塞曼效应实验报告
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塞曼效应实验报告
一、实验目的与实验仪器
1. 实验目的
(1)学习观察塞曼效应的方法,通过塞曼效应测量磁感应强度的大小。
(2)学习一种测量电子荷质比的方法。
2.实验仪器
笔形汞灯+电磁铁装置,聚光透镜,偏振片,546nm滤光片,F-P标准具,标准具间距(d=2mm),成像物镜与测微目镜组合而成的测量望远镜。
二、实验原理
(要求与提示:限400字以内,实验原理图须用手绘后贴图的方式)
1.塞曼效应
(1)原子磁矩和角动量关系
用角动量来描述电子的轨道运动和自旋运动,原子中各电子轨道运动角动量的矢量和即原子的轨道角动量L,考虑L-S耦合(轨道-自旋耦合),
原子的角动量J=L+S。量子力学理论给出各磁矩与角
动量的关系:
= - L,L=
L
= - S,S=
S
由上式可知,原子总磁矩和总角动量不共线。则原
子总磁矩在总角动量方向上的分量J为:
= g J,J=
J
L为表示原子的轨道角量子数,取值:0,1,2…
S为原子的自旋角量子数,取值:0,1/2,1,3/2,2,5/2…
J为原子的总角量子数,取值:0,1/2,1,3/2…
式中,g=1+为朗德因子。
(2)原子在外磁场中的能级分裂
外磁场存在时,与角动量平行的磁矩分量J与磁场有相互作用,与角动量垂直的磁矩
分量与磁场无相互作用。由于角动量的取向是量子化的,J在任意方向的投影(如z方向)为:
= M,M=-J,-(J-1),-(J-2),…,J-2,J-1,J
因此,原子磁矩也是量子化的,在任意方向的投影(如z方向)为:
=-Mg
式中,玻尔磁子μB =,M为磁量子数。
具有磁矩为J的原子,在外磁场中具有的势能(原子在外磁场中获得的附加能量):
ΔE = -J·=Mg B
则根据M的取值规律,磁矩在空间有几个量子化取值,则在外场中每一个能级都分裂为等间隔的(2J+1)个塞曼子能级。原子发光过程中,原来两能级之间电子跃迁产生的一条光谱线也分裂成几条光谱线。这个现象叫塞曼效应。
2.塞曼子能级跃迁选择定则
(1)选择定则
未加磁场前,能级E2和E1之间跃迁光谱满足:
hν = E2 - E1
加上磁场后,新谱线频率与能级之间关系满足:
hν’= (E2+ΔE2) – (E1+ΔE1)
则频率差:hΔν = ΔE 2 -ΔE1 = M2g2 B - M1g1B = (M2g2- M1g1)B
跃迁选择定则必须满足:
ΔM = 0,±1
(2)偏振定则
当△M=0时,产生π线,为振动方向平行于磁场的线偏振光,可在垂直磁场方向看到。
当△M=±1时,产生σ谱线,为圆偏振光。迎着磁场方向观察时,△M=1的σ线为左旋圆偏振光,△M=-1的σ线为右旋圆偏振光。在垂直于磁场方向观察σ线时,为振动方向垂直于磁场的线偏振光。
3.汞
能级3S13P2
L 0 1
S 1 1
J 1 2
g 2 3/2
M 1 0 -1 2 1 0 -1 -2
Mg 2 0 -2 3 3/2 0 -3/2 -3
汞原子的绿光谱线波长为546.1nm,是由高能
级{6s7s}3S1到低能级{6s6p}3P2能级之间的跃迁,
其上下能级有关的量子数值列在表1。3S1、3P2表
示汞的原子态,S、P分别表示原子轨道量子数L=0
和1,左上角数字由自旋量子数S决定,为(2S+1),
右下角数字表示原子的总角动量量子数J。
在外磁场中能级分裂如图所示。外磁场为0
时,只有546.1nm的一条谱线。在外场的作用下,
上能级分裂为3条,下能级分裂为5条。在外磁场
中,跃迁的选择定则对磁量子数M的要求为:
△M=0,±1,因此,原先546.1nm的一条谱线,在
外磁场中分裂为9条谱线。
9条谱线的偏振态,量子力学理论可以给出:
在垂直于磁场方向观察,9条分裂谱线的强度(以中
心546.1nm谱线的强度为100)随频率增加分别为
12.5,37.5,75,75,100,75,75,37.5,12.5.
4.F-P标准具
本实验通过干涉装置进行塞曼效应的观察。我们选择法布里-珀罗标准具(F-P标准具)作为干涉元件。F-P标准具基本组成:两块平行玻璃板,在两板相对的表面镀有较高反射率的薄膜。
多光束干涉条纹的形成
一束光以小角度θ射入F-P标准具后,在标准具的A、B两平行玻璃板的内表面之间经过多次反射,分成相互平行的多束光从B板外表面出射,经透镜将会聚于其焦平面上产生干涉。由于旋转对称性,同一入射角θ在其焦平面上汇聚成一圆环。设A、B两平行玻璃板内表面间的距离为d,两板间介质折射率n,则相邻两平行光束的光程差△=2ndcosθ.
产生干涉主极大(亮纹)的条件为:
△=2ndcosθ=kλ,k为整数
由于标准具间距d固定,在波长λ不变的情况下,不同的干涉级次对应不同的入射角θ. 在Hg灯照明下,相同的入射角,都将汇聚在同一个干涉圆环上。因此,F-P标准具是等倾干涉装置,干涉条纹是一系列的同心圆环,中心处级次最高。
5.微小波长差测定
用透镜把F-P标准具的干涉圆环成像在焦平面上,干涉圆环的直径分布信息反映在谱线
的频谱分布特征。设统一波长(如)相邻级次k和k-1级圆环直径分别为和,同一级
次k的不同波长、,干涉圆环直径分别为和。波数差与各直径的关系为:
△= ≈
6.电子荷质比的测定
使波长为λ的谱线产生塞曼分裂,则
=
三、实验步骤
(要求与提示:限400字以内)
1. 调节F-P标准具,将光路上各元件调到等高共轴。
2. 观察汞绿线 546.1nm的干涉圆环。
3. 放上偏振片,当偏振片偏振方向为水平时,可以看到π成分的3条谱线。
4. 调整望远镜测量K,K-1,K-2级干涉条纹的直径。
注意事项:
①F-P标准具、干涉滤光片是精密光学元件,务必要保护好,严禁触摸光学面。对标准具调节操作要细心,切勿摔、磕标准具。从支架上装卸标准具的工作必须由实验工程师进行。F-P标准具的操作:按上课老师的要求进行。
②由于电磁铁具有大磁感,磁铁电源开启前必须使电流调节旋钮逆时针旋到头,实验结束前,必须先使电流调节到零后在关闭电源开关,以免损坏仪器。
四、数据处理
(要求与提示:对于必要的数据处理过程要贴手算照片)
从= 可知,要想计算得到电子荷质比,则必须知道发生塞曼分裂后
能级跃迁光谱与塞曼分裂前能级跃迁光谱的波数差,磁感应强度B,以及发生塞曼分裂后能级跃迁关系。
我们测量的为三条π线的跃迁光谱,由于产生π线光谱有3条谱线,如下表: