光刻过程 ppt课件

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光刻机简单介绍PPT(共 36张)

光刻机简单介绍PPT(共 36张)
RSET θ
RETICLE ALIGNMENT ALIGNMENT CHECK Y
ALIGNMENT CHECKθ
RETICLE计算
RSET X LSA SET Y
FIA SETY ALIGNMENT CHECK X
LSA SET X FIA SET X WGA SET Y
WGA SET θ
NG
ROTATION
光学基础知识
• i线:波长=365nm • g线:波长=436nm • 波长越长频率越低
i>g
光刻机整体构造
Uv lamp
HEPA filter
reticle
lens wafer
Wafer stage
送风机
Heater
压缩机 风
进风口
光学系构造
RA
C F R1 R2 M1
S I MF、SF B
掩膜版对准系统(一)
➢以shutter反射的E线光源作为对准光源,将 掩膜版对准MARK与工作台上基准MARK进 行对准。
➢对准过程复杂,精度要求高。 ➢对准的后期进行LSA、FIA激光校正,为
WAFER对准作准备。
掩膜版对准系统(二)
对准顺序
LOOP1
START RETICLE SEARCH
RSET X RSET Y

5、世上最美好的事是:我已经长大,父母还未老;我有能力报答,父母仍然健康。

6、没什么可怕的,大家都一样,在试探中不断前行。

7、时间就像一张网,你撒在哪里,你的收获就在哪里。纽扣第一颗就扣错了,可你扣到最后一颗才发现。有些事一开始就是错的,可只有到最后才不得不承认。

8、世上的事,只要肯用心去学,没有一件是太晚的。要始终保持敬畏之心,对阳光,对美,对痛楚。

光刻机简单介绍PPT(共 36张)

光刻机简单介绍PPT(共 36张)

光学基础知识
• i线:波长=365nm • g线:波长=436nm • 波长越长频率越低
i>g
光刻机整体构造
Uv lamp
HEPA filter
reticle
lens wafer
Wafer stage
送风机
Heater
压缩机 风
进风口
光学系构造
RA
C F R1 R2 M1
S I MF、SF B
光刻设备概述(二)
• 微细加工技术的核心,是微细光刻技术。 • 主要有光学曝光、电子束曝光、X射线曝光、
离子束曝光。 • 目前生产上大量采用的是光学曝光技术。 • Nikon光刻机:重复步进式光刻机(NSR)
N S R – 2 2 0 5 i 12 C

② ③④ ⑤ ⑥
① NSR為「Nikon Step and Repeat exposure systems」的略称。 ② 表示最大曝光範囲。
Hg LAMP E
M2 MC ML
光刻机构造-干涉滤光镜
玻璃衬底上涂一层半透明金属层,接着涂一层氟化镁隔层(可以减 少镜头界 面 对射入光线的反射,减少光晕,提 高 成 像 质 量 ),再 涂一层半透明金属层,两金属层构成了法布里-珀罗标准具的两块平行 板。当两极的间隔与波长同数量级时,透射光中不同波长的干涉高峰 分得很开,利用别的吸收型滤光片可把不允许透过的光滤掉,从而得 到窄通带的带通滤光片,其通频带宽度远比普通吸收型滤光片要窄。
光刻机简单介绍
郑鸿光 2012.09.01
目录
1.发展史 2.光刻机概述 3.光刻机构造 4.相关技术
光刻机发展过程
1.接触式光刻机 2.接近式光刻机 3.投影式光刻机 4.扫描式光刻机 5.步进式光刻机 6.步进扫描式光刻机

《光刻技术简介》课件

《光刻技术简介》课件

2 显影
通过化学显影,去除被光 照区域的光刻胶。
3 蚀刻
利用蚀刻液将光刻胶暴露 的硅片上的材料进行蚀刻, 形成所需的结构。
光刻技术的发展历程
1
1 950年代
光刻技术在半导体工业中开始得到应用。
2
1 970年代
投影光刻技术成为主流,取代了逐级光刻技术。
3
1 990年代
应用于生产更小特征尺寸的集成电路,迈向纳米级光刻。
光刻技术的未来展望
随着半导体工艺的进步,光刻技术将继续发展,实现更小尺寸的特征制造以 及更高的生产效率。
《光刻技术简介》PPT课 件
光刻技术是一种在半导体制造中广泛应用的重要工艺,通过将图形模式转移 到硅片上,实现电子元件的精确制作。
光刻技术的定义
光刻技术是一种半导体制造过程,使用光照和光敏物质,将微小的图形模式转移到硅片上,以制作电子元件和 集成电路。
光刻技术的应用领域
芯片制造
光刻技术在半导体芯片制造中是不可或缺的工艺, 用于制作集成电路和微处理器。
光刻技术中常用的设备和材料
光刻机
用于进行光照和显影的设备, 如步进光刻机和直写式光刻 机。
光刻胶
用于光刻模板和硅片之间的 传递图案的光敏物等。
光刻技术的优势和局限性
1 优势
制作精度高、适用于大规模生产、广泛应用于微电子制造等领域。
2 局限性
成本高、对于狭小的图案尺寸限制较大、环境对光刻胶有一定要求。
平板显示
光刻技术用于制造液晶显示器、有机发光二极管 (OLED)等平板显示器件。
光学器件
用于制作光传感器、光纤通信器件以及光学存储 器件等。
微纳加工
光刻技术在微纳加工领域有广泛的应用,用于制 作微机电系统(MEMS)和纳米器件。

光刻与刻蚀工艺流程课件

光刻与刻蚀工艺流程课件

REPORT
CATALOG
DATE
ANALYSIS
SUMMAR Y
02
刻蚀工艺简介
刻蚀工艺的定义
刻蚀工艺:是指利用物理或化学方法,将材料表面的一部分 去除,以达到形成图案或结构的目的。
在半导体制造中,刻蚀工艺是关键的步骤之一,用于形成电 路、器件和其它微结构。
刻蚀工艺的原理
物理刻蚀
利用物理能量,如高能粒子或等 离子体,轰击材料表面,使其原 子或分子从表面溅射出来。
总结词
胶的均匀涂布是光刻工艺中的重要环节,直接影响到光刻胶的覆盖质量和均匀 性。
详细描述
在涂胶过程中,要确保胶液的均匀分布,避免出现胶层厚薄不均、气泡等问题 。可以采用匀胶机进行涂布,控制好涂布速度和温度,以保证胶的均匀性。
曝光能量控制问题
总结词
曝光能量是光刻工艺中的关键参数, 直接影响到曝光质量和光刻胶的溶解 度。
预烘
预烘
使光刻胶中的溶剂挥发, 增强光刻胶与硅片之间的 黏附力。
预烘温度和时间
根据光刻胶类型和特性而 定。
预烘作用
提高光刻胶的黏附性和稳 定性。
曝光
曝光
通过掩膜版将所需图案投影到光 刻胶上,使光刻胶发生化学反应

曝光方式
接触式曝光、接近式曝光、扫描 式曝光等。
曝光剂量
影响光刻胶的溶解性和分辨率。
坚膜温度的控制问题
总结词
坚膜温度是光刻工艺中的重要参数,直接影响到光刻胶的硬度和附着力。
详细描述
要选择合适的坚膜温度,以保证光刻胶的硬度和附着力。坚膜温度过高会导致光刻胶变脆,而坚膜温度过低会导 致光刻胶附着力下降,影响光刻效果。
腐蚀深度的问题
总结词

《光学光刻》课件

《光学光刻》课件
曝光
通过光源照射,使光刻胶中的分子 发生化学反应,形成曝光图形。
光学光刻的工艺流程
01
显影
将曝光后的光刻胶进行显影,使曝 光图形得以显现。
腐蚀
将与光刻胶相接触的基片腐蚀掉, 形成电路或器件的结构。
03Βιβλιοθήκη 02坚膜烘焙增强光刻胶的附着力和耐腐蚀性。
去胶
将剩余的光刻胶去除,完成整个工 艺流程。
04
光学光刻的关键技术
挑战
随着制程线宽的不断缩小,光学光刻技术面临着衍射极限、光源波长限制等物理 极限的挑战;同时,高精度对准和转移技术也是亟待解决的问题。
机遇
随着新材料、新工艺和新技术的不断发展,光学光刻技术有望与其他先进技术相 结合,突破物理极限的限制,实现更小制程线宽的制造;同时,光学光刻技术在 柔性电子、生物医疗等领域具有广阔的应用前景。
光学干涉光刻技术
利用光的干涉现象,实现高精度、大面积的制程 。
光学光刻技术的发展趋势
高分辨率
随着芯片制程的缩小,光学光刻技术需要更高的分辨率。
多功能化
满足不同材料、不同结构、不同制程需求,实现一机多用。
智能化
结合人工智能和机器学习技术,提高制程精度和效率。
光学光刻技术的未来展望
新材料和新技术的应用
微电子封装
在微电子封装领域,光学光刻技术用 于制造高精度、高可靠性的封装结构 ,确保微电子产品的稳定性和可靠性 。
微纳加工领域的应用案例
微纳结构制备
光学光刻技术能够实现微纳级别的结构制备,广泛应用于微纳传感器、微纳执 行器等器件的制造。
生物芯片制备
在生物芯片制备领域,光学光刻技术能够制造高精度、高密度的生物芯片,提 高生物检测和测序的效率。

光学光刻PPT课件

光学光刻PPT课件

ArF 准分子激光:193 nm


极紫外光(EUV),10 ~ 15 nm
X 射线,0.2 ~ 4 nm
电子束
离子束
.
3
接触式
有掩模方式
接近式
非接触式
反射
投影式
全场投影


折射 步进投影

扫描步进投影

矢量扫描
无掩模方式
光栅扫描
(聚焦扫描方式) 混合扫描
.
4
7.2 衍射
当一个光学系统中的所有尺寸, 如光源、反射器、透镜、掩模版上的 特征尺寸等,都远大于光源波长时, 可以将光作为在光学元件间直线运动 的粒子来处理。
但是当掩模版上的特征尺寸接近曝光波长时,就应该把光
的传输作为电磁波来处理,必须考虑衍射和干涉。由于衍射的
作用,掩模版透光区下方的光强减弱,非透光区下方的光强增
加,从而影响光刻的分辩率。
.
5
7.3 调制传输函数和光学曝光
光 强
无衍射效应
.
有衍射效应
6
定义图形的 调制传输函数 MTF 为
MTF Imax Imin Imax Imin
.
20
.
21
优点:
1、掩模版寿命长,图形缺陷少; 2、可以使用高数值孔径的透镜来提高分辨率,通过分步 聚焦来解决焦深问题,可以在大晶片上获得高分辨率的图形;
3、由于掩模尺寸远大于芯片尺寸,使掩模制造简单,可 减少掩模上的缺陷对芯片成品率的影响。
Wmin 0.90μ. m, 7.54μm
16
二、1 : 1 扫描反射投影光刻机
优点:
光源
1、掩模寿命长,图形缺陷少。

第12章 光刻:掩膜,光刻胶和光刻机(课件)

第12章 光刻:掩膜,光刻胶和光刻机(课件)

相移的结果使来自相邻图形的衍射分布尾
部产生相消干涉,而不是相长干涉。这极大 的改善了圆片表面的调制传输函数(MTF), 因而改善分辨率。
Cr
LENS
E-field +
0
I-field 0
Binary Mask Qz
on wafer on wafer
Light Cr
LENS
+
0
-
0
Alternative PSM
Qz Shifter
Light
on wafer on wafer
调制传输函数(MTF)
图形的调制传输函数(Modulating Transfer Function,MTF)可定义为:
MTF
Imax Imax
Imin Imin
MTF强烈依赖于衍射光栅的周期,当光线周期减小, MTF也减小。
图形材料:用于掩膜版上不透明的图形材料通常 是薄层的铬(Chrome,Cr)。厚度通常小于1000A, 通过溅射淀积。有时候会在铬上形成一层氧化铬 (200A)的抗反射涂层。
光学工程师将用户数据转换为写入系统所能接
受的格式。包括数据分割,尺寸标记,图形旋转, 增加套刻标记,内部参照标记,以及一个jobdeck (掩膜上不同图形的位置的说明)。
第十一章 光刻
光刻:Photolithography
光刻是一种图象复印的技术,是集成电路 制程中一项关键的工艺技术。在整个工艺流程 中,光刻的步骤占到50%以上,其成本占总制 造成本的1/3以上。
光刻步骤占整 个工艺流程50%
简单的说,光刻就是用照相复印的方法,
将掩膜版上之图形精确地复印到涂在硅片表 面的光致抗蚀剂(Photoresist)(下面统称光 刻胶)上面,然后在光刻胶的保护下对硅片 进行离子注入,刻蚀,薄膜淀积等各种工艺。

光刻的介绍PPT

光刻的介绍PPT
膜厚对分辨率的影响——胶层越 厚,分辨率越低
膜厚对针孔密度的影响——胶层 越薄,针孔密度越大
膜厚对光刻胶粘附性的影响
光刻的工艺流程
加热去除光刻胶中的溶剂,使其固化,提高光刻胶与衬底的粘附 能力以及角膜的机械擦伤能力

前 烘
面 处 理
点击添加文本
常用方法:
烘箱法:生产效率高,成本低, 烘箱内温度变化大且不均匀
配置 组成
光刻胶
光刻胶的配置:
视良频好的学抗蚀习力 较高的分辨率 两者要兼顾
光刻胶的组成: 聚合物 感光剂 溶剂 增感剂
光刻的工艺流程
点击添加文本 点击添加文本 点击添加文本 点击添加文本
光刻的工艺流程
表 面 处 理
点击添加文本
平面度:有平整的表面(硅上氧 化层) ●慢进慢出,严格控制光刻工艺中 的环境温度 清洁度:有清洁、干燥的硅片表 面 ●刷片,化学清洗 表面性质:提高表面与光刻胶的 粘附性 ●高温烘焙,增粘处理
光刻基本介绍
* 在硅片表面涂胶,然后将掩模板上的图形转移光刻胶 上的过程,再通过后续加工将图形转移到硅片上 *将器件或电路结构临时“复制”到硅片上的过程 *光刻在整个硅片加工成本中几乎占三分之一 *光刻占40%到50%的流片时间 *决定最小特征尺寸
掩模版——光刻胶——硅圆片
光刻三要素
1.掩模板:主体为石英玻璃,透光性高,热膨胀系数小。 2.光刻胶:又称光致抗蚀剂,采用适当的有选择性的 光刻胶,是表面上得到所需要的图像。 3.曝光机:用于曝光显影的一起,利用光源的波长对于 光刻胶的感光度不同,对光刻的图形进行曝光。
速度:对于较厚的胶膜,前烘 的速度要慢
光刻的工艺流程
掩膜版距硅片表面2~20um,无直接接 触,损伤小,沾污少,更长的掩膜寿命, 但间隙的存在会使光穿越掩膜版图形后 发生颜射,降低了分辨率。

光刻与刻蚀工艺ppt课件

光刻与刻蚀工艺ppt课件

6.1 概述
光刻技术被用来界定p-n结的几何形状。
在形成SiO2之后。利用高速旋转机,将晶 片表面旋涂一层对紫外光敏感的材料,称 为光刻胶(photo-resist)。将晶片从旋转机 拿下之后[图 (c)],在80C~100C之间烘烤。 以驱除光刻胶中的溶剂并硬化光刻胶,加 强光刻胶与晶片的附着力。如图 (d)所示, 下一个步骤使用UV光源,通过一有图案的 掩模版对晶片进行曝光。对于被光刻胶覆 盖的晶片在其曝光的区域将依据光刻胶的 型态进行化学反应。而被暴露在光线中的 光刻胶会进行聚合反应,且在刻蚀剂中不 易去除。聚合物区域在晶片放进显影剂 (developer)后仍然存在,而未被曝光区域 (在不透明掩模版区域之下)会溶解并被洗去。
8.2 光刻工艺
正胶和负胶图形转移
光刻胶通常可分为正性胶和负性 胶两类,两者经曝光和显影后得到的 图形正好相反。显影时,正胶的感光 区较易溶解而未感光区不溶解,所形 成的光刻胶图形是掩模版图形的正映 象。负胶的情况正相反,显影时感光 区较难溶解而未感光区溶解,形成的 光刻胶图形是掩模版图形的负映象。
8.2 光刻工艺
光学光刻使用的正胶通常含有三种主要成分:酚醛树脂、感光 剂和有机溶剂。曝光前的光刻胶基本上不溶于显影液。曝光时, 感光剂 — 如 g 线(436 nm)和 i 线(365 nm)光刻时正胶中 的重氮醌(DNQ),因吸收光能而导致化学结构发生变化,在显 影液中的溶解度比曝光前高出很多(约100倍)。显影后,感光 部分光刻胶被溶解去除。
优点:有较高刻 自从80年代后期用多晶硅成功制作旋转式微马达于硅芯片上以来,微机电系统(microelectromechanical systems,MEMS)迅速引起人
们化的学注 方意式光。:等刻离子体(产li生t的h中o性g反r应a物p与h物质y表,面相又互作译用产图生挥形发性曝产物光。 ):使用带有某一层设计几 何图形的掩模版(mask),通过光化学反应,经过曝光和显影,使光 这种方式使得微机电系统产品类似于集成电路,可整批制造,廉价推广。
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径差
2020/12/2
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对准和曝光
接触式曝光:分辨率较高,但是容易造成掩膜版和光刻 胶膜的损伤。
接近式曝光:在硅片和掩膜版之间有一个很小的间隙 (10~25m),可以大大减小掩膜版的损伤,分辨率较低
投影式曝光:利用透镜或反射镜将掩膜版上的图形投影
到衬底上,优点:掩模版与晶片不接触,掩模不受损伤;
26
2020/12/2
27
硅片冷却
匀胶前硅片需冷却 硅片在冷却平板上冷却 温度会影响光刻胶的黏度
–影响光刻胶的厚度
2020/12/2
28
匀胶
硅片吸附在真空卡盘上 液态的光刻胶滴在硅片的中心 卡盘旋转,离心力的作用下光刻胶扩散开 高速旋转,光刻胶均匀地覆盖硅片表面 先低速旋转~500 rpm 再上升到~3000-7000 rpm
20/12/2
23
硅片清洗工艺
2020/12/2
24
光刻工艺-前烘
去水烘干 去除硅片表面的水份 提高光刻胶与表面的黏附性 通常在100°C 与前处理同时进行
2020/12/2
25
光刻工艺-前处理
防止显影时光刻胶脱离硅片表面 通常和前烘一起进行 匀胶前硅片要冷却
2020/12/2
IC制程中最重要的模块,是集成电路中关键的工艺技术最 早的构想来源于印刷技术中的照相制版。光刻技术最早于
1958年开始应用,并实现了平面晶体管的制作。
2020/12/2
5
光刻的一般要求
图形的分辨率高 光刻胶敏感度高 层间对准精密高 缺陷密度低
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6
光刻胶
开始于印刷电路 1950年起应用于半导体工业 是图形工艺的关键 有正胶和负胶两种 光敏材料 均匀涂布在硅片表面 用曝光的方法转移设计图形到光刻胶上 类似于光敏材料涂布在照相用的底片上
用 分辨率:有微米
级的能力 掩膜版和硅片直
接接触,掩膜版 寿命短
2020/12/2
15
接触式光刻机
2020/12/2
16
接近式光刻机
距硅片表面 10微米
无直接接触 更长的掩膜
寿命 分辨率:>3μm
2020/12/2
17
接近式光刻机
2020/12/2
18
投影光刻机(扫描型)
2020/12/2
集成电路工艺之光刻
2020/12/2
1
光刻
1、基本描述和过程 2、光刻胶 3、光刻机 4、光刻工艺 5、新技术简介
2020/12/2
2
精品资料
• 你怎么称呼老师? • 如果老师最后没有总结一节课的重点的难点,你
是否会认为老师的教学方法需要改进? • 你所经历的课堂,是讲座式还是讨论式? • 教师的教鞭 • “不怕太阳晒,也不怕那风雨狂,只怕先生骂我
笨,没有学问无颜见爹娘 ……” • “太阳当空照,花儿对我笑,小鸟说早早早……”
4
光刻基本介绍
在硅片表面匀胶,然后将掩模版上的图形转移光刻 胶上的过程
将器件或电路结构临时“复制”到硅片上的过程。 光刻在整个硅片加工成本中几乎占三分之一。 光刻占40%到50%的流片时间。 决定最小特征尺寸。
2020/12/2
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曝光后烘
玻璃转化温度Tg 烘烤温度大于Tg 光刻胶分子热迁移 过曝光和曝光不足的光刻胶分子重排 平衡驻波效应, 平滑光刻胶侧壁提高分辨率
2020/12/2
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硅片冷却
PEB后,显影前,硅片放置在冷却板上冷 却至环境温度
高温会加速化学反应引起过显影 光刻胶CD变小
2020/12/2
32
2020/12/2
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匀胶后烘
使光刻胶中的大部分溶剂蒸发。 溶剂帮助得到薄的光刻胶膜但是吸收光且
影响黏附性 曝光后烘时间和温度取决于工艺条件 过烘:聚合,光敏性降低 后烘不足:影响黏附性和曝光
2020/12/2
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2020/12/2
35
硅片冷却
需要冷却到环境温度 硅片在冷却板上冷却 硅的热膨胀率:2.5×10-6/°C 对于8英寸硅片,改变1°C引起0.5微米的直
对准是观察掩模平面上的反射图像,不存在景深问题;掩
模版上的图形是通过光学技影的方法缩小,并聚焦于感光 胶膜上,掩模版上可以有比实际尺寸大得多的图像(通常 掩模图形的尺寸是实际尺寸的1~10倍),提高了对准精 度,避免了微细图形制作的困难,也减弱了灰尘微粒的影 响。
缺点:投影系统光路复杂,对物镜成像能力要求高。
2020/12/2
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硅片自动输送轨道系统;真空卡盘吸住硅片;胶 盘
排气系统;可控旋转马达;给胶管和给胶泵
2020/1边2/2 缘清洗(去边)
30
2020/12/2
31
去边(EBR)
光刻胶扩散到硅片的边缘和背面 在机械搬送过程中光刻胶可能回剥落成为
微粒 正面和背面去边EBR 正面光学去边EBR
添加剂
为达到不同的工艺结果而添加多种不同的化 学物质,如添加染色剂以减少反射。
2020/12/2
10
光刻胶的要求
高分辨率 –光刻胶越薄,分辨率越高 –光刻胶越薄,抗刻蚀和离子注入能力越低
高抗刻蚀性(要求厚膜) 好的黏附性 注入屏蔽能力强和针孔少(要求厚膜) 宽工艺窗口
–能适应工艺的变更
2020/12/2
11
光刻胶的种类
2020/12/2
12
2020/12/2
13
光刻机
IC制造中最关键的步骤 IC 晶圆中最昂贵的设备 最有挑战性的技术 决定最小特征尺寸
接触式光刻机 接近式光刻机 投影式光刻机 步进式光刻机
2020/12/2
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接触式光刻机
设备简单 70年代中期前使
19
2020/12/2
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步进光刻机
先进的IC 中最流行的光刻设备 高分辨率
0.25微米或以下 非常昂贵
掩膜图形尺寸5X:10X能够得到更好的分 辨率,但是,它的曝光时间是5X的四倍。 曝光时间和分辨率折中的结果。
2020/12/2
21
光刻的基本步骤
2020/12/2
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硅片清洗
去除沾污 去除微粒 减少针孔和其他缺陷 提高光刻胶黏附性
2020/12/2
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光刻胶的成分
聚合物 溶剂 感光剂 添加剂
2020/12/2
8
聚合物
固体有机材料(胶膜的主体) 转移图形到硅片上 UV曝光后发生光化学反应,溶解性质发
生改变.
2020/12/2
9
溶剂
溶解聚合物 经过旋转涂布可得到薄光刻胶膜.
感光剂
控制和或改变光化学反应 决定曝光时间和强度
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