分立器件测试系统软件平台的设计及实现
半导体分立器件测试系统说明书
QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１ ． ２ ． ５ ． ４ Ｓ Ｅ Ｌ Ｐ Ｉ Ｎ ： 用于扫描器时（Ｓ Ｃ Ａ Ｎ Ｎ Ｅ Ｒ ）设定管脚排列（Ｐ ｉ ｎ ）。 １．２．５．４．１ Ｓ，Ｂ，Ｃ（Ｋ），Ｅ（Ａ）输入器件的管脚（Ｐｉｎ）对应编号。如 Ｂ＝２、 Ｃ＝３、 Ｅ＝１，则设定为 ＳＣＡＮＮＥＲ 的 １ 脚为 Ｅ 端，２ 脚为 Ｂ 端，３ 脚 为 Ｃ 端。
拣”设置）。 １．２．４．２．３．２．２ Ｌｏｇｇｉｎｇ Ｄｉｓａｐｐｅａｒ： 显示器件的测试结果时不显示此项
目的测试结果。 １．２．４．２．３．２．３ Ｒｅｓｕｌｔ Ｃｏｌｏｒ Ｂｌｕｅ： 器件测试不通过时，测试结果用蓝色。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． ２ ． ４ Ｋ ｅ ｅ ｐ Ｆ ｏ ｒ ｃ ｉ ｎ ｇ ： 保持加载。 １．２．４．２．３．３ 标记： 修改各设定值（Ｌｉｍｉｔ Ｍｉｎ ／ Ｌｉｍｉｔ Ｍａｘ ／ Ｂｉａｓ）的
１ ． 文 件 ／ 新 建 建立新的测试文件 ２ ． 测 试 项 ／ 新 增 测试项目的输入 ３ ． 分 类 项 ／ 新 增 分类项目的输入 ４ ． 文 件 ／ 保 存 保存编辑好的文件
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
４． 条件： 作各 Ｂｉａｓ 的设定，输入电流、输入电压等的条件值。 ５． 时间 ： 设定加载／测试时间。可以使用系统的默认值。用户也可以根据器件
的不同及测试的需要自行设定。（注：若测试项的电流值小于 １００ｕＡ 时，时间 应大于 ８ｍｓ． 若测试项的电流值小于 ２００ｍＡ 时，时间应小于 １ｍｓ） ６． 反转极性： 器件的极性反转（ＮＰＮ 或者 ＰＮＰ）。 ７． 编 辑 明 细 ： 测试项目的详细设定窗口。 ８． 点击“ 确 定 ” 确认测试项目的各条件设定的输入。
基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计
１ ． 究 目的 ２研
针对半导体分寺元件的封装测试 环节 ，诞生了半导体分
立 元 件 封 装 测 试 仪 。该 测 试 仪 完成 对 芯 片 的 功 能 、 流 参 数 、 直 交流 参 数 等 的 测 试 ，将 测 试 结 果 数 据 及 分 选 机 通 信 方 式 设 定 参 数 传 输 给 分 选 机 控 制 系 统 ，寄存 在 分 选 机 控 制 系 统 内 嵌 的 寄存 器 内 ： 选 机 控制 逻辑 读 取 以 ｔ 据 及 参 数 ， 照 设 定 的 分 － 数 按 通 信 办式 分 选 机 握 手 并 通 信 。 通 信 的 过 程 中 将 测 试 分 类 信
ｔｏ ｙ ｔ ｒ Ｉ ｓ ｅｍ ｎ ｔ ｅ ｂａ ｅ ｏ ａ ｔ ｒ ｇ ｔ ｅ ｓ ｅ ｔ ｇ ｍａ ｓ Ｏ ｈ ｓ ｆ ｍ ｓ ｅ ｉ ｈ ｅｌ ｃ ｉ ｎ ｎ ｃｈ ｎ ｓ ｆ ｎ ｔ ｉ ｙ ｔ ｍ ｌ ｉ ｅ ａ ｄ ｅ ｔ ｎ ｉ ｌ ｏ ｔ ａ ｒ ｂ ａ — ｉ ｅ。 ｕ ｃ ｉ Ｔｈ ｓ ｓ ｓ ｅ ｏｎ ｉｆ ｓ ｅｘ ｂｌ ｎ ｘ ｅ ｓ ｂ ｅ ｓ ｈ ｔ ｉ ｃａ ｌ ｅ ａｄ ｐｔ ｔ ｅｄ ｔ ａ ｙ ｋ ｎ ｅ ｅ ｔ ｎ ａ ｈ ｎ ｓ ｍ ｎ ｉ ｄｓ ｏｆ ｌ ｃ ｉ ｇ ｍ ｃ ｉ ｅ ｏ ｓ
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分立元器件实验报告
一、实验目的1. 熟悉分立元器件的基本特性和工作原理。
2. 掌握分立元器件在电路中的应用方法。
3. 培养电路搭建、调试和故障排除能力。
二、实验器材1. 电阻、电容、电感等基础分立元器件2. 晶体管（NPN、PNP）、场效应管、二极管等特殊分立元器件3. 万用表、信号发生器、示波器等测量仪器4. 电路板、导线等搭建工具三、实验内容1. 基础分立元器件特性测试- 电阻：测试不同阻值的电阻，观察其伏安特性。
- 电容：测试不同容值的电容，观察其伏安特性。
- 电感：测试不同感值的电感，观察其伏安特性。
2. 晶体管特性测试- NPN型晶体管：测试其输入特性、输出特性和转移特性。
- PNP型晶体管：测试其输入特性、输出特性和转移特性。
3. 场效应管特性测试- 结型场效应管：测试其漏源特性、转移特性和栅源特性。
- 晶体管场效应管：测试其漏源特性、转移特性和栅源特性。
4. 二极管特性测试- 晶体二极管：测试其伏安特性。
- 整流二极管：测试其伏安特性。
5. 分立元器件在电路中的应用- 电阻在电路中的应用：限流、分压、滤波等。
- 电容在电路中的应用：滤波、耦合、去耦等。
- 电感在电路中的应用：振荡、滤波、变压器等。
- 晶体管在电路中的应用：放大、开关、稳压等。
- 场效应管在电路中的应用：放大、开关、稳压等。
- 二极管在电路中的应用：整流、稳压、开关等。
四、实验步骤1. 根据实验要求，搭建相应的电路。
2. 使用万用表测量各元器件的参数，如电阻、电容、电感等。
3. 使用示波器观察电路的输出波形，如放大电路的输出波形。
4. 分析实验数据，总结实验结果。
五、实验结果与分析1. 通过测试，掌握了不同分立元器件的基本特性和工作原理。
2. 学会了如何搭建和调试分立元器件电路。
3. 掌握了分立元器件在电路中的应用方法。
4. 通过实验，提高了电路分析、设计和调试能力。
六、实验总结本次实验使我们对分立元器件有了更深入的了解，掌握了分立元器件的基本特性和工作原理，以及它们在电路中的应用方法。
分立元件自动测试仪图形化编程的实现
ａ ｏ ｔ ｍ ｅｉ ｅ ｏ ｇ ｎ ｒ ｔ ｓ ｐ ｏ ａ ｏ ｔｓ ｆ ｗ ｈ ｒ． ａｔ ｉ ｒ ｅ ｅ ｘ ｃ ｔ ｌ ｆ ｅ ａｃ ｍｐｌ ｒ ａ ｄ ｌ ｒｈ ｉｄｓ ｇｉ ｓ ｎ ｇ ｄ ｔ ｅ ｅ ａｅ ｔ ｔ ｒ ｇ ｍ ｆ ｍ ｅｔ ｏ ｃ ａｔ Ｌ ｓ ｎ ｏ ｄ ｒ ｏ ｇ ｔ ｅ ｕ ａ ｅｉ ， ｏ ｉ ｍｅ ｅ ｒ ｒ ｌ ， ｔ ｅ ｂ ｌ ｅｎ
ＮＭ ａ ｅｉ ｕ ｅ ｏ ｃ ｍｐｌ ｎ ｎ ｅ ｔｓ ｐ ｏ ａ Ｔｈｓｇ ａ ｈ ｃ ｌ ｒ ｇ ａ ｋ ｓ ｓｄ ｔ ｏ ｉ ａ ｄ ｌ ｋ ｔ ｅｔ ｒ ｇ ｍ． ｉ ｒ ｐ ｉａ ｐ ｏ ｍｍｉ ｇ ｔ ｃ ｎ ｌ ｇ ｋ ｓ ｔｅ ｓ ｏ ｅ ｐ ｎ ｅ ｅ ｉ ｈ ｒ ｒ ｎ ｅ ｈ ｏ ｏ ｙｍａ ｅ ａｙ ｔ ｘ ａ ｄ ｔ ｉ ｈ ｄｓ ｒ ｔ ｏ ｏ ｅ ｔ ｙ ｅ ｉ ｃ ａｌ ｅｔｓｅ ， ｎ ｖ ｎ ｃ ｎ ｅ ｉ ｎ ｐ ｒｔ ｈ ｓ ｒｔ ｏ ｏ ｅ ｔ ａ ｔ ｍ ａ ｃｔｓ ｒ ｉ ｅｅｃ ｍｐ ｎ ｎ ｐ ｓ ｃ ｔ ｗｈ ｈ ｃ ｒ ｂ ｅｔｄ ａ ｄ ｅ ｅ ｏ ｖ ｎ ｅ ｔ ｏ ｏ ｅａｅｔ ｅｄ ｃｅ ｅｃ ｍｐ ｎ ｎｓ ｕ ｏ ｔ ｔ ． ｔ ｉ ｉ ｅ ｅ Ｋｅ ｗｏ ｄ ： ｉ ｒ ｔ ｏ ｏ ｅ ｔ ａ ｔ ｍａ ｃｔｓｅ ； ｇ ａ ｈ ｃ ｒ ｇ ａ ｙ ｒ ｓ ｄｓ ｅ ｅｃ ｍｐ ｎ ｎ ｓ ｕ ｏ ｔ ｅｔｒ ｒ ｐ ｉａ ｐ ｏ ｍｍ ｉｇ；Ａｄ Ｆ ｏ ； ｔ ｓ ｆ ｗ ｈ ｔ ｔｓ ｐ ｏ ａ ｃ ｉ ｌ ｒ ｎ ｄ ｌｗ ｅｔ ｏ ｃ ａ ； ｅｔ ｒ ｇ ｍ ｌ ｒ
２１ ０ １年 ¨ 月 簟 ＂ 期
电 子 测 试
ＥＬＥＣＴ ＲＯ ｌｆ ＴＥｓＴ 、 ｃ Ｉ
基于DSP的半导体分立器件外观检测系统设计
心 ，包 括 ： Ｅ 光 源 、Ｃ Ｄ相 机 、图 像 处 理 单 元 ＬＤ Ｃ
和 Ｌ Ｄ 显 示屏 等 ，系统 结构 如 图 １ Ｃ 所示 。 系 统 工 作 流 程 如 下 ：分 立 器 件 到 达 工 位 后 ， 分 选 机 通 过 Ｉ 口向 ＤＳ ／ Ｏ Ｐ发 送 就 位 信 号 ，ＤＳ Ｐ通
务ｌ
訇 似
国 墙
基于ＤＳ 的半导 体分 立器件外观检测 系统设计 Ｐ
Ｄｅｓ ｇｎ ｏｆｅｌ ｉ ｅｃｔ ｏｎｉ ｒ ｃ ｃｏｍ ｐｏｎ ｅｎｔ ｎｓ ｓ ｉ ｐｅｃｔｏｎ ｂａｓ ｉ ｅｄ ｏｎ ＤＡｌ ｉ． ｎ ＣＨＥ Ｋａ Ｍ Ｎ ｉ
Ｄ ｉ１ ．９ ９Ｊ Ｉｓ ．０ ９ １４ ２ １ ．（ ） １ ｏ： ３ ６ ／ ． ｎ １ ０－０ ．０ １ ９ 下 ．２ ０ ｓ ３
０ 引言
机 器 视 觉 检 测具 有 非 接 触 、 速 度 快 、精 度 高 和 抗 干 扰 能 力 强 等 优 点 ｎ，在 半 导 体 制造 中得 到 】 了广 泛 的 应 用 。半 导 体 分 立 器 件 （ 下 简称 分 立 以
。
第３卷 第９ ２ １— （ ） 【５ ３ 期 ０１ ９ － ３】 Ｆ
及 计 算 ； 图像 识 别 完 毕 后 ＤＳ Ｐ通 过 Ｉ 口把 分 选 ／ Ｏ
结 果 传 送给 分 选机 ，完 成 相 应 分 选 动 作 ；作 为 人
１３ ｚ ３ＭＨ ，用 于 系统 运 行 时 存 储 程 序 代 码 、数 据
（ 东南大学 机械工程学 院 。南京 ２ １８ ） １１ ９ 摘 要 ： 针 对半导体分 立器件生产过 程中外观 检测 的需 求 ，本文研 究了基于机 器视觉技术 快速检测 半 导体分 立器件外观参数的方法 。介 绍了以Ｔ Ｓ ２Ｄ ６２ Ｍ ３０ Ｍ ４ 为核心的图像处理单元的硬件 ， 图 该 像处理 单元具有处理速度快 、体积小和功耗低的优点。为适应半导体分立器件产 量大、检测 实 时性要 求高的特点 ，提 出了以 少量特征点代替元件全部轮廓特征的快速外观检测 算法 。实验表
半导体分立器件综合测试系统项目立项申请报告
半导体分立器件综合测试系统项目立项申请报告项目名称：半导体分立器件综合测试系统项目一、项目背景近年来，半导体分立器件市场持续增长，尤其是在电子、通信、汽车、工业控制等领域，对半导体分立器件的需求日益增加。
而半导体分立器件的质量和性能对产品的稳定性和可靠性起着关键作用。
为了确保半导体分立器件的质量和性能满足要求，需要进行多种测试和检测。
然而，目前市场上的半导体分立器件测试系统存在一些问题，如测试效率低、测试过程繁琐等，无法满足用户的需求。
针对上述问题，我们计划开发一款半导体分立器件综合测试系统，旨在提高测试效率，简化测试流程，提高测试精度，满足用户对半导体分立器件测试的需求。
二、项目目标1.开发一款功能全面的半导体分立器件综合测试系统，能够对常见的半导体分立器件进行多种测试和检测，如电气特性测试、参数分析等。
2.提高测试效率，通过优化测试流程和提高测试精度，减少测试时间，降低测试成本。
3.简化操作流程，界面友好，操作简单，降低用户的学习成本，提高用户体验。
4.可以灵活配置和扩展，支持不同型号和规格的半导体分立器件的测试需求。
三、项目计划1.项目启动阶段（1个月）-召集项目团队成员，明确项目目标和范围。
-进行市场调研，分析目前市场上的测试系统的优缺点和用户需求。
-制定项目计划和里程碑。
2.系统设计阶段（2个月）-进行半导体分立器件测试系统的整体设计，包括硬件和软件设计。
-设计系统的主要功能和测试流程。
-确定系统所需的关键技术和核心算法。
3.系统开发阶段（6个月）-按照设计文档进行系统的硬件和软件开发。
-进行系统的集成和测试。
-不断优化系统的性能和稳定性。
4.系统验收阶段（1个月）-对系统进行总体验收测试，确保系统能够满足预期的功能和性能要求。
-完成系统的相关文档，包括用户手册、技术规格等。
四、项目预算本项目预计总投资为100万元，具体分配如下：-软件开发费用：50万元-硬件采购费用：20万元-人员培训费用：10万元-验收测试费用：10万元-其他费用（包括市场调研、宣传等）：10万元五、项目收益分析根据市场调研表明，半导体分立器件市场规模巨大，且需求稳定增长。
半导体分立器件 设计 仿真 流程
半导体分立器件设计仿真流程下载提示：该文档是本店铺精心编制而成的，希望大家下载后，能够帮助大家解决实际问题。
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电子设备模拟测试平台框架的设计与实现
针对 真 实 的手机 运行 的 环境 以及
运 行 机 制 提 出 了模 拟 器 平 台 的 体 系 架构 ，所设 计 的体 系结 构 实现 了两个 目标 ，即应 用程 序 代码 的 独 立 性 和 系统 的 可 配 置 性 。最 后 ， 根 据 所 设 计 的 体 系 结 构 ，使 用 Ｐ ｃ 机 模 拟 器对 其进 行 了实现 实验 的结 果显 示 ，在模 拟 器上 进行 软
层与用户之间 的交互 ， 它的工作方式分为两种 ， 即 主 动 的 方 式 和 被 动 的方 式 。 被 动 方 式 ： 用 户 需 要 输 入 ， 然 后 调 用 底 层的函数返回结果 ，并将结果返 回给用户 。 主 动 方 式 ： 对 底 层 的 消 息 进 行 接 收 ， 针 对接收到 的消息主动 的反馈给 用户， 比如说接 收到了电话，手机的 电量不足等 。 从图１ 我 们 可 以看 到，有 三种 不 同 的信 息传 递的表 示方式，但是我们用实线 箭头 来表 示 函数调 用，比如 申请动态 内存 ，如 图 １中的 虚线所示 ，大多数是通过消息这一机制来运 行
Ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｎ ｉ ｃ Ｔ ｅ ｃ ｈ ｎ ｏ ｌ ｏ ｇ ｙ・ 电子技术
电子设备模拟测试平 台框架 的设计与实现
文／ 陈 果
本 文 首 先 从 移 动 电 子 设 备 的 软 件开 发和 软件 测 试 的现状 开 始 介 绍， 然后根 据 现状 分析 了 当前 开发 测 试模 式 存在 的 问题： 然后
的。
ห้องสมุดไป่ตู้
２ ． ３消息 大致有 以下几类
ＭＭＩ 要 想指定 的服务 器发 送某个 消 息， 服务 器会在一 定的时 间间隔 内返 回给 ＭＭＩ 成 功的消息或者是 失败 的消息，这是标准 的双 向 消息 。 Ｍ Ｉ 琏畏 控制 台界面缝理 飘务缱程 ＭＭＩ 会 以 Ｈａ ｎ ｄ ｌ ｅ ｒ 为 目标发送请求消息 ， 比如 说 ＭＭＩ 通过 发送 一个 Ｃ Ｌ ＯＣ Ｋ 消息 获取 时间，然后在指 定的时间间 隔内 ＣＬ Ｏ ＣＫ会 向 ＭＭＩ 发送 当前 的时 间，这个 也是标 准 的双 向 【 关键词 】电子设备 软件 测试 模 拟器 消息。 图２ ：模拟器体 系结构 定时器 消 息。ＭＭＩ 程 序显 示类 似于屏 保 这样 的画面需要用到定时器消 息，这 个消息不 可 以是 一定数量的返 回消息 ，比如说 定时器消 需要返回消息，所 以说这种消息是单 向的。 １现状和 存在 的问题 息， 当 ＭＭＩ 向Ｃ Ｌ ＯＣ Ｋ发送 时间的请求消息时 ， 单向 的消息 还有 很多 ，比如 说，ＭＭＩ 任 Ｃ Ｌ ＯＣ Ｋ会定时 向ＭＭＩ 发送 当前时 间的消 息， 务 要求刷 新屏幕 需要请 求 Ｌ Ｃ Ｄ任务 ，而不 需 现在 的手机越来越 高级 ，性能越来越高 ， 比如没 ３ ０秒就会给 ＭＭＩ 发送 消息。 能够在手机上运行 的应用程序越来越多 ，几乎 要返 回消息，这就是单 向的消 息；又 比如，键 发送 按压键 盘还是释 放键盘 的 ３ ． ３应用程序代码 的独 立性 每个人 的手机 上都 安装了各种各样的软件 ，因 盘 可 以向 ＭＭＩ 此导致 了手机 复杂 性的显著提高，另外 由于手 消 息，只需要提示而不需要返 回消息，这也是 对 于应 用在 手机 上 的代 码，要 完整 的 原 机单一 的测试 条件 ，大大限制了手机软件的开 单 向 的 。 封不动 的复制 到模拟 器上运行 ，只有这样才 能 发 。而且在用 手机 进行测试的时候，许多发生 保证发生在手机上 的事情也能够在模拟器上 真 的情况会影响 到测试 的结构，所 以，现在国 内 实 的显现 出来 ，能够使 测试的结果最大限度 的 的许 多厂家都使用 Ｐ Ｃ机进 行开发软件 ，然后 在 一个系统 中，有一个 ＭＭＩ 任 务和许 多 接近现实情况 ，也能够 因此证 明模拟器 的可靠 下载 到手机上 ，通过 串 口通信将 Ｔ ｒ ａ ｃ ｅ信息写 的服务任务 ，但 是对于每一个任务 ，他 只有 一 性 。 的Ｐ Ｃ机 上，然后 通 过 Ｔ ｒ ａ ｃ ｅ信 息 定 位 问 题 。 个消 息队列和唯一 的 Ｉ Ｄ标识 。 但是针对手机通话这种相对 来说 比较复杂的 问 ３ Ｐ ｃ 模拟平 台体 系结构设 计 ・ 模拟器体系结构 题，通常情况 下是通 过内部蜂窝站多人协同测 试 ，相 率 怎 么 样 可 想 而 知 。 如 图 ２所 示 。 ３ ． １ 系统 应 该 提 供 的 函数 上面所涉及 到的是 Ｐ Ｃ机的优 点，可否利 （ １ ）ＭＭＩ向服务器发送请求消 息 用Ｐ Ｃ机的开发 环境来辅助手 机的软件开 发是 （ ２ ）服务 器 向 ＭＭＩ 发送 的回应 消 息或 Ｒ Ｔ ＯＳ提供的 内存分配 函数用于 实现各个 个值得思考 的问题 ？再 一个问题是，能否利 任务 的调用 ， 发送 的消 息 电泳完成之后要 能够正确 的释放 。 者是服务器主动给 ＭＭＩ 用所提到的模拟平 台来测试 多方通话等现实生 （ ３ ）控制 台线程主动给 ＭＭ 你发送 的带 对于 Ｒ Ｔ ＯＳ的消 息派 发 函 数，根 据 所接 活中能够遇到却很难把握 的情况 。 收 到 的四元组 的信 息，包 括发送 方 Ｉ Ｄ、消 息 缺省参数 的消息或者通知消 息服务模 块的功能 （ ４ ）控 制台界面 线程发 送给服 务器 的内 Ｉ Ｄ、 接收方 Ｉ Ｄ、 和实 际消息数据块这 四个 部分， ２手机运行环境 将所接收 到的四元 组的信息正确无误 的放在 接 部 的超时消 息，服务 器模块可 以实现特定 时间 间隔向 ＭＭＩ 发送消息 ； 实时 操作 系 统是 多任 务 的操作 系统 ，核 受任务的消 息队列 中等待 处理 。 （ ５ ） 模拟Ｐ Ｔ ＯＳ给 ＭＭＩ 发送 的延时消息 。 对 于定 时器 的实 现 ，所 使 用 的的 函数参 心软件 ，能够提供许 多功 能，比如内存分配功
杭州半导体分立器件测试设备项目可行性研究报告
杭州半导体分立器件测试设备项目可行性研究报告一、背景
随着半导体行业的快速发展，半导体分立器件的测试设备也日益受到重视。
然而，由于传统的测试设备的成本高、效率低，不能很好的满足市场的需求，所以，市场对新型测试设备的需求日益增加。
为此，我们提出在杭州建立半导体分立器件测试设备项目，以满足市场的需求。
二、项目简介
三、技术方案
该项目采用最新的技术方案，结合国内外先进技术，采用多种测试指标，引入了最新的半导体检测仪器，拥有全新的技术结构。
四、项目成本
杭州半导体分立器件测试设备项目的总投资额为30万元，其中固定资产投入18万元，主要投入部分为检测仪器、电源设备、计算机软件及设备安全防护等；流动资金投入12万元，主要投入部分为设备维修以及相关人员的工资及培训费用等。
五、市场调研分析
通过对市场调研及分析，我们得出结论：杭州的半导体分立器件测试需求正在迅速发展，整个年份测试需求增长率接近25%，未来几年仍将保持高速发展。
半导体分立器件测试系统研制
半导体 分立器件测试 系统研制
Ｒｅ ｅ ｒ ｈ ａ ｄ ｓ ａ ｃ ｎ Ｄｅ ｅｏ ｍｅ ｔ ｏ ｓ ｒ ｔ ｅ ｉｏ ｄ ｃ ｏ ｅ ｔ ｇ ｙ ｔ ｍ ｖ ｌｐ ｎ ｆ Ｄｉｃ ｅ ｅ Ｓ ｍ ｃ ｎ ｕ ｔ ｒＴ ｓｉ Ｓ ｓｅ ｎ
乔 爱 民 王 艳 春
（ 蚌埠学院， 安徽 蚌埠 ２ ３ ０ ） ３ ０ ０
戴 敏 史金 飞 （ 东南大学， 江苏 南京 ２ ０ ９ ） １０ ６
摘 要 半 导 体 分 立 器件 测 试 系统 是 提 升 半 导 体 分 立 器件 测 试 和 封 装 企 业 自动 化 水 平 的 一 种 重要 的检 测设 备 。 绍 了一 种 基 于 介
立器件参数测试的需要。
１１ 分立 器 件 测 试 系 统 的 总 体 ．
整个 半 导体 分 立 器 件 测 试 系 统 的 组成 示 意 图如 图 １所示 。
１２１ 半 导 体 分 立 器 件 的 测 试 回 路 ｌ．
ｌ
半 导 体 分 立 器 件 测 试 系 统 的 测 试 原 理 是 ：针 对 分 立 器 件 具 体 的 参 数 测 试 项 ， 过 测 试 主 机 的 控 制 ， 建 具 体 的 测 试 回路 ， 通 搭 将 一 定 的 电压 量 或 电 流 量 加 载 到 分 立 器 件 指 定 的管 脚 上 ，然 后 经 Ａ Ｄ 转 换 后 再 由 测 试 主 机 的 ＣＰ 读 取 和 处 理 ， 测 试 主 机 ／ Ｕ
ＡＲ 微 处 理 器 Ｓ Ｃ４ Ｂ Ｘ 的半 导体 分 立 器件 测 试 系统 。 在 分 析 了测 试 系统 的 测 试 原理 和 半 导 体 分 立 器 件 待 测 参 数 后 ， Ｍ ３ ４Ｏ 概
基于CX9261的国产化软件无线电硬件平台研究与设计
基于CX9261的国产化软件无线电硬件平台研究与设计作者：安超群李飞陈佳鑫来源：《无线互联科技》2023年第17期摘要：针对软件无线电平台小型化、国产化和通用性的发展要求，文章提出了一种国产化软件无线电硬件平台的解决方案。
系统核心平台主要由国产化射频捷变收发器CX9261和复旦微FMK50芯片组成。
通过集成化的硬件和相应的软件设计，实现具有带宽灵活、速率可变和通信体制多样的无线电信号收发功能的软件无线电硬件平台。
文章对系统进行了硬件功能收发测试，验证结果表明：该设计方案实现了软件无线电硬件平台的国产化和硬件高度集成化，具有通用性强、灵活性高和通信波形配置靈活等优点。
关键词：软件无线电；射频收发器；国产化器件；CX9261中图分类号：TP311文献标志码：A0 引言软件无线电可以基于软件定义的无线通信协议而非通过硬连线实现，可通过软件更新升级，实现频带、空中接口协议和功能适配，而不用完全更换硬件［1-2］。
软件无线电技术为现代化通信系统的发展指明了研究方向，但很长一段时间内受限于硬件水平的发展，很难通过软件来随意切换通信体制、通信速率和通信带宽等模块。
射频捷变收发器的出现改变了这一现状，大带宽、高速的射频捷变收发器集成了滤波器、频率合成器、放大器等硬件功能，通过寄存器配置可实现不同带宽、不同速率射频信号的收发和转换功能，同时高度集成化进一步提高了硬件的可靠性。
目前，该领域技术市场长期被国外产品占据。
国防通信领域事关国家安全，国产化应用变得越来越迫切，技术成熟稳定的自主可控芯片，逐渐成为国产替代的不二选择。
本文通过对国产射频捷变收发器和国产FPGA器件的研究，设计出基于CX9261和FMK50 FPGA芯片的软件无线电平台，为软件无线电国产化平台的设计提供解决方案。
1 基于CX9261的软件无线电硬件架构设计CX9261是一款国产宽带、高性能和多通道的射频收发芯片。
其工作频率范围为70 MHz～2.7 GHz，可调谐通道带宽为20 k～60 MHz，集成了低噪放、上/下混频器、多模滤波器、自动增益控制、直流偏移对消、功率强度检测、ADC/DAC、驱动放大器、电源管理、小数分频频率综合、逻辑控制、抽取/插值滤波、数字上下变频和自动校准等功能。
全新构架的中大功率分立器件测试系统STS8203
１ 传统测试方案及其 缺点
目前 的 中大 功率 分立 器件 在成 品测 试方 面一 般 需要经过 Ｄ Ｃ测 试 ， 高 压 、 电流 测 试 要 求 ， 时 有 大 有
电压 需要 高 于 ｌ Ｏ Ｖ一１ ０ 电 流在 几 十 安培 甚 Ｏｔ ） ５ ０Ｖ，
至更 大 。 如果是 Ｉ Ｂ ， 么需要 的电压 和 电流更 高 ； Ｇ Ｔ那
巾 国 集 成 电 路
Ｃ ｈｉ ｎａ ｎｔ ｉ ｅｇｒ ｅｄ ｉｃｕｉ ａｔ Ｃ ｒ ｔ
企 业 与 产 品
—
全新构架的中大功率 分立器件测试系统 Ｓ Ｓ ３ Ｔ ８０ ２
徐 捷 爽
（ 北京 华峰 测控技 术有 限公 司 Ａ ｃＴＳ 事业部 ） ｃｏＥＴ
摘要 ： 文介 绍 了 Ａ ｃ ＴＳ 本 ｃ ｏＥ Ｔ最新推 出的基 于 Ｓ Ｓ ２ ０ 线 平 台 ， 以 高压 、 电流 的测试 板 卡 、 Ｔ８ ０ 总 配 大 雪崩 测 试板 和热 阻测试 板 ， 并在 一 个 系统 中完成 并行 的 直流 （ Ｃ） 交流 （ Ｃ） 站 测试 的 中大功 率分 立 器件 ， 个参 数测 试就 是一 台测 在 每
试机或测试 仪 ， 没需要测试 Ｄ 、 Ｉ、Ｖ Ｓ使用 假 Ｃ ＵＳＤ Ｄ ，
传 统测 试 方案 的示 意 图 如 图 １ 示 。该 方 案需 要 ３ 所
具体的内容请见下文 。
个 测试 机 、 ３个不 同 的测试 软 件 ， 法 进行 统 一 编程 无 和 统一 的数 据统 计 ， 有些 仪表 甚至 智 能化较 弱 ， 在数
雪崩测试 ＵＳ 或称 ＵＬ Ｅ Ｓ 则是一种 电感效应 Ｉ（ Ｉ， Ａ ）
的能量 释放 过程 ， 验器 件 的抗能 量击 穿能 力 ； 阻 考 热
分立元件自动测试仪图形化编程的实现
分立元件自动测试仪图形化编程的实现董天旭;王冰峰【期刊名称】《电子测试》【年(卷),期】2011(000)011【摘要】In order to make discrete components automatic tester can be used universally, which means different test programs must be created according to different test targets, this paper briefly outlines a method of graphical programming realization for discrete components automatic tester. Microsoft Visual Studio 2010 is used to realize the design of Man- machine interface for this tester. Add AddFlow, which is a window form control, is used to draw test flow chart. Then an algorithm is designed to generate test program from test flow chart. Last, in order to get executable file, a compiler named NMake is used to compile and link the test program. This graphical programming technology makes it easy to expand the discrete component types which can be tested, and even convenient to operate the discrete components automatic tester.%为了使分立元件自动测试仪具备通用性,即能够根据不同的测试目标生成不同的测试程序,本文简要概述分立元件自动测试仪图形化编程的一种实现方法——使用Microsoft Visual Studio 2010实现分立元件自动测试仪人机交互界面设计;使用AddFlow控件实现分立元件测试流程图的绘制;设计算法实现从测试流程图生成测试程序;使用命令编译器NMake对测试程序进行编译链接,从而获得可执行文件。
JUNO DTS-1000分立器件测试系统 说明书
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Juno DTS-1000
硬件系统说明书
3．系统各组成之间的连接 3．1 标准系统 标准的连接图示意如下（背面示意图）
P C
Ser ia l2 Ser ia l1
① H D-1200
C N-L C N-A C N-L C N-A HA N DLER I/F A-STAT I O NA-ST N A-ST AT I O N A C- I N
Low Current Generator (000.0PA～999.9uA) 1 回路 用 Item Name 管理(VCESAT、HFE、etc) Maker 管理 Max ×500 Items User Relay 动作时间 Test File 容量 测试项目数：最大 200 分类项目数：最大 200 (2)外部接口(I/F)规格 输入信号(Tester←Handler)：包括 TEST START 信号在内共 6 个信号（其余 5 个信号根据需要决 定） 输出信号(Tester→Handler)：包括 TEST END 信号在内共 4 个信号(其余 3 个信号根据需要决定) 分类信号(Tester→Handler)：24 个信号 BCD Code BINARY Code BIN (3)软件部分 .功能 Test File 管理----Test File 的建立、编辑 Tester 管理-----Test File 的存储 Data 管理-----测试数据的显示及保存 Counter 管理-----分类结果数的显示及保存
SV
BV
1 0
0
J U N O
160
1
-ST AT O IN
-ST AT O IN
CI
CV
EI B-E C O N D IT I O N
一种分立元件在线测试方法的实现
一种分立元件在线测试方法的实现
黄树军
【期刊名称】《电子测量技术》
【年(卷),期】1996()1
【摘要】本文阐述了一种分立元件在线测试方法及其实现过程,分析了产生测试误差的原因,提出了解决办法,并介绍了据此测试方法研制的分立元件在线测试系统。
【总页数】4页(P30-33)
【关键词】在线测试;屏蔽;测试误差;正交测试;电子元件
【作者】黄树军
【作者单位】空军雷达学院
【正文语种】中文
【中图分类】TN606
【相关文献】
1.一种新型的整流元件均流在线测试方法 [J], 赵虎;刘涛;陈丽;胡彬
2.一种C程序在线测试方法的研究与实现 [J], 赵家宇;吴含;彭瑞
3.一种阻容在线测试方法的实现 [J], 陈瑞;周征
4.一种单片机的在线编程测试方法研究 [J], 陈龙; 何笑; 解维坤; 苏洋
5.一种MEMS多环谐振陀螺的品质因数在线测试方法 [J], 任静波;周怡;朱欣华;周同;苏岩
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分立器件测试系统软件平台的设计及实现罗猛;詹惠琴;古军【摘要】In order to solve the high cost and low maintainability fault of current domestic discrete semiconductor device testing system, a set of testing system with high performance to price ratio, sample operation and high automatic degree was developed . And the software platform for the discrete semiconductor device testing system was designed, with using hierarchical and modular software architecture design methods. The software platform can complete a series of function such as the self-check and calibration of system hardware resource、account management、flow charts program automatically coverts、test index report generation and printing and so on, and make the test procedures and system hardware independent of each other , greatly improving the efficiency of development. The software platform has better versatility, maintainability and scalability.%为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。
并采用层次化、模块化的软件结构设计方法,设计开发了分立器件测试系统的软件平台。
该软件平台可以完成系统硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等一系列功能,并做到测试程序和硬件系统的相互独立,大大提高了开发效率,具有较好的通用性、可维护性和可扩充性。
【期刊名称】《电子测试》【年(卷),期】2011(000)011【总页数】5页(P62-66)【关键词】分立器件测试系统;流程图测试程序;通用性【作者】罗猛;詹惠琴;古军【作者单位】电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731;电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731;电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731【正文语种】中文【中图分类】TP20 引言在早期的测试系统中,软件平台一般只提供文本编程方式给用户使用，其测试程序是以测试流程为依据从上至下一步一步排下来的,所有与测试相关的参数、程控指令、测试结果等都内置于一个文本测试软件中, 这种编程具有面向过程的编程规范，包含特定的语法规则，灵活性很强[1]。
但是这种方式有其不足的一面，其一是一般测试程序编程过程较为复杂，这就要求测试人员必须具有较深的编程功底；其二是这种方式可维护性差，不适于进行快速高效的现代自动化测试。
而本文提出的基于图形化编程语言的软件平台为测试工程师提供一个灵活简便的可编程环境。
实现了测试参数和测试程序的分离，开发人员更加专注于测试方法本身，而不用花太多时间在构建测试系统所需的测试流程和控制策略上[2]。
1 软件平台的总体架构ATS是整个测试系统的核心和关键，它是联系测试资源和被测对象的软桥梁，其体系结构的好坏直接关系到整个自动测试系统的性能[3]。
硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等功能都与软件系统的设计息息相关。
本着层次化，组件化，标准化的要求，同时为了满足测试程序的可移植性及仪器的互换性以及测试系统软件结构的开放性、可扩充与裁减性等要求[4]，我们将分立器件测试系统软件总共分为3个层次，包括ARM程序层，USB驱动层和上位机软件层,图1所示为系统软件平台总体架构框图。
每个层的具体功能如下：ARM程序层：主要包括各个功能板和测试板的驱动程序，以及实现ARM内核对各个功能板进行控制的执行程序。
USB驱动层：主要是USB的接口驱动函数，完成下层ARM与上位机软件层的通信，进行数据的编排和解析，是整个测试系统软件的纽带。
上位机软件层：是整个软件系统的最上层，也是最直接与用户接触的层次。
用户需要设置和保存的所有个人信息、群组信息、测试工程及测试项目信息都要通过该层来完成，同时在硬件通信良好的情况下接收并在显示屏上显示测试仪的测试结果数据供用户查看分析。
图1 系统软件平台总体架构框图2 上位机软件的设计2.1 开发环境的选择C#是由Microsoft为.NET Framework量身订做的程序设计语言。
C#语言是由C/C++演变而来的，除了拥有C/C++的强大功能外，还具有Visual Basic简易使用的特性，也是一种面向对象设计语言。
它继承了C++中类得继承、封装、多态、重载等特性，另外它现代、简单、完全面向对象和类型安全等新特性，从而使我们开发出来的测试系统软件具有良好的用户体验，优良的兼容性，较高的灵活性和可扩展性。
基于系统开发的要求和C#语言的特点，我们最终选择了Visual Studio 2008作为上位机软件的开发工具。
2.2 上位机软件的层次结构上位机软件层次结构如图2所示。
其中驱动层包括USB驱动以及hp万用表驱动，其中USB通信API和hp万用表通信API是通过动态链接库（dll）形式封装，向中间层提供通信接口。
中间层包括.net平台、微软控件以及第三方控件，这一层起到承上启下的作用。
应用层即仪器界面，是整个程序框架的顶层。
图2 上位机软件层次结构图3 USB驱动的设计本测试系统中USB中间层主要负责上位机与下层ARM的数据信息交换，是上位计算机与分立器件测试系统连接的纽带。
USB驱动程序主要完成两个方面的工作：一是通过USB驱动向下层ARM发送上位机的设置数据和控制信息；二是接收下层ARM发回的测试结果数据。
驱动程序采用VC++6.0进行开发，以动态链接库的形式进行调用。
3.1 USB发送数据当在界面上点击“下载”按钮后，上位机程序会将包含有数据类型、数据字节长度和数据信息或者控制命令信息的字符串按照规定的数据格式通过USB处理向下发送。
图3所示为USB数据的下载流程。
图3 USB数据下载流程图3.2 USB接收数据当下位机完成一个器件的完整测试后会及时将测试结果数据通过USB中间层传输到上位机软件中，但是上位机软件并不能直接接收下位机送回的测试结果数据，而需要经过USB中间层的处理。
所以当USB接收到下层ARM发回的测试结果数据后，USB驱动层要对测试的结果数据进行处理，调整结果数据的格式，并将包含有数据类型信息和数据长度信息的测试结果数据以字符串的形式按照某一协议格式送回到上位机软件中，供上位机软件调用。
图4所示为USB数据上传的流程。
图4 USB上传数据流程图3.3 USB驱动在系统中的调用在分立器件测试系统中需要用到的USB动态链接库函数的调用方法如下：（a）[DllImport("2440usbDLL.dll", EntryPoint ="UsbTransmit", CallingConvention = CallingConvention.StdCall)]public static extern void UsbTransmit(IntPtr hwnd); 该函数调用主要实现的功能是下载ARM程序编译生成的BIN文件。
BIN文件是将系统的ARM程序编译生成的二进制文件，只有将BIN首先下载到ARM中整个系统才能开始工作，否则后续其他一切工作都不能完成。
（b） [DllImport("2440usbDLL.dll", EntryPoint ="strpc2arm3", CharSet = CharSet.Ansi, CallingConvention=Callin gConvention.StdCall)]public static extern int strpc2arm3(string dataString);该函数主要实现的功能是上位机工程设置参数的下载。
参数dataString表示要下载的工程设置参数。
（c）[DllImport("2440usbDLL.dll", EntryPoint = "arm2pc_Data", CharSet = CharSet.Ansi, CallingConvention=CallingConve ntion.StdCall)]public static extern string arm2pc_Data();该函数主要实现的功能是接收由ARM传回的测试结果数据。
另外，本系统中USB动态链接库的编写借助了部分MFC类库中的函数，所以在应用本动态库时，需要同时添加四个MFC的动态库文件：MFCD42D.DLL、MFC42D.DLL、MFCO42D.DLL和MSVCRTD.DLL。
4 下位机软件设计4.1 下位机arm程序的编译方法基于GCC的诸多优点在设计初期，我们曾经考虑过使用GCC来编译下位机arm程序，但使用GCC需要编写makefile文件搭建编译平台，这不是一件容易的事情。
但后来发现ADS1.2 IDE提供了此问题的解决方案，ADS1.2 IDE提供了一个菜单项可以把ADS1.2工程转化为一个和工程对等的.xml文件，然后调用ADS1.2提供的mcp2make工具将.xml文件转化为makefile文件。
这使得设计下位机软件时可以用IDE界面搭建编译环境，设置编译信息，规避了编写makefile文件的诸多细节问题。
得到了makefile文件后，我们就可以使用VC++6.0提供的nmake工具调用makefile文件编译整个下位机工程。
在makefile文件里分别调用ADS1.2提供armcc编译器以及armlink连接器最终把整个下位机工程编译成一个.axf文件；最后使用“fromelf -bin –output xxx.bin xxx.axf”命令将.axf文件转化为.bin文件下载到下位机，图5为测试程序自动转换及编译流程图。