立式光学仪实验报告doc

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实验一 用立式光学比较仪测量塞规

实验一  用立式光学比较仪测量塞规

实验一尺寸测量
实验1—1 用立式光学计测量轴径
一、实验目的
1、了解立式光学计的测量原理。

2、熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3、加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容
l、用立式光学计测量轴径。

2、根据测量结果,作出适用性结论。

三、测量步骤
1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱面工作时,选用球形测头。

测量球面工件时,选用平面形测头。

测量小于10mm 的圆柱面工件时,选用刀口形测头。

2、按被测轴径的基本尺寸组合量块。

3、调整仪器零位。

(1)选好量块组后,将下测量面置于工作台的中央,并使测头对准上测量面中央。

(2)粗调节:松开支臂紧固螺钉,转动调节螺母,使支臂缓慢下降,直到测头与量块上测面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉锁紧。

(3)细调节:松开紧固螺钉,转动调节凸轮,直至在目镜中观察到刻度尺象与0指示线接近为止。

然后拧紧螺钉。

(4)微调节:转动刻度尺微调螺钉,使刻度尺的零线影象与0指示线重合,然后压下测头提升杠杆9数次,使零位稳定。

(5)将测头抬起,取下量块。

4、测量轴径:按实验规定的部分(在两个截面上四个径向位置上)进行测量,把测量结果填入实验报告(见下表)。

5、判断轴径的合格性,并把测量结果填入实验报告(见下表)。

实验1—1 用立式光学计测量轴径。

实验一 用立式光学计测量塞规

实验一    用立式光学计测量塞规

实验一用立式光学计测量塞规一.实验目的1.了解立式光学计的测量原理。

2.熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3.加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二.实验内容1.用立式光学计测量塞规。

2.根据测量结果,按国家标准GB1957——81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。

三.测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。

用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1为立式光学计外形图。

图1它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2(b)所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。

若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆推动反射镜4绕支点转动某一角度a(图2(a)),则反射光线相对于入射光线偏转2a角度,从而使刻度尺象7产生位移t(图2(c)),它代表被测尺寸的为动量。

物镜至刻度尺8之间的距离为物镜焦距f,设b为测杆中心至反射镜支点间的距离,s为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K为:ααbtg ftg s t K 2==当a 很小时,tg2a=2a, tga=a,因此:K=bf2 光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm,b=5mm, 故仪器 的总放大倍数n 为:n=12K= 5200212212⨯⨯=b f =960 由此说明,当测杆移动0.001mm 时,在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

图2四、测量步骤1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱表工作时,先用球形测头。

测量球面工作时,选用平面形测头。

立式光学计总结

立式光学计总结

立式光学计总结概述立式光学计是一种常用的光学测量仪器,主要用于测量物体的长度、宽度和厚度等尺寸参数。

它利用光的干涉原理进行测量,具有快速、准确、非接触等优点,被广泛应用于制造业、材料科学、物理实验等领域。

本文将对立式光学计的工作原理、使用方法以及优缺点进行总结,以帮助读者更好地了解和应用立式光学计。

工作原理立式光学计的工作原理基于光的干涉现象。

当光线通过被测物体时,根据物体表面的几何形状和光线的相位差,形成干涉条纹。

通过分析这些干涉条纹的形状和数量,可以计算出被测物体的尺寸参数。

立式光学计通常由光源、物镜、目镜、干涉滤波器、干涉杆和观察装置等部分组成。

光源发出的光经过物镜和干涉滤波器,形成一束平行的光线照射到被测物体上。

反射光经过物镜和目镜后,通过观察装置可以看到一系列干涉条纹。

通过调节干涉杆的位置,可以改变干涉条纹的样貌,从而获得被测物体的尺寸参数。

使用方法使用立式光学计进行测量需要以下几个步骤:1.准备被测物体:将待测物体放置在光学计的测量台上,并确保其表面光洁无划痕。

2.对准光路:打开光学计的电源,调节物镜和目镜,使光线能够正常传输并形成清晰的干涉条纹。

3.调节干涉杆:通过转动干涉杆,观察干涉条纹的变化,并选择符合要求的干涉条纹。

4.测量尺寸:根据选定的干涉条纹,使用刻度盘或数字显示器测量被测物体的尺寸。

5.记录结果:将测量结果记录下来,并进行必要的数据处理和分析。

优点立式光学计相对于其他测量方法具有以下优点:1.非接触性测量:立式光学计的测量过程无需接触被测物体,避免了对物体造成的损伤,适用于对物体表面要求高的测量。

2.快速高效:立式光学计可以快速获取被测物体的尺寸参数,大大提高了测量效率。

3.高精度测量:由于立式光学计利用光的干涉原理进行测量,具有较高的精度,可以满足对精度要求较高的测量任务。

4.适用于不同材料:立式光学计适用于多种材料的测量,包括金属、塑料、玻璃等。

缺点虽然立式光学计具有多个优点,但仍存在一些缺点需要注意:1.受环境影响:光学计对环境的要求较高,如光照条件、温度变化等可能会对测量结果产生一定影响,因此需要注意环境因素的控制。

实验一 用立式光学计测量塞规

实验一    用立式光学计测量塞规

实验一 用立式光学计测量塞规一. 实验目的1. 了解立式光学计的测量原理。

2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二. 实验内容1. 用立式光学计测量塞规。

三. 根据测量结果, 按国家标准GB1957——81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差, 作出适用性结论。

四. 测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。

用量块作为长度基准, 按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1为立式光学计外形图。

图1它由底座1.立柱5.支臂3.直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器, 其光学系统如图2(b )所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上, 再经直角棱镜2.物镜3, 照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上, 故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。

若反射镜4与物镜3之间相互平行, 则反射光线折回到焦平面, 刻度尺象7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆推动反射镜4绕支点转动某一角度a (图2(a )), 则反射光线相对于入射光线偏转2a 角度, 从而使刻度尺象7产生位移t (图2(c )), 它代表被测尺寸的为动量。

物镜至刻度尺8之间的距离为物镜焦距f, 设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离, s 为测杆5移动的距离, 则仪器的放大比K 为:ααbtg ftg s t K 2==当a 很小时, tg2a=2a, tga=a,因此: K=光学计的目镜放大倍数为12, f=200mm,b=5mm,故仪器 的总放大倍数n 为:n=12K= 5200212212⨯⨯=b f =960 由此说明, 当测杆移动0.001mm 时, 在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

图2四、测量步骤1.测头的选择: 测头有球形、平面形和刀口形三种, 根据被测零件表面的几何形状来选择, 使测头与被测表面尽量满足点接触。

立式光学计实验

立式光学计实验

• 七、思考题 • 1、为什么要在被测工件的三个截面和两个方向上 进行测量? • 2、为什么需要用验收极限来判断工件的合格性? • 3、通过本实验,你在哪些方面有提高? 仪器保养:使用精密仪器应注意保持清洁,不用时宜 用罩子套上防尘。 使用完毕后必须在工作台、测量头以及其他金属表面, 用航空汽油清洗、拭干,再涂上无酸凡士林。 光学计管内部构造比较复杂精密,不宜随意拆卸,出 现故障应送专业部门修理。 工件、量块、工作台和光学镜头避免用手指碰触,以 免生锈。
图3-8
内径百分表(定位护桥式)
1-测量头 2-可换测头 3-主体 4-表架 5-传动杆 6-弹簧 7-量表 8-杠杆 9-定位装置 10-螺母
图3-9 杠杆百分表
1-齿轮 2-扭簧 3-表针 4-扇形齿轮 5-杠杆测头 6-表夹头
三、计量器具的选择
• 综合考虑加工和检验的经济性 • 1、与工件的外形、位置、尺寸的大小及经济参数特性相 适应。 • 2、考虑工件的尺寸公差,保证测量精度要求,又符合经 济性要求。 • 例3-2 轴类工件,试确定验收极限和选择计量器具。 • 解:(1)确定安全裕度A • 工件公差 T=0.039mm, 公差等级为 IT8, A=1/10T,A=0.0039. • (2)确定验收极限 • 内缩(遵守包容原则) • 上验收极限=最大极限尺寸-A=49.9711mm. • 下验极限=最小极限尺寸+A=49.9399mm. • (3)选择计量器具 • 选用分度值为0.005mm的比较仪符合1挡要求。
测量最大长度180mm; 测量范围±0.1 mm 分划板分度值1μ m; 总放大倍数x 1000
三、测量原理 立式光学计(又称为立式光 学比较仪)是一种精度较高 且结构简单的常用光学仪器。 在仪器上以量块作长度基准, 用比较测量法测量工件的外 形尺寸。右图为仪器的外形 图。仪器由底座1、 立柱2 、 调节螺母3、支臂4、支臂锁 紧螺钉5、光学计管6、凸轮 微调手柄7、锁紧螺钉8、测 头提升杠杆9、测头10和工 作台11等部件组成。

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仪器说明
6
32 7
4
光切显微镜是一种测量表面粗糙
度的仪器,它可以测出表面粗糙度
中的Rz和S等参数。光切显微镜有
5
1
四对不同倍数:7X,14X,30X,60X)
的物镜。
测量时,须先估测工件表面粗 糙度Rz数值的范围,然后按下表 选择相应的物镜放大倍数。
1,4锁紧螺钉 2 支臂升降 3 微动升降手轮 5 工作台 6 支臂 7 目镜
物镜放大倍数
物镜放大 倍数
视场直径 (mm)
物镜工作 距离
换算系 数E
测量范 围Rz
相当于旧 国标
7X
2.5
17.8
1.28
10-80
3-- 5
3.2-10
14X
1.3
6.8
0.63
5-- 7
1.6-6.3
30X
0.6
1.6
0.29
7-- 8
60X
0.3
0.65
0.16
0.8-3.2 8-- 9
实验步骤
光束投射方向
`
Wang chenggang
4 松开紧定螺钉,转动目镜千分尺,使目镜中的十字线的任一 条线平行于光带某一清晰的边界,此条线即定为近似平行于轮 廓中线并作为测量基准线。用该线分别切于弯曲亮带中的五个 最高峰和五个最低谷,从目镜千分尺的鼓轮上分别读出相应的 数值。
峰顶值:a2 , a4 , a6 , a8 , a10 ;
然后压下测杆提升杠杆数次,如零线偏移,通过微调再次对准零位。
指标线
10

5 0
μ
+
5
10
10

5

互换性实验报告

互换性实验报告

实验一用立光式光学计测量平面度一、实验目的:∙了解立式光学计的测量原理。

∙熟悉用立式光学计测量方块平面度的方法。

∙加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容∙用立式光学计测量方块平面度三、实验步骤1,测头的选择:侧头有球形、平面型和刀口型三种,根据被测零件表面的集合形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,根据方块几何表面选择用平面型测头。

2.按被测方块的基本尺寸组合量块。

3.调整仪器零位(1)选好量块后,将下测量面置于工作台的中央,并使测头对准上测量面中央。

(2)粗调节:松开支臂紧固螺钉4,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉锁紧。

(3)细调节:松开紧固的螺钉,转动调节凸轮,直至在目镜中观察到刻度尺象与指示线接近为止。

然后拧紧螺钉.(4)微调节:转动刻度尺微调螺钉,使刻度尺的零线影象与指示线重合,然后压下测头提升杠杆数次,使零为稳定。

(5)将侧头抬起,取下量块。

4.测量方块:按实验规定的部位(在三个横截面上的两个相互垂直的径向位置上)进行测量,记录下相应位置的数据。

四、数据处理第一行-5第三行+5经两次变换数据符合三角形准则,所以平面度误差为:F=+30 -(+5)=25 (um)实验二光学显微镜测量直径一、实验目的1、了解显微镜的结构2、学会使用显微镜3、利用光学显微镜测量小垫片直径二、实验内容用光学显微镜测量小垫片直径三、实验步骤1、将显微镜放置在光亮适中并与水平基本相平的平面台上。

2、对光:打开光圈,并反光镜转向光源,以左眼在目镜上观察同时调节反光镜方向直到视野内的光线均匀明亮且能清楚看到里面的“+”十字架。

3、 将小垫片放在镜台上,调节焦距使能够清楚看到小垫片圆的边界。

4、 调节前后控制旋钮,是“+”水平方向的线与垫片圆的前后边界线相切,分别记下相切时的读数d (前) 、d (后) ,同理,记下圆左右边界相切时的读数d (左) d (右)四、数据处理由上表数据知道小垫片直径为d =(△d1+△d2)/2 =(10.011+10.069)/2 =10.040 (mm )实验三 百分表测量平面跳动一、实验目的1、 用百分表测量方块的平面跳动以及平面度2、 了解百分表的结构以及使用方法。

立式光学计测量尺寸公差实验-实验室指导书1206

立式光学计测量尺寸公差实验-实验室指导书1206

用立式光学计测量测量塞规及随机误差分布规律实验指导书一.实验目的1.了解立式光学计的测量原理;2.掌握用立式光学计测量外径的方法;3.验证随机误差分布规律。

二.实验内容A:1.用立式光学计测量塞规2.根据测量结果,判断塞规是否合格。

B:进行随机误差分布规律实验三.实验原理用立式光学计进行测量,一般是按比较测量的方法进行的,即先将量块组放在仪器的测头与工作台面之间,以量块尺寸L为基准使显示屏上的读数归零。

再将工件放在测头与工作台面之间,从显示屏上读出相对零位的偏移量,即工件尺寸对量块尺寸的差值△L,则被测工件的尺寸为x=L-△L。

四.立式光学计简介立式光学计也称立式光学比较仪,如图1所示。

本实验采用JDG-S2型数显立式光学计,数显立式光学计根据黑白光栅的莫尔条纹原理设计而成,其中重点使用了光栅式传感器。

立式光学计用标准器(如塞规、量块)以比较法测量工件的尺寸,可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量。

立式光学计的结构组成如图2所示。

图1 立式光学计图2 立式光学计结构组成图1-数字显示器,2-测量计管锁紧螺钉,3-光学计管,4-测杆,5-测帽锁紧螺钉,6-工作台,7-电源开关,8-打印键,9-公英制转换键,10-置零键,11-底座,12-调平手轮,13-测帽,14-提升器,15-信号电缆,16-升降螺母,17-横臂锁紧螺母,18-横臂,19-立柱JDG-S2型数显立式光学计的技术参数1.被测件最大长度180 mm2.直接测量范围≥10 mm3.最小显示值0.0001 mm4.测量力(2±0.2) N5.读数方式数字显示6.最大不准确度比较测量时:±0.00025 mm,直接测量时:0.0005mm7.最大测量误差±(0.5+L/100) μm,L是被测长度,以mm计五.实验步骤1.选择合适的测头。

立式光学计的测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

[精品]实验一 用立式光学计测量塞规

[精品]实验一 用立式光学计测量塞规

[精品]实验一用立式光学计测量塞规一、实验目的1. 理解光学计的测量原理和构造特点,掌握光学测量的基本方法。

2. 初步掌握用立式光学计测量塞规的方法和技能。

3. 加深对光学计测量精度和测量误差的认识,提高测量精度和表达能力。

二、实验仪器1. 立式光学计:光学测量仪器,由物镜、刻度盘、透明光栅等部分组成,能以较高的精度测量长度、角度等目标量。

2. 塞规:精度较高的测量工具。

3. 皮卡尺:测量长度、宽度、高度等尺寸的常用工具。

三、实验原理光学计法是一种常用的非接触式测量方法,它利用物光学原理,通过对光束反射或折射的能力测定被测物体的长度或角度。

采用光学计法可大大提高测量精度和稳定性,并能自动记录和处理测量结果。

立式光学计又称形位测量仪、光电校准仪,是物料测量和无损检测的重要工具。

工作时可以直接读出目标长度和位置差等数据,具有高精度、无接触、不易受测量环境影响等优点,广泛应用于机械、电子、光学等领域。

在实验中,我们将用立式光学计测量一个内径为10mm的塞规的长度,测量方法为:将塞规的一端紧贴标尺,透过物镜对塞规的另一端读出长度值并做记录。

由于光学计方法测长具有微小点块、无毁坏性、不会对被测物体造成影响等优点,故可得到较为精确的测量结果。

四、实验步骤1. 将立式光学计放置平稳的工作台上,并将物镜调整至适当位置。

2. 塞规的外观应整洁,表面干燥,内孔应调整至圆形。

用皮卡尺测量塞规长度,确定长度范围,调整物镜合适的放置位置。

3. 将待测塞规的一端置于测试台的窄槽上,并紧贴标尺,然后在刻度盘上读取该端与标尺之间的位置差(δ1)。

5. 计算塞规长度:L = δ2 - δ1。

6. 收起仪器,清洁表面,记录实验数据。

五、实验注意事项1. 安全第一,实验者应戴上防护眼镜,并避免长时间关注测试台和物镜。

2. 实验中应保持测试平台稳定,要避免测试台的震动与移动。

3. 塞规的两端需紧贴测试台的标尺,避免出现夹持不紧、偏斜等问题,影响测量结果。

立式光学计

立式光学计

实验一:用投影立式光学计测量外径一、实验目的:1、学习光学计的结构原理和使用方法;2、掌握测量外径的方法;3、学习直接测量结果的处理方法。

二、仪器和测量原理:投影立式光学计如图1-1是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。

用量块作为长度基准,用相对测量方法来测量各种工件的外形尺寸。

投影立式光学计的测量原理如图1-2 所示。

由白炽灯泡1发出的光线经聚光镜2和滤色片6,再通过隔热玻璃 7 照明分划板8的刻线面,再通过反射棱镜9后射向准直物镜12。

由于分划板8的刻线面置于准直物镜 12 的聚焦平面上,所以成像光束通过准直物镜12后成为一束平行光入射到平面反光镜13上,根据自准直原理,分划板刻线的像被平面反光13射后,再经准直物镜12被反射棱镜9反射成像在投影物镜 4 的物平面上,然后通过投影物镜4,直角棱镜3和反光镜5成像在投影屏10上,通过读数放大镜11观察投影屏10上的刻线像。

所谓自准直原理如图1-3所示。

在图1-3a中,位于物镜焦点上的物体(目标)C发出的光线经物镜折射后成为一束平行于主光轴(一条没有经过折射的光线称主光轴)的平行光束。

光线前进若遇到一块与主光轴相垂直的平面反射镜,则仍按原路反射回来,经物镜后光线仍会图 1-1 投影立式光学计图 1-2 投影立式光学计的光学系统图1—投影灯 2—螺钉 3—支柱 4—零位微动螺钉5—主柱 6—横臂固定螺钉 7—横臂 8—微动偏心手轮9—测帽提升器 10—工作台调整螺钉 11—工作台12—变压器 13—测帽 14—光管 15—微动托圈固定螺钉16 —光管定位螺钉 17—微动托圈聚在焦点上,并造成目标的实像C'与目标C完全重合。

若使平面反射镜对主光轴偏转一个微小角度α(如图1-3b所示)则平面反射镜镜面的法线也转过α角,所以反射光线就转过2α角。

反射光线经物镜后,会聚于焦平面上的C〃点C〃点是目标C的像,与C点的距离L,从图上可知:L=f·tg2α式中:f—物镜的焦距。

互换性与技术测量,实验报告

互换性与技术测量,实验报告

互换性与技术测量,实验报告互换性与技术测量实验报告1互换性与技术测量实验报告实验一:立式光学计测量轴径一、测量器具说明立式光学计也称立式光学比较仪,是一种精度较高且结构简单的光学仪器,适用于外尺寸的精密测量。

图1-1是仪器的外形图。

二、实验步骤1、选择测头(本实验应选择刀口形测头),并把它安装在测杆上。

2、根据被测工件的基本尺寸或某一极限尺寸选取几块量块,并把它们研合成量块组。

3、接通电源,将量块组放在工作台上,对仪器进行粗调节、细调节和微调节,使零刻线与固定指示线重合。

调节后的目镜视场如图1-4所示。

按动测杆提升器数次,检查测杆的稳定性。

4,抬起测头,取下量块,换上被测工件,放下测头使与工件表面接触,在工件表面均布的三个横截面上分别对工件进行测量10~15次(每个截面测3~5次),见图1-5。

记录每次的测量读数。

5、对测量结果进行数据处理,并判断工件的合格性。

1实验二:直线度误差的测量2实验三:齿轮径向跳动测量一、仪器说明在偏摆检查仪上测量齿圈径向跳动(ΔFr)图4-2 齿圈径向跳动二、实验步骤:1.根据模数m,确定测量棒直径d=1.68m。

2.将被测齿轮套在测量心轴上,心轴装在仪器的顶尖间,然后调整好百分表的测量位置。

3.测量时,每测一齿,须抬起百分表测量杆,将测量棒换位,依次逐步测量一圈,将测得的数值记入报告中。

4.取其跳动量的最大最小两个数值,两数之差即为ΔFr。

4篇二:互换性与测量技术实验报告第一章概述互换性与测量技术实验是理论教学的重要环节和组成部分,通过实验使学生加深对公差与配合一些基本概念和知识的学习和掌握。

培养学生理论联系实际的能力和实际操作的技能,提高学生的综合素质。

本系列实验共有尺寸精度测量和形位误差的测量两部分其中形径误差的测量由于涉及到该课程几个章节的主要内容而作为综合性实验课。

尺寸精度的测量作为公差与配合的测量基础,它与形状误差的测量基本构成了该门课程所涉及的主要基本理论知识。

实验一 用立式光学比较仪测量塞规

实验一  用立式光学比较仪测量塞规

实验一尺寸测量
实验1—1 用立式光学计测量轴径
一、实验目的
1、了解立式光学计的测量原理。

2、熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3、加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容
l、用立式光学计测量轴径。

2、根据测量结果,作出适用性结论。

三、测量步骤
1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱面工作时,选用球形测头。

测量球面工件时,选用平面形测头。

测量小于10mm 的圆柱面工件时,选用刀口形测头。

2、按被测轴径的基本尺寸组合量块。

3、调整仪器零位。

(1)选好量块组后,将下测量面置于工作台的中央,并使测头对准上测量面中央。

(2)粗调节:松开支臂紧固螺钉,转动调节螺母,使支臂缓慢下降,直到测头与量块上测面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉锁紧。

(3)细调节:松开紧固螺钉,转动调节凸轮,直至在目镜中观察到刻度尺象与0指示线接近为止。

然后拧紧螺钉。

(4)微调节:转动刻度尺微调螺钉,使刻度尺的零线影象与0指示线重合,然后压下测头提升杠杆9数次,使零位稳定。

(5)将测头抬起,取下量块。

4、测量轴径:按实验规定的部分(在两个截面上四个径向位置上)进行测量,把测量结果填入实验报告(见下表)。

5、判断轴径的合格性,并把测量结果填入实验报告(见下表)。

实验1—1 用立式光学计测量轴径。

公差实验报告

公差实验报告

实验三导轨直线度误差测量(用合像水平仪)
实验六跳动误差测量(用千分表)
实验七影像法测螺纹参数(用工具显微镜)
实验八螺纹千分尺测螺纹中径(用螺纹千分尺)
测量数据及测量结果
测量部位
1 2


实验九用三针测量螺纹中径(用三针)
测量数据及测量结果
测得值M(mm)计算出d2实=M—3d0+0.866P
测量部分 1 2 3 1 2 3 Ⅰ-Ⅰ
Ⅱ-Ⅱ
思考题:用三针法测量螺纹中径时,有哪些测量误差?测出的中径是否是作用中径?
实验十齿厚偏差测量(用齿厚游标卡尺)
实验十一公法线长度测量(用公法线千分尺)。

立式光学仪实验报告doc

立式光学仪实验报告doc

立式光学仪实验报告篇一:光学实验报告建筑物理——光学实验报告实验一:材料的光反射比、透射比测量实验二:采光系数测量实验三:室内照明实测实验小组成员:指导老师:日期:XX年12月3日星期二实验一、材料的光反射比和光透射比测量一、实验目的与要求室内表面的反射性能和采光口中窗玻璃的透光性能都会直接或间接的影响室内光环境的好坏,因此,在试验现场采光实测时,有必要对室内各表面材料的光反射比,采光口中透光材料的过透射比进行实测。

通过实验,了解材料的光学性质,对光反射比、透射比有一巨象的数值概念,掌握测量方法和注意事项。

二、实验原理和试验方法(一)、光反射比的实验原理、测量内容和测量方法光反射比测量方法分为直接测量方法和间接测量法,直接测量法是指用样板比较和光反射比仪直接得出光反射比;间接法是通过被测表面的照度和亮度得出漫反射面的光反射比。

下面是间接测量法。

1. 实验原理(1)用照度计测量:根据光反射比的定义:光反射比p是投射到某一材料表面反射出来的光通量与被该光源的光通量的比值,即:p=φp/φ因为测量时将使用同一照度计,其受光面积相等,且,所以对于定向反射的表面,我们可以用上述代入式,整理后得:p=ep/e对于均匀扩散材料也可以近似的用上述式。

可知只要测出材料表面入射光照度e和材料反射光照度ep,即可计算出其反射比。

(2)用照度计和亮度计测量用照度计和亮度计分别测量被测表面的照度e和亮度l 后按下式计算 p=πl/e式中:l---被测表面的亮度,cd/m2; e—被测表面的照度,lx 。

2.测量内容要求测量室内桌面、墙面、墙裙、黑板、地面的光反射比。

每种材料面随机取3个点测量3次,然后取其平均值。

3.测量方法①将照度计电源(power)开关拨至“on”,检查电池,如果仪器显示窗出现“batt”字样,则需要换电池;②将光接收器盖取下,将其光敏表面放在待测处,再将量程(range)开关拨至适当位置,例如,拨在×1挡,测量的仪器显示值乘以量程因子即为测量结果。

实验一用立式光学比较仪测量轴径

实验一用立式光学比较仪测量轴径

实验一用立式光学比较仪测量轴径一、测量器具---立式光学比较仪立式光学计主要利用量块与零件相比较的方法,来测量物体外形的微差尺寸,是测量精密零件的常用测量器具。

主要技术参数:型号:LG-1总放大倍数:约1000倍分度值:0.001mm示值范围:±0.1mm测量范围:最大长度180mm仪器的最大不确定度:±0.00025mm示值稳定性:0.0001mm测量的最大不确定度:±(0.5+L/100)μm工作原理:利用光学杠杆的放大原理,将微小的位移量转换为光学影象的移动。

其工作原理如图1-1所示。

图1-1 立式光学比较仪工作原理图结构:立式光学比较仪结构如图1-2所示,主要由以下部组成:光学计管:测量读数的主要部件;①零位调节手轮:可对零位进行微调整;③ 测帽:根据被测件形状,选择不同的测帽套在测杆上。

选择原则为:与被测件的接触面积要最小;②工作台:对不同形状的被测件,应选用不同的工作台,选择原则与上基本相同;使用方法:①粗调:仪器放在平稳的工作台上,将光学计管安在横臂的适当位置;②测帽选择:测量时被件与测帽间的接触面必须最小,即近于点或线接触。

③工作台校正:工作台校正的目的是使工作面与测帽平面保持平行。

一般是将与被测件尺寸相同的量块放在测帽的边缘的不同位置,若读数图1-2 立式光学比较仪结构图相同,则说明其平行。

否则可调整工作台旁边的四个调节旋扭。

④归零:把已选用的量块放在一个清洁的平台上,转动粗调节环使横臂下降至测头刚好接触量块时,将横臂固定在立柱上。

再松开横臂前端的锁紧装置,调整光管与横臂的相对位置,当从光管的目镜中看到零刻线与指示虚线基本重合后,固定光管。

调整光管微调旋扭,使零刻线与指示虚线完全对齐。

拨动提升器几次,若零位稳定,则仪器可进行工作。

二、测量步骤1、选择测帽:测量时被测物体与测帽间的接触面必须最小,即近于点或线接触。

因此在测量平面时,须使用球面测帽,测量柱面时宜采用刀刃形或平面测帽,对球形物体则应采用平面测帽。

立式光学计实验报告doc

立式光学计实验报告doc

立式光学计实验报告篇一:实验一用立式光学计测量塞规实验一用立式光学计测量塞规一、实验目的1. 了解立式光学计的测量原理。

2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容1. 用立式光学计测量塞规。

2. 根据测量结果,按国家标准GB1957—81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。

三、测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。

用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1为立时光学计的外形图。

它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2b所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为一平行光束,若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆5推动反射镜4饶支点转动某一角度α(图2a),则反射光线相对于入射光线偏转2α角度,从而使刻度尺象7产生位移t(图2c),它代表被测尺寸的变动量。

物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f,设b为测杆中心至反射镜支点间的距离,s为测杆移动的距离,则仪器的放大比K为:K?tftg2?? sbtg?当?很小时,tg2??2?,tg ,因此:K?2f 图 1 b光学计的目镜放大倍数为12,f?200mm,b?5mm,故仪器的总放大倍数n为:n?12K?122f2?200?12??960 b5由此说明,当测杆移动0.001mm时,在目镜中可见到0.96mm的位移量。

四、测量步骤1. 测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱面工件时,选用球形测头。

2.2项目二:用立式光学比较仪测量零件

2.2项目二:用立式光学比较仪测量零件

实训项目二:用立式光学比较仪测量零件班级姓名学号一.实训目的1.了解立式光学比较仪的结构及测量原理。

2.使用立式光学比较仪测量零件,测出工件外径对量块尺寸的误差值ΔL。

二.实训设备立式光学比较仪(如图1-1);一套83块的量块,两个零件三.测量原理用立式光学比较仪测量零件,一般是按比较测量的方法进行的,即先将量块组放在仪器的测头与工作台面之间,以量块尺寸L调整仪器的指示表到达零位,再将工件放在测头与工作台面之间,从指示表上读出指针对零位的偏移量,即工件高度对量块尺寸的差值ΔL,则被测工件的高度为X=L+ΔL。

1-底座2-立柱3-横臂升降螺母4、11、12-紧固螺钉5-横臂6-直角光管7-上下偏差调整螺钉8-目镜9-反光镜10-零调螺钉面13-偏心手轮14-测头15-拨叉16-工作台 17-整螺钉四.操作步骤1、测头的选择测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱面工件时,选用球形测头;测量球面工件时,选用平面形测头;而测量小于10mm 的圆柱面工件时,则应选用刀口形测头。

2、按被测塞规的基本尺寸组合量块组。

3、.调整仪器零位(见图1-1)。

将量块组置于仪器工作台16的中心,并使测头14对准量块组的上测量面的中心。

调节零位,步骤如下:①粗调节松开横臂5上的紧固螺钉4,转动调节螺母3,使横臂缓慢下降,直到测头与量块的测量面接触,而在视场中能看见刻线尺的象时,则将螺钉4扭紧。

②细调节松开紧固螺钉12,转动手轮13,使在目镜中看到的象与指示线接近(见图1-3a),然后拧紧螺钉12。

③微调节转动微调螺钉10,使刻线尺的零刻线的影象与u指示线重合(见图1-3b),然后按下拨叉15数次,使零位稳定。

④检查零位按下拨叉15,抬起测头14,推出量块组,再推进量块组,放下测头,再微旋螺钉10,使零线影象与指示线再次重合。

⑤检查示值按动拨叉三次,若零线影象变动不超过1/10格,则表示光学比较仪的示值稳定可用。

立式光学计实验过程

立式光学计实验过程

立式光学计实验过程本实验使用数显立式光学计测量塞规,通过比较测量法进行测量。

立式光学计也称立式光学比较仪,根据黑白光栅的莫尔条纹原理设计而成。

立式光学计的直接测量范围小较小,只有10mm,但测量精度很高,可达0.0001mm,是一种精密测量仪器。

实验操作步骤:1、选择测头立式光学计的测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

测量平面工件时,选择球形测头;测量球面工件时,选择平面测头;测量圆柱面工件时,应选用刀口形测头。

塞规的测量面为圆柱形,因此本实验应选用刀口形测头。

2、根据被测塞规的基本尺寸组合量块由于立式光学计测头的活动范围为10mm,因此组合量块的尺寸与塞规的基本尺寸差值应在10mm以内,方便测量。

量块上有防锈油,使用前先用棉纱将量块擦干净,尤其是两个基本尺寸面。

拿起量块时,不要碰触到基本尺寸面。

3、调整仪器零位将量块组放在工作台上,首先调整光学计立柱的升降螺母,使测头的高度略低于量块上表面,锁紧升降螺母。

压下压杆抬起测头,将测头缓缓放到量块上表面,避免冲击。

然后按下reset归零按钮,显示屏示数为0,完成仪器调零,测头的此位置为零位。

按下压杆,抬起测头,取下量块组。

4、测量塞规测量时,按下压杆,将塞规放在工作台上,放下测头,压在塞规上表面。

等显示屏示数稳定后,读取示数,即为塞规相对基本尺寸零位的偏移量△L。

5、记录数据分别记录下量块组的基本尺寸L和立式光学计的偏移量读数,进行数据处理得到塞规的尺寸。

将测量结果与国标中塞规的尺寸公差进行比较,判断塞规是否合格。

6、进行随机误差分布规律实验再次对塞规测量,并且尽可能测量塞规同一部位,反复测量100次,注意每测完3~5次必须对仪器重新调零。

然后要对测量数据进行处理,作出直方图并求出标准偏差和极限测量误差。

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立式光学仪实验报告篇一:光学实验报告建筑物理——光学实验报告实验一:材料的光反射比、透射比测量实验二:采光系数测量实验三:室内照明实测实验小组成员:指导老师:日期:XX年12月3日星期二实验一、材料的光反射比和光透射比测量一、实验目的与要求室内表面的反射性能和采光口中窗玻璃的透光性能都会直接或间接的影响室内光环境的好坏,因此,在试验现场采光实测时,有必要对室内各表面材料的光反射比,采光口中透光材料的过透射比进行实测。

通过实验,了解材料的光学性质,对光反射比、透射比有一巨象的数值概念,掌握测量方法和注意事项。

二、实验原理和试验方法(一)、光反射比的实验原理、测量内容和测量方法光反射比测量方法分为直接测量方法和间接测量法,直接测量法是指用样板比较和光反射比仪直接得出光反射比;间接法是通过被测表面的照度和亮度得出漫反射面的光反射比。

下面是间接测量法。

1. 实验原理(1)用照度计测量:根据光反射比的定义:光反射比p是投射到某一材料表面反射出来的光通量与被该光源的光通量的比值,即:p=φp/φ因为测量时将使用同一照度计,其受光面积相等,且,所以对于定向反射的表面,我们可以用上述代入式,整理后得:p=ep/e对于均匀扩散材料也可以近似的用上述式。

可知只要测出材料表面入射光照度e和材料反射光照度ep,即可计算出其反射比。

(2)用照度计和亮度计测量用照度计和亮度计分别测量被测表面的照度e和亮度l 后按下式计算 p=πl/e式中:l---被测表面的亮度,cd/m2; e—被测表面的照度,lx 。

2.测量内容要求测量室内桌面、墙面、墙裙、黑板、地面的光反射比。

每种材料面随机取3个点测量3次,然后取其平均值。

3.测量方法①将照度计电源(power)开关拨至“on”,检查电池,如果仪器显示窗出现“batt”字样,则需要换电池;②将光接收器盖取下,将其光敏表面放在待测处,再将量程(range)开关拨至适当位置,例如,拨在×1挡,测量的仪器显示值乘以量程因子即为测量结果。

另有一种自动量程照度计,数字显示中的小数点随照度的大小不同而自动移位,只需将所显示的数字乘以量程因子即为测量结果(单位:lx)。

有的照度计为自动量程,直接读取照度计数字即为测量结果。

③在稳定光源下,将光接收器背面紧贴被测表面,测其入射照度e;然后将光接收器感光面对准被测表面的同一位置,逐渐平移光接收器平行离开测点,照度值逐渐增大并趋于稳定(约300mm左右),读取反射照度值ep,即可计算出光反射比ρ;④测量时尽量缩短入射照度和反光照度间的时间间隔,并尽可能的保持周围光环境的一致性。

测量人尽量穿深色衣服。

(二)、光透射比的实验原理、测量内容和测量方法 1.实验原理根据光透射比的定义:光透射比是透过某一透光材料的光通量与透过该光源的光通量的比值,即:r = φr /φ与测量光反射比的道理相同,上述式同样可以变化为:r =er /e 用照度计测量透光材料的透射光照度和同一轴线上入射光照度便可计算出盖材料的光透射比r 。

2. 实验内容:测量教室内光玻璃透射比,随机的取3点,共测量三次,然后取平均值。

3. 试验方法①将照度计电源(power)开关拨至“on”,检查电池,如果仪器显示窗出现“batt”字样,则需要换电池。

②将光接收器盖取下,将其光敏表面放在待测处,再将量程(range)开关拨至适当位置。

③选择无直射阳光照射窗口,如北向窗口,将照度计的光接收器的感光面对准窗外。

紧贴透光材料两侧同一轴线上,分别测出ei和er,则利用公式 r =er /e 便可计算出光透射比。

图 2 用照度计测定材料表面反射系数图 3 用照度计测定材料的透光系数三、数据记录与整理实验测量地点:华中科技大学西十二教学楼s111教室测量数据如下:1.光反射比测量记录表读数\测点1ep e p pˉ1368 1104 0.33 地面2 369 1133 0.33 0.32 3369 1168 0.31读数\测点3 ep e p pˉ1123 397 0.31 地面2 114 420 0.27 0.29 3120 414 0.29读数\测点1 ep e p pˉ1104 239 0.43 黑板2 107 258 0.41 0.44 3129 259 0.49读数\测点3 ep e p pˉ1161 282 0.57 黑板2 129 288 0.45 0.49 3127 275 0.46读数\测点1 ep e p pˉ1134.8 160.4 0.84 墙面2 139.2 157.2 0.88 0.84 3132.3 163.20.81读数\测点3 ep e p pˉ1200 307 0.65 墙面2 184 281 0.65 0.66 3186 2720.68读数\测点1 ep e p pˉ1111 279 0.40 桌面2 103 281 0.37 0.37 397 2850.34读数\测点3 ep e p pˉ1261 720 0.36 桌面2 278 734 0.38 0.37 32637390.36注:表中是同一测点三次测量后计算的值的平均值。

2 ep e p 50.8 153.5 0.33 53.9 159.1 0.34 53.9 157 0.342 ep e p 140 334 0.42 157 318 0.49 151 326 0.46 2ep e p 150 167.5 0.89 160.6 175.5 0.91 162.4 183.2 0.882ep e p 1 140 395 2 136 387 3135382 pˉ0.34pˉ 0.46pˉ 0.89pˉ 0.352.光透射比测量记录表读数\测点1ep 364 405 413 ep 238 237e 461 453 4553 e 289 287p 0.82 0.83pˉ 0.83p 0.79 0.89 0.91pˉ 0.86ep 465 457 467e 544 532 5342 p 0.85 0.86 0.87pˉ 0.86玻璃读数\测点1 2玻璃3235 284 0.83 篇二:光学基础实验报告光学基础实验报告实验1:自组望远镜和显微镜一、实验目的1.了解透镜成像规律,掌握望远镜系统的成像原理。

2.根据几何光学原理、透镜成像规律和试验参数要求,设计望远镜的光路,提出光学元件的选用方案,并通过光路调整,达到望远镜的实验要求,从而掌握望远镜技术。

二、实验原理1.望远镜的结构和成像原理望远镜由物镜l1和目镜l2组成。

目镜将无穷远物体发出光会聚于像方焦平面成一倒立实像,实像同时位于目镜的物方焦平面内侧,经过目镜放大实像。

通过调节物镜和目镜相对位置,使中间实像落在目镜目镜物方焦面上。

另在目镜物焦方面附有叉丝或标尺分化格。

物像位置要求:首先调节目镜至能清晰看到叉丝,后调整目镜筒与物镜间距离即对被观察物调焦。

望远镜成像视角放大率要求:定义视角放大率m为眼睛通过仪器观察物像对人眼张角ω’的tan?正切与眼睛直接观察物体时物体对眼睛的张角ω的正切之比m=tan?。

要求m>1。

2.望远镜主要有两种情况:一种是具有正光焦度目镜,即目镜l2是会聚透镜的系统,称为开普勒望远镜;另一种是具有负光焦度目镜,即目镜l2是发散透镜的系统,称为伽利略望远镜。

f1tan?对于开普勒望远镜,有m=tan?=-f2 公式中的负号表示开普勒望远镜成倒像。

若要使m的绝对值大于1,应有f1>f2。

对于伽利略望远镜,视角放大率为正值,成正像。

d 此外,由于光的衍射效应,制造望远镜时,还必须满足:m=d 式中d为物镜的孔径,d为目镜的孔径,否则视角虽放大,但不能分辨物体的细节。

三、思考题1.根据透镜成像规律,怎样用最简单方法区别凹透镜和凸透镜?答:(1)将这个透镜靠近被观察物,如果物的像被放大的,说明该透镜为凸透镜;(2)将这个透镜放在阳光下或灯光下适当移动,如果出现小光斑的,说明该透镜为凸透镜.2.望远镜和显微镜有哪些相同之处?从用途、结构、视角放大率以及调焦等几个方面比较它们的相异之处。

答:望远镜与显微镜都是视角放大仪器,都由物镜,目镜组成。

望远镜用于观察远处物体,用大口径,长焦距的透镜做物镜,调焦时调节物镜与目镜的距离;显微镜用于观察细微物体,用短焦距的透镜做物镜,镜筒长度固定,调焦时调节物镜与物体之间的距离。

3.试说明伽利略望远镜成像原理,并画出光路图。

伽利略望远镜成像原理:光线经过物镜折射所成的实像在目镜的后方(靠近人目的后方)焦点上,这像对目镜是一个虚像,因此经它折射后成一放大的正立虚像。

伽利略望远镜的放大率等于物镜焦距与目镜焦距的比值。

其优点是镜筒短而能成正像。

4.望远镜实验中,将3米远的标尺看作无穷远的物体,从而计算望远镜的实验放大率,这种估算方法引起的误差有多大?如果需要对该放大率进行修正,应如何做?标尺放在有限距离s远处时,望远镜放大率可做如下修正:当s>100 时,修正量题中s=3m实验2 薄透镜焦距测定一、实验原理1、凸透镜焦距的测定(1)粗略估计法:以太阳光或较远的灯光为光源,用凸透镜将其发出的光线聚成一光点(或像),此时,s??,s?f,即该点(或像)可认为是焦点,而光点到透镜中心的距离,即为凸透镜的焦距,由于这种方法误差很大,大都用在实验前作粗略估计。

(2)利用物距像距法求焦距:当透镜的厚度远比其焦距小的多时,这种透镜称 ff??1为薄透镜。

在近轴光线的条件下,薄透镜成像的规律可表示为:ssf??f?sss?s当将薄透镜置于空气中时,则焦距篇二:光学实验报告建筑物理——光学实验报告实验一:材料的光反射比、透射比测量实验二:采光系数测量实验三:室内照明实测实验小组成员:指导老师:日期:XX年12月3日星期二实验一、材料的光反射比和光透射比测量一、实验目的与要求室内表面的反射性能和采光口中窗玻璃的透光性能都会直接或间接的影响室内光环境的好坏,因此,在试验现场采光实测时,有必要对室内各表面材料的光反射比,采光口中透光材料的过透射比进行实测。

通过实验,了解材料的光学性质,对光反射比、透射比有一巨象的数值概念,掌握测量方法和注意事项。

二、实验原理和试验方法(一)、光反射比的实验原理、测量内容和测量方法光反射比测量方法分为直接测量方法和间接测量法,直接测量法是指用样板比较和光反射比仪直接得出光反射比;间接法是通过被测表面的照度和亮度得出漫反射面的光反射比。

下面是间接测量法。

1. 实验原理(1)用照度计测量:根据光反射比的定义:光反射比P是投射到某一材料表面反射出来的光通量与被该光源的光通量的比值,即:P=φP/φ因为测量时将使用同一照度计,其受光面积相等,且,所以对于定向反射的表面,我们可以用上述代入式,整理后得:P=EP/E对于均匀扩散材料也可以近似的用上述式。

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