能谱仪_技术参数
能谱仪技术指标
能谱仪技术指标1、技术指标：1)*可靠性：可以配合各主流品牌的场发射扫描电镜使用，且在北京的地质行业有配合先例，提供用户名单和联系方式；2)探测器：硅漂移晶体，超薄窗口，完全独立真空；晶体有效面积不小于60 mm2，探头整体有效采集面积不小于50mm2；适合低电压或小束流分析；3)*探测器制冷和定位：采用三级帕尔贴制冷，最低工作温度可达零下80摄氏度；探头采用马达控制的自动伸缩设计，可以在软件里实现控制，确保针对不同尺寸样品的定位精度；4)元素分析范围Be4—U92；5)免维护性：探头不包含冗余的前置放大电路板，随时可以断电，无需重新校正；6)分辨率MnKa优于127eV，CKa优于56eV，F Ka优于64eV（20000CPS）；在不同计数率下谱峰稳定，分辨率衰减小于1eV；7)输出最大计数率：大于500,000CPS谱峰无畸变，可处理最大计数率优于750,000CP S；8)软件：64位能谱应用软件，操作简便界面清楚，直接读出电镜参数和仪器状态，结果输出方便，适合于不同层次的用户尽快掌握；9)谱定性分析：具备点、线、面扫描分析功能，高帽法扣除背景避免人为误差；10)*谱定量分析:可对抛光表面或粗糙表面进行点、线和面的分析；具有虚拟标样法（间接标样法）以及有标样法（直接标样法）；可以方便的得到归一化和非归一化定量结果；11)*谱峰稳定性：具备零峰设计，相对峰位稳定，无需铝铜双峰校准，保证数据重现性；12)图像输出：支持BMP,TIFF, JPEG等流行的图像格式，对视场上任选区域进行能谱分析和线、面扫描，可得到元素的线分布、常规面分布、快速面分布和定量面分布等，所支持电镜数字图像最大清晰度优于8192*8192，全息X射线成分图最大清晰度（live Spectrum Mapping）优于4096*4096.13)*高级应用软件：针对地质领域，可以提供多视场自动叠加的数据拼接功能，实现大范围面扫描和特征元素富集区域的自动分析；14)图形处理器配置不低于：知名品牌，Intel Core i7-2600 处理器，8G以上内存，1TB硬盘，DVD/RW 刻录光驱，24”平板液晶显示器，专用实验台等；2、培训要求卖方在用户现场进行技术培训，一年以后免费提供深入的技术培训课程，终生提供免费的应用咨询以及技术帮助3、售后服务3.1 安装：要求卖方到用户现场进行免费安装、调试、试运行。
能谱仪的使用方法与峰位分析技巧
能谱仪的使用方法与峰位分析技巧能谱仪是一种常用的实验仪器，用于分析样品中的元素成分。
它通过测量样品中放射性粒子的能量与强度，从而得到样品的能谱图。
本文将介绍能谱仪的基本使用方法，并分享一些峰位分析技巧，帮助读者更好地利用能谱仪进行实验研究。
一、能谱仪的基本使用方法1. 稳定仪器：在使用能谱仪之前，首先要确保仪器的稳定性。
检查仪器连接是否牢固，各部分仪器的状态是否正常，确保仪器处于可正常工作的状态。
2. 样品制备：根据实验需求，制备好待测样品。
样品的制备方法因实验对象的不同而有所差异，如放射性样品的处理需要特殊注意。
3. 样品装入：将制备好的样品装入能谱仪的样品槽中。
注意确保样品的位置准确且固定，以避免在测量过程中的位置偏差。
4. 调整参数：根据实验要求，调整能谱仪的参数。
这些参数包括放大倍数、灵敏度、测量时间等，应根据实验需求来确定。
5. 开始测量：按下测量按钮，启动能谱仪开始测量。
在测量过程中，要保持实验环境的稳定，以获得准确可靠的测量结果。
6. 储存数据：实验完成后，将能谱仪测得的数据储存起来。
数据可以保存在电脑上或其他存储设备中，以备后续分析使用。
同时也可以通过打印或导出文件的方式进行结果的备份和共享。
二、峰位分析技巧1. 峰位识别：在能谱图中，不同元素的能量峰位会表现为清晰的峰状。
通过观察能谱图，我们可以识别出不同元素的峰位，从而确定样品中的元素成分。
2. 峰位测量：利用能谱仪提供的测量功能，可以精确地测量出不同峰位的位置与强度。
这些数据可以用于后续的峰位分析和元素定量分析。
3. 峰位校准：为了提高测量的准确性，可以进行峰位校准。
峰位校准通过测量一系列已知元素的能量峰位，然后根据这些数据来校正未知样品的峰位。
峰位校准可以提高测量结果的准确性和可靠性。
4. 谱峰分析：在能谱图中，有时会出现多个重叠的峰位。
为了准确地确定每个峰位的能量和强度，可以采用谱峰分析的方法。
谱峰分析通过对峰位进行分段或近似处理，以获取单个峰位的尽可能精确的测量结果。
能谱仪器使用方法说明书
能谱仪器使用方法说明书一、概述能谱仪器是一种重要的科学研究工具，用于测量和分析材料的能谱特性。
本说明书旨在详细介绍能谱仪器的使用方法，包括仪器的基本原理、仪器的组装与连接、仪器的操作步骤以及数据分析与结果解读等方面。
二、仪器的基本原理能谱仪器基于能谱分析技术，通过探测材料中各种能级的能谱分布，确定材料的组成和结构信息。
能谱仪器通常由以下几个主要部分组成：1. 放射源：用于产生射线或线源，激发样品中的原子或分子。
2. 能谱探测器：用于检测并测量样品中产生的能谱信号。
3. 信号放大器：用于放大能谱探测器检测到的微弱信号。
4. 数据采集与处理系统：用于记录、存储和分析能谱数据。
5. 控制系统：用于控制仪器的操作和参数设置。
三、仪器的组装与连接1. 确保各仪器部件完整并无损坏。
2. 按照仪器说明书正确组装仪器，注意连接的顺序和正确性。
3. 确保各部件之间的连接牢固，信号传输通畅。
四、仪器的操作步骤1. 打开仪器电源，待仪器自检完成后进行下一步操作。
2. 启动操作软件，设置仪器参数，如能谱范围、积分时间等。
3. 放置待测样品，并调整样品的位置和角度，确保射线可以有效照射样品。
4. 执行测量命令，记录数据，保持测量过程的稳定性和准确性。
5. 完成测量后，保存数据并进行备份，以便后续的数据分析和处理。
五、数据分析与结果解读1. 使用专业的数据分析软件对采集到的数据进行处理和分析。
2. 根据能谱图形的特征，确定样品的成分、结构以及化学性质。
3. 结合其他实验结果和文献资料，对数据进行解读和验证。
六、安全提示1. 在操作仪器时，应注意射线的辐射安全。
尽量采取适当的防护措施，减少辐射对操作人员的影响。
2. 仪器使用过程中注意保持仪器的清洁和整洁，防止灰尘和杂质对仪器性能的影响。
3. 定期对仪器进行维护和保养，确保其正常运行和工作效率。
七、故障排除当仪器出现异常情况或故障时，用户可以根据以下一般维修方法进行排除：1. 检查仪器电源是否正常供电。
X射线能谱仪(EDS)
电子能量为25KV时，通过氧气的平均自由程
环境扫描电镜的特点(一)
平均碰撞次数(m)定义三类不同的散射
Minimal Scattering Scatter <5% （ 0< m< 0.05 ）
Partial Scattering Scatter 5% to 95% （ 0.05< m< 3）
半定量分析
无标样定量分析
无标样定量分析是X射线显微分析的一种快 速定量方法。强度比 K＝IS/IStd。 表达式中IStd是标样强度，它是由纯物理计 算，或用标样数据库给定的，适应于不同的 实验条件。其计算精度不如有标样定量分 析。
二、X射线能谱仪基本功能
EDS的分析方法－点分析
电子束（探针）固定 在试样感兴趣的点 上，进行定性或定量 分析。该方法准确度 高，用于显微结构的 成份分析，对低含量 元素定量的试样，只 能用点分析。
EDS的分析精度
“电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则”国家标准 定量结果及允许误差 对定量结果必须正确选取有效位数。EDS定量分析结果， 小数点后保留一位，原始数据可以多保留一位。 EDS分析的相对误差 (含量＞20%wt）的元素， 允许的相对误差 <5% (3 %wt<含量<20%wt的元素，允许的相对误差<10% (1 %wt<含量<3%wt的元素，允许的相对误差<30% (0.5%wt<含量<1%wt的元素，允许的相对误差<50%
X + e- → X+ + 2e-
环境扫描电镜的特点(二)
消除绝缘样品表面电荷积累的解释
- - - - gas
- - - - gas
γ能谱仪主要参数
γ能谱仪是一种用于测量放射性物质辐射能量的仪器。
其主要参数包括：
1. 能量分辨率：能量分辨率是指γ能谱仪能够分辨两个相邻能量峰值的能力。
高能量分辨率有助于识别不同放射性核素的能量特征。
2. 探测效率：探测效率是指γ能谱仪对入射γ射线的吸收和转换能力。
探测效率越高，测量结果越准确。
3. 谱仪的本底：本底是指γ能谱仪在无辐射源存在时，仍会观测到的辐射信号。
本底会影响测量结果的准确性，因此需要降低本底辐射。
4. 能量范围：γ能谱仪可测量的能量范围。
不同型号的γ能谱仪能量范围有所不同，可根据应用场景选择合适的设备。
5. 测量范围：测量范围是指γ能谱仪能够测量的放射性物质浓度范围。
不同型号的γ能谱仪测量范围有所不同，可根据实际需求选择合适的设备。
6. 探测器：γ能谱仪的核心部件，用于吸收和转换γ射线。
常见的探测器有NaI(Tl)探测器、Ge探测器等。
7. 数据处理系统：数据处理系统用于采集、处理和分析γ能谱数据。
现代化的γ能谱仪通常具有高效的数据处理能力，可方便地进行数据分析和管理。
8. 显示与输出：γ能谱仪的显示与输出功能用于呈现测量结果。
常见的显示方式有谱图显示、数值显示等。
outputs
9. 校准：γ能谱仪的校准是为了确保测量结果的准确性。
校准方法包括标准源校准、仪器自带校准等。
10. 操作界面：γ能谱仪的操作界面便于用户进行参数设置、数据采集和分析。
现代化的γ能谱仪通常具有友好的操作界面，使操作更加便捷。
X射线能谱仪工作原理及谱图解析1X射线能谱仪分析原理X射线能谱
X射线能谱仪工作原理及谱图解析1、X射线能谱仪分析原理X射线能谱仪作为扫描电镜的一个重要附件，可被看成是扫描电镜X射线信号检测器。
其主要对扫描电镜的微区成分进行定性、定量分析，可以分析元素周期表中从B-U的所有元素信息。
其原理为：扫描电镜电子枪发出的高能电子进入样品后，受到样品原子的非弹性散射，将能量传递给该原子。
该原子内壳层的电子被电离并脱离，内壳层上出现一个空位，原子处于不稳定的高能激发态。
在激发后的10-12s内原子便恢复到最低能量的基态。
在这个过程中，一系列外层电子向内壳层的空位跃迁，同时产生X射线，释放出多余的能量。
对任一原子而言，各个能级之间的能量差都是确定的，因此各种原子受激发而产生的X射线的能量也都是确定的（图1）。
X射线能谱仪收集X射线，并根据其能量对其记数、分类，从而对元素进行定性、定量分析。
图1. 粒子间相互作用产生特征X射线本所能谱仪型号为：BRUKER X-Flash 5010，有四种检测模式：点扫描，区域扫描，线扫描，面扫描。
2、能谱仪检测模式介绍及参数解读2.1 点扫描及区域扫描模式图2 X射线能谱仪点扫描（A）、选区扫描（B）报告点扫描与选区扫描主要用于对元素进行定性和定量分析，确定选定的点或区域范围内存在的所有元素种类，并对各种元素的相对含量进行计算。
能谱检测对倍数要求不高，不同倍数条件下检测结果差异不大，关键在于选取检测的部位。
一般选择较大的块体在5000倍以下检测，因为X射线出射深度较深，除金属或陶瓷等非常致密的材料外，一般的块体在20kV加速电压下，X射线出射深度2μm左右，且点扫描的范围也在直径2μm左右。
因此块体太小或倍数过大，都会造成背景严重，测量准确度下降。
此外，最好选择比较平整的区域检测，因为电子打在坑坑洼洼的样品表面，X射线出射深度差别较大，定量信息不够准确。
特别低洼的区域，几乎检测不到信号，或信号很弱，得到的结果也便不准确。
第三，电子束与轻元素相会作用区域较大，干扰更强，因此轻元素的定量比重元素更加不准确。
α能谱仪 仪器标准
α能谱仪仪器标准α能谱仪是一种用于测量物质中α粒子能量分布的仪器，广泛应用于核物理、材料科学、地质学等领域。
为了保证α能谱仪的准确性和可靠性，需要遵循一定的仪器标准。
以下是关于α能谱仪的一些基本标准：1. 性能指标：α能谱仪应具备高分辨率、高灵敏度、低本底噪声等性能指标。
这些指标可以通过实验或厂家提供的技术参数进行验证。
2. 能量范围：α能谱仪应能够测量一定范围内的α粒子能量，通常为几百keV至几十MeV。
能量范围的选择应根据实际应用领域和需求来确定。
3. 能量分辨率：α能谱仪的能量分辨率是指能够分辨的最小能量差。
能量分辨率越高，对α粒子能量的测量越精确。
能量分辨率的计算公式为：E = (ΔE)^2 / (E_0^2 + ΔE^2)，其中E为能量分辨率，ΔE为能量差，E_0为入射α粒子的能量。
4. 灵敏度：α能谱仪的灵敏度是指探测器对α粒子的探测能力，通常用单位时间内探测到的α粒子数表示。
灵敏度越高，对低强度α粒子的探测能力越强。
5. 本底噪声：α能谱仪的本底噪声是指在没有待测样品的情况下，仪器本身产生的信号。
本底噪声越低，对测量结果的影响越小。
6. 稳定性：α能谱仪的稳定性是指仪器在长时间运行过程中，性能参数的变化程度。
稳定性越好，测量结果的可靠性越高。
7. 校准：α能谱仪应定期进行校准，以确保测量结果的准确性。
校准方法包括使用已知能量的标准源进行能量刻度，以及使用已知浓度的标准样品进行活度刻度。
8. 数据处理与分析：α能谱仪应具备数据存储、处理和分析功能，以便对测量结果进行进一步处理和分析。
总之，α能谱仪的仪器标准主要包括性能指标、能量范围、能量分辨率、灵敏度、本底噪声、稳定性、校准和数据处理等方面。
遵循这些标准，可以确保α能谱仪的准确性和可靠性，为科研工作提供有力支持。
ARD型伽玛能谱仪主要技术指标
ARD型便携式伽玛能谱仪
主要用途：野外放射性勘查、环境评价。
其主要特点有：
1、操作台采用320×240大屏幕显示（PDA为800×400）可以现实全谱显示；
2、全中文人性化的操作界面，使仪器操作更方便；
3、采用φ75*75碘化钠晶体，低钾光电倍增管；
4、具有软件稳谱功能（包括有源稳谱和自动稳谱）；
5、仪器分辨率≤7.5%，能量范围40KeV—3MeV。
6、多道分析器可选择输出512、1024、2048、4096道能谱数据，微分非线性＜1.0%，
积分非线性＜0.05%；
7、模数转换时间≤1uS，自动死时间修正；
8、PDA操作系统可保存5000个1024道的谱数据。
操作台可保存500个1024道的谱
数据，或是8000个不带谱的数据（日期时间、线号、基点号、总道、钾、铀、钍道计数及含量、经纬度、照射量率等17个参数），且可以通过USB接口回放到计算机；
9、具有必要的数据处理功能包括现场含量计算，照射量率计算，特征峰位计算，特征
峰面积计算以及分辨率计算，能谱图展宽，显示剖面图等；
10、具有自动连续测量功能；
11、具有放射性异常报警和数据质量异常报警；
12、操作台内设有GPS定位功能，可以单独作GPS使用。
13、可用PDA操作（win6.5系统）实现蓝牙无线数据传输；
14、配有“锂聚合物”充电电池，充满电后可以连续工作30小时；
15、操作台外壳尺寸：185×105×36(mm)，重量0.5kg。
ARD型（操作台方式）便携式伽玛能谱仪
ARD型（PDA方式）便携式伽玛能谱仪。
能谱仪的操作方法与结果分析
能谱仪的操作方法与结果分析引言：能谱仪是一种重要的仪器设备，广泛应用于物理、化学、生物等领域的研究中。
它能对样品中的粒子进行能量分析和检测，从而揭示样品的特性和内部结构。
本文将介绍能谱仪的操作方法以及如何分析并解读得到的结果。
一、能谱仪的操作方法能谱仪的操作方法主要包括准备样品、设置仪器参数、进行测量和数据处理等步骤。
首先，准备样品。
根据具体的研究目的，选择适当的样品。
例如，在材料研究中，我们可能需要测量不同材料的X射线能谱；在环境监测中，我们可能需要测量空气中的放射性物质。
将样品准备好，确保其符合实验要求并具有一定的数量。
然后，设置仪器参数。
根据样品的性质和研究的目标，调整能谱仪的各项参数。
这些参数包括电压、测量时间、探测器的选择等等。
通过合理设置仪器参数，可以提高测量的准确性和灵敏度。
接下来，进行测量。
将样品放入能谱仪中，启动仪器，进行数据的采集。
在测量过程中，要保持仪器的稳定性，避免外界因素的干扰。
同时，根据具体情况，调整仪器的工作模式和测量时间，以获得更好的数据。
最后，进行数据处理。
将测量得到的数据导入计算机软件中，进行分析和处理。
常见的数据处理方法包括谱线拟合、能谱峰面积计算、能谱图绘制等等。
通过这些处理，可以得到样品的能量分布情况和相关的参数。
二、结果分析与解读得到测量结果后，需要对其进行分析与解读。
这一步骤对于揭示样品的特性和内部结构非常重要。
首先，进行能谱峰的识别。
能谱图中的能谱峰代表了不同能量的粒子或射线的存在。
根据能谱峰的位置和强度，可以初步判断出样品中存在的元素或放射性物质。
其次，进行能谱峰的拟合。
能谱峰的拟合可以获得峰的位置、强度、宽度等参数。
通过对这些参数的分析，可以进一步了解样品的物理性质以及元素的种类和含量等信息。
然后，进行能谱图的绘制与分析。
能谱图可以直观地展示样品的能谱特性。
在绘制能谱图时，可以选择显示不同特征的能谱峰，进一步分析样品的成分和组成。
同时，可以通过比较不同样品的能谱图，研究样品之间的差异和相似性。
XPS仪器简介2008W
Multitechnique Electron & Ion Spectrometer for Surface Analysis一、仪器简介及测量条件：XPS 能谱仪：AXIS Ultra （英国Kratos 公司），使用带单色器的铝靶X 射线源(Al K α, h ν=1486.7 eV) 或双阳极(铝/镁靶)X 射线源, 功率约225W(工作电压15 kV , 发射电流15 mA)。
污染碳(内标)284.8 eV ；最小能量分辨率0.48 eV(Ag 3d 5/2)，最小XPS 分析面积15 μm ；数据处理使用Vision(PR2.1.3)和CasaXPS(2.3.12Dev7)。
二、有偿服务内容及参考费用(单位：元/样品或300元/小时1)三、网上XPS 参考数据库：/xps/index.htm/AA_consult/Ag_welcome.htm1特殊要求或特殊样品需要较长测量时间酌情考虑按测量分析时间计费：300元/小时。
服务项目 技术参数 主要分析内容参考费用常规XPS 分析 (XPS Analysis) 分析面积 700x 300μm 宽谱、元素分谱采集及常规数据处理 (元素含量和价态分析)500.00 XPS 深度刨析 (Depth Profile) 深度范围 ≤100nm 氩离子(Ar +)刻蚀，不同深度的XPS 元素含量分析。
1800.00角分辨XPS (ARXPS) 转角范围 0-75o 不同出射角度的常规XPS 元素分析 1500.00 微区XPS 分析 (Spot XPS)分析面积 15-110 μm成像(Mapping 或Imaging)选区， 微区XPS 元素含量和价态分析。
1200.00XPS 平行成像 (XPS Imaging) 空间分辨率~3μm常规XPS 元素分析， XPS 平行成像(Imaging)。
1200.00 紫外光电子能谱(UPS)用于样品功函计算等。
能谱仪实验报告
能谱仪实验报告能谱仪实验报告一、实验目的1.了解能谱仪的构造、工作原理和基本参数。
2.掌握Geiger-Muller计数器的基本工作原理。
3.利用能谱仪研究放射性样品的辐射性质和核能级结构。
4.掌握能谱的测量方法和测量数据的处理方法。
二、实验原理1.能谱仪的构造(1)光电倍增管光电倍增管由光电阴极、几个极靴、若干个百叶窗和若干个二次倍增极等组成。
光电阴极：将光子能量转化为电子能量。
极靴：增强电子输出。
百叶窗：阻挡光电子。
二次倍增极：将收集到的电子倍增。
(2)能量分析器能量分析器由若干个圆筒形电极等构成，其中一个圆筒形电极充当入口狭缝，一个圆筒形电极充当出口狭缝，其余几个圆筒形电极连接不同高压。
(3)单道分析器单道分析器由一个多路开关和一个计数器构成，将接收到的信号输入到计数器中。
2.工作原理当入射射线穿过入口狭缝后，在强电场的作用下，它们会将电离气体分子电离，产生电离电子，电离电子在电场的作用下形成一个电流，电流和粒子的能量有关，经过放大、多次测量和重复，得到一个精确的能量谱。
3.基本参数(1)能量分辨本领：能谱仪分辨测量出的辐射能量中的能级能量峰值与峰值之间的分辨能力，常用能量分辨本领来评价能谱仪的性能。
(2)计数效率：表示利用能谱仪在一定时间内所测得的有效计数数与实际产生的辐射剂量之比，在能谱测量中计数效率是一个非常重要的参数。
(3)峰位：表示能量分辨本领，也是能谱中不同能量发射峰的位置。
(4)全能位置：获得有效计数的最高能量。
(5)平均扫描时间：截取一个完整的能谱所需的时间，其值应该比能谱内容时间小很多。
三、实验装置与实验步骤1.实验装置能谱仪主要由光电倍增管、能量分析器、单道分析器、高压电源、样品架等组成。
实验装置如下图所示：2.实验步骤(1)实验前的准备确认仪器连接正确，并调整得到最佳工作状态。
将样品架固定到能谱仪的样品台上。
gmx高纯锗伽马能谱仪技术参数
GMX高纯锗伽马能谱仪技术参数一、背景介绍1.1 高纯锗伽马能谱仪的定义和作用高纯锗伽马能谱仪是一种用于测量放射性核素辐射能谱的仪器，主要用于放射性同位素的测量和分析，广泛应用于核能研究、核安全监测、环境辐射监测等领域。
高纯锗材料具有较高的探测灵敏度和较高的能量分辨率，能够准确测量不同能量的伽马射线，因此在核辐射测量领域具有重要的应用价值。
二、GMX高纯锗伽马能谱仪技术参数2.1 探测器类型：GMX采用高纯度锗晶体探测器2.2 能量范围：0-6000keV2.3 能量分辨率：小于1.2% @ 1.33MeV2.4 探测效率：大于40% @ 1.33MeV2.5 计数率：能够支持高计数率的测量2.6 光子峰识别：能够准确识别不同能量的光子峰并进行能谱分析 2.7 数据采集系统：配备专业的数据采集和分析软件，支持实时采集数据和在线分析。
2.8 探测器尺寸：直径70mm，高度70mm2.9 工作温度：-25℃~+35℃2.10 工作湿度：20%~80%2.11 电源要求：标准交流电源220V三、GMX高纯锗伽马能谱仪的性能优势3.1 高纯度锗晶体探测器具有优良的能量分辨率和探测效率，能够准确测量不同能量范围的伽马射线，特别适用于高精度的核能谱分析。
3.2 GMX能够支持高计数率的测量，保证在较短的时间内获得大量数据，提高工作效率。
3.3 配备专业的数据采集和分析软件，能够实时采集数据并进行在线分析，使实验操作更加便捷和高效。
3.4 GMX的探测器尺寸适中，结构坚固稳定，易于安装和操作。
3.5 良好的工作温度和湿度适应性，适用于不同环境条件下的实验需求。
四、GMX高纯锗伽马能谱仪的应用领域4.1 核能研究：GMX可用于核能领域的伽马谱分析、核素定量测量以及核反应堆辐射监测等方面。
4.2 核安全监测：GMX可用于核安全事故的辐射监测和环境放射性物质的测量分析，对核安全事故的后果评估具有重要意义。
4.3 环境辐射监测：GMX可用于大气、水体、土壤等环境中放射性同位素的监测，帮助评估环境辐射水平，保障公众健康。
Minipal 4 Sulfur X射线能谱仪(EDS) 说明书
帕纳科（PANalytical ）是世界上最大的X-射线荧光光谱仪、X-射线衍射仪设备和软件的供应商。
公司在全球及中国开展业务已超过50年的历史。
这些仪器系统主要用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。
帕纳科（PANalytical ，原飞利浦分析仪器Philips Analytical 。
）是思百吉集团的一部分，全球员工近800多人，总部位于荷兰的Almelo ，并分别在中国、日本、美国以及荷兰设立了设备齐全的应用实验室。
帕纳科（PANalytical ）的研究活动是以英国Brighton 的Sussex 大学校园为基础展开的。
零配件供应及技术支持中心位于Almelo 和Eindhoven 。
覆盖全球60多个国家和地区的销售和服务网络确保了专业、及时和可靠的客户支持。
公司已通过了ISO9001和ISO14001认证。
帕纳科（PANalytical ）的生产业务范围包括X-射线荧光光谱仪和X-射线衍射仪分析仪器系统及软件，产品范围多样化，广泛适用于产品的组成分析、材料的特性分析，应用范围如：水泥、钢铁、塑料、聚合物和石油化工、工业采矿、玻璃和高分子、硅半导体芯片、药用液体、可再生原料、环保样品等等。
帕纳科MiniPal4 Sulfur 针对石化行业客户设计，满足ISO 8754、ISO 20847ASTM D4294-03、ASTM D6445-02、ASTM D6481等标准要求。
其中S 的检出限可达到1ppm ，在同类产品中具有极高的性价比，而且除了分析S 元素以外，还可以分析其他70多种元素，满足石化行业客户多种样品分析的需求。
使用帕纳科（PANalytical ）公司生产的全系列X-射线荧光光谱仪，具有制样简单、分析速度快、准确度高等特点。
由于X-射线荧光分析是多元素分析技术，因此，一次测定可完成所有元素的含量分析，而且可在几分钟内即可完成一个样品的测定。
帕纳科公司不仅对用户不同的要求针对性的推出了不同型号的仪器,帕纳科不仅提供仪器，还提供整体解决方案：1）安排专家到现场，为客户建立完整的分析方法，直到用户能独立完成分析并满足分析要求为止；2）在上海建有研发实验室，给用户提供非常完善的分析方法建立、培训等售后服务（包括售前参观演示等服务）；3）同时我们在上海、北京、香港、广州、昆明、南京、烟台、成都等地均有维修中心,并且配备超过20位全职帕纳科职工的维修和应用工程师。
能谱仪使用说明书
能谱仪使用说明书一、产品介绍能谱仪是一种用于测量和分析样品中元素组成的仪器。
它通过测量样品中的辐射能谱来确定样品中存在的元素及其相对数量。
能谱仪具有高灵敏度、高准确性和非破坏性等特点，被广泛应用于矿产勘探、环境监测、材料分析等领域。
二、安装准备1. 开箱检查：将能谱仪取出包装箱，并检查包装内是否有损坏；2. 电源连接：使用配套的电源线将能谱仪连接到电源插座；3. 仪器连接：根据仪器说明书将能谱仪与计算机或其他数据处理设备连接；4. 屏幕设置：按照仪器说明书上的指引进行屏幕参数设置。
三、使用步骤1. 样品准备：将待测样品按照要求进行加工和处理，并确保其充分代表了被测对象；2. 样品放置：将样品放置在能谱仪的测量室内，保持样品与检测器之间的距离不超过规定范围；3. 仪器打开：按照仪器说明书上的操作步骤打开能谱仪；4. 参数设置：根据待测样品的性质和测量要求，在仪器界面上进行参数设置；5. 启动测量：点击仪器界面上的测量按钮或按下相应的快捷键启动测量；6. 数据记录：测量完成后，能谱仪将自动记录测量数据，并可以将数据保存至计算机或其他存储设备中；7. 分析处理：根据需要，可以使用相关软件对测量数据进行处理、分析和展示。
四、注意事项1. 操作规范：在使用能谱仪时，应严格按照操作说明进行操作，避免操作失误导致仪器损坏或数据错误；2. 预热时间：在冷启动后，能谱仪需要进行一段时间的预热，以达到稳定的工作状态；3. 温度控制：能谱仪对温度的要求比较高，应确保仪器工作环境的温度稳定并符合要求；4. 校正和标定：定期进行能谱仪的校正和标定工作，以保证测量结果的准确性和可靠性；5. 维护保养：定期清洁仪器内部和外部的灰尘和污垢，保持仪器的整洁和正常运行；6. 安全防护：在使用过程中，要注意保护眼睛和皮肤，避免直接接触样品辐射和仪器的高温部件；7. 关机方式：在使用完毕后，应按照操作说明正确关机，避免频繁开关对仪器带来的影响。
能谱仪技术参数
能谱仪技术参数（带*部分是必须满足的条件）1主要参数：1.1*该能谱仪与JEM-2100F场发射透射电镜配套使用；1.2*探测器：电制冷探测器，窗口有效面积≧30mm2；1.3*能量分辨率：在100,000CPS条件下Mn Ka保证优于129eV；1.4 *元素分析范围优于Be4～Am95；1.5 谱峰稳定性：1,000cps到100,000cps，Mn Ka峰谱峰漂移小于1eV，48小时内峰位漂移小于1.5eV；1.6 具备零峰修正功能，快速稳定谱峰，开机后无需重新修正峰位,10min内可达到稳定状态；1.7 *能谱仪处理单元与计算机采用分立式设计，单探测器输出最大计数率600,000CPS，可处理最大计数率优于1,500,000CPS；1.8*可进行谱定性和定量分析。
要求配备完善而精准的原子数据库，包含所有的分析线系(K, L, M 和N线系)，具备较为准确的定量方法；1.9可将电镜图像传输到能谱仪的显示器上，支持最大像素4096*4096，并以该图为中心做微区分析；1.10*所有校准数据均保存于信号处理器中，重装或者升级电脑可由用户自己完成，无需工程师上门重新校准系统；数据需能够复查，便于进行重新提取和分析；1.11通过处理器自动扣除和峰（非软件扣除），自动选择最佳处理时间1.12 *具有STEM模式点、线、面分析功能，且配备高分辨电镜专用的漂移矫正功能。
1.13计算机配置：22寸显示器，处理器intel 4核/内存8GB/硬盘1TB/1G独立显卡/win7 pro系统。
1.14 *实验报告:多种输出格式, 单键可生成Word文档, 及HTML格式。
2保修、培训及交货2.1. 免费保修期：至少1年。
保修期内，任何由制造商选材和制造不当引起的质量问题，厂家负责免费维修。
保修期自验收签字之日起计算。
保修期满前1个月内卖方应负责一次免费全面检查，并写出正式报告，如发现潜在问题，应负责排除。
2.2. 维修响应时间：卖方应在24小时内对用户的服务要求做出响应，一般问题在48小时内解决，重大问题或其它无法立刻解决的问题应在一周内解决或提出明确的解决方案，否则卖方应赔偿相应的损失。
philips EDAX GENESIS能谱仪技术参数说明
EDAX GENESIS能谱仪技术参数说明1.PVSEM/SUTW探头：锂漂移硅Si(Li) CDU型或标准STD型SEM Sapphire™ 蓝宝石X射线探头。
带超薄窗口，能够探测低至铍(包括)的所有元素。
有效探测晶体面积为10mm²。
晶体被自动保护以抵御探头变暖。
探测器多次热循环不会影响其性能。
配置包括前置放大器、放大器、电缆和2.5 或10升杜瓦瓶。
探头分辨率小于132eV。
2.PV8200/01Acquisition Electronic Kit 带有32位数字信号处理器(DSP)的能谱信号接收与处理系统，包括信号采集板、高压源以及直流电源板。
独立运行式多道分析器、9个可用软件选择的时间常数（0.4微秒--102.4微秒）、4个通道宽度可选用（2.5、5、10、20 ev/ch）、由于输入计数率导致峰漂移的修正以及三级快速鉴别器等。
最大输入计数率可达500,000cps、输出计数率可达100,000cps。
3.PV8604/11 英特尔奔腾IV 2.0 GHz 处理器：40 GB硬盘，256 MB内存，CD-RW读写式光驱，3.5” 1.44 MB软驱，以太网卡，图形加速卡，键盘和鼠标，Windows XP操作系统，MS Windows Office专业版。
4.PV8350/00GENESIS SEM Quant ZAF software定性与定量分析软件，用于扫描电镜块状样品定性定量能谱分析，使用EDAX增强的ZAF修正算法，包括：(1)可让用户选择的屏幕色彩(2)谱线的收集和显示(3)谱线自动连续变幅(4)鼠标拖动谱线变幅(5)自动或手动能量定标和分辨率计算(6)KLM线标记和峰的标注(含逃逸峰和吸收边)(7)自动和手动峰鉴别(8)在峰标定中的可见峰剥离(9)可进行重叠图形显示(10)用户自定义谱峰通道和感兴趣ROI区(11)全数字化的速率计功能(12)具有归一化、加、减和乘功能的谱线比较(13)谱线的平滑(14)逃逸峰扣除(15)峰的生成(16)手动和自动选取背底点并按Kramers方法建立背底模型(17)E DAX独特的可见的重叠峰剥离技术(18)具有用户定义报告格式的完全无标样定量计算（误差水平接近有标样定量计算的水平）(19)对轻元素进行定量计算时专设轻元素调整因子(20)定量计算具有纯元素标样法、混合物标样法或部分标样法(21)改进后的ZAF修正算法, 含有SEC因子修正功能，配以更完善的元素周期表(22)具备全自动EDX分析功能－自动按顺序分析的JOB方式5.PV8005/10电子束控制单元：数字化的慢速扫描发生器单元。
重要的能谱仪参数
重要的能谱仪参数计数率要得到一副好的谱线图（好的分辨率，较少假象），您应该使用35~50μs的时间常数以及1500~4000cps的计数率。
但如果谱线主要由低能端（<1keV）的谱峰组成时，则应使用50~100μs的时间常数以及500~1000cps的计数率想要获得大计数输出，如在做快速X射线成分图时，应选择较快的时间常数（17μs）以及较大的计数率（10~20,000）。
但这样的条件对于轻元素不太理想。
加速电压过压比是加速电压与某一元素的某条给定谱线的临界激发电压的比值。
一般来说，对于最高能量的谱线过压比至少为2，但不应高于感兴趣的最低能量谱线的10到20倍。
我们使用10来做定量分析，使用20做定性分析。
例如，您感兴趣的相中含有Fe, Mg与Si，并想用它们K线进行分析，那么15kV 比较合适（Fe K 6.398, Mg K 1.253, Si K1.739）。
如果除了分析这三种元素外，还要分析氧（O K 0.525），则应选择5~10kV，而且应选择Fe的L线（Fe L 0.705）。
为什么对于最高能量的谱线过压比不应低于2呢？因为在较低过压比的情况下，可被激发元素的相互作用体积很小，不足以产生足够多的X射线用于分析。
为什么对于最低能量的谱线过压比不应高于10~20呢？因为过压比太高，低能量的X射线会逃逸而不是被吸收，同样相互作用体积减小。
其结果是得到一个小峰，在做定量分析时需要使用很强的吸收校正，这会使我们分析结果的统计误差增大。
检出角一般检出角应为25~40度。
该角度取决于探头的角度、位置、样品的工作距离与样品的倾斜度。
通过增大检出角可以提高低能X射线与/或被强烈吸收信号的敏感性。
一些倾斜的探头（如一般探头相对水平线上倾斜约35度）不需样品倾斜。
水平出射角的探头则需要倾斜样品以获得较优的检出角。
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牛津仪器Inca X-act能谱仪详细配置及功能
1.专利的分析型SDD硅漂移探测器
•SuperATW窗口，10mm2有效面积；
•在MnKα处的分辨率: 优于127eV
•稳定性: 1,000cps—100,000cps 谱峰漂移<1eV，分辨率变化<1eV
• 48小时内谱峰漂移<1eV (Mn Ka)
•峰背比20,000: 1 (Fe 55, Mn Ka)
•分析元素范围：Be4-Pu94
2.INCA 系统
--系统计算机
•HP DC8000
--系统桌
显微分析处理器(分立式设计)
--Inca X-strea mⅡ显微分析处理器
•探测器高压偏压电源。
•6个程序可选时间常数和4个能量范围(10, 20, 40, 80KeV)的数字信号处理器
•计算机控制的数字脉冲处理器，输出最大计数率350,000CPS, 可处理最大计数率850,000CPS,
•活时间校正。
三个鉴别器覆盖全范围的反脉冲堆积，直至下限铍。
•数字零点稳定器。
•探测器控制系统。
--Inca Mics显微分析处理器
•带有存储器和辅助电路的高速微控制器，用以收集和处理X射线信号。
•IEEE1394 数据接口，用以高速传输数据到系统计算机。
•二个RS232串口或一个RS232串口和一个LASERBUS口。
•线性电源
•符合美国和欧洲电磁规定，并执行CE标记。
•SUPERSCAN – 先进的超级数字扫描系统。
•包括Kalman噪声限制程序，在快速扫描和限制图像噪声之间兼顾和控制。
•同步图像收集和数据传输到PC(零等待)。
•电镜图像接口电缆。
INCA软件导航器
•真正的32位软件
•独一无二的导航器界面, 非常友好，全中文操作界面, 引导用户从启动分析项目到打印实验报告的全部显微分析过程。
•用户可容易地在导航器之间切换，直接面对工作流程和IMS，以便直接看到自动分析过程的进展。
Advisor专家顾问
•Advisor是一个专家多媒体显微分析教育系统，并全集成到应用软件的各个层面。
其具有如下特点：
- 在线式中文帮助系统，在显微分析的每个步骤上给您建议和指导
-多媒体显微分析百科全书，提供显微分析原理，和实验的综合说明指导。
-附送显微分析多媒体光盘, 寓教于乐
信息管理系统(IMS)
•独特的数据树结构设计。
•每个项目都将数据有逻辑的组织成与感兴趣区对应的‘样品’。
•数据包可有保护的从一个感兴趣区拷贝或移动到另一个感兴趣区。
•样品可在下面之间拷贝或移动。
•数据可在用户定义的时间间隔保存。
•应用软件之间可共享数据。
•灵活的数据保护或共享。
实验报告
•打印预览。
•文字框, 可输入注解。
•单键生成Word, 或HTML等格式的报告输出。
•生成文字文件。
•在电子图像和X射线分布图上注解。
•可拷贝谱，图像，X射线分布图，线扫描等数据到其它软件，如WORD
•以各种文件格式输出谱，图像，X射线分布图，线扫描。
•报告模板生成器可制定您自己的报告格式。
3.Inca X-act包括下列软件和功能：
•Beam & Stage Automation电子束, 样品台自动化控制系统(SEM需提供相关接口) ――可在牛津能谱仪的计算机上实现对扫描电镜电子束的控制
•Point & ID 电子束控制采集模块，含有特征王组件
――控制电子束对选定的点、矩形、任意多边形、复杂形状区域进行分析，可一次性选定多个位置，随后进行自动分析
•Live Spectrum Mapping; 全谱智能面扫描
――全部数据一次面扫描全部收集, 可以随时任意添加删除元素, 进行谱图重构. 并且Mapping数据可以被其它导航器(Analyzer 和 Point&ID)调用, 以便脱机处理及任意位置的定量分析。
并且可以脱机在任意方向重构任意元素的线扫描分布情况。
•Element Examiner 元素侦察功能
――可对特定元素, 如重叠严重及含量较低的元素进行鉴别, 并判断其分布
•Live Spectrum LineScan全谱智能线扫描
――全部数据一次线扫描全部收集, 可以随时任意添加删除元素, 进行谱图重构，并可以脱机处理
•Profile Optimization 峰形优化
――对元素峰形进行优化, 可以对复杂重叠谱峰以及轻元素谱峰准确去卷积•Background Removal 本底扣除
――可以采集本底信号的面分布图及进行线扫描, 所以在面扫描和线扫描时也可以进行手动本底扣除运算
•Spectrum Reconstruction 谱图重构
――可以手动对谱图进行重构, 直观地检查复杂峰形是否标定正确
• 3 Sigma factor 3西格玛因子
――提供3 Sigma因子，以确认微量元素的存在
•Check Total 检查总量功能
――根据谱峰和本底的强度来检查重构的谱和采集到的谱图的一致性
•Spectrum Comparison 多谱比较
――将多个采集到的谱图或储存的谱图进行相互比较
•Spectrum Subtraction 谱的相减
――对两谱图进行相减, 可以去除基体的影响, 更准确的判断微区的成分
•Light Element Quantitative Analysis轻元素定量分析程序，采用XPP模型，比ZAF 精度高数倍――最新显微定量分析修正程序，大大提高分析精度
•Quant Optimization 定量最优化
――将仪器校正到最佳状态, 以保证极高要求的定量分析结果
•Standard Sample Database标样库
――能谱出厂时即预存全套标样库，大大改进无标样定量结果
•Normalized & Unnormalized Quantitative Analysis 归一化及非归一化分析
――可以很方便地得到归一化及非归一化定量分析结果
•Standardized & Unstandardized Analysis 无标样分析及有标样分析
――可以采用完全无标样法, 也可以建立自己的标样库
•Process Option: All Elements, Element By Difference, Element By Stoichiometry 多种定量结果处理方法
――除对所有元素定量外, 还可以选择用差额法及化学式法进行处理, 以适合各种不同类型的样品的定量分析，化学式法同样可以得到非归一化结果。
•Fast Acquire Spectra 快速收谱
――快速采集能谱图
•Auto Element Identification, including sum peak元素自动识别及标定
――能谱图中谱峰的自动识别并标定(包括和峰的鉴别)
•Interactive Volume Display电子束作用区大小实时显示
――只须点击右键便可显示当前状态电子作用区的大小
•Image Process Function 图像处理功能
――可测量数字图像中不同灰度所占的面积比, 测量颗粒大小, 调节对比度, 亮度, 输出为其它格式等。