锁相环输出信号相位噪声噪声及杂散特性分析应用实践
基于PLL锁相环的系统中噪声调制技术研究
基于PLL锁相环的系统中噪声调制技术研究在现代通信系统中，PLL锁相环广泛应用于信号处理、调制解调等方面的处理。
传统的锁相环常常存在一定的干扰和噪声，对系统的可靠性和稳定性存在一定的影响。
因此，噪声调制技术被广泛研究和应用。
噪声调制技术是指在信号中添加特定的噪声以改善系统性能的技术。
在PLL锁相环系统中，噪声调制技术的主要作用是增加系统的稳定性和抗干扰能力。
一般情况下，PLL锁相环系统的输入信号会受到各种干扰和噪声的影响，这会导致输出信号的误差增大，甚至会失去锁定。
为了克服这些问题，噪声调制技术可以增加系统的噪声功率，从而降低系统的误差，提高系统的稳定性。
噪声调制技术主要分为两种类型：添加高斯噪声和随机扰动调制。
其中，添加高斯噪声是在PLL输出端口处添加一个高斯随机噪声，使PLL输出的频率波动具有一定的随机性，从而提高系统的稳定性和抗干扰能力。
随机扰动调制是指在PLL的相位控制回路中引入一个随机扰动信号，使该信号与参考信号同步，从而改变PLL输出频率波动的特性。
随机扰动信号可以是一个固定频率的正弦波或者一个随机噪声信号，其大小和频率可以通过调节扰动信号的参数来实现。
在具体实现噪声调制技术时，需要对噪声源和调制参数进行精确分析和设计。
首先需要确定噪声源的类型、大小和频率，以及加噪位置和加噪方式。
然后需要确定调制方式和相应的调制参数，以保证系统输出的稳定性和抗干扰能力。
噪声调制技术近年来在PLL锁相环系统中被广泛研究和应用。
其中，随机扰动调制技术在高速多媒体通信系统、AGC自动增益控制系统等领域取得了良好的应用效果。
通过噪声调制技术的应用，可以提高PLL锁相环的性能和稳定性，从而为现代通信系统的发展做出重要的贡献。
模拟锁相环实验报告
模拟锁相环实验报告锁相环（PLL）是一种常见的控制系统，它可以将输入信号的频率和相位与参考信号匹配，从而实现精确的信号同步和频率锁定。
本次实验旨在通过模拟锁相环的实验，了解PLL的基本原理和实现方式，并探究其在频率合成和时钟恢复等应用中的优势和局限性。
一、实验原理1.1 PLL的基本原理PLL由相频比较器、环形控制器、振荡器和分频器等组成。
其基本原理如下：（1）将参考信号和输出信号输入相频比较器，得到误差信号；（2）将误差信号输入环形控制器，控制其输出的控制电压；（3）将控制电压输入振荡器，控制其输出的频率和相位；（4）将振荡器的输出信号通过分频器分频后反馈给相频比较器，形成闭环控制。
通过不断比较和修正，PLL可以使输出信号的频率和相位与参考信号匹配，从而实现锁定。
1.2 实验器材本次实验采用的器材如下：信号发生器、示波器、多路开关、振荡器、计数器等。
1.3 实验步骤（1）将信号发生器产生的正弦波信号作为参考信号，通过示波器观测其频率和相位；（2）将信号发生器产生的方波信号作为输入信号，通过多路开关控制输入信号的频率和幅值；（3）将输入信号和参考信号输入相频比较器，得到误差信号；（4）将误差信号输入环形控制器，控制其输出的控制电压；（5）将控制电压输入振荡器，控制其输出的频率和相位；（6）将振荡器的输出信号通过分频器分频后反馈给相频比较器，形成闭环控制；（7）通过计数器观测输出信号的频率和相位，调整环形控制器的参数，使输出信号与参考信号匹配。
二、实验结果在实验过程中，我们先设置参考信号的频率为1KHz，通过示波器观测其频率和相位，然后将信号发生器产生的方波信号作为输入信号，进行频率和幅值的调节，使其与参考信号匹配。
在调节的过程中，我们观测到输出信号的频率和相位逐渐趋近于参考信号的频率和相位，最终实现了同步锁定。
然后，我们进一步测试了PLL在频率合成和时钟恢复等应用中的性能。
我们将输入信号的频率和幅值进行变化，观测输出信号的变化情况。
锁相环的相位噪声分析
锁相环路相位噪声分析张文军 电信0802【摘要】本文对锁相电路的相位噪声进行了论述，并对其中各组成部件的相位噪声也做了较为详细的分析。
文中最后提出了改进锁相环相位噪声的办法。
【关键词】锁相环；相位噪声；分析 引言相位噪声是一项非常重要的性能指标，它对电子设备和电子系统的影响很大，从频域看它分布的载波信号两旁按幂律谱分布。
用这种信号无论做发射激励信号，还是接收机本振信号以及各种频率基准，这些信号在解调过程中都会和信号一样出现在解调终端，引起基带信噪比下降。
在通信系统中使环路信噪比下将，误码率增加；在雷达系统中影响目标的分辨能力，即改善因子。
接收机本振的相位噪声遇到强干扰信号时，会产生“倒混频”，使接收机有效噪声系数增加。
随着电子技术的发展，对频率源的信号噪声要求越来越严格，因此低相位噪声在物理、天文、无线电通信、雷达、航空、航天以及精密计量、仪器仪表等各种领域里都受到重视。
1 相位噪声概述相位噪声 ，就是指在系统内各种噪声作用下所表现的相位随机起伏，相位的随机起伏起必然引起频率随机起伏，这种起伏速度较快，所以又称之为短期频率稳定度。
理想情况下，合成器的输出信号在频域中为根单一的谱线，而实际上任何信号的频谱都不可能绝对纯净，总会受到噪声的调制产生调制边带。
由于相位噪声的存在，使波形发生畸变。
在频域中其输出信号的谱线就不再是一条单根的谱线，而是以调制边带的形式连续地分布在载波的两边，在主谱两边出现了一些附加的频谱，从而导致频谱的扩展，相位噪声的边带是双边的，是以0f 为中心对称的，但为了研究方便，一般只取一个边带。
其定义为偏离载频1Hz带宽内单边带相位噪声的功率与载频信号功率之比，它是偏离 载频的复氏频率m f 的函数 ，记为()m f ζ，单位为d B c ／ Hz ，即()010lg[/](1)m SSB f P P ζ=式中SSB P 为偏离载频m f 处，1Hz 带宽内单边带噪声功率；0P 为载波信号功率。
锁相环实验报告
锁相环实验报告
《锁相环实验报告》
锁相环是一种常见的控制系统，广泛应用于通信、电力、自动控制等领域。
本
实验旨在通过搭建锁相环系统，验证其在信号同步和抑制噪声方面的性能。
实验设备包括信号发生器、锁相环模块、示波器等。
首先，我们将信号发生器
产生一个正弦波信号作为输入信号，然后将其输入到锁相环模块中。
锁相环模
块通过比较输入信号和反馈信号的相位差，控制其输出信号与输入信号同步。
最后，我们使用示波器观察输入信号、锁相环输出信号和反馈信号的波形，并
分析它们之间的相位关系和噪声抑制效果。
实验结果表明，锁相环系统能够有效地实现输入信号和输出信号的同步，且具
有良好的抑制噪声能力。
当输入信号频率发生变化时，锁相环系统能够迅速跟
随并调整输出信号，保持同步状态。
同时，锁相环系统还能够抑制输入信号中
的噪声，输出信号的波形更加稳定。
通过本次实验，我们深入了解了锁相环系统的工作原理和性能特点，为其在实
际应用中提供了有力的支持。
锁相环系统的同步性能和噪声抑制能力对于通信、电力系统等领域具有重要意义，本实验结果对于相关领域的研究和应用具有一
定的参考价值。
实验五锁相环测试及应用实验报告
：锁相环测试及应用实验试验目的：1．了解锁相环的组成、基本原理及性能特点。
2．掌握集成锁相环4046芯片的使用方法。
3．掌握锁相环路及各部件性能（鉴相特性、压控特性、同步带和捕捉带）的测试方法。
4．掌握锁相调频、锁相鉴频电路的构成、基本原理及参数测试测试方法。
5．掌握简单锁相频率合成器的基本原理及性能指标的测试方法实验设备：1．调幅与调频发射模块。
2．直流稳压电压GPD-3303D3．F20A 型数字合成函数发生器/计数器 4．DSO-X 2014A 数字存储示波器实验原理：1. 锁相环的组成及基本原理锁相环路（PLL ）亦称自动相位控制（APC ）电路，它是一种利用相位误差消除频率误差的反馈控制系统。
如图1所示，由鉴相器（相位比较器）、环路滤波器（低通滤波器）和压控振荡器三个基本部件组成。
若o i f f ≠，瞬时相位差ϕ∆将随时间而变化；若i of f ϕ∆=保持固定值。
锁相环就是利用两个信号之间相位差的变化，控制压控振荡器的输出信号频率，最终使两个信号相位差保持为常数，达到频率相等。
锁相环的工作过程：如图1所示，若o i f f ≠，必将引起ϕ∆的变化，鉴相器输出正比于ϕ∆的误差电压()d u t 。
经环路滤波器滤除()d u t 中的高频分量和噪声，产生缓慢变动的直流电压()c u t 。
VCO 受控于()c u t ，使得振荡频率o f 与输入参考频率i f 的频差逐渐减小，直到o i f f =，电路达到稳定平衡状态，即锁定状态。
此时，ϕ∆保持一个不变的稳态相差ϕ∞，以维持电路的平衡状态。
需要指出，环路能达到锁定状态，是在o f 与i f 相差不大的范围内。
2. 几个重要概念 ⑴ 失锁与锁定开始工作时， o i f f ≠，ϕ∆不固定，环路处于不稳定状态，称为失锁。
当o i f f =时，ϕ∆保持常数，电路进入稳定状态，称为锁定。
⑵ 跟踪过程与捕捉过程在环路锁定状态下，如果输入信号频率i f 发生变化，环路通过自身的调节作用，使输出信号频率o f 以同样的规律跟随着变化，并且始终保持o i f f =，这个过程称为跟踪过程或同步过程。
改善锁相环相位噪声的方法
改善锁相环相位噪声的方法锁相环（Phase-Locked Loop, PLL）是一种常用的频率合成器和时钟恢复方法。
然而，在某些应用中，锁相环的相位噪声成为限制系统性能的因素。
因此，改善锁相环相位噪声是一个重要的课题。
下面将介绍几种改善锁相环相位噪声的方法。
首先，一个容易实施的方法是优化锁相环的环路滤波器。
环路滤波器的设计直接影响锁相环的带宽和噪声性能。
通过增加滤波器的阻尼比，可以提高锁相环的稳定性和减小相位噪声。
另外，合理选择滤波器的带宽，可以平衡相位追踪性能和噪声抑制能力，从而改善锁相环的相位噪声。
其次，采用抖动降低技术可以有效减小锁相环的相位噪声。
抖动降低技术基于频率抖动和相位抖动之间的关系，通过控制频率抖动来减小相位噪声。
常用的抖动降低技术包括相位锁定环（Phase-Locked Loop, PPL）、时钟周期抖动降低技术等。
这些技术通过引入额外的控制环路或采用特殊的抖动降低算法，可以显著改善锁相环的相位噪声性能。
第三，优化参考信号源也是改善锁相环相位噪声的有效方法。
参考信号源的噪声特性直接传递到锁相环的输出。
因此，选择低噪声的参考信号源对于改善锁相环的相位噪声非常重要。
常见的低噪声参考信号源包括晶体振荡器（Crystal Oscillator, XO）或原子钟等。
通过使用低噪声的参考信号源，可以有效降低锁相环的相位噪声。
总结起来，改善锁相环相位噪声的方法包括优化环路滤波器、采用抖动降低技术和选择低噪声的参考信号源。
通过合理应用这些方法，可以显著提升锁相环的相位噪声性能，从而满足不同应用对于相位噪声的要求。
锁相环频率合成器的相位噪声分析
图 1 锁相式频率合成器的原理 框图
锁相式频率合成器 的基本原理如 下: 鉴相器 ( PD) 将参考信号 V i ( t ) (频率 f r )与输出信号 Vo ( t ) ( 频率 fo ) 的相位进行比较, 产生一个反映两信号 相位差大小的信号 Vd ( t) , Vd ( t ) 经过环路 滤波器 ( LPF )滤波滤除高频分量 , 得到控制电 压 Vc ( t ), 将 Vc ( t) 加到压控振荡器 ( VCO ) 的控制端, 通过
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航空兵器
2010 年第 6 期
VCO 使得输出频率 fo 向 f r 靠拢 , 直到消除相差使 环路锁定。
令
pd
2 锁相环路中的相位噪声
锁相环频率合成器主要由倍频器、放大器、分 频器、混频器、鉴相器、 压控振荡器 ( VCO) 等基本 电路组成, 有的还包括辅助捕获电路、跳频控制电 路和电子开关等, 它们都不同程度地将噪声引入 频率合成器中, 因此对频率合成器各组成部件噪 声的研究就很有必要。 2 . 1 鉴相器对环路噪声的影响 鉴相器是 PLL 的关键部件之一, 它有许多不 同的类型和电路形式。目前较常用的鉴相器基本 上可分为两大类: 乘法器 ( 或逻辑组合 ) 电路和时 序电路。 这里主要讨论乘法器类鉴相器。 乘法器类 鉴相器将输 入信号波 形与本地 振荡器波 形相乘 , 并把乘积的平均值作为其有用的直流输出, 一个 设计正确的乘法器鉴相器可以对淹没在极大噪声 中的输入信号进行处理。 这里假设 PLL 环路是线性的, 鉴相器是理想 的。鉴相器引入的噪声用一个外加的等效干扰噪 声电压 vpd ( s) 代替 , 如图 2 所示。
1 频率合成器简介
频率合成技术自提出以来 , 目前已 经逐渐形 成了四种技术 : 直接模 拟式频率合成 技术、锁相 频率合成技术、直接数字 式频率合成技术和混合 式频率合成技术。本文主 要介绍锁相频率合成技 术。 锁相式频率合成器是采用锁相环 ( PLL ) 进行 频率合成的一种频率合成器, 它是目前频率合成 器的主流, 其原理框图如图 1 所示。 最简单的锁相 环合成器是单环锁相环频率合成器, 在压控振荡 器与鉴相器之间的锁相环反馈回路上增加整数分
锁相环输出信号相位噪声噪声及杂散特性分析应用实践
锁相环输出信号相位噪声噪声及杂散特性分析应用实践【摘要】本文详细地介绍了锁相环的鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声对锁相环合成输出信号的近端相位噪声的具体贡献值。
并以CDMA 1X 基站系统中800MHz 的FS 单板的锁相环输出信号相位噪声指标进行理论计算。
为广大锁相环设计者提供理论计算方法的参考和实践设计的参考依据。
【关键词】锁相环设计，相位噪声一、 术语和缩略语表格 1 术语和缩略语 缩写全名 含义 CDMACode Division Multiple Access 码分多址 PLLPhase Locked Loop 锁相环 FSFrequency S ynthesizer 频率合成器 LPFLoop Filter 环路滤波器 VCO Voltage Control Oscillator压控振荡器 二、 问题的提出锁相环工作原理图，由三部分组成：鉴相器（PFD ）、环路滤波器（LPF ）和压控晶体振荡器（VCXO ），如图 0-1所示。
÷R 分频器VCO 参考频率鉴相器÷N 分频器LPF ΦK O θS K VCO )(S F rθ+iθ-e θ图 0-1锁相环原理框图锁相环输出信号指标主要有相位噪声、谐波抑制、杂散、输出功率、跳频时间。
在本文中以CDMA 1X 基站系统中800MHz 的FS 单板应用为背景，在CDMA 基站中不需要跳频，所以调频时间基本不做要求。
输出功率比较好控制，只要调整衰减网络就能保证。
锁相环输出信号的相位噪声、谐波抑制和杂散成为影响系统指标的主要因素，成为锁相环技术的关键指标项。
在锁相环设计中，相位噪声和杂散成为系统设计主要难点。
三、 解决思路相位噪声分析相位噪声主要由VCO 、鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声这四部分引入。
环路滤波器对于由鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声这三部分引入的相位噪声具有低通特性，对于VCO产生的相位噪声具有高通特性。
锁相环 相位噪声
锁相环相位噪声锁相环是一种常用的电路技术，用于抑制信号中的相位噪声。
相位噪声是指信号中的相位变化不稳定性，它可以导致信号的频偏和抖动，影响系统的性能和稳定性。
锁相环通过比较输入信号和参考信号的相位差，然后通过反馈调节输入信号的相位，以达到消除相位噪声的目的。
在现代通信系统中，相位噪声是一个非常重要的问题。
相位噪声的存在会导致信号的频谱扩展，降低系统的信噪比，影响通信质量。
因此，研究和解决相位噪声问题对于提高通信系统的性能至关重要。
锁相环通过利用负反馈原理来消除相位噪声。
它由相位检测器、低通滤波器、电压控制振荡器和除相器等组成。
首先，相位检测器将输入信号和参考信号进行比较，产生相位误差信号。
然后，低通滤波器对相位误差信号进行滤波，得到控制电压。
接下来，电压控制振荡器根据控制电压来调节输出信号的相位。
最后，除相器将输出信号和参考信号进行比较，得到反馈信号，闭环控制系统实现了相位的稳定。
锁相环的关键是相位检测器。
常用的相位检测器有边沿检测器、比较器和混频器等。
边沿检测器通过检测信号的边沿来获得相位信息，适用于高频信号。
比较器通过比较两个信号的幅值来获得相位信息，适用于低频信号。
混频器通过将信号与参考信号相乘，然后滤波得到直流分量来获得相位信息，适用于宽频带信号。
除了相位检测器，滤波器也是锁相环中的重要组成部分。
低通滤波器的作用是滤除高频噪声，使得控制电压变化平稳。
滤波器的带宽决定了锁相环对相位噪声的抑制能力。
带宽越宽，抑制能力越强，但相应的噪声增益也会增加。
因此，在选择滤波器带宽时需要进行权衡。
锁相环的另一个关键参数是环路带宽。
环路带宽决定了锁相环的跟踪能力和响应速度。
带宽越高，跟踪能力越好，但相应的稳定性也会降低。
因此，在设计锁相环时需要根据具体应用需求来选择合适的环路带宽。
除了上述基本结构，锁相环还可以通过添加频率鉴频器、倍频器和除频器等模块来实现更复杂的功能。
例如，可以利用频率鉴频器来实现频率锁定，将输入信号的频率锁定到参考信号的频率上。
锁相环的相位噪声传递函数
锁相环的相位噪声传递函数锁相环（PLL）是一种常用的电路，用于将输入信号的相位与参考信号的相位保持一致。
相位噪声传递函数是描述锁相环中相位噪声传递的数学模型。
本文将介绍锁相环的基本原理和相位噪声传递函数，并探讨其在通信系统中的应用。
一、锁相环的基本原理锁相环由相位比较器、低通滤波器、电压控制振荡器（VCO）和分频器组成。
其基本原理是通过不断调节VCO的频率，使其输出信号的相位与参考信号的相位保持一致。
具体实现过程如下：1. 相位比较器：将输入信号和参考信号进行相位比较，产生一个误差信号。
2. 低通滤波器：对误差信号进行滤波，得到一个平滑的控制电压。
3. VCO：根据控制电压改变输出信号的频率，同时也改变其相位。
4. 分频器：将VCO的输出信号进行分频，得到参考信号。
通过不断的反馈调节，锁相环能够使VCO的输出信号与参考信号的相位保持一致，从而实现相位同步。
二、相位噪声传递函数的定义相位噪声传递函数是衡量锁相环中相位噪声传递特性的一种数学模型。
它描述了输入到输出的相位噪声传递情况，通常用频率响应函数的形式表示。
具体而言，相位噪声传递函数可以表示为：H(f) = K / (1 + jf/fc)其中，H(f)表示相位噪声传递函数，K表示增益，f表示频率，fc 表示截止频率。
三、相位噪声传递函数的分析相位噪声传递函数可以用于分析锁相环中相位噪声的特性。
从函数的形式可以看出，当频率接近截止频率时，相位噪声传递函数的值较小，说明锁相环对低频相位噪声具有较好的抑制能力。
而当频率远离截止频率时，相位噪声传递函数的值逐渐增大，说明锁相环对高频相位噪声的抑制能力较弱。
四、锁相环在通信系统中的应用锁相环在通信系统中有着广泛的应用。
其中，最常见的应用是时钟恢复和频率合成。
1. 时钟恢复：在数字通信系统中，接收端需要从接收到的信号中恢复出发送端的时钟信号。
锁相环可以通过将接收到的信号与本地时钟进行比较，并通过调节VCO的频率来实现时钟的恢复。
锁相环的相位噪声杂散抑制锁相时间
相位噪声对一个给定载波功率的输出频率来说，相位噪声是载波功率相对于给定的频率偏移处（频率合成器通常定义1kHz频率偏移）1-Hz的带宽上的功率，单位为dBc/Hz@offset frequency。
锁相环频率合成器的带内相位噪声主要取决于频率合成器，VCO的贡献很小。
相位噪声的测量需要频谱分析仪。
注意一点，普通频谱分析仪读出的数据需要考虑分辨带宽的影响。
即，频谱分析仪的读数减掉10log（RBW）才是正确的相位噪声数值。
高端的频谱分析仪往往可以直接给出单边带相位噪声。
相位噪声是信号在频域的度量。
在时域，与之对应的是时钟抖动（jitter），它是相位噪声在时间域里的反映，大的时钟抖动在高速ADC应用中会严重恶化采样数据的信噪比，尤其是当ADC模拟前端信号的频率较高时，更是要求低抖动的时钟。
图1形象地描述了时钟抖动。
图表 1 相位噪声和时钟抖动时钟抖动可以通过相位噪声积分得到，具体实现如下如下：计算从给定的起始频率偏移处到结束频率（通常定义为两倍输出频率）偏移处的相位噪声和A，单位为dBc；对A进行取对数操作；求相位抖动均方值（rms phase jitter），单位为弧度；将弧度值转换成时间单位，秒或者皮秒。
图表 2. 时钟抖动与相位噪声和白噪声之间的关系参考杂散锁相环中最常见的杂散信号就是参考杂散。
这些杂散信号会由于电荷泵源电流与汇电流的失配，电荷泵漏电流，以及电源退耦不够而增大。
在接收机设计中，杂散信号与其他干扰信号相混频有可能产生有用信号频率从而降低接收机的灵敏度。
锁相环处于锁定状态时，电荷泵会周期性的（频率等于鉴相频率）产生交替变换（正负）脉冲电流给环路滤波器。
环路滤波器对其进行积分产生稳定的控制电压。
图表 3 环路锁定时，PLL电荷泵电流输出波形当鉴相频率较低时，由电荷泵的漏电流引起的杂散占主要地位。
当鉴相频率较高时，由电荷泵的交替电流（源电流I和汇电流I）引起的杂散占主要地位。
sourcesink二者频率的界定。
锁相环倍频器的实训报告
一、实训目的通过本次实训，使学生掌握锁相环倍频器的基本原理、设计方法和实验技能，提高学生运用理论知识解决实际问题的能力，培养学生的动手操作能力和团队协作精神。
二、实训内容1. 锁相环倍频器的基本原理锁相环倍频器是一种能够将输入信号频率进行整数倍放大的电路。
它主要由压控振荡器（VCO）、鉴相器（PD）、低通滤波器（LPF）和分频器组成。
当输入信号与VCO的输出信号之间存在相位差时，PD将这个相位差转换为误差电压，通过LPF滤波后，控制VCO的频率，使VCO的输出信号与输入信号保持同步，从而达到倍频的目的。
2. 锁相环倍频器的设计（1）选择合适的VCO：根据输入信号的频率和所需的倍频次数，选择合适的VCO，确保VCO的频率范围满足设计要求。
（2）设计鉴相器：鉴相器的作用是检测输入信号与VCO输出信号的相位差，并将相位差转换为误差电压。
常用的鉴相器有乘法鉴相器和相位比较鉴相器。
（3）设计低通滤波器：低通滤波器的作用是滤除误差电压中的高频分量，使其平滑，以便控制VCO的频率。
常用的低通滤波器有RC滤波器和有源滤波器。
（4）设计分频器：分频器的作用是将VCO的输出信号进行分频，得到所需的倍频信号。
常用的分频器有数字分频器和模拟分频器。
3. 锁相环倍频器的实验（1）搭建实验电路：根据设计好的电路图，搭建锁相环倍频器实验电路。
（2）测试电路性能：使用示波器、频率计等仪器，测试电路的输出信号频率、相位噪声、频率稳定度等性能指标。
（3）分析实验结果：根据实验数据，分析电路性能，找出存在的问题，并提出改进措施。
三、实训过程1. 实验准备（1）查阅相关资料，了解锁相环倍频器的基本原理、设计方法和实验技巧。
（2）熟悉实验设备和仪器，了解其性能和操作方法。
（3）设计实验电路图，列出所需元器件清单。
2. 搭建实验电路（1）按照实验电路图，连接电路元器件。
（2）检查电路连接是否正确，确保电路安全可靠。
3. 测试电路性能（1）使用示波器观察VCO的输出信号波形，记录频率、相位噪声等数据。
数字锁相环的相位噪声分析
电气传动2021年第51卷第11期摘要：随着信息化社会的发展，数字锁相环越发受研发人员的重视。
而相位噪声是衡量数字锁相环性能的关键技术，更是研究的重点。
介绍数字锁相环的组成结构和工作原理，建立环路各个模块的相位噪声模型，从闪烁噪声和白噪声的特性入手，定性分析相位噪声的影响因素，并针对电荷泵增益和环路滤波器阻抗对锁相环电路相位噪声的影响进行了仿真，进一步验证了分析结果，为设计高性能的数字锁相环提供理论基础。
关键词：数字锁相环；相位噪声；振荡器；电荷泵；环路滤波器中图分类号：TM28文献标识码：ADOI ：10.19457/j.1001-2095.dqcd21463Analysis of Phase Noise in Digital Phase -locked Loop ZHANG Zhanrong 1，WANG Yunfei 2，QU Meixia 2，ZHAO Li 3（1.Department of Mechanical and Electrical Engineering ，Ordos Vocational College ofEco-environment ，Ordos 017010，Nei Moggol ，China ；2.Basic Department ，Ordos Vocational College of Eco-environment ，Ordos 017010，Nei Moggol ，China ；3.School of Software ，Shanxi University ，Taiyuan 030013，Shanxi ，China ）Abstract:With the development of information society ，digital phase-locked loop （DPLL ）attracts more and more attention of researchers.As the key technology to evaluate the performance of DPLL ，phase noise becomes the key point of the study.The structure and work principle of DPLL were introduced ，the phase noise model of each module of the loop was established.Starting from the characteristics of flicker noise and white noise ，the influence factors of phase noise were analyzed qualitatively ，and the influence of charge pump gain and loop filter impedance on phase noise of PLL circuit was simulated to further verify the analysis results.The theoretical basis was provided for improving the phase noise performance of DPLL.Key words:digital phase-locked loop （DPLL ）；phase noise ；oscillator ；charge pump ；loop filter基金项目：山西省科技厅基础研究计划项目—青年科技研究基金（2014021039-6）作者简介：张占荣（1969—），男，本科，副教授，Email ：131****************数字锁相环的相位噪声分析张占荣1，王云飞2，屈美霞2，赵丽3（1.鄂尔多斯生态环境职业学院机电工程系，内蒙古鄂尔多斯017010；2.鄂尔多斯生态环境职业学院基础部，内蒙古鄂尔多斯017010；3.山西大学软件学院，山西太原030013）现代频率源一般是由直接频率合成、间接频率合成和直接数字频率合成这三种合成技术实现的[1]。
锁相环实验报告
锁相环实验报告1. 引言锁相环（Phase-Locked Loop，简称PLL）是一种常用的控制系统，可以实现输入信号与参考信号之间的相位同步。
在通信、控制、测量等领域有广泛的应用。
本实验旨在通过搭建锁相环电路并进行实验，深入了解锁相环的工作原理和特性。
2. 实验设备和器材本实验所用设备和器材如下： - 函数发生器 - 直流稳压电源 - 射频信号源 - 锁相环芯片 - 示波器 - 电阻、电容等器件 - 连接线等3. 实验原理锁相环是由相位比较器、低通滤波器、控制电压产生电路和VCO（Voltage Controlled Oscillator）组成。
其工作原理可分为以下几个步骤：1.输入信号与参考信号经过相位比较器进行比较，得到相位误差信号。
2.相位误差信号经过低通滤波器得到控制电压。
3.控制电压经过控制电压产生电路产生驱动VCO的控制信号。
4.VCO根据控制信号输出频率可变的信号。
5.输出信号经过除频器和低通滤波器得到稳定的参考信号。
4. 实验步骤1.连接实验电路，将函数发生器作为输入信号源，射频信号源作为参考信号源，分别接入相位比较器的输入端和参考输入端。
将相位比较器的输出接入低通滤波器，再将低通滤波器的输出接入控制电压产生电路。
控制电压产生电路的输出接入VCO的控制信号输入端，VCO的输出信号接入除频器和低通滤波器，最后将低通滤波器的输出与相位比较器的输入相连。
2.将实验电路接通电源，调节函数发生器和射频信号源，使得函数发生器输出的波形为正弦波，在示波器上观察输入信号和输出信号。
3.调节控制电压产生电路中的参数，观察输出信号的频率和相位变化。
4.调节VCO的参数，观察输出信号的频率和相位变化。
5.记录实验数据并进行分析。
5. 实验数据和结果分析根据实验步骤中的操作，记录下实验数据，并进行结果分析。
可以观察到输入信号和输出信号的频率和相位的变化情况，通过对比分析得出锁相环的工作特性。
6. 结论通过本次实验，我们深入了解了锁相环的工作原理和特性。
锁相频率源混频信号的相位噪声分析
锁相频率源混频信号的相位噪声分析为了研究锁相频率源的混频信号的相位噪声问题，本文将锁相源的相位噪声构成作为基础，构建起两路相关锁相源混频相位噪声近似数学模型，并开展了相关实验。
实验数据表明，模型仿真能够得到与实验一致的结果，可以在很大程度上降低相位噪声估值偏差。
标签：锁相频率源;混频信号;相位噪声1 相位噪声概述通常来讲，信号频率或者相位本身的短期性、随机性起伏是引发相位噪声的主要原因，理想的频率源信号得到的频谱近似直线，数学上一般用带有幅度的Delta函数表示。
而从实际测量的角度，频谱信号两侧可以看到宽度较大的连续分布谱，其形成的原因是热能与其他噪声源随机起伏对于频率信号的调整，这里的连续分布谱实际上就是相位噪声。
假定θ（t）表示噪声形成的调制信号，考虑到相位噪声同样属于较小的信号调制，满足θ（t）《1，可以将频率源信号表示为：（1）公式中，fc表示载波信号，对于公式进行相应的Fourier变换，可以得到（2）这里的S（f）表示S（t）的Fourier頻率谱，Sθ=F（θ（t）），表示相位与频率抖动的功率谱密度。
结合上述公式，参考相位噪声的内涵，可以通过分贝值的形式来对频率源相位噪声进行表示，有（3）公式中，=f-fc，该公式实际上是偏离载波位置1Hz带宽的相位噪声。
调制信号本身属于非平稳性的随机过程，而结合相应的文献研究以及工程实践，可以将其近似看做是平稳的高斯过程，能够得到近乎实际工程值的结果。
设相应的高斯过程θ（t）为N（0，），均值E=0，相位与频率会于载波信号附近抖动。
方差表示为相位噪声的功率，依照上述公式，可以得到相应的公式（4）2 锁相频率源相位噪声结构就目前而言，比较常见的锁相源一般都是有压控振荡器、鉴相器、环路滤波器以及分频器等构成，所有元器件的噪声都会影响最终输出频率的相位噪声，而其中最为关键，最不可避免的，是鉴相器鉴相基底倍频以及参考信号锁相倍频的恶化。
参考公式（4），可以将锁相源相位噪声表示为（5）在公式中，表示锁相源最终输出的相位噪声功率，和分别表示晶振锁相倍频恶化以及鉴相基底倍频恶化后的相位噪声功率，结合上述分析，参照公式（4）和公式（5），可以将相位噪声改写成分贝值的形式，得到锁相源相位噪声计算公式：（6）3 加入混频器后的相位噪声分析理想状态下，混频器的输出包含了两个输入信号的和频与差频，而实际上，混频器具备多个交调分量，不过和频与差频是主要分量。
数字锁相环路噪声特性分析及其对策
（ 百
用相 位 噪声功 率谱 密 度可 表示 为 ：
：
ｌ× ＋＋ Ｉ Ｉ × ３ 『 ｓ㈦×＋ ＋ 舻 Ⅳ ｌ × ２ ） 】 × 一 ｓ ｃ
Ｋ （＋ ＶＫｄＦ（ｍ ！ ） ｊ ） … ｔ） ４
式 中： 如
Ｈ ｊ 即为环路 的闭环传递函数。 （ ∞）
同方案 实现 的工程 样机 的指 标 测试 结果 也验 证 了理论 分析 的正确 性 ．
关键 词 ：锁相 环 相 位噪 声 传递 函 数
１ 引言
锁相 技术 的迅速 发 展 ，使 它在 通信 、雷达 、导 航 、 仪器 仪 表 等许 多方 面 得到 了广泛 的 应 用 。随着 现代 电子 战环 境 的 日益复 杂 ，要 求 系统 同时 兼顾 接 收 带 宽 、灵敏 度和 动 态范 围 等技 术指 标 。这 就 对接 收 机 本振 的工 作频 率 范 围 、相 位 噪 声等 指 标提 出了较 高 的要 求 。数
・ 带通 型噪 声
在环 路输 出频 谱 的相位 噪 声 中 区， 即在 环路 固有 振 荡频 率 的 附近 （ ∞≈ ∞ ） ，主 要 是通 过各 种途 径进 入 Ｖ Ｏ调 谐 电压输 入端 的噪 声 （ Ｖ Ｏ的粗 调预 置 电压 ）带来 的影 响 ，通过 Ｃ 如 Ｃ 环路 的作 用 ，这 类 噪声 的恶 化 因子 为 ［０ ｇ Ｋ／ 一 ］ ２ １ （ｖ∞ ） ３ 。 综上 所述 ，环 路对 以上 各 种 噪 声呈现 不 同 的滤波 特 性 ，若 要 降低 低通 型 噪 声 的影 响 ， 希 望 ∞ 选得 越 窄越 好 ；但对 于 高通 和 带通 型 的 噪声 ，则希 望 ∞ 大 一些 好 ，因此这 就给 环 路 带 宽 的选 择 带 来 了矛 盾 。正 是 因 为 以上 多种 因 素 的共 同作 用 ，环 路 输 出相 位噪 声 曲线 往往 会 在 ∞ 附近 有 一 “ 鼓包 ”。如 何 选取 适 当 的环路 参数 ，有效 地解 决 这 一矛盾 也是 锁相 环 设 计和 调试 过程 中 的主要 工 作之 一 。 ３２ 方 案 改进 ．
锁相环频率合成器相位噪声改善方法分析
锁相环频率合成器相位噪声改善方法分析在众多电子设备中，如：雷达探测、检测仪器、通信等，锁相环频率合成器作为接收机的核心部件，其的性能直接影响着电子设备的整体性能，尤其是相位噪声，直接关系着频率稳定性，影响着电子设备的精确度。
对此，积极改善相位噪声，提高锁相环频率合成器的稳定性，满足人们对电子技术的高质量需求，具有重要意義。
文章对相位噪声的改善方式展开探析。
标签：锁相环;频率合成器;相位噪声;改善方式1 锁相环频率合成器的简单概述当前，频率合成器的常见实现方式主要包含三种：直接模拟（DAS）、锁相环频率合成（PLL）以及直接数字频率合成（DDS）。
频率合成器主要以高精准的晶体振荡器为基准，利用合成技术，产生一系列拥有一定的频率间隔且高清度的频率源，因此，频率合成器又被分为直接合成器与锁相环合成器[1]。
2 锁相环频率合成器的结构与相位噪声在三种频率合成方式中，PLL相比于DAS、DDS，杂散抑制更高，频谱更纯净。
与DDS相比，PLL的频段更加宽泛;相比于DAS，PLL的结构更加简单。
因为种种优势，在我国通信、雷达、仪表等电子设备中，锁相环频率合成器的应用较为广泛。
在锁相环合成器中，其主要采用PLL展开频率合成，而单环锁相环最为简单，只需要在压控振荡器、鉴相器两者间连接的锁相环反馈电路之上添加整数分频器，即可形成整数频率合成器。
分频系数变动，则压控振荡器将产生的输出信号频率相应不同，因为，该种合成器的频率为所参考信号的整数倍频率，因此，其被叫做整数频率合成器。
不过，PLL也存在一定缺陷，即相位噪声更大。
相位噪声的存在，电子设备性能受到影响，如：在通信设备中，相位噪声影响，话路信噪比因此下降，增大了误码率;在雷达设备中，相位噪声的存在，雷达对扫描目标的分辨率下降;若相位噪声进入接收机，将形成较强干扰信号，产生倒混频，增大接收机的噪声系数[2]。
基于此，在电子技术不断发展的时代，改善相位噪声，成为锁相环频率合成器不断不断研发的重点。
锁相环频率合成器的相位噪声分析与抑制方法研究
锁相环频率合成器的相位噪声分析与抑制方法研究摘要：随着科技的不断发展，锁相环频率合成器在电子通信、雷达系统等领域扮演着重要的角色。
然而，相位噪声是其性能的一项关键指标。
本文将介绍锁相环频率合成器及其应用，并对相位噪声的来源和度量进行分析。
同时，还将探讨相位噪声对系统性能的影响，以及相位噪声分析的方法。
最后，我们将探讨各层面的相位噪声抑制方法，包括系统级、组件级和信号处理技术的应用。
这些抑制方法将帮助提高锁相环频率合成器的性能，并满足实际应用的需求。
关键词：锁相环频率合成器；相位噪声；抑制方法引言随着现代通信和雷达系统对高精度、稳定频率的需求不断增加，锁相环频率合成器作为一种常见的频率合成技术被广泛应用。
然而，锁相环频率合成器的性能受到相位噪声的限制。
相位噪声会引起频率合成器输出信号的不稳定性和扩展带宽。
因此，相位噪声的分析和抑制是实现高性能锁相环频率合成器的关键问题。
本文将深入分析锁相环频率合成器的相位噪声特性，并提出一系列抑制方法，以提高其性能和应对各种应用场景的要求。
这些研究对于推动锁相环频率合成器技术的发展具有重要意义。
1.介绍锁相环频率合成器的基本原理和应用锁相环频率合成器是一种常见的电路技术，用于生成稳定的高精度频率信号。
其基本原理是通过比较参考信号和反馈信号的相位差，并利用反馈控制来调整振荡器的频率，使两者同步。
锁相环频率合成器广泛应用于无线通信、雷达系统、钟表等领域，用于频率调制、频率合成、时钟同步等功能。
它能够提供稳定且高精度的频率输出，并具备快速锁定时间和抗干扰能力，因此成为现代电子设备中不可或缺的关键组件之一。
2.相位噪声分析相位噪声是指在锁相环频率合成器中由于器件非线性、温度变化、电源波动等因素引起的相位不稳定性。
对于频率合成器的性能和精度至关重要。
相位噪声可以通过相位噪声密度和相位噪声功率来衡量，通常以dBc/Hz或rad^2/Hz的形式表示。
相位噪声的频率特性分析可以揭示主要来源和噪声传播途径，而幅度特性分析可以评估抑制方法的有效性。
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锁相环输出信号相位噪声噪声及杂散特性分析应用实践
【摘要】本文详细地介绍了锁相环的鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声对锁相环合成输出信号的近端相位噪声的具体贡献值。
并以CDMA 1X基站系统中800MHz的FS 单板的锁相环输出信号相位噪声指标进行理论计算。
为广大锁相环设计者提供理论计算方法的参考和实践设计的参考依据。
【关键词】锁相环设计，相位噪声
一、术语和缩略语
表格 1 术语和缩略语
二、问题的提出
锁相环工作原理图，由三部分组成：鉴相器（PFD）、环路滤波器（LPF）和压控晶体振荡器（VCXO），如图0-1所示。
图0-1锁相环原理框图
锁相环输出信号指标主要有相位噪声、谐波抑制、杂散、输出功率、跳频时间。
在本文中以CDMA 1X基站系统中800MHz的FS单板应用为背景，在CDMA基站中不需要跳频，所以调频时间基本不做要求。
输出功率比较好控制，只要调整衰减网络就能保证。
锁相环输出信号的相位噪声、谐波抑制和杂散成为影响系统指标的主要因素，成为锁相环技术的关键指标项。
在锁相环设计中，相位噪声和杂散成为系统设计主要难点。
三、解决思路
相位噪声分析
相位噪声主要由VCO、鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声这四部分引入。
环路滤波器对于由鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声这三部分引入的相位噪声
具有低通特性，对于VCO产生的相位噪声具有高通特性。
一般来说环路带宽内的相位噪声主要决定于由鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号，环路带宽以外的相位噪声主要决定于VCO，在环路带宽周围，这四部分的噪声影响相当。
所以为了尽量降低输出信号的相位噪声环路滤波器的环路带宽的最佳点是由鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声这三部分引入的相位噪声总和与VCO引入的相位噪声相同时的频率。
在实际运用中还礼滤波器的设计是非常重要的。
对于远端相位噪声如100KHz和1MHz处的一般远远高于环路带宽，其相位噪声主要决定于VCO，要保证其指标主要是选择良好的VCO。
而近端相位噪声如100Hz主要由鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声决定，但如果还礼带宽取得很小的话如200Hz则VCO的影响也将非常之大。
而如果环路带宽远远大于1KHz如为6KHz 以上时1KHz处的相位噪声也将主要由鉴频鉴相器、分频器和输入参考信号的相位噪声决定。
下面就分别分析这三部分相位噪声。
由鉴相器引入的相位噪声
由于鉴相器引入的相位噪声为：
PD Phase Noise = ( 1 Hz Normalized Phase Noise Floor from Table )
+ 10log( Comparison Frequency ) + 20log( N )
现在FS板的中频环路采用的PLL芯片为NS的LMX2306，其相位噪声基底为-210dBc/Hz。
在CDMA 1X 基站系统800MHz的FS单板中采用的鉴相频率为30KHz，两个中频分别为69.99MHz和114.99MHz，由鉴相器产生的相位噪声为：
69.99MHz：
PD Phase Noise= -210+10log(30000)+20log(69990000/30000)= -97.9dBc/Hz 114.99MHz：
PD Phase Noise= -210+10log(30000)+20log(114990000/30000)=-93.5dBc/Hz 射频本振范围为754~779MHz。
步进为30KHz，鉴相频率为240KHz。
对于779MHz 的本振由鉴相器引入的相位噪声为：
PD Phase Noise= -210+10log(240000)+20log(779000000/240000)=-85.9dBc/Hz
由分频器引入的相位噪声
由分频器引入的相位噪声的计算公式入下：
DIV Phase Noise = (Device Phase Noise Floor )+ 20log( N )
PLL芯片中分频器的相位噪声在器件手册中并没有给出。
一般高频分频器的相位噪声基底约为-165dBc/Hz左右。
因此就假设分频器的相位噪声基底为-165dBc/Hz，于是得到分频器引起的相位噪声如下：
69.99MHz的中频频率为：
DIV Phase Noise= -165+20log(69990000/30000)= -97.6dBc/Hz
114.99MHz的中频频率为：
DIV Phase Noise= -165+20log(114990000/30000)= -93.3dBc/Hz
779MHz的射频频率为：
DIV Phase Noise= -165+20log(779000000/240000)= -94.7dBc/Hz
由参考信号引入的相位噪声
参考信号引起的相位噪声的计算公式如下
REF Phase Noise = (REF’S Phase Noise )-20log（R）+ 20log( N )
系统的参考信号都是由GPSTM模块提供的，GPSTM输出的参考信号的相位噪声为-130dBc/Hz@100Hz和-145dBc/Hz@1KHz。
最后参考信号通过FDM板到FS板，FDM板输
出的参考信号的相位噪声为-120dBc/Hz@100Hz和-130dBc/Hz@1KHz。
在单板调试和测试时使用的参考信号12MHz的采用了OCXO的输出，10MHz的参考信号采用了VCO/PLL测试仪4352B的10MHz参考输出，其相位噪声应该比GPSTM差些应该接近FDM的输出。
这两个参考信号用4352B VCO/PLL测试仪测试出的相位噪声如下两图所示：其中图0-2为OCXO输出的相位噪声图，图0-3为VCO/PLL测试仪的10MHz参考输出相位噪声图。
图0-2用4352B测试出的OCXO的12MHz输出相位噪声
图0-3用4352B测试出的其10MHz的参考输出相位噪声
由上面两张图分析这两个输出的相位噪声在100Hz和1KHz射分别约为-80dBc/Hz和-105dBc/Hz，于刚才分析的分别约为-120dBc/Hz和-130dBc/Hz差别较大，这应该是由于测试仪器产生的，也就是说4352B VCO/PLL测试仪在100Hz和1KHz时基本只能测到-80dBc/Hz和-105dBc/Hz。
下面假定使用的参考信号的相位噪声就为上面提到的为-120dBc/Hz@100Hz和。