认知实习报告精修订
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认知实习报告
SANY标准化小组 #QS8QHH-HHGX8Q8-GNHHJ8-HHMHGN#
重庆邮电大学光电工程学院
认识实习报告
专业:电子科学与技术
班级:
学号:
姓名:
实习时间:2016年06月28日
一、认识实习时间 2016年6月25日
二、实习地点:1101
三、主讲老师:王振
四、实习目的与内容
实习目的:
培养应用型人才基地,要培养德才兼备的大学生,不仅需要通识教育和专业教育,更要理论和实践相结合的正规化培训。实习是大学生必须参与的一项实践教学环节。是学生熟悉多晶硅、单晶硅生产和半导体封装测试等生产过程的一种正规化的培训,以充实理论教学中不能学到的知识和技能。同时,把在理论教学中学到的
知识和具体实际工作贯穿起来,做到学以致用,使学生成为既有理论知识,又有实际动手能力的人才。
自摩尔定律提出以来,微电子领域一直如神话般按其所预言的规律不断发展。微电子行业的进步使计算机的计算能力成倍增加,硬件成本大幅度降低,极大地推动了信息产业和工业的发展,是现代信息业和工业的基础。微电子专业主要培养掌握集成电路、微电子系统设计、制造工艺及设计软件系统,能在微电子及相关领域从事科研、教学、工程技术及技术管理等工作的高级专门人才。
本次实习旨在提高学生的综合素质通过本次实习,开阔视野,增长见识,拓宽我们的知识面。了解本专业相关方面的知识,通过实习,启发我们积极向上,努力学习。
实习内容:参观微电子工艺实验室,了解相关仪器。
五、实习收获与体会
本次认识实习时间为1个半小时,在此期间,通过对各实验室的参观,我学到了很多东西,也对自己将来的学习和研究方向有了一定的规划。这次的参观实习丰富了我的理论知识,增强了我的观察能力,让我收获颇丰。《集成电路设计与制造》课是微电子学与固体电子学专业本科教学中的重要教学实践环节。目的是帮助学生理解课堂上学到的基本原理和知识,了解并掌握集成电路设计与制造的基本方法,提供实际动手能力,以适应社会的需求。
1、认识到《微电子器件实验》课是微电子学与固体电子学专业本科教学中的重要教学实践环节。目的是帮助学生理解课堂上学到的基本原理和知识,并掌握晶体管基本参数的测量方法,提供实际动手能力。
基本原理及课程简介:
微电子器件课程讲述了基本的半导体器件 BJT、JFET、MOSFET 的物理结构和工作原理,它主要针对半导体器件的主要电参数讲述其测量方法和原理。它包含了三个实验:双极晶体管击穿特性测试、双极晶体管直流放大特性测试、晶体管特征频率的测量。
2、了解了基本原理及实验课程的简介:集成电路工艺基础课程讲述了集成电路制造的基本工艺:扩散、离子注入、氧化、光刻、刻蚀、外延、化学汽象沉积、金属化和钝化等,介绍了这些工艺的基本原理及制造过程。的半导体器件BJT、JFET、MOSFET 的物理结构和工作原理,它主要针对半导体器件的主要电参数讲述其测量方法和原理。《集成电路设计与制造实验》包含了四个实验:氧化工艺实验、光刻工艺实验、硼扩散工艺实验和磷扩散工艺实验;并有一周的课程设计:将以上四个工艺实验按集成电路制造工艺流程结合起来,制造出一个集成电路重要的单元---双极晶体管并进行击穿特性测试、双极晶体管直流放大特性测试。
3、其次也了解硼扩散工艺实验过程,其基本实验原理为:扩散是微观粒子的一种极为普遍的热运动形式,各种分离器件和集成电路制造中的固态扩散工艺简称扩散,硼扩散工艺是将一定数量的硼杂质掺入到硅片晶体中,以改变硅片原来的电学性质。硼扩散是属于替位式扩散,采用预扩散和再扩散两步扩散法,
第一步,预扩散硼杂质浓度分布方程为: N(x,t)=Nserfc{x/2D1t)
}表示恒定表面浓度(杂质在预扩散温度的固溶度),D1为预扩散温度的扩散系数,x表示由表面算起的垂直距离(cm),他为扩散时间。此分布为余误差分布。第二步,主扩散硼再扩散为有限表面源扩散,杂质浓度分布方程为:
N(x,t)=Qe-x2/4D2t/(πD2t)
,其中 Q 为扩散入硅片杂质总量:杂质分布为高斯分别。
4、了解了CMOS制作步骤如下:1、双阱工艺;2、浅槽隔离工艺;3、多晶硅栅结构工艺;4、轻掺杂漏(LDD)注入工艺;
5、侧墙的形成;
6、源/漏(S/D)注入工艺;
7、接触孔的形成;
8、局部互连工艺;
9、通孔1和金属塞1的形成;10、金属1互连的形成;11、通孔2和金属塞2的形成;12、金属2互连的形成;
13、制作金属3直到制作压点及合金;14、参数测试。
浅槽隔离工艺:浅槽隔离(STI)是在衬底上制作的晶体管有源区之间隔离区的一种可选工艺。可分为三个主要步骤:槽刻蚀、氧化物填充、氧化物平坦化。槽刻蚀:1、隔离氧化层;2、氮化物淀积;3、第三层掩膜,浅槽隔离;4、STI槽刻蚀。
STI氧化物填充:1、沟槽衬垫氧化硅;2、沟槽CVD氧化物填充。
氧化物平坦化:抛光是最有效的一种平坦化技术,STI氧化层抛光—氮化物去除的基本步骤如下:1、沟槽氧化物抛光(化学机械抛光);2、氮化物去除。
多晶硅栅结构工艺:晶体管中栅结构的制作是流程当中最关键的一步,因为它包括了最薄的栅氧化层的热生长以及多晶硅栅的刻印和刻蚀,而后者是整个集成电路工艺中物理尺度最小的结构。多晶硅栅的宽度通常是整个硅片上最关键的CD线宽。
多晶硅栅结构制作的基本步骤:1、栅氧化层的生长;2、多晶硅淀积;3、第四层掩膜,多晶硅栅;4、多晶硅栅刻蚀。局部互连工艺:晶体管以及其他钛硅化物之间布金属连接线,所用到的方法称为局部互联(LI)。形成局部互联氧化硅介质的步骤:1.氮化硅化学气相淀积2.掺杂氧化物的化学气相淀积3.氧化层抛光4第九层掩膜,局部互联刻蚀。制作局部互联金属的步骤:1金属钛淀积
(PVD工艺);2氮化钛淀积;3钨淀积(化学气相淀积工艺平坦化);4磨抛钨。大马士革:先淀积一层介质薄膜,接下来是化学机械抛光,刻印,刻蚀和钨金属淀积,最后以金属层抛光结束。最终在硅片表面得到一种类似精致的镶嵌首饰或艺术图案。
六、个人心得体会:
老师的讲解,使我认识和了解了微电子工艺,进一步认识了微电子学科的特点,理论基础的要求,技术指标和发展前景。同时使我更加明确了学习目标,增强了我们对所学专业的热爱。
虽然是短短的半天时间,但我们也学到了很多的东西,微电子学是一门发展极为迅速的学科,高集成度、低功耗、高性能、高可靠性是微电子学发展的方向。信息技术发展的方向是多媒体(智能化)、网络化和个体化。要求系统获取和存储海