3-法国ESA公司颗粒物分析仪介绍解析
超细颗粒粒度分析仪的性能和特点 分析仪是如何工作的
超细颗粒粒度分析仪的性能和特点分析仪是如何工作的亚微米技术是当今重点讨论及进展技术，它能够应用于工业及科学领域上，从物料科学至电子配件，从化学分析至生物科学，亚微米技术扮演侧紧要的角色。
因此，亚微米颗粒分析仪的需求不断上升。
一、超细颗粒粒度分析仪性能分析：·粒度测量范围：3—3000nm·分子量测量范围：104—1013 Daltons·分析时间：30—180秒（或以上）·样品温控范围：6oC—60oC二、超细颗粒粒度分析仪技术特点：·应用动态光散射原理，符合ISO 13321标准·唯一的六角度（14.9o, 20.6o, 30.4o, 40.2o, 50.4o及90o）纳米粒度分析仪。
·小角度测量具有更高的辨别率与灵敏度。
·高功率激光器确保弱光散射和极稀浓度样品分析的精准性。
·独有的”Finger—Print”指纹图谱，供应快速的样品污染物检测，利用四个角度分析样品，对比不同样品的图谱，可辨别样品存在污染物；多分散体或混杂体。
总有机碳分析仪是测定分析有机碳TOC总量的仪器，在测定水中碳化物时，以钴作触媒，在950℃条件下燃烧。
燃烧时产生CO2，用非分散型红外线气体分析仪器进行测定。
其间把无机碳酸盐在150℃低温条件下燃烧，测出其CO2数量。
从总碳中减去此CO2量后，就为有机碳的测定值。
总有机碳分析仪的工作原理：当含碳化古物在富氧环境下燃烧时，碳完全转化CO2，非散射性红外检测器（NDIR）检测CO2的量，并转化为样品中的总碳（Tc）含量。
然后，样品被酸化，当pH值降低时，样品中的碳酸根和碳酸氢根转化成CO2，CO2被吹出，并进入非散射红外检测器（NDIR）, 检测出的CO2量被转化成总无机碳（TIC）的含量。
将TC和TIC的值相减，即得到总咱机碳（TOC）的值。
总有机碳分析仪用途：用于测量地表水、自来水、污水、海水、双氧水以及工业用水等水体中总有机碳的含量,以综古评价水体中有机物污染程度。
PM2.5颗粒物手工监测与自动监测仪技术对比
任务由来： 现状
美国典型大城市年均细粒子PM2.5浓度和成分
( from EPA 2003 )
颗粒物组分分析：主要比例分布
我国PM10主要组分平均比例范围初步结果（单位：%）
其 他阳离 子, 6.1 NH4, 4.5
SO4, 10.7
NO3, 0.5 Cl, 1.5 F, 0.5
OC, 7.8 EC, 1.7
这一方法仪器对采样滤膜带有较高的要求，在潮 湿环境中故障率也较高。
光散射等效方法原理
光散射法测量质量浓度的原理是建立在微粒的 Mie散射理论基础上的。当光照射在空气中悬浮 的颗粒物上时，产生散射光。
在颗粒物性质一定的条件下，颗粒物的散射光强 度与颗粒物的粒径成正比。通过测量散射光强度， 就可以对不同粒径的颗粒物进行计数，然后应用 转换系数，求得颗粒物质量浓度。
国外设备认证情况：2011年美国EPA认证列表
（from USEPA， 2011）
国外设备认证情况：2012年美国EPA认证列表
（from USEPA， 2012）
四、PM2.5自动监测设备比对测试情况
为了制订“十二五”PM2.5监测能力建设所需的技术 指标等内容。
2012年中国环境监测总站在北京、上海、重庆、广 东、济南地区开展PM2.5自动监测仪器的比对测试。
β射线法是根据颗粒物能够造成β射线衰减这一 原理设计的，颗粒物吸附在滤纸带表面后，盖革 计数器通过测量采样前β射线强度变化来计算吸 附的颗粒物的浓度。
由于空气中水分对颗粒物测量有较大的影响，采 样管必须加装动态加热系统，能够保持受测量气 流的湿度相对稳定在合适测量水平。
因此，β射线法必须加装动态加热系统来监测 PM2.5质量浓度，以最大限度减少对颗粒物监测的 影响。
元素分析仪vario micro cube说明书
如今，成功的根本100年前，在德国中部法兰克福附近，科技领先的Heraeus 公司开发生产了世界上第一台用于有机物分析的元素分析仪。
在此基础上，元素分析仪产品所需要的在技术方面的不断升级和创新促成了Elementar 公司的成立还是在同一地点，Elementar 成为了世界领先的C, H, N, S 和O 元素分析的专业仪器制造商。
Elementar 将其丰富的元素分析经验、微电子学和机械学的最新发展以及最新开发的分离技术融入到vario MICRO cube 当中。
我们甚至可以从Elementar 推出的最新仪器系列的外形和颜色上，清晰地感受到元素分析的基本概念和特殊要求。
凭借超过百年的元素分析专业技术和经验，以及不断的创新能力，Elementar 最新开发出的独特的产品 vario MICRO cube并不让人感到惊奇：● 可以覆盖多种元素以及几乎所有的样品类型● 分析结果的最高精度和准确性● 创新设计，操作简便● 低操作成本和安装要求 Heraeus Micro Analyzer 1930。
年的保修期！，的持久温度下进行不会因为氧气侵入而被破坏，形成仪器的设计理念－简单而精致简单的测量原理如下图所示：样品在锡或银容器中称量，然后放入内置的120位进样盘中，在全自动的过程中样品通过球阀进入燃烧管。
为了有效去除进样时带入的空气干扰，每个样品都用惰性气体进行吹扫（Heroeus专利）。
因此可以实现零空白进样。
催化燃烧在一个1200℃加热炉提供长达10在第二个加热炉中用还原铜对燃烧气体进行还原，的分析气体N2, CO2, H2O和SO2仍然在He载气流里。
气体混合物先在同一根吸附解吸柱上吸附，然后通过新开发的程序升温脱附（TPD）技术在吸附柱上依次分离，进入热导检测器进行（TCD）检测。
TCD检测器基于热敏电阻技术，因而具有极高的稳定性和测量动态范围。
检测器前的电子质量流量控制器（MFC）确保了分析气体的压力和流量一直保持绝对稳定的状态，因而一台仪器经校准后可以稳定几个月甚至几年。
元素分析仪EURO-EA3000仪器介绍、原理、操作流程和数据误差控制
《难氧化分解样品的分析》
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石英棉
Quartz wool
参照货号：E10514 超细石英棉 ：1-3um , 2-5um
货号：TL-1 10克/桶 TL-1-2 50克/桶
细石英棉：5-10um 货号：TL-2 -3 50克/包
产品简介： 装在反应管和吸收管中定位催化剂
和吸附杂质以及过滤反应气中的粉尘
大家好
1
意大利元素分析仪EURO EA3000 仪器介绍、原理、操作流程和误
差控制
中科院地质与地球物理研究所
2
Confused: What is the elemental analyzer ?
元素分析仪 基于有机元素分析的发展和电子天平、色谱、热导检测器等技术发展起来的仪器； 该仪器主要用于测定有机物质材料中N、C、H、S、O元素的含量；
国内参考执行标准 标准名称:《JJG017-1996 元素分析仪检定规程》 起草单位：国家教育委员会 实施日期：1997.4.1
分析准确度国际惯例
标准物质的算术平均测量值与其真值之差：Leabharlann 元素绝对误差(%)
N、C、H
≤0.3
S
≤0.5
O
≤0.5
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EuroVector EA3000 仪器简介
Patented TurboFlash® Combustion 专利保护的动态燃烧技术
预装反应器
Prepacked quartz reactor
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EuroVector EA3000 操作软件界面
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EuroVector EA3000 维护和参数设置
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EuroVector EA3000 智能休眠和唤醒
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【doc】颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术
颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术2005年9月电力环境保护第21卷第3期颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术Samplingproblemsandbasicanalysistechniquesaboutcontinuousparticula temonitoring杨凯,滕恩江(中国环境监测总站,北京100029)摘要:主要介绍了颗粒物CEMS在实际应用中的取样和基本分析技术,着重强调了颗粒物分层对取样点位的影响,以及保持颗粒物特性和尺寸分布相对稳定在基于光学技术的颗粒物CEMS应用中的重要性.关键词:CEMS;取样;分析;监测Abstract:Thisarticlemainlyintroducessamplingproblemsandbasicanalysi stechniquesaboutcontinuousparticulatemonitoring,emphasizestheeffectofparticulatestratificationonrepresentati vemonitoringlocationandtheimportanceof keepingtheparticulatecharactersandsizedistributionstabilityduringtheope rationoftheopticalCEMSKeywords:CEMS:samling;analysis;monitoring中图分类号:XT01.3文献标识码:B文章编号:1009—4032(2005)03—0059—04颗粒物CEMS(Continu0usemiSSi0nmonitoringsys- tem)同通常的自动连续监测系统一样,包括取样子系统,分析子系统,数据处理和传输子系统.颗粒物GEMS主要用于火力发电厂,水泥厂,工业锅炉和采暖锅炉的烟尘/粉尘连续排放监测.作为成套系统, 颗粒物CEMS应至少可以监测颗粒物质量浓度,烟气流量,烟气温度,烟气含湿量,烟气含氧量或过剩空气系数.就颗粒物CEMS的质量浓度监测而言, 按取样方式可分为直读式,直接抽取式或稀释抽取式,按分析原理可分为光学法,电学法和放射性法. 1颗粒物CEMS的取样由于颗粒物特性和气体分子的本质不同,从而使颗粒物CEMS的取样呈现出特有的问题,其中主要包括:颗粒物分层,烟气湿度过大,颗粒物在取样管线内沉积等.我国大多数的在用颗粒物CEMS为直读式光学测试法,因此,取样中出现的问题也就主要表现在颗粒物分层和烟气湿度过大方面.1.1颗粒物分层由于重力和粘性力的作用,颗粒物分层问题在烟尘/粉尘CEMS监测中是极为常见的,若同时考虑烟气流速的分层,则颗粒物的连续自动监测更为复杂.颗粒物分层对测量准确性的影响不仅表现在颗粒物浓度在烟筒和烟道横截面上的变化,而且还表现在粒径尺寸分布的变化方面.尽管颗粒物分层主要表现在粒径为1～10”m的颗粒物上,但烟筒或烟道漏风,两烟道会聚于一烟筒,烟道内烟气切向进人烟筒以及烟道内支架造成的湍流都可能导致粒径小于1ffm的颗粒物浓度分层.颗粒物分层是伴随着烟气流速的变化而变化的,它是污染源操作状况,除尘设备运行效率以及燃料类型的时间函数.然而,可以通过选择合适的测量技术,合适的测量点位以及有效地控制除尘设备的运行状态,使得分层造成的影响尽可能最小化.没有代表性的测量点位很难保证测量结果始终落在校准曲线的置信区间和允许区间内,测量结果与标准分析方法也不具有可比性.颗粒物在烟筒和烟道内的分层信息将有助于测量点位和测量技术的正确选择,通常的做法是将一台便携式仪器固定于烟囱或烟道中心部位,另一台在烟囱或烟道横截面上移动测量来获取颗粒物分层信息.从测量实践来看,颗粒物浓度和粒径较大时,测量点位应尽可能选择在长直烟道内,并且尽可能远离湍流区;点测量应尽量选在烟气流向的中心部位,以远离烟道壁避免边界层影响;光学线测量仪器应穿过颗粒物分层梯度,避免分层的影响,此外,光束应从烟筒或烟道的中心区域穿过,避免边界层及其湍流的影响.1.2湿式除尘器后的颗粒物监测在湿式除尘器后或烟气内有液滴出现时,将极大地限制某些监测设备的使用.若不对烟气内的水滴进行任何处理,基于光学技术的颗粒物CEMS将无法区分水滴和烟尘.对基于光学技术的直读式颗粒物CEMS,似乎592005年9月电力环境保护第21卷第3期没有什么好的办法可以解决水滴对测量结果的影响,而对于抽取式光学技术的颗粒物CEMS,则可以通过加热伴管蒸发水滴来消除液滴对测量结果的影响.但是,对基于光学技术的抽取式颗粒物CEMS, 要建旁路烟道,其安装和运行费用则明显上升.1.3样品沉积由于颗粒物与气体分子特性的不同,对抽取式颗粒物CEMS,样品在取样探针以及取样管线内的沉积则是不容忽视的问题,这往往导致负的测量偏差.此外,若伴随着颗粒物的分层,较大粒径颗粒物的取样更可能在探针以及取样管线内沉积.减小探针和取样管线内样品沉积影响的主要方法是保持较高的取样速率,但是,由于等速取样的要求,取样速率不可能太高.在实际应用中,可以通过减小取样管线内径的方式来提高取样速率.另一个避免样品沉积的方法是采用”开关脉冲吹扫系统”.在I3射线颗粒物CEMS中,颗粒物的测量是半连续性的,每次取样结束时,探针阀门被迅速关闭,在取样管线内造成一定的真空度,当下一个取样周期开始时,探针阀门又被迅速开启,从而形成一定的压力脉冲,以吹扫取样管线.2颗粒物CEMS的分析技术无论采用哪种分析方法的颗粒物CEMS,在调试期间都必须把仪器的光电示值与用标准分析方法所得出的颗粒物浓度在较大的范围内关联,做出校准曲线,从而使仪器最终给出能够客观反映颗粒物浓度的”真实”示值.颗粒物CEMS光电示值和标准分析方法的关联对比应遵从相关标准,如:固定污染源排放烟气连续监测系统技术要求及检测方法-2J.粒子特性和粒子尺寸分布的较大变动,燃料,除尘设备和污染源操作状态的较大变化,都可能导致关联失败,从而导致颗粒物CEMS的数据不能客观反映污染物排放状况.2.1光学技术2.1.1光电透射技术2.1.1.1基本原理及相关问题光电透射技术所基于的基本原理为朗伯一比尔定律l:lQe—xcL式中,,,为出射和入射光强;为分子吸收系数60(与颗粒物粒径,波长及吸光度有关);C为颗粒物浓度;L为光通过烟气的距离.在实际应用中,把透光度(T=I/I)或光密度(培(,./,))与校准曲线关联,得出颗粒物浓度.此种技术有两种构造方式,一种是单光程系统,光直接穿过烟道到达检测器.由于单光程系统的校准较为麻烦,目前很少采用;另一种是双光程系统(见图1).在双光程系统中,接受器一侧装配有光源和光检测器,反射镜被安装在接受器窗口之外,以便于光检测器,光源等系统电子线路和光路的维修和检查. 大部分采用光电透射技术的颗粒物CEMS都装有气体净化系统或风机,以保持光学窗口的清洁.图1双光程光衰减技术示意在美国,光电透射技术得到了广泛应用,但仅限于测量基于视觉效果的颗粒物浊度,不给出颗粒物的质量浓度,测量波长一般选择在400～700nm的可见光范围内.而在我国,由于要求给出颗粒物的质量浓度,所以,红光或远红外光比可见光或其他光更适合.这主要是因为与对颗粒物质量浓度贡献相比,烟道内小粒径颗粒物(<5p.m)对浊度贡献较大, 而红光对小颗粒物不太敏感,因此,采用光电透射技术的颗粒物CEMS,一般使用红光或远红外光.2.1.1.2光电透射技术特点(1)可以连续监测整个烟道截面的颗粒物浓度;(2)因振动,温度等因素易使光路准直发生偏移;(3)光学器件易受烟气污染,要定期擦拭;(4)受烟气中颗粒物特性及尺寸分布影响;(5)对于湿式除尘器的场合,选用应慎重.在湿式除尘器后,由于烟气含湿量大,如果不滤除液滴,透过的光束无法区分液滴和烟尘,从而导致测试结果偏高.尽管基于光电透射技术的直读式颗粒物CEMS2005年杨凯等:颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术第3期存在着众多的问题,但迄今为止,它在干式除尘器后的应用是极为成功的.目前我国在用的颗粒物CEMS绝大多数都是此类仪器.2.1.2光散射技术2.1.2.1基本原理及相关问题光直接照射颗粒物时,颗粒物将吸收或散射入射光.当入射光波长()大于颗粒物尺寸时,发生雷利(Rayleigh)散射;入射光波长()相当于颗粒物尺寸时,发生米氏(Mie)散射,散射光强可用米氏方程计算,但散射光强与颗粒的尺寸,光波波长存在着极为复杂的关系.散射角依赖于r/A(r为颗粒物半径),当r/2<0.5时,颗粒物将向各个方向散射入射光,当r/2>1时,散射主要发生在入射光前进的方向上3J.袋式除尘器和静电除尘器主要收集1000nm以上的粒子,对亚微粒子(<1000nm)的收集效率较低,而可见光波长分布在400—700nm范围内,因此,可见光和远红外光均处于米氏散射区域.光散射CEMS分析仪充分利用了光的散射效应,不仅可设计为测量前散射光强.与后向散射仪器不同,在侧向散射仪器内,远红外光被集中在样品池中,检测传感器定位在发射光源上部,参考光谱通过光电子管由发射光源直接引向检测传感器.2.1.2.2光散射技术的特点(1)由于不用反射装置,因此不需要在烟道两侧对光.(2)与跨烟筒或烟道的光电透射技术相比,仪器的安装只需要在烟筒或烟道一侧开孔;(3)易受烟气中颗粒物特性及尺寸分布的影响. 2.1.3光学技术的缺陷实际上,在光学法中,将透光度以及散射光强与校准曲线关联时,总是假定颗粒物特性与获得校准曲线时的颗粒物特性相同,但实际上是不可能的,烟尘对光的吸收与散射不仅取决于其浓度,还取决于颗粒的形状,粒径分布和光波波长,而这些参数都是时间的函数.因此,颗粒物CEMS基本不可能获得与标准分析方法同样的颗粒物质量浓度值,但只要在校准曲线的置信范围和允许区间内,还是可以接受的.2.2原子核放射性——p射线衰减技术2.2.1基本原理当8射线穿过一种材料时,此种材料将吸收或反射8射线,线束强度的衰减量和穿过物质的性质以及数量相关,利用放射性同位素,如Krs,CH,可以连续自动监测烟道内颗粒物浓度(见图2).烟道气通过探针引出,样品可以被稀释以降低烟道气露点,避免烟气冷凝.引出的烟气由玻璃纤维纸带过滤,在玻璃纤维纸带上产生颗粒物聚集点, 这些聚集点在口射线源和检测器之间移动,从而半连续性地检测出颗粒物浓度.8射线穿过颗粒物聚集点强度的衰减依赖于聚集点颗粒物的电子密度和颗粒物的数量.为保证测量的一致性,必须事先找出颗粒物分子质量和单位分子电子数量之间的稳定关系,通常对于大部分燃煤锅炉来说,颗粒物分子质量和单位分子电子数量之间的比值相同.颗粒物聚集点的收集效率,颗粒物构成,烟气流量以及稀释比等因素都可能影响测量结果.取图2口射线纸带式CEMS2.2.28射线技术特点(1)克服了光学法受颗粒物粒径分布的影响,直接给出颗粒物质量浓度,测量上限可达4000mg/m3;(2)口射线光源寿命较长;(3)口射线CEMS由于采用了抽取式采样技术,抽取式采样存在的如烟尘的等速采样,烟尘在管线内的沉积,烟气的冷凝等问题也同样存在.2.3电学——电荷法两种不相同的物质接触时,将产生电荷的转移,这种现象并非因为静电荷的积累或转移,而是两种相接触材料本身固有的特性.电荷的转移量与相接触粒子的电阻,介电常数,粒子形状,接触时间以及接触面积等因素相关.612005年9月电力环境保护第21卷第3期此类原理的仪器主要部件为插人烟道内的金属探针,作为布袋除尘器的报警装置,应用较为成功, 但作为定量的监测设备,这类仪器存在很多问题.如由于颗粒物表面的静电沉积以及较小颗粒物随烟气流动而不和金属探针接触,极大地影响仪器定量测量的准确度.2.4其他技术2.4.1压电晶体差频法其基本原理是由一对完全相同的石英晶片以及振荡器构成传感器,其中一个晶片做参比,另一个做测量用.石英晶片位于采样室内,与电子线路一起构成振荡器,获得一定的谐振频率.当烟尘微粒通过采样室,黏附在震荡金属片上时,使得振动频率降低.根据所测频率的变化(差频),即可求出颗粒物浓度.在应用中,从烟道内引出的烟气应稀释,以避免冷凝.但若颗粒物不黏附于震荡金属片上,则测试结果没有代表性;若黏附,则随时间推移,震荡金属片将超载,必须清洗重新校准.目前,此种原理的仪器在国内还没有实际应用.2.4.2声能测量声能测量原理是基于烟道内的颗粒物流动冲击探针,从而产生声波,并和颗粒物浓度进行关联.目前该技术在我国尚未得到实际应用.3结语目前,光学技术的颗粒物CEMS应用最为广泛G射线技术的应用有逐渐增长趋势,其他技术在定量测量颗粒物浓度方面则极少采用.我国目前在用的主要是基于光学技术而构造的颗粒物CEMS.由于这种系统在原理方面的缺陷, 不仅要求调试期间颗粒物浓度在较广的范围内变动,以得出普遍适用的校准曲线,而且要求在实际测试期间,颗粒物特性和尺寸分布不应有较大变动.因此,应用时应保持污染源操作状况,除尘设备运行情况以及燃料种类的相对稳定,一旦出现较大的影响颗粒物特性和尺寸分布的变动,都应重新调整校准曲线.获得颗粒物分层信息,将有助于测量点位的正确选择,仅仅依靠测量点位前应保持6倍当量直径,测量点位后应保持3倍当量直径的直管段的简单判断l儿,是不能够获得具有代表性的测量点位的.参考文献:[1]HJ/T76—2001.固定污染排放烟气连续监测系统技术要求及检测方法.[s].[2]GB/T16157—1996,固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法,[s].[3]赵凯华,钟锡华.光学(下册)[M].北京:北京大学出版社,1984, 240.收稿日期:2004.12.21;修回日期:2005.06.10作者简介:杨凯(1971一)男,河南获嘉人,工程师.硕士,主要从事环境监测仪器的质量监督与检验.“SURCoN在流程工业”有奖征文大赛硕果累累2005年3月,浙大中控推出了”SUPCON在流程工业”有奖征文大赛活动,活动一经推出就受到业内的广泛关注.由浙大中控和《CON—TROLENGINEERING中文版》联合组成的有奖征文工作组几乎每天都能收到论文投稿或者读者来电.迄今为止,已经收到来自用户,设计院,中间商,工程公司,科研院所的投稿近百篇,内容涵盖SUPCON产品与解决方案在流程工业各行业的应用案例,效益提升案例,应用心得与体会,与第三方产品的集成案例及来自用户端的开发成果等多方面,行业涉及化工,石化,冶金,电力,建材等多个行业,内容涵盖之广,行业涉及之多及文章的高质量均创新高,可谓百花齐放,硕果累累.更有多篇来自用户方的中肯建议,意见或殷切希望,使浙大中控获得了一次与用户真诚交流,聆听用户心声的机会.征文活动前期经过精心策划,争取在每个环节都做到尽善尽美.为了扩大活动影响,主办方先后在多家知名媒体上发起了广告宣传.由于浙大中控自身的号召力加之宣传到位,保证了本次大赛的规模和效果,不少热心读者还对本次活动出谋划策,提出不少宝贵的建议和鼓励.浙大中控珍视每一篇论文投稿,为保证此次征文大赛的公正和公平性,浙大中控和<CONTROLENGINEERING中文版》将联合邀请业界专家组成论文评审委员会,认真细致地审阅论文,并通过初选和复选,最终确定名次并对评选结果进行公布.目前,离大赛的截稿日期已近,您如果还想参加活动,请尽快执笔,写下您的心得体会,把握最后机会!为了答谢业界人士对浙大中控和本次活动的关注,浙大中控和<CONTROLENGINEERING中文版》还将组织策划隆重的颁奖典礼,届时我们将邀请获奖作者,评审专家,媒体及业界嘉宾到场共同见证和分享这一喜悦时刻!大奖最终花落谁家,让我们一起拭目以待!新闻背景:为交流应用经验,交流应用心得.提升服务,2005年3月.浙大中控与(CONTROLENGINEERING中文版》联合主办”SUPCON在流程工业”有奖征文大赛面向各最终用户,设计院,合作伙伴,科研机构征集应用论文.论文题材丰富.形式多样.征文大赛设有丰富奖品,此外,获得一,二等奖的论文将在(CONTROLENGINEERING中文版)杂志逐期发表,其他获奖论文由浙大中控协助向知名媒体推荐发表.62。
环境空气自动监测系统比对监测有关问题的探讨
1前言近年来，环境空气自动监测已成为我国城市环境空气质量监测的主要技术手段。
随着环境管理、环境执法以及社会公众对环境监测数据的需要不断增长，对监测数据准确性的要求日益突显。
为了保证环境空气质量自动监测数据可靠，必须对监测系统进行一系列的质量保证与质量控制措施[1]，除此之外，比对监测也是保证环境空气质量监测数据准确性的有效措施之一。
而现今我国空气自动监测站没有比对监测的相关方法标准加以支持，国内也无相关研究文献，比对监测尚处于研究摸索的阶段。
因此，开展空气自动站比对监测相关内容的研究有着重要的现实意义。
2比对监测过程中可比性探讨2.1比对监测仪器的选择2.1.2仪器方法介绍根据国家监测技术规范[2]，SO2自动分析仪常用的方法原理有紫外荧光法和差分吸收光谱分析法（DOAS），NO2自动分析仪常用的方法原理有化学发光法和差分吸收光谱分析法（DOAS），PM10颗粒物自动分析仪常用的方法原理有微量振荡天平法（TEOM）和β射线法，见表1。
表1监测仪器推荐选择的分析方法2.1.2实例分析根据不同的仪器方法原理，选择不同的厂家仪器作比对监测。
选用部分城市空气自动监测站常用的自动分析仪作为被比对仪器，包括河北先河（国产）、武汉天虹（国产）、安徽蓝盾（国产）、美国热电、美国METONE、澳大利亚EC、美国API公司。
采用法国ESA公司SO2/NO2分析仪（紫外荧光法、化学发光法）、美国METONE公司便携系列颗粒物分析仪（β射线法）作为比对仪器进行同一时间、同一地点连续比对监测，保证3天有效数据。
以比对仪器监测结果作为参照，计算各被比对仪器监测期间的平均偏离度结果，比对结果见表2。
A=（C1—C2）/C2×100%式中：A———平均偏离度，%；C1———被比对仪器小时浓度值，mg/m3；C2———比对仪器小时浓度值，mg/m3；表2各厂家仪器比对监测结果环境空气自动监测系统比对监测有关问题的探讨曹攀（四川省环境监测中心站四川成都610041）摘要：对大气环境的监测有利于我国采取措施进行紧急防治，更有利于促进我国可持续发展。
美国RP公司微量振荡天平测尘仪与法国ESA公司MP101Mβ射线测尘仪的比较
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维普资讯
美国 Ｒ Ｐ公 司 微 量 振 荡 天 平 测 尘 仪 与 法 国 Ｅ Ａ 公 司 ＭＰ ０ ＭＳ 线 测 尘 仪 的 比较 张 盛 华 Ｓ １１ 射
５ ～ １ ， 量 值越 高 ， 差 异 比例越 大 。通 过 试 ５ 测 其
包 括测 尘仪 、 割 头 、 气 泵 、 准 膜 片 、 膜 、 切 抽 标 滤
可 加热 的 采 样 系 统 、 同 位 素 放 射 源 、 格 计 数 Ｃ 盖
器等。
它是 利用锥 形元 件 微 量 振 荡 天平 原 理 （ 锥 形 其 元件 在 自然频 率下 的振 荡频 率 由锥 形 管质 量 、 膜 滤 质 量和沉 积 在 滤 膜 上 颗 粒 物质 量 所 决 定 ） 通 过 测 ，
荡 天平测 尘仪 （ 下简 称 振 荡 天平 测 尘 仪 ） 都 用 于 以 ，
可 吸 人 颗 粒 物 （ Ｍ ） 监 测 。 本 文 将 两 种 测 尘 分 Ｐ 。的
包 括 控制 器 单元 、 传感 器 单元 、 采样 系统 、 空 真 泵 、 割头 、 切 流量 分 配 器 、 境 温 度 传 感 器 、 型 在 环 大 线 过滤 器 、 Ｌ分 流头 、 １ 旁路 加热 器等 。
２ ２ Ｂ 线 测 尘 仪 ． 射
析 仪器 的工 作 原 理 、 器 设 备 、 敏 度 、 量 值 、 仪 灵 测 质
量 控制 、 维护 工 作 量 、 用 范 围 、 能 化 程 度 、 器 适 智 仪 价 格及运 行费 用一一 比较 ， 供参 考 。
１ 工 作 原 理
１ １ 微 量 振 荡 天 平 测 尘 仪 ．
的差 异 ， 经过计 算得 出 Ｐ 。 Ｍ 的浓 度 。
１ ２ Ｂ射 线 测 尘 仪 ．
环境空气二氧化硫采样及分析中的质量控制
环境空气二氧化硫采样及分析中的质量控制摘要：随着中国经济和科技水平的不断发展和提高，环境空气中二氧化硫监测技术也取得了很大的进步，由最初的手工瞬时采样监测、二十四小时连续采样监测，现在发展到仪器自动监测，不仅能全面准确地反映出环境空气中二氧化硫浓度和变化趋势，而且节约了大量的人力。
关键词：环境空气；二氧化硫；采样；质量控制引言二氧化硫是具有刺激性气味的无色气体，是环境空气中主要的污染物，是评价环境空气质量的常用指标，也是减排工作中最重要的污染指标之一。
随着经济和科技水平不断提高，人们的环保意识以及对环境质量要求的不断增强和提高，近年来中国二氧化硫的监测技术取到了长途的进步和发展。
1.采样前及采样中的质量控制1.1 采样前准备使用临用现配的甲醛缓冲吸收液；将采样导管依次用（1+4）盐酸溶液、水、乙醇冲洗，用干燥清洁的空气吹干；吸收瓶的吸收效率和阻力应满足相关技术要求；对采样器进行气密性检查和流量校准。
1.2 采样过程1.2.1 导气管的吸附二氧化硫易溶于水，空气中的水蒸气易冷凝在进气管的管壁上从而吸附、溶解二氧化硫，使测定结果偏低。
进气导管可用聚四氟乙烯管，其内壁光滑，吸附性小。
为免积水，连接的导气管不得打结且避免弯曲。
吸收瓶与进气口之间的导气管越短越好。
导气管应定期清洗。
注意不能使用乳胶管做为进气导管。
1.2.2 采样温度采样时，甲醛缓冲吸收液的温度应保持在23~29 ℃，此温度下二氧化硫的吸收效率较高。
现在使用的空气采样器均配置有恒温控制系统，因此应注意维持系统正常工作，使采样温度保证在23~29 ℃，以免造成测定结果偏低，我们在采样中，一般控制采样温度为(25±1)℃。
1.3 样品的运输和存放采样结束后，将样品避光运回实验室分析测试。
若采样后不能当天测定，应将样品存放在冰箱冷藏室 4 ℃左右保存，分析和采样间隔时间不宜过长，以免造成测定结果偏低。
样品分析时，应将样品提前30 min取出冰箱，待样品温度升至室温时再测定。
烟气自动监控系统(CEMS)简介及发展
---------------------------------------------------------------最新资料推荐------------------------------------------------------ 烟气自动监控系统(CEMS)简介及发展是英文 Continuous Emission Monitoring System 的缩写, 是指对大气污染源排放的气态污染物和颗粒物进行浓度和排放总量连续监测并将信息实时传输到主管部门的装置, 被称为烟气自动监控系统 , 亦称烟气排放连续监测系统或烟气在线监测系统。
CEMS 分别由气态污染物监测子系统、颗粒物监测子系统、烟气参数监测子系统和数据采集处理与通讯子系统组成。
气态污染物监测子系统主要用于监测气态污染物 SO2、 NOｘ等的浓度和排放总量; 颗粒物监测子系统主要用来监测烟尘的浓度和排放总量; 烟气参数监测子系统主要用来测量烟气流速、烟气温度、烟气压力、烟气含氧量、烟气湿度等, 用于排放总量的积算和相关浓度的折算; 数据采集处理与通讯子系统由数据采集器和计算机系统构成, 实时采集各项参数, 生成各浓度值对应的干基、湿基及折算浓度, 生成日、月、年的累积排放量, 完成丢失数据的补偿并将报表实时传输到主管部门。
烟气的采样方法: 有非抽取法和抽取法 2 种。
抽取法又分为直接抽取法和稀释抽取法。
SO2 的分析方法依其分析量程不同而异。
紫外荧光法适用于低量程(稀释抽取法) ,该法灵敏度高, 选择性好。
所用仪器中涉及紫外灯的脉冲点燃技术, 必须有寿命长且光强1 / 8稳定的紫外灯、可长期连续工作的光电倍增管以及去除干扰的膜式过滤装置, 目前所用仪器主要靠进口, 价格较昂贵。
非分散红外法和紫外吸收法简便可靠,适用于未经稀释的高浓度样品, 其中非分散红外法的动态范围较窄。
电化学法的灵敏度不够高, 且因其传感器寿命短, 维护工作复杂, 漂移(积累型) 严重, 不适用于连续监测。
Agilent Technologies PSA 和 ESA 系列光谱分析仪一键测量功能指南说明书
User’s and Programmer’s ReferenceVolume 2One-Button Power Measurements PSA and ESA Series Spectrum Analyzers Refer to Volume 1 for core spectrum analyzer information.This manual provides documentation for the following instruments:Agilent Technologies PSA SeriesE4443A (3 Hz - 6.7 GHz)E4445A (3 Hz - 13.2 GHz)E4440A (3 Hz - 26.5 GHz)E4447A (3 Hz - 42.98 GHz)E4446A (3 Hz - 44.0 GHz)E4448A (3 Hz - 50.0 GHz)Agilent Technologies ESA-E SeriesE4402B (9kHz - 3.0GHz)E4404B (9kHz - 6.7GHz)E4405B (9kHz - 13.2GHz)E4407B (9kHz - 26.5GHz)Agilent Technologies ESA-L SeriesE4411B (9kHz- 1.5GHz)E4403B (9kHz - 3.0GHz)E4408B (9kHz - 26.5GHz)Manufacturing Part Number: E4440-90618Supersedes: E4440-90346Printed in USAMarch 2014© Copyright 1999-2014 Agilent Technologies, Inc..Legal InformationThe information contained in this document is subject to change without notice.Agilent Technologies makes no warranty of any kind with regard to this material, including but not limited to, the implied warranties of merchantability and fitness for a particular purpose. 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Using This DocumentAbout the User’s and Programmer’s Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26 What is in This Book. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26 Terms Used in This Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. One-Button Measurement FunctionsOne - Button Measurement Functions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30 Mode Setup (Spectrum Analysis Mode) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33 Radio Std. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33 Radio Std Setup. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45 Retain Params . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47 Enable All Measurements. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47 Autorange of Power Setting (Remote command only). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48 MEASURE (Spectrum Analysis Mode) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49 Command Interactions: MEASure, CONFigure, FETCh, INITiate and READ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50 Current Measurement Query (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53 Test Current Results Against all Limits (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53 Meas Off . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54 Channel Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54 Occupied BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57 Adjacent Channel Power—ACP. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58 Multi-Carrier Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62 Power Stat CCDF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64 Harmonic Distortion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67 Burst Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70 Intermod (TOI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73 Spurious Emissions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74 Spectrum Emission Mask . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75 Meas Setup (Adjacent Channel Power—ACP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84 Chan Integ BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84 Offset/Limits. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85 Meas Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90 Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91 Total Pwr Ref . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94 PSD Ref. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95 Limit Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96 Filter Alpha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 Noise Correction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 Trace/View (ACP Measurement) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Spectrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Bar Graph . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Combined View Units. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Meas Setup (Burst Power) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1013Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102 Average Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103 Threshold Lvl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103 Meas Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 Burst Width. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106 Trace/View (Burst Power) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107 RF Envelope. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108 Meas Setup (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109 Meas BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109 Counts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110 Meas Interval . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112 Display (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Full Screen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Store Ref Trace. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Ref Trace. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Gaussian Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114 Preferences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114 Marker (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115 Select Marker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116 Normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116 Delta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117 Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117 Marker Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118 Marker All Off . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118 Marker X Position (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119 Marker Y Position (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120 Marker Maximum and Minimum (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120 SPAN X Scale (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121 Scale/Div . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121 Meas Setup (Channel Power—CHP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124 Integ BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124 Chan Pwr Span . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125 PSD Unit (PSA Only Setting). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126 Filter Alpha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128 Meas Setup (Harmonic Distortion) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130 Harmonics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130 ST/Harmonic . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131 Range Table (On/Off). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131 4Range Table . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138 Trace/View (Channel Power Measurement). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Spectrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Trace/View (Harmonic Distortion). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Harmonics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Harmonics & THD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Meas Setup (Intermod (TOI)). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144 TOI Span. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144 Max Mixer Lvl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146 Meas Setup (Multi-Carrier Power—MCP). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148 Carrier Setup. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149 Offsets/Limits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155 Carrier Result . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158 Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159 Power Ref . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160 Limit Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161 Filter Alpha. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161 Noise Correction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162 Trace/View (Multi-Carrier Power Measurement). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163 Spectrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163 Combined View Units. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164 Meas Setup (Occupied Bandwidth—OBW) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166 Max Hold . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166 Occ BW% Pwr . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167 OBW Span . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167 x dB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169 Meas Setup (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171 Meas Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172 Ref Channel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173 Offset/Limits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175 Results Index (PSA only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1875Filter Alpha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188 Display (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Full Screen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Limit Display . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Preferences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Marker (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 191 Select Marker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 191 Normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192 Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192 Trace/View (Spectrum Emissions Mask). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193 Abs Pwr & Freq . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193 Rel Pwr & Freq . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193 Integrated Power. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194 SPAN X Scale (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195 Scale/Div. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195 Ref Value. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195 Ref Position. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196 Meas Setup (Spurious Emissions) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197 Range Table . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198 Meas Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211 Spur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212 Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213 Fast Spurious Meas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213 Display (Spurious Emissions) for PSA Only. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215 Full Screen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215 Preferences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215 Marker (Spurious Emissions) for PSA Only . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217 Select Marker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217 Normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218 Delta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218 Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219 Markers All Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219 Marker Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220 3. Menu Maps:One-Button Measurement FunctionsOne-Button Measurement Menu Maps . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222 Directions for Use . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223 MEASURE Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224 Meas Control Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 225 Mode Setup Key for ESA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226 Mode Setup Key for PSA (1 of 3) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227 Mode Setup Key for PSA (2 of 3) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 228 Mode Setup Key for PSA (3 of 3) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229 ACP Measurement: Meas Setup Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230 ACP Measurement: Trace/View Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231 Burst Power Measurement: Meas Setup Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 232 6。
cems颗粒物测试原理
cems颗粒物测试原理CEMS颗粒物测试原理一、引言CEMS（Continous Emission Monitoring System，连续排放监测系统）是一种用于监测工业排放气体中颗粒物浓度的设备。
颗粒物是指悬浮在大气中的固体或液体微粒，它们对环境和人体健康都有一定的影响。
因此，了解CEMS颗粒物测试原理对于环境保护和人体健康具有重要意义。
二、CEMS颗粒物测试原理CEMS颗粒物测试原理主要包括颗粒物采集和颗粒物分析两个步骤。
1. 颗粒物采集颗粒物采集是指将排放气体中的颗粒物捕集下来，以便进行后续的分析。
常见的颗粒物采集方法有静电捕集法、过滤捕集法和冲击捕集法等。
静电捕集法利用静电力吸附颗粒物，然后将其收集在电极上。
这种方法适用于直径小于10微米的颗粒物。
过滤捕集法则通过在过滤介质上截留颗粒物。
过滤介质通常是由纤维材料制成的滤纸或滤膜，它们可以有效地捕集直径大于0.3微米的颗粒物。
冲击捕集法利用气流冲击颗粒物，使其沉降到收集器中。
这种方法适用于直径大于10微米的颗粒物。
2. 颗粒物分析颗粒物分析是指对采集到的颗粒物样品进行测量和分析。
常用的颗粒物分析方法有重量法、光学法和化学分析法等。
重量法是通过称量颗粒物样品的质量来确定颗粒物浓度。
该方法适用于大颗粒物的测量，但对于细颗粒物的测量则不太准确。
光学法利用光的散射或吸收特性来测量颗粒物浓度。
常见的光学法包括激光散射法、激光吸收法和光学显微镜法等。
化学分析法是通过对颗粒物样品进行化学分析来确定颗粒物的成分和浓度。
常见的化学分析方法有X射线荧光光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法和质谱法等。
三、CEMS颗粒物测试的应用CEMS颗粒物测试广泛应用于工业领域，特别是对于大气污染物的排放监测具有重要意义。
1. 环境保护CEMS颗粒物测试可以实时监测工业排放气体中的颗粒物浓度，及时发现和控制污染源，减少对环境的影响。
2. 产品质量控制某些工业生产中，颗粒物的浓度会直接影响产品的质量。
烟尘连续在线监测系统PM-181WS—法国ESA
湿式烟尘在线连续监测系统PM-181WS（超低排放烟尘的完美解决方案）ENVIRONNEMENT S.A ENVIRONNEMENT 环境技术（北京）有限公司电话: +86 10 5895 2626, 传真 : +86 10 5895 2627网站: 目录1. 公司介绍 (3)2. 资质证书 (5)3．相关要求及技术选型推荐 (6)5. 抽取式粉尘监测仪—PM-181WS (8)5.1 PM-181WS系统介绍 (9)5.1.1 系统概述： (9)5.1.2 工作原理： (9)5.1.3 PM-181WS系统的技术特点 (12)5.2 PM-181WS技术规格 (13)5.2.1取样探头技术规格 (13)5.2.2 分析单元的技术规范 (13)5.3 PM-181WS 安装要求 (14)1. 公司介绍Environnement S.A（简称ESA）是一家环境在线监测领域中处于领先地位的企业。
1978年成立于法国，从建立以来ESA始终致力于研发，制造和提供先进的连续在线监测仪器，技术上采用的是世界上先进的光学技术。
ESA公司经过了三十多年的发展，已在全球超过75个国家和地区设立有分公司及办事处，并于2006年初在泛欧巴黎证交所公开上市。
在此期间，公司还通过了ISO9001、ISO14001、TUV、PA以及M-CERTS等国际认证，现已经成为如下五个专业领域的专家：⏹环境空气质量监测（AQMS）⏹污染源排放连续监测（CEMS）⏹发动机尾气排放监测⏹水质监测⏹核辐射监测我们的产品在市场上的同类产品中应用范围是最全面的，仅CEMS在全球就有超过3000套的业绩。
ESA公司专业提供焚烧行业及电力系统的烟气排放连续监测系统和空气质量监测系统(如：SO2, H2S, NOX, NH3, CO, O3)、挥发性有机气体分析系统(如：总挥发性有机物, 甲烷,非甲烷烃类, 苯, 甲苯, 乙苯, 对二甲苯, 邻二甲苯)、颗粒物的采样与监测系统 (如：TSP, PM10, PM2.5) 以及校准设备。
法国SERES 锌离子在线分析仪 比色法
17
该分析方法与实验室水质分析的国标方法的分析过程和计算方式完全吻合，且
仪器特点
上海摩特威尔自控设备工程有限公司
Shanghai Multi-Weal Automatic Equipment Engineering Co.,Ltd
精确度：±２％ Ｆ．Ｓ．分析方法：比色法
技 术 参 数
量程：０－０．５ｍｇ／Ｌ（更高量程可选）20°C
反应温度：测量周期：１５分钟重现性：±２％ Ｆ．Ｓ．最低检出限：０．００３ｍｇ／Ｌ分辨率：０．００１ｍｇ／Ｌ样品流路：１－６流路
样品稀释：高量程可自动稀释样品要求：高浊度水样需要过滤进样压力：最大３ｂａｒ废液排放：无压排放
箱体体积：６１０×８２５×４００ｍｍ试剂消耗：锌试剂（２．３Ｌ／月）多量程自动切换功能
输出信号：４－２０ｍＡ，ＲＳ２３２通讯协议：ＭＯＤＢＵＳ／ＪＢＵＳ电源：２２０ＶＡＣ，５０Ｈｚ功耗：２５０Ｗ防护等级：ＩＰ５５
箱体材质：ＡＢＳ、ＰＶＣ
选配功能：测量室自动机械清洗功能
缓冲溶液（４．６Ｌ／月）水合氯醛（２．３Ｌ／月）
18。
设备名称ELPI 固定污染源颗粒物采样分析仪
设备名称：ELPI+固定污染源颗粒物采样分析仪一、仪器用途：本设备是颗粒物采样分析仪ELPI，又称荷电低压颗粒物撞击器的升级版本。
ELPI+能在粒径6nm到10µm的范围内，以10Hz的取样速率实时测量颗粒物粒径分布及浓度。
ELPI+既能够在线测量颗粒物粒径分布，也可以实时测量颗粒物电荷分布和比重分析测量，其在颗粒物测量领域应用广泛,包括气溶胶燃烧研究、机动车尾气排放实验研究、药物吸入器的开发、空气质量监测和一般气溶胶的研究。
二、技术指标和参数2.1粒径范围：0.006-10µm2.2粒径分级：14级2.3公称流量：10 l/min2.4冲击式采样器尺寸：Φ65×300mm2.5仪器尺寸：长*宽*高420*220*400mm2.6收集盘直径：25mm2.7仪器重量：22kg2.8泵工作条件：16m3/h 40mbar2.9工作温度：10-35 ℃2.10工作湿度：0-90%无冷凝2.11电源：100-250V，50-60Hz，200W2.12连接电脑：RS-232串口数据线或以太网2.13电脑配置：MS-Windows XP,Vista or 7三、仪器配置：3.1主机1台3.2样品气干燥器1个3.3等速采样探头套装 1 套3.4真空泵1个3.5烧结收集盘1个3.6精密颗粒物采样器1台3.7采样器烟气采样套装1套3.8计算机1台3.9空气压缩机1台四、技术服务要求：4.1 供应商必须提供仪器的现场安装调试并达到投标书指标要求的技术性能，并同时在现场对用户进行操作培训。
4.2仪器在调试验收合格后，提供壹年免费保修服务，在保修期内，所有服务及配件全部免费，保修期外，仪器终身维修。
4.3供应商在中国应设有保税库，保证能更及时地为用户提供备品备件。
*4.4供应商在国内必须设有分析仪器培训，免费为用户提供仪器的基本原理、操作、日常维护及基础分析仪器理论课程，并为用户不少于两人的国内免费培训，培训期间提供食宿。
ESA 系列频谱分析仪入门指南说明书
入门指南ESA 系列频谱分析仪本手册提供下列仪器的文档资料：ESA-E 系列E4401B (9kHz - 1.5GHz)E4402B (9kHz - 3.0GHz)E4404B (9kHz - 6.7GHz)E4405B (9kHz - 13.2GHz)E4407B (9kHz - 26.5GHz)以及ESA-L 系列E4411B (9kHz - 1.5GHz)E4403B (9kHz - 3.0GHz)E4408B (9kHz - 26.5GHz)制造商产品编号: E4401-90486美国印刷2004 年 4 月© Copyright 2001-2004 Agilent Technologies, Inc.通告本文档所含内容如有修改，恕不另行通知。
安捷伦对本资料不作任何形式的保证，包括但不限于为特定目的的适销性和适用性所作的暗示保证。
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小心小心表示存在危险。
它提请用户对某一过程的注意。
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注意注意特别提请用户要注意的信息。
它提供用户要注意的操作信息或附加说明。
其他信息欲获得此分析仪的最新信息，包括固件升级、应用信息和产品信息，请访问下列网址：/find/esa/1.安装和设置初始检查 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7电源要求 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9检查熔断器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 AC 电源线 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11首次开启分析仪 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14为什么不是所有的个性化选件都装入存储器中？ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15使用外部参考 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15固件版本 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16运行内部对准 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17打印机设置和操作 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18防止静电释放 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21安全信息 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22 2.前面板和后面板特性前面板概览 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24前面板连接器和键 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24屏幕注释. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28后面板特性 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31键概述 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36前面板和后面板符号 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37 3.进行基本测量使用前面板 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41输入数据. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41使用菜单键 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41预设频谱分析仪 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42创建用户预设 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42查看信号 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43 4.查看类别和保存文件文件菜单功能 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53在类别中查找和查看文件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53创建目录. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55格式化软盘 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56保存文件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57步骤 1. 设置分析仪轨迹 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57步骤 2. 保存文件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60装入文件. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61重命名文件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63复制文件. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64删除文件. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65使用 Alpha Editor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 665.选件与附件订购选件与附件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .68选件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .69选件说明 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .72附件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8350 Ω/75 Ω最小损耗衰减器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8375 Ω匹配变换器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83AC 探头. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83 AC 探头（低频） . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83宽带前置放大器和功率放大器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83携带皮带（产品编号 E4401-60028） . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83外部键盘 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .84 GPIB 电缆 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .84 USB/GPIB 电缆 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .84 HP/Agilent 11970 系列谐波混频器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .84 HP/Agilent 11974 系列预选毫米波混频器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85 Agilent E1779A 电池组 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85并行接口电缆 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85打印机 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85 RF 和瞬变限制器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85 RF 桥路 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .86 RS-232 电缆 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .86静电安全附件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .86 6.疑难排除频谱分析仪的消息类型 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .89在致电安捷伦科技公司之前 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .90检查基本情况 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .90阅读保修条款 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .91维修选项 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .91致电安捷伦科技公司 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .91将分析仪返回进行维修 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .921安装和设置安装和设置本章提供以下信息，供您在首次收到频谱分析仪时参考：•第 7 页的“初始检查”•第 9 页的“电源要求”•第 14 页的“首次开启分析仪”•第 18 页的“打印机设置和操作”•第 21 页的“防止静电释放”•第 17 页的“运行内部对准”•第 22 页的“安全信息”安装和设置初始检查初始检查检查包装箱和衬垫材料有无被压的迹象。
ELPI+中文说明书
EL LPI++使用Ver1用指.2指导操作DE 成损作ELPI+EKATI 市损害的赔偿本手册+颗粒物采场部或其偿责任。
内容未经采样器前其代理商均经许可，不，请仔细均不接受任不得以任何细阅读本手任何由不何形式转载手册中的遵守本手载或发表。
的指示。
无手册要求所。
无论所造目录1 仪器简介 (1)2 参数 (2)3 ELPI+构件 (3)3.1外壳及接口 (3)3.2构件 (4)3.2.1撞击器 (4)3.2.2荷电器 (4)3.3.3阱电压 (4)3.2.4冲洗泵 (5)3.2.5静电计 (5)3.2.6压力和温度传感器 (5)3.2.7压力调节阀 (6)3.2.8输入与输出口 (6)4 拆装仪器 (6)4.1拆装撞击器 (6)4.1.1拆卸撞击器 (6)4.1.2组装撞击器 (10)4.2拆装荷电器 (14)4.3收集膜 (16)4.3.1放置收集膜 (17)4.3.2收集膜涂脂 (18)4.4检漏 (19)4.5静电计校零 (20)5 操作 (21)5.1快速使用指导 (21)5.2称重分析 (22)5.3化学分析 (22)5.4空白样品 (23)6 仪器维护 (23)6.1日常维护 (23)6.2周/月维护 (23)6.2.1清洗撞击级 (24)6.2.2清洗荷电器 (24)6.3年维护 (24)7 ELPI+空气检测操作规程 (25)7.1安装收集膜 (25)7.2系统连接 (27)7.3操作 (27)7.3.1单机操作 (27)7.3.2软件操作 (29)1 仪器简介ELPI 工作被荷电器空气动力静电计，物粒子数ELPI 颗粒，每滤段，测介I+是一款作原理基于器充上一定力学粒径分测量其收数成正比。
I+将6nm 每一级收集测量6nm-1实时测量于荷电、低定水平的电分级收集。
收集颗粒物 m-10μm 颗集的颗粒物17nm 颗粒图1量颗粒物粒低压撞击、电荷，其后。
串联撞击物产生的颗粒分为1物可用于后粒。
颗粒物监测仪工作原理
颗粒物监测仪工作原理简介颗粒物监测仪是一种用于监测环境中悬浮颗粒物浓度的设备。
它可以通过对空气中的颗粒物进行采样和分析，提供有关空气质量的信息。
本文将详细解释颗粒物监测仪的工作原理，包括采样、分析和数据处理等过程。
采样颗粒物监测仪首先需要采集空气中的颗粒物样本。
一般来说，常见的采样方法有两种：吸附法和沉降法。
吸附法吸附法是将空气通过一个具有吸附能力的材料或过滤器，使颗粒物被材料表面吸附或截留下来。
这种方法适用于较小直径的颗粒物。
常用的吸附材料包括玻璃纤维滤纸、铝箔、聚四氟乙烯等。
沉降法沉降法是通过让空气中的颗粒物在一个封闭容器内自然沉积下来进行采样。
这种方法适用于较大直径的颗粒物。
常见的沉降采样器有沉降板和沉降管等。
分析采样完成后，颗粒物监测仪需要对采集到的颗粒物进行分析。
分析方法主要包括重量法、光学法和电子法等。
重量法重量法是通过称量颗粒物样本的质量来确定其浓度。
这种方法适用于大型颗粒物和可溶解颗粒物的测量。
通常使用天平或称重仪器来进行称量。
光学法光学法是通过测量颗粒物对光的散射或吸收来确定其浓度。
这种方法适用于较小直径的颗粒物。
常见的光学方法包括激光散射、激光吸收和激光雷达等。
电子法电子法是通过测量颗粒物对电子束或电磁场的散射或吸收来确定其浓度。
这种方法适用于较小直径的颗粒物。
常见的电子方法包括电动力学分析、电子显微镜和电子能谱等。
数据处理在完成分析后，颗粒物监测仪将得到一系列浓度数据。
为了更好地理解和使用这些数据，需要进行一些数据处理。
数据校准由于监测仪器的误差和采样过程中的干扰，得到的原始数据可能存在一定的误差。
因此，需要进行数据校准来消除这些误差。
常见的校准方法包括零点校正、灵敏度校正和线性校正等。
数据分析通过对浓度数据进行统计和分析，可以获得更多有关颗粒物特征和趋势的信息。
常见的数据分析包括计算平均值、标准差、相关性等。
数据报告最后，颗粒物监测仪可以生成一个数据报告，将采集到的数据以图表或报表形式呈现出来。
psa激光粒度
psa激光粒度分析PSA激光粒度分析是一种用于测量颗粒大小的技术，其原理是通过测量颗粒在激光束中的散射行为来推算颗粒的大小。
在许多领域，如化学、生物、环境科学和材料科学中，PSA激光粒度分析被广泛应用于研究颗粒的粒度分布、形状、大小和数量。
颗粒大小是许多科学领域中的重要参数，如化学反应速率、材料性能、生物过程等。
因此，测量颗粒大小的技术在科学研究中具有重要意义。
PSA激光粒度分析是一种广泛使用的技术，它能够以高精度和高分辨率测量颗粒大小。
一、PSA激光粒度分析原理PSA激光粒度分析的原理是基于米氏散射理论。
当激光束通过颗粒时，颗粒会散射激光能量。
散射角度与颗粒大小有关，因此通过测量散射角度，可以推算出颗粒的大小。
二、实验方法1. 样品制备在进行PSA激光粒度分析之前，需要制备样品。
样品可以是固体、液体或气体中的颗粒。
对于固体样品，需要将其研磨成粉末，以便能够均匀地分散在液体中。
对于液体样品，可以直接使用。
对于气体样品，需要将其通过一个过滤器，以便收集其中的颗粒。
2. 实验操作将制备好的样品放入PSA激光粒度分析仪中。
然后，设置实验参数，如激光波长、扫描速度等。
开始实验后，激光束通过样品，颗粒散射激光能量。
通过测量散射角度，可以推算出颗粒的大小。
三、案例分析1. 化学反应速率研究在化学反应中，反应速率受到许多因素的影响，其中之一是反应物颗粒的大小。
通过PSA激光粒度分析，可以测量反应物颗粒的大小，从而研究其对反应速率的影响。
例如，在一个酸碱反应中，通过PSA激光粒度分析测量了反应物颗粒的大小，发现较小的颗粒具有更高的反应速率。
这可能是因为较小的颗粒具有更大的表面积，从而提供了更多的反应位点。
2. 材料性能研究材料性能受到其内部结构的影响，其中之一是颗粒的大小和分布。
通过PSA 激光粒度分析，可以测量材料中颗粒的大小和分布，从而研究其对材料性能的影响。
例如，在一个复合材料中，通过PSA激光粒度分析测量了增强相颗粒的大小和分布，发现较小的颗粒具有更好的增强效果。
法国ESA-MIR9000烟气在线监测系统培训教材
CEMS
长期稳定可靠的连续测量
SEC采样探头－特点和技术指标
进入样气露点
最高80℃(30% H2O)
排出样气露点 采样流量 预热到20℃时间 主过滤器
-20℃ 20L/h 约20min 20μm
细过滤器
0.3 μm
探头长度 电源 烟气流速（DTP）
CEMS
ESA污染源系统产品链
长期稳定可靠的连续测量
CEMS
长期稳定可靠的连续测量
SEC – 干抽取系统采样和样气处理 MIR9000 – 干抽取系统多气体分析 MDS – 干燥气体模块 TIG – 质控系统气体分配
CEMS
长期稳定可靠的连续测量
SEC采样探头
功能 特点和技术指标
配置和选型 结构和原理
应用
CEMS
长期稳定可靠的连续测量
SEC采样探头－功能
探头：抽取样气，滤尘
SEC箱： 1. 滤尘 2. 样气干燥处理 3. 温度控制 4. 零气/标气注入（选配） 注： 可升级为带DTP功能，测 量样气温度、压力和流速 ，模拟数据输出
CEMS
长期稳定可靠的连续测量
SEC采样探头－特点和技术指标
• 自动反吹功能 － 防止探头堵塞
式驱动菜单
MDS TIG 钢瓶气 仪用空气 DTP探头 氧化锆/顺磁槽氧探头
零点和跨度 / 检查和校准 探头反吹
流量 压力 温度 O2
动态校准 Ø 连接仪器和采样探头，实现对仪器及系统的全面校准
CEMS
长期稳定可靠的连续测量
MDS干燥气体模块－功能特点和技术指标
功能
－ 除油、除水、滤尘
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MP101M分析仪结构图(传动单元)
(1) 从动轮轴, (2) 驱动轮轴, (3) 纸带移动电机, (4) 放射源装 置旋转电机, (5)挤压盘电机.
MP101M分析仪结构图(流量控制单元)
(1) 电机驱动阀, (2) 下游压力传感器 P2, (3) 平滑孔, (4) 上游压力 传感器 P1, (5) 大气压力传感器 (P. atm.).
放射性 元素 形状 活性 C14 密封的，属于ISO2919标准 下的C34343分类 1,6MBq +/-15%，也就是说 最大1,84MBq
放射 放射性 周期
β 射线：0,160 MeV
5730年
MP101M分析仪结构图(正面)
MP101M分析仪结构图(正面内部)
(1)校准膜(3)辐射源支撑 (4)接头 (5)绞盘 (6) 脱离压紧轮 (7) 驱动轮 (8)盖格管检测器 (9)压力装置 (10) 从动轮
MP101M分析仪技术参数
MP101M（性能符合美国 EPA 测试条件） 线性：±1%满量程 显示分辨率：0.1 μg/m3 精度：0.5µg/m3（24小时测量周期） 平行性：无相关参数 数据存储能力：4个月以上的1小时平均值 输出：共3种模拟输出，0-1V，0-10V，0-20mA，4-20mA，以及两 个 RS232 或一个 RS232和一个 RS422与以太网接口（数据采集+ 远程控制），USB
法国ESA公司颗粒物分析仪 MP101M
(
ＰＭ１０、Ｍ２.５)
• ESA公司颗粒物分析仪发展历史
传统测量方法：自动采样器 -> 开发出PM162M采样器 空气质量监测网络对连续采样监测的要求 -> 开发出MP101M颗粒物分析仪 空气质量监测网络对颗粒物计数和分类的要求 -> 开发出CPM模块
空气质量监测网络对颗粒物属性、数据实时性的要求 -> 开发出CPA连续颗粒物分析仪
MP101M分析仪结构图(背面)
(1) 全局保险丝F1和主电源模块, (2) 风扇, (3) TUCHEL采样头加热连接 器, (4) RS232/RS422 插头, (5) 外置泵电源, (6) 采样头传感器, (7) TCP/IP插槽, (8) 泵出口, (9) 外壳固定螺丝, (10) ESTEL可选电路板, (11) 与CPM可选模块的连接插槽, (12) 背板抽拉门的固定螺丝.
8:22 PM 14
MP101M分析仪结构图(采样杆)
15
MP101M分析仪结构图(采样杆)
RST管线由以下几部分组成： 20毫米直径的输送管(1) 外径60毫米的保护壳(2) 围绕输送管的加热绳(3) 位于输送管的温度传感器(4) 室外气象传感器(5)，带有大气温度传感器(5-2)和相 对湿度探头(5-1) 可用于任何标准采样探头(TSP, PM10, PM2.5, PM1, US或EN)的一个适配器(6) 接加热线电气接头(7) 一个DB15连接器(8)用于传输温度和湿度信号 RST管线有以下几个尺寸：1m，1.5m，2m，2.75m或其他 特殊要求 采样温度由分析仪的软件通过以下方式控制： 采样是在大气温度下进行 外部相对湿度的连续测量 当HR值超过经验临界值的60%时，为避免采样管的冷 凝，采样线被加热和控制在常温+5的温度上。 T
过滤器：玻璃纤维过滤带，30m长，可测量1350次，以24小时为周期 测量的话可用3 年 用于校准的标准薄片计量器 放射源及检测器间的空气膜，可进行自动的温度补偿 LCD 显示屏 3种可编程数据格式，可进行测量值编辑、连续的图表（柱形图）编辑 或打印15分钟/1小时的平均值 数字显示时间/浓度/流速值 12 键编程键盘 天然放射性检测报警：用户可自行设定临界值 强大的维护菜单：主要的参数都能以“mV”的方式显示 3个可编程的干接点（报警，临界值） 动态温度补偿功能：标准的RST采样管能够根据实际的大气温度和湿 度，对采样温度进行自动调整，减少环境变化对于颗粒物监测的影响， 保证了数据的准确性 独特的扩展性，可连续、实时监测PM10、PM2.5和PM1（用户只需选 配PM10切割头和CPM模块）
2
MP101M分析仪结构图(工作原理)
采样头
采样管
Beta gauge
过滤纸带
发射单 元
接收单元 真空泵
流速调节装置
MP101M分析仪结构图(工作原理)
(10) 流速测量毛细孔, (1) 前3个通道的数值。 >> 键用来选择随后的3个通道值。 (11) 流速控制阀, (2) 日期和时间, (12) P1 指示毛细孔上游压力, (3) 采样气入口, (13) P2 指示毛细孔下游压力: (4) 射线源装置, (14) 大气压力, (5) 放射源: (15) 环境温度, (6) 过滤纸带转轮, (16) 分析仪内部温度, (7)剩余斑点个数, (17) 大气相对湿度, (8) 升降平台以及盖格计数器, (18) 采样管温度 (9) 气路 (RST 管线).
将周期的尾部测得的颗粒物的数目与周期开始时流 过的气体体积进行计算，得出气体中颗粒物的浓度。
MP101M分析仪结构图(放射源)
C14放射源
鼓形放射源 承载装置 粉尘沉积 从动轮
放射源
C.14
平台
滤带
过滤纸带
盖革计数器
驱动轮
Geiger-Müller 计数器
MP101M分析仪结构图(放射源)
head
= T
atmospheric
+ 5 °C.
MP101M分析仪技术参数
MP101M（性能符合美国 EPA 测试条件） 用途：环境空气中颗粒物浓度自动分析 测量方法：β射线法 β放射源：C14 (< 90 µCi) 检测器：盖格米勒计数器（计数时间从10s ~ 200s可调） 量程：0-100/200/500/1000/2000/5000/10000 µg/m3可选 流量单位：L/min，m3/h 体积单位：L，m3，Nm3，Sm3（20℃和25℃） 最低检测限：0.3µg/m3（24小时测量周期） 采样周期：10min ～ 48h 测量周期：15min ～ 96h 气流量：从0.8 到1.5m3/h 气流量精度：±2 % 采样流速：16.7±2％ L/min
MP101M分析仪结构图(俯视图)
(1) 流量控制单元, (2) 颗粒收集和Beta射线装置, (3) 电子组件, (4) 主板, (5) ARM7板, (6) 电源板
MP101M分析仪结构图(采样杆)
ESA公司采用的是标准化的采样管（RST） 为什么采用标准化的采样管？
在欧洲，对于PM2.5的采样是强制要求采用 标准化的采样管，即采样管的温度与周围 环境的温度是保持一致的，RST 带温度、 湿度传感器。 优点： 避免了人工的采样管损失挥发性/半挥发性 的颗粒物 防止样气在采样过程中发生冷凝 经测试监测数据更为可靠有效，通过EPA、 TUV认证。
THANK YOU！
谢谢！
电源：115 V, 60Hz 或 220 V, 50Hz 功率：330VA（含泵） 工作温度：5℃-40℃ 尺寸：440*483*265.5mm（长*宽*高），19"支架型底盘，6U 重量：21.5 Kg（47.4 lbs）【10.9 Kg（24.2 lbs），无泵】
MP101M分析仪主要特点
MP101M分析仪工作原理
BETA 测量由一个放射弱 Beta 射线的碳 14 源 (14C)和一个放射线感应器 Geiger-Mueller( 以下 称 G.M)管组成。 G.M 管安装在一个设定距离的过滤带的后面，过滤 带收集在空气中的悬浮颗粒物。周期的尾部，发射 源校准灰尘沉积和计数器(G.M)低能量的 Beta 射 线通过电子的碰撞由物质吸收，电子的数目与密度 成比率。 此物质由光纤过滤带，沉积的灰尘以及放射源和 G.M 之间的空气组成。 吸收由指数规律支配，并 且是独立的物理化学特性。 测量由计算在周期开始时空白过滤带和周期结束时 有沉积过滤带之间吸收的差异组成。