等离子体发射光谱仪分类与全谱直读一词
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“全谱直读”给人是含糊的印象 ,不能正确反映仪器的特
点。 当前新的仪器还在不断涌现 ,有分级扫描式中阶梯光栅
固态检测器等离子体发射光谱仪 ,有新的多个固态检测器在 罗兰圈排列使用的仪器 ,从检测器硬件结构分类 ,它们都能方 便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪 ,或固 态检测器等离子体发射光谱仪类别里 。而“全谱直读”则明显 不能适应 。
实际上“全谱直读”是中文广告词 ,它不严谨 ,并含糊地影 射二方面意思 :
11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 ; 21 全部谱线的总体信号同时采集读出 。 从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范 围 (英文常采用 Wavelengt h coverage range) 来看 ,一般仪器都 在 160～800 nm 左右 。如有的仪器在 167～782 nm ,有的在
实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固 态检测器芯片匹配过程中 ,高级次光谱区可以说是波长连续 的 ,不同级次的光谱波长区甚至重迭 。而低级次光谱区级次 与级次之间的波长区并不衔接 ,最大可以有 20 nm 以上的间 隙 ,其间隙随着级数增大而变小 ,严格地说也就是仪器的光谱 不连续性存在 ,尽管对有用谱线影响并不太大 。另外中阶梯 光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的 边缘效应 ,固态检测器的分段或分个处理 ,都会造成使用全部 谱线的困难 ,甚至发生有用谱线的丢失 。大面积的固态检测 器芯片可望用于光谱仪 ,光谱级次间波长区的连续性会进一 步改善 ,其波长区复盖也会增大 。但仪器制造成本及芯片因 光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高 ,都会形成其发 展的阻力 。
“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样 工作 。直读一词 (Direct reading) 出现在摄谱仪之后 、光电倍
收稿日期 :2000208205 ,修订日期 :2000212212 作者简介 :陆文伟 ,1951 年生 ,上海交通大学分析测试中心高级工程师
© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.
L U Wen2wei A nalytical and Testi ng Center of S hanghai Jiaotong U niversity , S hanghai 200030 , Chi na
Abstract In t his paper ,we discuss t he classification problem of t he new ICP spectrometer on t he instrument′s hardware structure and principle and point t he words ″full wavelengt h range Direct reading″is incorrect for t he new ICP spectrometer classification ,take t he solid stare detector ICP spectrometry as classification words.
陆文伟
上海交通大学分析测试中心 , 上海 200030
摘 要 本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题 。指出“全谱 直读”一词用于仪器分类的不严谨性 。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词 。
主题词 等离子体发射光谱仪 ; 中阶梯光栅 ; 固态检测器 ; 全谱直读 中图分类号 :O657131 文献标识码 :B 文章编号 :100020593 (2002) 0220348202
更 正
本刊 2002 年第 22 卷第 1 期封三第 26 行“怀念钱振先生”应为“怀念钱振彭先生”,特此更正 。
© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.
第 2 期 光谱学与光谱分析
349
增管用于发射光谱仪之时 。是相对摄片2读片过程变成一步 而言 。多道发射光谱仪采用该词较多 。目前中阶梯光栅固态 检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体 信号同时采集读出的水平 。有的仪器分检测器读出 ,有的仪 器分波长区读出 ,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波 长检测器读出 。固态检测器的曝光与摄片又不同 ,固态检测 器比照相底片更灵活 ,为了适应样品分析元素高低浓度大小 信号的要求 ,固态检测器灵活处理 ,有的分区曝光 ,有的分级 扫描曝光 ,有的级中分二段控制曝光 ,有的检测器分子阵列 (Subarray) 控制曝光 ,有的从其检测器机理出发分每个感光点 ( Pixel) 控制曝光 。
析方法通则及计量检定规程. [ 4 ] 英汉仪器仪表词汇 ,科学出版社 ,1987 (第一版) .
The Classif ication of Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry and the Words ″Full Wavelength Range Direct Reading″
1993 年该类仪器进入中国市场 ,国内仪器广告上出现 “全谱直读”一新名词 。随着该类仪器的推广使用 ,该名词逐 渐渗入期刊杂志 ,教科书 ,学术界 ,甚至作为仪器分类词出现 在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[3 ]中 。
纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光 谱仪的期刊杂志 ,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相 近的词 。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现 。
早期国外把等离子体发射光谱仪 ( ICP2O ES) 仪器分成同 时型 (Simultanous) 和顺序型 ( Sequential) 二类 。国内把色散系 统区分为多色器 ( Polychromator) 、单色器 (Monochromator) ,仪 器则从检测器来区分 ,命名为多通道型 (多道) ,顺序型 (单道 扫描) 仪器[1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能 ,仪器结构基 本一致 ,与国外的仪器分类也一致 。ICP2O ES 仪器在其发展 期间 ,又有 N + 1 的单道与多道结合型仪器出现 ,以及有入射 狭逢能沿罗兰圈光学平面移动 ,完成 1～2 nm 内扫描 ,能获得 谱图的多道仪器出现 ,但总体上仍没动摇仪器的原始分类 。
Keywords ICP ;Spectrometer ; Echelle grating ;Solid stare detector ; Full wavelengt h range direct reading
( Received Aug. 5 ,2001 ;accepted Dec. 12 ,2001)
从仪器可利用谱线上看 ,目前中阶梯光栅固态检测器等 离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器 。当然它可 利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线 (最多六十多 条) 多得多 。如目前仪器有 6 000 多条的 ,有 2 万 7 千条的 , 有在 2 万 4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定 址添加的等等 。但这与“全谱”给人的含糊概念 ,与数十万以 上的全部谱线概念相差甚远 。就是从全部可利用谱线讲 ,该 类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线 。有的仪器是在 定性分析时能纪录所有覆盖谱线 。
165～800 nm ,有的在 175～900 nm ,有的在 165～1 000 nm , 有的是在 122～466 nm 基础上另加 590 ,670 ,766 nm 的额外 单个检测器 。有 的 在 超 纯 Ar 装 置 下 短 波 段 区 扩 展 至 134 nm ,其长波段区能扩展至 1 050 nm。很明显所有此类仪器的 光谱范围目前离“全谱”还是有距离的 ,而且仪器厂家还在扩 大其光谱范围 。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切 的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围 !
1991 年新的中阶梯光栅固态检测器 ICP2O ES 仪器问世 , 新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平 面固态检测器的感光点上 ,使仪器同时具有同时型和顺序型 仪器的功能 ,这样形成了新一类的仪器 。从它的信号检出来 看 ,它与同时型仪器很接近 ,故有的国外文献仍把它简单归为 同时型 (Simultaneous) 仪器 。但更多的是从仪器的硬件结构 上出发 ,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪 “Echelle grating solid state detector ICP2O ES”的命名 。
第 2 2 卷 , 第 2 期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 2 0 0 2 年 4 月 Spectroscopy and Spectral Analysis
Vol122 ,No12 ,pp3482349
April ,2002
等离子体发射光谱仪分类与 “全谱直读”一词
新名词会受到实践和事实的考验 。国外文献中名词也有 变化的 ,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的 ICP2A ES 英 文缩写名词 ,因 A ES 含义面广 ,易与俄歇电子光谱[4 ] 混淆 ,现 在逐渐被 ICP2O ES 取代 。切入实际的名词才会在发展中生 存。
Hale Waihona Puke Baidu
参考文献
[ 1 ] 化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则 ,中华人民共和国国家标准 GB10725289. [ 2 ] 发射光谱仪检定规程 ,中华人民共和国国家计量检定规程 J T G768294. [ 3 ] 感耦等离子体原子发射光谱方法通则 ;感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程 ,1997. (第一版) 科学技术文献出版社 ,现代分析仪器分
点。 当前新的仪器还在不断涌现 ,有分级扫描式中阶梯光栅
固态检测器等离子体发射光谱仪 ,有新的多个固态检测器在 罗兰圈排列使用的仪器 ,从检测器硬件结构分类 ,它们都能方 便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪 ,或固 态检测器等离子体发射光谱仪类别里 。而“全谱直读”则明显 不能适应 。
实际上“全谱直读”是中文广告词 ,它不严谨 ,并含糊地影 射二方面意思 :
11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 ; 21 全部谱线的总体信号同时采集读出 。 从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范 围 (英文常采用 Wavelengt h coverage range) 来看 ,一般仪器都 在 160～800 nm 左右 。如有的仪器在 167～782 nm ,有的在
实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固 态检测器芯片匹配过程中 ,高级次光谱区可以说是波长连续 的 ,不同级次的光谱波长区甚至重迭 。而低级次光谱区级次 与级次之间的波长区并不衔接 ,最大可以有 20 nm 以上的间 隙 ,其间隙随着级数增大而变小 ,严格地说也就是仪器的光谱 不连续性存在 ,尽管对有用谱线影响并不太大 。另外中阶梯 光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的 边缘效应 ,固态检测器的分段或分个处理 ,都会造成使用全部 谱线的困难 ,甚至发生有用谱线的丢失 。大面积的固态检测 器芯片可望用于光谱仪 ,光谱级次间波长区的连续性会进一 步改善 ,其波长区复盖也会增大 。但仪器制造成本及芯片因 光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高 ,都会形成其发 展的阻力 。
“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样 工作 。直读一词 (Direct reading) 出现在摄谱仪之后 、光电倍
收稿日期 :2000208205 ,修订日期 :2000212212 作者简介 :陆文伟 ,1951 年生 ,上海交通大学分析测试中心高级工程师
© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.
L U Wen2wei A nalytical and Testi ng Center of S hanghai Jiaotong U niversity , S hanghai 200030 , Chi na
Abstract In t his paper ,we discuss t he classification problem of t he new ICP spectrometer on t he instrument′s hardware structure and principle and point t he words ″full wavelengt h range Direct reading″is incorrect for t he new ICP spectrometer classification ,take t he solid stare detector ICP spectrometry as classification words.
陆文伟
上海交通大学分析测试中心 , 上海 200030
摘 要 本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题 。指出“全谱 直读”一词用于仪器分类的不严谨性 。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词 。
主题词 等离子体发射光谱仪 ; 中阶梯光栅 ; 固态检测器 ; 全谱直读 中图分类号 :O657131 文献标识码 :B 文章编号 :100020593 (2002) 0220348202
更 正
本刊 2002 年第 22 卷第 1 期封三第 26 行“怀念钱振先生”应为“怀念钱振彭先生”,特此更正 。
© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.
第 2 期 光谱学与光谱分析
349
增管用于发射光谱仪之时 。是相对摄片2读片过程变成一步 而言 。多道发射光谱仪采用该词较多 。目前中阶梯光栅固态 检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体 信号同时采集读出的水平 。有的仪器分检测器读出 ,有的仪 器分波长区读出 ,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波 长检测器读出 。固态检测器的曝光与摄片又不同 ,固态检测 器比照相底片更灵活 ,为了适应样品分析元素高低浓度大小 信号的要求 ,固态检测器灵活处理 ,有的分区曝光 ,有的分级 扫描曝光 ,有的级中分二段控制曝光 ,有的检测器分子阵列 (Subarray) 控制曝光 ,有的从其检测器机理出发分每个感光点 ( Pixel) 控制曝光 。
析方法通则及计量检定规程. [ 4 ] 英汉仪器仪表词汇 ,科学出版社 ,1987 (第一版) .
The Classif ication of Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry and the Words ″Full Wavelength Range Direct Reading″
1993 年该类仪器进入中国市场 ,国内仪器广告上出现 “全谱直读”一新名词 。随着该类仪器的推广使用 ,该名词逐 渐渗入期刊杂志 ,教科书 ,学术界 ,甚至作为仪器分类词出现 在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[3 ]中 。
纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光 谱仪的期刊杂志 ,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相 近的词 。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现 。
早期国外把等离子体发射光谱仪 ( ICP2O ES) 仪器分成同 时型 (Simultanous) 和顺序型 ( Sequential) 二类 。国内把色散系 统区分为多色器 ( Polychromator) 、单色器 (Monochromator) ,仪 器则从检测器来区分 ,命名为多通道型 (多道) ,顺序型 (单道 扫描) 仪器[1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能 ,仪器结构基 本一致 ,与国外的仪器分类也一致 。ICP2O ES 仪器在其发展 期间 ,又有 N + 1 的单道与多道结合型仪器出现 ,以及有入射 狭逢能沿罗兰圈光学平面移动 ,完成 1～2 nm 内扫描 ,能获得 谱图的多道仪器出现 ,但总体上仍没动摇仪器的原始分类 。
Keywords ICP ;Spectrometer ; Echelle grating ;Solid stare detector ; Full wavelengt h range direct reading
( Received Aug. 5 ,2001 ;accepted Dec. 12 ,2001)
从仪器可利用谱线上看 ,目前中阶梯光栅固态检测器等 离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器 。当然它可 利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线 (最多六十多 条) 多得多 。如目前仪器有 6 000 多条的 ,有 2 万 7 千条的 , 有在 2 万 4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定 址添加的等等 。但这与“全谱”给人的含糊概念 ,与数十万以 上的全部谱线概念相差甚远 。就是从全部可利用谱线讲 ,该 类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线 。有的仪器是在 定性分析时能纪录所有覆盖谱线 。
165～800 nm ,有的在 175～900 nm ,有的在 165～1 000 nm , 有的是在 122～466 nm 基础上另加 590 ,670 ,766 nm 的额外 单个检测器 。有 的 在 超 纯 Ar 装 置 下 短 波 段 区 扩 展 至 134 nm ,其长波段区能扩展至 1 050 nm。很明显所有此类仪器的 光谱范围目前离“全谱”还是有距离的 ,而且仪器厂家还在扩 大其光谱范围 。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切 的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围 !
1991 年新的中阶梯光栅固态检测器 ICP2O ES 仪器问世 , 新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平 面固态检测器的感光点上 ,使仪器同时具有同时型和顺序型 仪器的功能 ,这样形成了新一类的仪器 。从它的信号检出来 看 ,它与同时型仪器很接近 ,故有的国外文献仍把它简单归为 同时型 (Simultaneous) 仪器 。但更多的是从仪器的硬件结构 上出发 ,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪 “Echelle grating solid state detector ICP2O ES”的命名 。
第 2 2 卷 , 第 2 期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 2 0 0 2 年 4 月 Spectroscopy and Spectral Analysis
Vol122 ,No12 ,pp3482349
April ,2002
等离子体发射光谱仪分类与 “全谱直读”一词
新名词会受到实践和事实的考验 。国外文献中名词也有 变化的 ,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的 ICP2A ES 英 文缩写名词 ,因 A ES 含义面广 ,易与俄歇电子光谱[4 ] 混淆 ,现 在逐渐被 ICP2O ES 取代 。切入实际的名词才会在发展中生 存。
Hale Waihona Puke Baidu
参考文献
[ 1 ] 化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则 ,中华人民共和国国家标准 GB10725289. [ 2 ] 发射光谱仪检定规程 ,中华人民共和国国家计量检定规程 J T G768294. [ 3 ] 感耦等离子体原子发射光谱方法通则 ;感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程 ,1997. (第一版) 科学技术文献出版社 ,现代分析仪器分