数字集成电路测试仪YBD868
8681线材测试仪规格书
产品生产地：深圳沙井DY-8681线材测试仪产品特点系统提供中文操作介面开机自我诊断,自我校正系统可自动扫描自动找点系统提供先进的瞬间断短路/导通测试可作线材单边测试/绝缘测试最高AC500V/DC1000V测试电压最高可测256测试点提供320*240解析度圆形液晶显示线性与安规测试一应俱全完全可程式化连续测试提供多种介面，可作各种不同之应用系统提供统计与电脑连线列印功能测试项目:项目符号量测范围导通COND 0.1Ω ~50.0Ω瞬间导通路测试0.1Ω ~50.0Ω电阻R 0.1Ω ~10.0MΩ高压绝缘测试200~1000Vdc；50V Resolution±5%准确度显示/声响装置320/240解析度液晶圆形显示Pass/Fail LED红绿指示灯/书面显示/声响量测接点128量测接点可选购256/512接点高压校正正负端输出（+/-）自动找点端子控制面板系统/快速/编辑/功能按键群组介面RS-232通讯连接埠印表机埠远端控制埠记忆装置Flash Memory 重约14公斤(不含配件)线材规格要求最高1uF订购资讯CT-8681N 200~700Vdc;电阻1MΩ；绝缘1MΩ~500MΩCT-8681F 200~1000Vdc;电阻1MΩ；绝缘1MΩ~500MΩCT-8681FA 200~700Vdc;100~500Vac 电阻1MΩ;/C2 256测试点/C3 512测试点最多可储存56组测试设定档案四、技术服务：（1）我们专业人员可为所要测试的产品设计测试方式和测试治具，调试好测试机的各项参数拿其达到最优化。
（2）免费提供技术培训，免费提供仪器保养维护技术。
（3）可根据客户一对一的要求设计专门的测试方案。
五、售后保障：（1）终验收后提供一年的保修服务,并负责终身维修。
（2）保修期内免费提供零件及服务,保修期外以最优惠的价格提供技术服务及零、配件的供应。
六、随机附件及技术资料：（1）说明书（2）治具、排线、寻点探针（3）排针。
数字集成电路参数测试仪报告(精)
重庆大学本科学生课程设计指导教师评定成绩表说明：1、学院、专业、年级均填全称。
2、本表除评语、成绩和签名外均可采用计算机打印。
重庆大学本科学生课程设计任务书说明：1、学院、专业、年级均填全称。
2、本表除签名外均可采用计算机打印。
本表不够，可另附页，但应在页脚添加页码。
目录一、设计目的 (5)二、设计要求 (5)三、方案设计与论证比较 (5)四、硬件设计 (6)4.1、DA 模块 THS5651工作原理及电路设计4.2、放大模块14.3、ADC0809工作原理及电路设计4.4、Iil 模块4.5、Iol 模块4.6、12864模块五、软件设计.....................................5.1、数值显示模块5.1.1、分频模块5.1.2 十位数据波形发生模块5.1.3 去抖模块5.1.4 文本显示模块5.1.5 按键切换模块5.1.6 ADC0809驱动模块5.2 图形显示模块5.2.1 输入输出电压采样模块5.2.2 输入输出电压数据转换模块5.2.3 显示模块5.2.4 波形显示的整体电路六、系统功能测试及结果..............................6.1测试方法6.1.1 Vol,Voh,Vil,Vih的测试方法6.1.2Vil的测试方法6.1.3Vol的测试方法6.2测试结果6.3测试精度分析七、设计过程总结与体会........................... 参考文献........................................ 附件一系统电路图：附件二元器件清单：附件三一、设计目的在当今社会中，电子技术发展迅速，数字集成电路的应用广泛，而74系列逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用，因而数字电路设计中必须要求所用的数字电路芯片逻辑功能完整，但在数字电路芯片测试中又有很多不便，实际测试较繁琐。
针对上述需要，我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了一种数字电路芯片测试仪，用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏，从而给数字电路的设计、制作带来方便。
数字集成电路测试仪YBD868
数字集成电路测试仪YBD868数字集成电路测试仪(YBD-868)}YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器,测试脚数最大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下:———* 器件好坏测试—————* 器件型号判别———* 器件动态老化————- * 器件代换查询三．技术指标1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。
2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只led显示仪器工作状态。
8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米9. 整机重量：2.0kg四. 测试范围ybd868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列:1. ttl54系列2. ttl55系列3. ttl74系列4. ttl75系列5. cmos14系列6. cmos40系列7. cmos45系列8. 光耦合器系列9. led显示器系列10. 常用ram系列11. 常用单片机系列12. 微机外围电路系列五. 功能综述1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，可判别出该仪器件的好坏。
2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。
3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询“键就可知道是否有逻辑功能与之完全相同的其它器件。
4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插座上，按下“动态老化“键,仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试。
数字集成电路自动测试硬件技术研究的开题报告
数字集成电路自动测试硬件技术研究的开题报告一、研究背景及意义数字集成电路是现代电子科技发展的重要领域，其具有高速、稳定、可靠、集成度高等特点。
随着现代自动化、信息化技术的不断发展，需要对数字集成电路进行自动测试，以保证其质量和可靠性，提高生产效率和经济效益。
自动化测试技术是数字集成电路测试领域的重要技术之一，目前已被广泛应用于工业自动化、智能制造等领域。
通过自动化测试技术，可大大提高数字集成电路测试的效率，减少测试过程中的误差和人为因素的干扰，提高测试结果的准确性和可靠性。
二、研究内容及方法本研究主要研究数字集成电路自动测试硬件技术，包括测试平台的设计、测试仪器的选型和测试系统的搭建等方面。
研究内容如下：1.数字集成电路自动测试硬件平台的设计数字集成电路测试平台是测试系统的核心，其性能和稳定性直接影响到测试结果的准确性和可靠性。
本研究将采用现代化的测试平台设计思路，设计出高性能、高稳定性、高可靠性的测试平台。
2.测试仪器的选型测试仪器是数字集成电路测试的重要设备，其选型直接影响到测试结果的准确性和可靠性。
本研究将根据测试需要，选择合适的测试仪器，如数字万用表、信号发生器、示波器等。
3.数字集成电路自动测试系统的搭建数字集成电路自动测试系统的搭建是本研究的重点任务。
本研究将根据测试需要，搭建出高效、稳定、可靠的测试系统，包括测试仪器的连接、测试程序的编写、接口板的设计等方面。
本研究将采用实验研究的方法，通过对数字集成电路的样品进行测试，以验证自动测试系统的性能和可靠性。
三、预期成果及应用1.设计出高性能、高稳定性、高可靠性的数字集成电路自动测试平台。
2.选择合适的测试仪器，测试系统搭建完成，并编写出合理的测试程序。
3.实现数字集成电路自动测试的全过程，提高测试效率和测试结果的准确性和可靠性。
4.为数字集成电路的生产和应用提供技术支持，促进数字集成电路产业的发展。
四、预期研究难点1.数字集成电路自动测试平台的设计和开发。
数字集成电路半定制实现方法
数字集成电路半定制实现方法嘿，朋友们！今天咱就来唠唠数字集成电路半定制实现方法。
咱先说说啥是数字集成电路吧。
你就把它想象成一个超级复杂但又超级厉害的大机器，这个大机器能完成各种各样神奇的任务，就像孙悟空一样神通广大！而半定制实现方法呢，就是打造这个大机器的一种特别方式。
这半定制啊，就好像是给这个大机器量身定制一套衣服。
咱不能随便找块布就往上缝，那可不行，得精心设计、仔细挑选材料。
在这个过程中，有很多关键的步骤和要点呢！比如说版图设计，这就好比是给大机器设计外观，得让它既好看又实用。
你得考虑各种线路怎么走，元件怎么摆，这可不是随随便便就能搞定的事儿。
这得靠咱的智慧和经验，就像一个老裁缝一样，一针一线都得恰到好处。
还有工艺选择，这就像是给衣服选布料。
不同的布料有不同的特点和性能，咱得根据大机器的需求来选。
要是选错了，那可就麻烦啦，大机器可能就没法好好工作啦！再说说验证这一步，这就像给做好的衣服检查有没有瑕疵。
咱得确保这个大机器能正常运行，不能有一点差错。
这可需要咱瞪大眼睛，仔仔细细地检查，不放过任何一个小细节。
你想想看，如果没有半定制实现方法，那我们怎么能造出这么厉害的数字集成电路呢？这就好像没有了魔法棒，魔法师还怎么施展魔法呀！半定制实现方法让我们能够更高效地制造数字集成电路，让它们为我们的生活带来更多的便利和惊喜。
就像我们有了一个更强大的工具，能帮我们解决更多的难题。
而且啊，随着技术的不断进步，这半定制实现方法也在不断地发展和完善。
它就像一棵不断成长的大树，越来越茂盛，越来越强大。
我们可以期待未来它能给我们带来更多意想不到的成果呢！所以啊，朋友们，可别小瞧了这数字集成电路半定制实现方法。
它可是我们科技发展的重要推动力量呢！它让我们的生活变得更加丰富多彩，让我们能享受到更多高科技带来的好处。
总之，数字集成电路半定制实现方法真的很重要，很神奇！咱可得好好研究它，利用它，让它为我们创造更美好的未来！你们说是不是呀？。
CT8685测试仪操作规范
CT8685測試儀操作規範
品質政策：以品質爭取訂單、以服務回饋客戶、以誠信永續經營。
環保政策：開發選用環保材料、製造生產環保產品、持續改進環境績效。
LCD 液晶顯示器 操作輔助鍵 ●PASS/FAIL/HIPOT LED ❍控制按鍵群組 ⏹量測健(TEST) ☐量測快速鍵群組 ☐系統設置(RESET) ❑系統按健群組 ❒64PIN 治具接頭 ♦PINSEARCH
○
11高壓校正輸出接頭 ○12電源切換開關 序號 操 作 步 驟 操 作 方 法
1 接通電源，按下電源開關,空機自我測試 自我測試合格后，顯示LCD 主畫面
2 設定測試模式，測試項目與測試規格 根據成品需求，參照【CABLE 機測試參數標準】設定
測試條件
3 接上標準線材讀取連接點位 轉接線須對接好，標準線材接點必須正確
4
按SEVE 鍵存儲檔案
按Enter 鍵儲存亦可輸入新檔名，再按Enter 鍵另存新檔
5 按TEST 鍵開始測試 若測試為良品時，機器顯示“PASS ”字樣且面板上“PASS ”指示燈亮；若不良時則會顯示“NG ”字樣且面板上“FAIL ”指示燈亮.
6 插入待測線材 須同標準線材測試結果相同
7 測試完畢
關掉電源
核準 審核 制訂
●
❍ ⏹
☐
☐ ❑
❒
♦
○11 ○12。
CT-8681测试仪操作说明
選取檔案，則按（↓）鍵移動光標至所選取檔案，（黑色覆蓋），再按 Enter 鍵確
認選取即可。若要建立新檔，則按畫面右邊提示，按相對應的 操作輔助鍵（S1～S6）
，再輸入檔案台，按 Enter 鍵確認即可。
2.按 Hipot 鍵進入高壓設定狀態畫面，設定電壓、測試時間、測試規格（絕緣值）、
測試模式只開“兩分快速”，測試點數為 128 點，接地點位無需設定；按 Save 鍵
＜注：單邊待測線材很短時，要求外接測試測具越短越好。＞
4.點測
操作步驟
a.按 File 鍵建檔。
b.設定
Con d
、 Hipot 測試條件。
c.在 Model 鍵中進入測試模式設定畫面，線材種類設定為｛點測｝按下 Learn 鍵
LCD 顯示如下：
***** 本文件之制作權及營業機密屬立訊公司,非經本公司允許不得翻印 *****
主題:
文件編號
立訊電子廠
CT-8681
制定日期 2003-12-10
測試儀操作說明 頁次 3/9 版次 A
（注：若有時開機，第 項 INSVL＜絕緣檢測＞檢測 NG，則考慮降低絕緣測試條件進 行溫機直至測試穩定）。
＜五＞溫機：空機絕緣測試，檢查機台本身性能之穩定性。
簡單操作步驟：1.按量測快速鍵群組中 File 鍵，進入檔案選取或設定畫面，若
BS( ) 方向鍵 Exit
倒退鍵
用於游標之移動，包含(←)﹑（↑）﹑（→）﹑（↓）、 （PgUP）、(PgDn)以方便資料編輯 使系統跳離目前狀態並回到前一狀態
Enter
確認鍵
TEST
開始量測鍵
操作輔助鍵（S1～S6）
S1～S6 位於 LCD 右側，作為輔助操作/設定用
北京金三航 GT2100A数字集成电路多参数测试仪 说明书
数字集成电路多参数测试仪GT2100A北京金三航科技发展有限公司网址:电话*************制造商：北京金三航科技发展有限公司注册品牌：序集成电路（IC）测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它对促进集成电路的进步和应用作出了贡献。
为了确保产品质量和研制开发出条例系统要求的电路，在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验、测试。
集成电路的测试，尤其是进厂的检验、测试对其应用也是十分必要的，图1表示出发现每故障检出费与检出阶段的关系。
从图可以看出，产品进厂检验（器件级测试）每故障检出费用为0.3美元，在印制电路板上（板级）测试则检出费提高一个数量级，系统级及维修阶段测试，其每故障检出费用分别提高2个和3个数量级。
可见，集成电路进厂的测试不仅对确保系统可靠性有重要作用，而且对降低系统成本意义也十分重大。
每故障检 300出费用（美元）3030.3测试阶段器件级板级系统级维修测试测试测试测试GT2100A 数字集成电路多参数测试仪，是北京金三航科技发展有限公司通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精准的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。
该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。
目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。
GT2100A数字集成电路多参数测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。
GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。
GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的优秀测试仪器。
它具有以下主要特点：1．测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2．对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3．真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4．对IC输入电流、功耗电流测试。
YBD868说明书-中文
YBD868数字集成电路测试仪说明书（使用前请详细阅读此说明书）目录第一部分简介一．概述二．整机及配件三．技术指标四．测试范围五．功能综述六．维护保养第二部分操作说明一．自检二．操作说明第三部分可测器件清单第一部分简介一．概述YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器，测试脚数量最大为双列直插式40脚，可测范围覆盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下：* 器件好坏测试* 器件型号判别* 器件动态老化* 器件代换查询YBD868型数字集成电路测试仪以先进的微处理器为核心，主要器件选用INTEL,MOTOROLA等著名器件公司出产的集成电路，配合软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能，几乎适合于所有具有固定输出的数字集成电路。
广泛用于维护，检测各类计算机，工业自动化设备，大型医疗仪器，数控机床，微机外围设备，程控交换机，电子仪器仪表，数字通讯设备，电子继电保护装置及各类电子产品。
二．整机及配件1．YBD 868型数字集成电路测试仪一台2．电源线一根3．特殊器件测试板一块4．说明书一本5．保修卡一张三．技术指标1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统，被测器件安装采用锁紧插座。
2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只LED显示仪器工作状态。
3．电源电压：220V±10%, 50HZ4．整机功耗：12VA5．适用温度：0℃--+40℃6．工作时间：工作1小时停电5分钟。
若连续工作，电源电压∠230V，环境温度∠25℃。
7．仪器结构：台式塑料机箱8．外形尺寸：292*235*75立方厘米9．整机重量：2.0KG四.测试范围YBD868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片,包含以下各大系列：1．TTL54系列2．TTL55系列3．TTL74系列4．TTL75系列5．CMOS14系列6．CMOS40系列7．CMOS45系列8．光耦合器系列9．LED显示器系列10．常用RAM系列11．常用单片机系列12．微机外围电路系列五．功能综述1．器件好坏判别：当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号，并将器件放于对应的工作插座上，仪器即可判别出该器件的好坏。
6.1 认识集成电路测试平台
测试平台要求有较高的测量精度, 为使系统有较稳定的测试效果, 建议在电源接通约30min后开始正常测试和校验。用户必须制订计 划, 对设备进行定期校验和维护保养。为确保设备的测试精度和稳定 性, 建议用户每月自检一次 (用自检盒, 不用万用表), 每 3个月校准、 校验一次 (用自检盒, 用万用表、频率计)。自检和校验的数据可以保 存, 便于设备的跟踪管理。如果设备更换或新增电源模块, 建议重新 进行校准和校验。
图 6-3 LK230T 集成电路应用开发资源系统的外形
图 6-4 LK230T 集成电路应用开发资源系统内部实物
6. 1. 3 Luntek 集成电路测试软件
Luntek 集成电路测试软件是和 LK8820 集成电路测试平台配套的专用测试软件, 其快捷方式如图 6-5 所示。通 过该软件, 用户可有效地组织系统构架, 方便地进行多种芯片的参数测试。
图 6-1 LK8820 集成电路测试平台实物
6.1.1 LK8820 集成电路测试平台
该平台的主要特点如下。 ① 测试主机通过通用串行总线 (USB) 接口与工控机进行数据交换。 ② 采用双层机架, 最多可以配 12 块测试模块。 ③ 测试总线一体化设计, 挂载测试模块更方便。 ④ 高精度电源由软件控制, 测试主机具有自我保护功能。 ⑤ 最多可扩展到 64 个功能测试引脚、8 个电压/ 电流源通道。 ⑥ 最多可扩展到 256 个光继电器矩阵开关、32 个用户继电器。 ⑦ 配备晶体管--晶体管逻辑 ( TTL) 接口, 可连接智能芯片分选机进行芯片测试。 ⑧ 能测量数字芯片上升沿、下降沿、建立时间等参数。 ⑨ 提供高精度的交流信号源, 支持正弦波、三角波、锯齿波输出。 ⑩ 提供低速/高速、高精度交流信号测量功能。
精密线材测试机CT-8688系列技术参数(精)
精密线材测试机CT-8688系列技术参数:项目符号测试范围导通COND 0.1Ω－50.0Ω瞬间导通0.1Ω－50.0Ω电阻R 0.1Ω－1MΩ绝缘电阻I.S 1MΩ－500MΩ断/短路O/S 2KΩ－50ＫΩ瞬间断短路测试2KΩ－50ＫΩ单边测试断短路端点判断进阶功能可程式化连续测试自动学习与自我找点自我诊断自我校正归零统计显示与列印功能基本准确度±1%测试扫描模式自动/手动扫描可切换量测速度0.1Sec基本值量测频率与讯号/电压100～100KHz,1Vac低电压量测讯号5Vdc,50mA Max准确度±5%高压绝缘测试200～1000Vdc,100～500Vdc50VA Resolution±5%准确度显示/声音装置320×240解析图形液晶显示6位数数位显示Pass/Fail LED红线指示灯/画面显示/声音量测接点128独立量测接点可选择256/512接点高压校正正负端输出自动找点端子控制面板系统/快速/编辑/功能/按键群组界面RS-232通信连接埠印表机埠远端控制埠记忆装置内建512KB SRAM内建备份电池电源供应115/230Vac可切换式电压输入±10%60/50Hz配件自动找点探针远端控制线(选购)RS-232通讯线(选购)治具排线电源线使用手册温湿度摄氏15℃～35℃相对湿度≤75%RH 尺寸(宽×高×深) 425×190×350mm 重量约14Kg(不含配件)。
电缆故障测试仪CD86数字式跨步电压定点仪
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版本：v1.1。
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地址：山东省淄博市张店区华光路79号银领国际商务中心416室邮编：255031电话：传真：E-Mail：H ttp: //目录第一章概述..................................................................................... 错误！未定义书签。
一、概述 ................................................................................. 错误！未定义书签。
二、功能特点 ......................................................................... 错误！未定义书签。
三、技术指标 ......................................................................... 错误！未定义书签。
四、仪器结构 ......................................................................... 错误！未定义书签。
第二章跨步电压定点..................................................................... 错误！未定义书签。
一、工作原理 ......................................................................... 错误！未定义书签。
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数字集成电路测试仪(YBD-868)}
YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器,测试脚数最大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下:
———* 器件好坏测试—————* 器件型号判别
———* 器件动态老化————- * 器件代换查询
三．技术指标
1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。
2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只led显示仪器工作状态。
8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米
9. 整机重量：2.0kg
四. 测试范围
ybd868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列:
1. ttl54系列
2. ttl55系列
3. ttl74系列
4. ttl75系列
5. cmos14系列
6. cmos40系列
7. cmos45系列
8. 光耦合器系列
9. led显示器系列
10. 常用ram系列
11. 常用单片机系列
12. 微机外围电路系列
五. 功能综述
1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，可判别出该仪器件的好坏。
2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。
3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询“键就可知道是否有逻辑功能与之完全相同的其它器件。
4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插座上，按下“动态老化“键,仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试。