波管的Y轴偏转板上，则 示波管上光点的运动轨迹就可反映二极管的伏安特性。
15
第五节 测试方法及原理
21
第五节 测试方法及原理
三、NPN晶体三极管特性测试
2、hFE测试
hFE即：
Ic
Ib
22
第五节 测试方法及原理
三、NPN晶体三极管特性测试
3、输出特性曲线(1)
晶体管的共 射输出特性曲线 表示了以IB为参 考变量时，IC和 UCE间的关系。 即：
Ic f (UCE ) IB 常数
QT2晶体管测试仪
仪器型号QT2KTD 上海科梯达电子科技有限公司文件编号QG/ESM04-2011-04-008 页码仪器名称晶体管测试仪操作指导书版本A/0 8/1 生效日期2012/05/22注意事项使用仪器前必须注意以下项，以保证正确，安全的进行测试。
1 对被测管的主要进流参数的熟悉与了解，特别了解该被测管的集电极最大允许耗散功率P CM，集电极对其它极的最大反向击穿电压台BV CEO，BV CBO，BV CER，集电极最大允许电流I CM等主要指示。
2 在测试前首先将极性与被测管所需要的极性相同即选择PNP或NPN的开关置于规定位置，这样基本上确定了被测管的集电极电压极性，阶梯极性，以及测量象限。
3 将集电极电压输出按至其输出电压不应超过被测管允许的集电极电压，一般情况下将峰值电压旋至零，输出电压按至合适的档级，并将功耗限制电阻置于一定的阻值，同时将X、Y偏转开关置于合适的档级，此档级以不超过上述几个主要直流参为原则。
4 对被测管进行必要的估算，以选择合适的注入阶梯电流或电压，此估算的原则以不超过被测管的集电极最大允许耗损功率。
估算方法一般取被测管β为100级/族为10级此时在管子的承受功率P C＝Ιｂ×10级×β×V CE在发射极接地的情况下）P C≤P CM。
5.在进行I CM的测试时一般采用单次阶梯为宜，以免被测管的电流击穿。
6.在进行IC或ICM测试中应根据集电极电压的实际情况，不应超过本仪器规定的最大电流。
具体数据列表如下：电压档级10V 50V 100V 500V 5KV允许最大电流50A 10A 5A 0.5A 5mA在进行50A（10V）档级时当实际测试电流超过20 A时以脉冲阶梯为宜操作图示变更履历备注：核准审核编制标记日期编制审核图(1)说明：1、显示调节；2、X Y电流/度K2-13、级/秒，100%占空比，调零，级/族(从上而下)4、S选择，S电压，极性，NPN/PNP选择。
晶体管简易测试题(含答案)
答：将低电平加在灭灯输入
时，不管其它输
入为什么电平，所有输出端都为低电平，数码管都没
有显示。
4．如果将74LS147的I1、I2、I3、I4同时接地，数码管 将显示什么号码？
答：与
同为高电平时相同，具体见编码、
译码器一节的内容。
5．编码器的功能是什么？优先编码器有什么优点？
答： 见编码器一节的相关内容。
2．为什么用不同欧姆档测试同一只二极管的阻值会不 一样？
答：不同欧姆档，万用表的中心阻值不同，加到二极管 两端电压不等，而二极管是一个非线性器件（由其电 压电流特性可知），所以测出的阻值是有差异的。
3．“当分别测得三极管B-E、B-C间正反向电阻一小 一大，说明此三极管是好的”。此结论正确吗？为什 么？
的高频电磁波。参阅教材中“振荡电路”。 2．怎样调整电路，才能达到最佳效果？ 答： 参阅“制作步骤和方法”，并可用示波器观测扬声
器两端波形。
3.1 基本门电路
1．试写出教材中提到的各门电路的逻辑表达式并画出 其真值表。
答：参考教材中逻辑函数的表达方法和逻辑门电路等章 节的内容。
2．怎样用74LS00实现四输入端与门逻辑功能，试画出 其组成电路。
思考题 1．什么是整流？什么是滤波？ 答： 参阅教材整流、滤波相关内容。 2．滤波电容和负载电阻大小对输出波形有何影响？ 答：滤波电容的容量和负载电阻值越大，输出波形越平
坦，滤波效果越好。 3．仔细观察桥式整流电路电压输出波形，电压在零值
附近有无失真现象？为什么会有此现象？ 答：有失真现象。这是由于整流二极管有一个死区，加
3.5 计数器及其应用
思考题 1．什么是二进制计数器？计数器的模指的是什么？ 答：见计数器及其表示方法一节的内容。 2．计数器与分频器有何区别？ 答： 参考计数器应用实例的相关内容。 3．参考附录中有关计数器芯片，思考怎样利用
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C题多功能晶体管测试仪
一、任务
设计并制作一个多功能晶体管测试仪，实现三极管管型判断、放大倍数等参数的测量。
电源输入交流220V±10%、50Hz，其原理示意图如下所示。
二、要求
1、基本要求
（1）自动判别三极管管型（NPN或PNP）及bce极性；
（2）测量三极管直流放大倍数h FE；
（3）设计电流可调激励源，要求电流源输出范围包括100μA～10mA，精度达到或优于±1%。
2、发挥部分
（1）测量并绘制三极管输入特性曲线(V BE-i B)，同时显示3条以上曲线，标定清晰；
（2）测量并绘制三极管输出特性曲线(V CE-i C)，同时显示3条以上曲线，标定清晰；
（3）绘制稳压二极管反向击穿电压特性曲线，并正确识别标称电压；
（4）设计电压可调激励源，电压源输出范围包括0～10V，精度达到或优于±2%；
（5）其它。
三、说明
1、晶体管各项参数的测量条件和方式：
（1）三级管参照2N3904、2N3906文档（Philips /NXP公司）；
（2）稳压二极管参照IN4733A文档（Philips /NXP公司）；
2、电流源测试负载：1欧和200欧；
3、电压源测试负载：10欧和50欧。