电解电容寿命测试方法

万用表测量电解电容的方法

万用表测量电解电容的方法电解电容作为电容家族的重要成员，以其容量大、体积小和成本低的优势，正在被越来越广泛的用在各类电子设备中。

因此对于电解电容的容量测量，是我们经常要遇到的一个问题。

下面就给大家介绍一下用万用表测量电解电容的方法。

测量前首先强调一点，就是一定要对电容进行放电，否则会有危险。

不仅会损坏万用表还有可能造成人身伤害。

既使余电不多不存在危险，但对测量结果还是有影响的。

一．数字式万用表首先要根据被测电容的容量选择好相应档位。

比如测100μF电容要选择大于其自身容量的200μF档，如选20μF就会因档位太小无法测量而只显示1。

选好档位后把表笔挿入Cx口就可测量了。

用数字表测量不需考虑电容的极性，反、正测量均可。

测试结果直接在万用表液晶屏上显示，非常方便。

用数字表测量电容的最大优势是读数直观、精硧度高。

缺点是多数表无法检测大容量电容。

比如图中的这种表对于超过200μF就无能为力了。

还有一点就是无法测量电容的漏电情况。

对于容量大于万用表最大量程的电容，可采用电容串联的方式来进行间接测量。

比如测量一万微法电容。

可以把100μF电容和它串联后再测。

根据电容串联的公式: （C1xC2）/（C1＋C2）＝99.01 μF。

在这里出现99.01的读数，就表示被测电容的容量为一万微法。

这就相当于扩大了万用表的量程。

二．指针式万用表在数字表还不普及的时候，测电解电容主要都靠指针式万用表的欧姆档。

和数字表不同，操作时要注意极性。

用红表笔接负极、黑接正极。

它的测量原理是利用电阻档的表内电池，给电容充电瞬间所产生电流的大小来估计容量的。

电容的容量越大指针瞬间摆动幅度越大。

根据我平时的测量经验，把指针摆动幅度的规律进行了归纳整理。

以MF47万用表为例，图中列举了用不同电阻档测量从1μF到一万μF电容时的指针摆动幅度。

可以看出，通过换档可以让电容量成十倍变化时，指针都摆动到同一位置。

比如用Rx1档测10000μF电容时，指针会摆到上图表盘的位置。

电解电容纹波及寿命测试方法

电解电容纹波及寿命测试方法一、电解电容纹波测试方法：1.实验仪器及设备：（1）电解电容器；（2）交流恒流源或信号发生器；（3）示波器；（4）直流稳压电源。

2.实验步骤：（1）将电解电容器连接在电路中，与交流恒流源（或信号发生器）、示波器和直流稳压电源相连。

（2）设置交流恒流源的输出电流为额定电流的50%。

（3）选取适当的频率（一般为100Hz）和纹波电流仪器输入范围（一般为2V），并调节示波器以观察输出波形。

（4）调节交流恒流源的输出电流，使示波器上显示的纹波电流尽量接近电容器的额定电流。

（5）记录示波器上显示的纹波电流值，并计算纹波系数。

二、电解电容寿命测试方法：1.实验仪器及设备：（1）电解电容器；（2）直流恒流源；（3）电容器电压测量仪；（4）温度控制设备。

2.实验步骤：（1）将电解电容器连接在电路中，与直流恒流源、电容器电压测量仪和温度控制设备相连。

（2）设置直流恒流源的输出电流为额定电流的80%。

（3）设置温度控制设备的温度为所需测试的环境温度，并保持一定的时间使电容器达到温度平衡。

（4）记录电容器电压测量仪显示的电容器电压，以及测试开始时间。

（5）每隔一定时间（例如1000小时）记录一次电容器的电压和测试时间，直到电容器的电压降至额定电压的80%。

（6）根据记录的电容器电压和测试时间，绘制电容器的寿命曲线。

三、注意事项：1.在进行电解电容纹波及寿命测试前，应检查仪器和设备的工作状态和连接情况，确保测试的准确性。

2.进行纹波测试时，应尽量避免电容器受到外部干扰，例如电源波动或其他电磁干扰。

3.进行寿命测试时，应控制好环境温度，避免温度过高或过低对电容器寿命的影响。

4.在寿命测试中，应注意记录电容器的电压和测试时间，并按时停止测试，避免过度损坏电容器。

综上所述，电解电容纹波及寿命测试方法是一种评估电容器性能的重要手段。

通过纹波测试可了解电容器在交流信号中的纹波水平，而寿命测试则可以评估电容器在一定条件下的使用寿命。

电解电容测试方法及标准

电解电容测试方法及标准电解电容作为电子设备中的关键元件，其性能的可靠性对于设备的稳定运行至关重要。

为了确保电解电容的质量，对其进行的测试方法及相应的标准成为品质控制中不可或缺的一环。

本文将详细介绍电解电容的测试方法及标准。

一、测试方法1. 外观检查：观察电解电容的外观，查看是否有损坏、漏液、变形等情况。

同时，检查电容的标识是否清晰、完整，包括制造商、容量、电压、精度等信息。

2. 电气性能测试：通过专业的测试设备，对电解电容的电气性能进行测试。

主要包括以下几项：a. 充放电时间测试：通过给电解电容充电，记录其达到额定电压所需的时间，以及放电时的时间常数。

b. 漏电流测试：在额定电压下，测量电解电容的漏电流。

漏电流越小，说明电容的绝缘性能越好。

c. 容量测试：使用专用测试设备，在一定的电压和频率下，测量电解电容的实际容量。

d. 损耗角正切值测试：通过测量电容在一定频率下的有功功率与无功功率的比值，得到损耗角正切值。

该值反映了电容的能量损耗。

3. 环境适应性测试：将电解电容置于高温、低温、高湿等极端环境下，观察其性能的变化，以评估其环境适应性。

二、测试标准1. 外观标准：电解电容外观应无损伤、无漏液、无明显变形。

标识应清晰、完整、易于识别。

2. 电气性能标准：电解电容的电气性能需符合相应的规格要求。

例如，容量误差应在规定的范围内，漏电流应小于某一特定值，损耗角正切值应小于某一特定值等。

3. 环境适应性标准：电解电容应能在一定的温度和湿度范围内正常工作，无性能下降或损坏等现象。

三、测试报告与品质保证测试结束后，应撰写详细的测试报告，记录测试过程、方法和结果。

测试报告应包括以下内容：1. 测试概述：简述测试的目的、范围和所依据的标准。

2. 测试设备与材料：列出用于测试的设备和材料，包括电解电容、测试仪器、电源等。

3. 测试方法：详细描述测试步骤和方法，确保其可重复性和准确性。

4. 测试结果：记录各项性能指标的测试结果，包括但不限于充放电时间、漏电流、容量、损耗角正切值等。

电解电容测试方法

电解电容测试方法
电解电容测试方法一般可以分为两种：直接测试方法和间接测试方法。

直接测试方法是通过使用特定的测量仪器来直接测试电解电容的性能。

这些测量仪器可以通过连接到电容的引线，测量电容的电压和
电流变化来确定其性能。

常见的直接测试方法包括使用LCR表或者
数字万用表来测量电容的电容值、损耗角和等效串联电阻等参数。

间接测试方法是通过使用其他已知性能的电路元件与电容进行组合，从而间接推测电容的性能。

这些组合电路可以包括RC电路、LC电
路或者谐振电路等。

通过测量组合电路的频率响应或者谐振频率等
参数，可以推测出电容的性能。

间接测试方法相对于直接测试方法
来说更加简单和便捷，但是精度可能相对较低。

1
需要注意的是，在进行电解电容测试时，要确保测试电路中没有其他干扰因素的影响，以保证测试结果的准确性。

同时，对于大容量的电解电容，还需要注意在测试时电容局部发热会引起电解液发生剧烈的气体反应，从而对测试结果产生干扰。

因此，在测试大容量电解电容时，需要采取适当的散热措施，以避免发热引起的干扰。

2。

电解电容寿命与纹波电流测试

电解电容寿命纹波电流测试E-cap Lifetime Test1. 工作原理/Working principle★ 当U2为正半周并且数值大于电容两端电压Uc时，二极管D1和D3管导通，D2和D4管截止，电流一路流经负载电阻RL，另一路对电容C充电。

当Uc>U2，导致D1和D3管反向偏置而截止，电容通过负载电阻RL放电，Uc按指数规律缓慢下降。

★ The diode D1&D3 work, D2&D4 cut off, the current flows through the load resistance RL in a loop and charge the capacitor C up when U2 in the positive half circuit and its value exceeding the voltage Uc which is parallel connected in the two terminals of capacitor. When Uc exceeds U2, and causes the diode D1&D3 cut off, the capacitor discharge through the load resistance RL and Uc decline slowly according to the principle of index function.★ 当U2为负半周幅值变化到恰好大于Uc时，D2和D4因加正向电压变为导通状态，U2再次对C充电，Uc上升到U2的峰值后又开始下降；下降到一定数值时D2和D4变为截止，C对RL放电，Uc按指数规律下降；放电到一定数值时D1和D3变为导通，重复上述过程。

★ As the same reason , when U2 in the negative half circuit and the amplitude is even changed to exceed Uc ,the diode D2&D4 work due to the positive voltage and U2 charge capacitor C up again. Uc start to decline when it’s voltage rise to the peak value of U2 and to a certain value , the diode D2&D4 cut off , the capacitor C discharge to RL, Uc decline according to the principle of index function again. When the discharge to a certain value, the diode D1&D3 work again and the cycle repeats.2.测试方法/Test Method2.1 测试温升计算电容寿命/Life time of capacitor at testing temperature condition计算寿命公式/Formula for calculating lifetime△T= Kc*(Tc-Tx)适用公司/ Corporation suited：Fcon 、KSC、TL、TEAPO、CapXon说明/ Explanation：Lo：is operating life of capacitance SPECTo：is SPEC temperature of capacitorTx：is capacitor ambient operating temperatureTc：is surface temperature of capacitor caseKc：is coefficient from table belowLx：useful life estimation2.2 测试纹波电流计算电容寿命/Life time of capacitor at testing ripple current condition 计算寿命公式/ Formula for calculating lifetimeLx=Lo*Kt*Kr （Kt=2^(To-Tx)/10 Kr=(5-△t)/5 △t=5*(Ix/Io)^2）适用公司/ Corporation suited：HEC、 JianghaiLo：is operating life of capacitance SPECTo：is SPEC temperature of capacitorTx：is capacitor ambient operating temperatureIx：is actual value of ripple currentIo：is specified ripple currentLx：useful life estimation2.2.1直接测量电容纹波电流/Direct measure of E-cap ripple current开关电路中电容纹波电流分析C1为buck电容，其充电时间受到低频交流输入影响，而放电时间则是受到开关管Q1的高频影响。

电解电容测试方法及标准

电解电容测试方法及标准
电解电容测试方法包括静态测试和动态测试。

1. 静态测试方法：
- 电解电容的电容值可以使用电桥进行测量，其中包括维纳电桥和韦斯顿电桥。

- 可使用LCR表进行测量，设置为电容测试模式，并将测试夹具连接到电解电容的两个引脚上，读取电容值。

2. 动态测试方法：
- 使用示波器和信号源进行测试。

通过给电容施加正弦波信号，然后观察电容的电压响应，计算得出电容值。

- 使用低反馈电压源将电解电容串联到一个高精度电流源，并测量所施加的电流变化以计算出电容值。

电解电容的测试标准包括以下指标：
- 额定电容值：电解电容的额定电容值是制造商在产品上标注的电容值。

- 等效串联电阻：电解电容会引入一定的等效串联电阻，该电阻会对电容的性能产生影响。

- 工作电压：电解电容具有指定的工作电压范围，超过该电压范围可能会造成电容损坏或性能下降。

- 漏电流：电解电容在正向工作电压下会有一定的漏电流，该值应小于规定的标准值。

- 逆耐压：电解电容在反向工作电压下应具有一定的逆耐压能力，该值应大于规定的标准值。

- 寿命：电解电容的使用寿命与电解液的稳定性有关，应符合
制造商规定的标准寿命。

具体的测试方法和标准会根据电解电容的不同类型和应用领域而有所差异，可根据相关的规范和标准进行测试。

电解电容纹波及寿命测试方法

Electrolytic Capacitor Ripple Current Derating Test Method and Life TimeEvaluationFrom：郭雪松Date：Oct-27-04一．SPEC1.电解电容零件工程规格书中之Standard Rating表格，其中规定了不同规格的电解电容Rated Ripple Current值，例如：Sharp 机种PWPC C904(滤波电容) 67L215L-820-15N (CNN公司KXG Series)2.此电容用于电源输入端滤波，因此采用120Hz时的Rated Ripple Current规格715mA。

3.而用于评估电解电容Ripple Current之Spec要依据以下公式：SPEC=Spec （component ）×频率系数（FM ）×温度系数（TM ）注：FM/TM 取值方法见附表4.OTPV 评估电解电容Ripple Current 的Derating 规格为85％，因此测试值<SPEC ×85％时判定OK 。

二．Test Method将电解电容接地端吸开串联一导线，直接用电流计探头测试该导线电流的有效值（rms ），测试时要调整输入电压值（90V ～264V ）达到纹波电流最大。

见图示：Irms 三．附表（FM&TM 取值方法）：NCC 公司产品为例1.Multiplying Factors on KMG Series （radial lead type ） Frequency MultipliersTemperature Multipliers2. Multiplying Factors on KY Series Frequency MultipliersTemperature Multipliers3. Multiplying Factors on KXG Series Frequency MultipliersTemperature Multipliers*Temperature multipliers shows the guide limits of the maximum available ripple current at each of the temperature,of which the life time at the rated maximum operating temperature is expected. 四．电解电容寿命评估测试方法1.Calculation Formula:电容寿命Life Time= Life(spec)×2(Ts-Tt)/10Life(spec)：指spec中标明的寿命值Ts：电容最高使用温度值Tt：电容本体温度测试值2.判定方法：以上计算得出之寿命值与整机MTBF目标值比较，若大于目标值则判定OK。

电解电容寿命测试报告

电解电容寿命测试报告背景介绍电解电容是一种常见的电子元件，用于储存电荷和平滑电压波动。

然而，电解电容的使用寿命是一个重要的考量因素。

本文将介绍电解电容寿命测试的步骤和结果。

测试步骤为了测试电解电容的寿命，我们采取了以下步骤：步骤一：准备测试设备和样品我们准备了一台恒温恒湿环境的测试设备，以确保稳定的测试条件。

选取了一组电解电容作为样品，确保样品之间的参数尽可能一致。

步骤二：测量电容初始参数在测试之前，我们使用万用表测量了每个电解电容的初始电容值、电阻值和漏电流。

这些参数将作为对比基准。

步骤三：施加恒定电压在恒温恒湿环境中，我们将恒定电压施加在电解电容上。

施加的电压与电容的额定电压相匹配。

步骤四：持续观察和记录数据我们持续观察每个电解电容的电容值、电阻值和漏电流，并定期记录这些数据。

观察周期根据测试要求进行设置。

步骤五：分析数据和绘制曲线在测试过程中，我们定期分析观察到的数据，并绘制电容值、电阻值和漏电流随时间的变化曲线。

通过分析曲线，我们可以了解电容的寿命情况。

步骤六：判定寿命终点根据数据分析和曲线观察，我们可以判定电解电容的寿命终点。

一般情况下，当电容值下降到额定值的一定百分比或漏电流超过一定阈值时，可以认为电解电容的寿命已经到达。

步骤七：总结和报告根据测试结果，我们对电解电容的寿命进行总结，并撰写测试报告，以便提供给相关工程师和决策者参考。

测试结果经过以上的测试步骤，我们得到了以下结果：•在恒定电压施加下，电容值随时间逐渐下降。

•电阻值随时间略微上升。

•漏电流随时间逐渐增加。

通过数据分析和曲线观察，我们判定电解电容的寿命终点为电容值下降到额定值的50%。

根据这个判定标准，样品A的寿命为1000小时，样品B的寿命为800小时，样品C的寿命为1200小时。

结论和建议根据测试结果，我们得出以下结论和建议：1.电解电容的寿命受到施加电压的影响，较高的电压会缩短寿命。

2.随着寿命的增加，电容值下降、电阻值上升和漏电流增加。

电解电容寿命测试方法

电解电容寿命测试方法
1. 哎呀，你知道吗，给电解电容做寿命测试，有个特别直接的办法，就是长时间通电测试呀！比如说，就像让运动员一直跑马拉松，看看能坚持多久。

长时间让电容工作，看它啥时候会出问题。

2. 嘿，还有一种呢，温度循环测试，这就像是让电容坐过山车一样，一会儿热一会儿冷的。

比如把它放在烤箱里烤一会儿，再放到冰箱里冻一会儿，看它能不能受得了这种折腾。

3. 哦哟，还有个很关键的测试方法，叫纹波电流测试呢！就好像是给电容不断地施加小挑战，看看它能否应对这些连续的小冲击。

比如通过特定的电路给它施加变化的电流。

4. 你晓得不，还有电压冲击测试呀！这简直就是给电解电容来个突然的惊吓。

好比突然给它一个高压电，看看它会不会被“吓倒”。

5. 哇塞，还有湿度测试呢！想象一下电容在潮湿的环境里会怎么样？就类似人在潮湿的天气里会不会不舒服。

把电容放到高湿度的环境里，观察它是不是能扛得住。

6. 哎呀呀，还有漏电流测试呢！这就像是检查电容有没有偷偷“漏电”呀。

比如说通过专门的仪器去检测它有没有电流偷偷跑掉。

7. 嘿，别忘了还有寿命加速测试哟！这就像让电容快速经历它的一生。

比如增加一些极端条件，来加速它的老化过程。

8. 还有一个就是频率特性测试啦！这如同考察电容在不同“节奏”下的表现。

看看它在各种频率的信号下能不能稳定工作。

我的观点结论：这些电解电容寿命测试方法都各有特点和用处呀，掌握了它们，就能更好地了解电解电容的性能和寿命啦！。

铝电解寿命推算方法

• ΔT0：额定温度下，铝电解电容器中心允
许温升
二、温升测试法
通过测试电容器中心或表面温升来推算产品寿命。具体公式如下：
LX=L0·2（T1-T2）/10 ·KV
0.6W.V.≤V’≤ W.V. 2：实际使用时中心温度 L0：额定使用寿命 LX：推算使用寿命
则电容器底部温升=（65-50）=15 ℃，电容器中心温升=15*1.6=24 ℃，因此就能推算出电容器中心温度=50+24=74 ℃，用一个公式表示即为：电容器中心温度=环境温度+表面温升*系数
=50+15*1.6 =50+24 =74 ℃
图二
三、两种方法相互推导
我们设定L0：电容器在额定条件下的寿命 LX：电容器实际使用寿命 T1：电容器中中心允许承受的最高温度
又因为电容器的发热温升与纹波电流有如下关系：
ΔT=ΔT0（I/I0）2
其中： I：额定纹波电流(同频率) I0：实际纹波电流(同频率)
代入上式
=L1·2（T0- T）/10 ·2（ΔT0-ΔT0（I/I0）2）/10·KV =L1·2（T0- T）/10 ·2（1-（I/I0）2）ΔT0/10·KV
• LX=L0·KT·KV·KR • 其中LX：电容器推算的使用寿命 • L0：电容器在额定条件下的寿命 • KT：电容器温度系数 • KV：电容器电压系数 • KR：电容器纹波电流系数
• KT 铝电解电容器的使用遵循10℃原则，
即使用温度每降低10℃，寿命延长一倍。 KT的计算如下：
• KT=2（T0-T）/10 • 其中T0：额定温度 • T：电容器实际工作温度
1、中心温升测试法对电容器施加直流和纹波电压，电容器
处于工作状态，利用热电偶温度计直接插入电容器芯包卷绕针孔内测中心最高温度。（见示意图一）

SHG 350V47 16X20长寿命电解电容器测试实验

102
82 62 42 22 2
漏れ电流
10000时间后I=354μAmax
初期値
500H 8.85
9.57 8.39
1000H 7.77
8.04 7.34
2000H 5.93
6.05 5.67
3000H 5.52
5.65 5.43
4000H 5.11
5.21 5.00
5000H 5.00
5.04 4.95
SHG
350V47 Life105℃
PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建
500H -3.37% -3.00% -3.24%
1000H -4.20% -4.07% -4.10%
0.40
损失角の正接
0.30
0.20 0.10 0.00 AVE
MAX MIN
1000时间后tanδ=0.4max
初期値 0.032 0.033 0.031
500H 0.029 0.030 0.028
MAX MIN 0 0
-1.50% -2.57% -4.28% -6.00% -8.78% -12.63% -14.56% -16.92% -16.92% -16.92% -16.92% -2.16% -3.24% -4.75% -6.48% -9.07% -13.39% -15.98% -17.06% -17.06% -17.06% -17.06%
试験条件判定测定条件
105℃高温放置容量変化率:±20% tanδ: 规格値の200%以下漏れ电流: 规格値(5 分値)以下 Cap、tanδ:f=120HZ LC:WV印加5分后
静电容量変化率（%）1000时间后、初期値の±20%以内

电解电容寿命分析

电解电容寿命分析像其它电子器件应用一样 , 电解电容同样遵循一种被称为“Bathtub Curve”的失效率曲线。

其表征的是一种普遍的器件（设备）失效率趋势。

但在实际应用中，电解电容的设计可靠性一般以其实际应用中的期望寿命（ Expected Life ）作为参考。

这种期望寿命表达的是一种磨损失效（ wear-our failure ）。

如下图所示，在利用威布尔概率纸（ Weibull Probability Paper ）对电解电容的失效率进行分析时可看到在某一使用期后其累进失效率曲线 (Accumulated Fallure Rate) 斜率要远大于 1 ，这说明了电解电容的失效模式其实为磨损失效所致。

影响电解电容寿命的因素可分为两大部分：1) 电容本身之特性。

其中包括制造材料（极片、电解液、封口等）选择及配方，制造工艺及技术（封口方式、散热技术等）。

2) 电容设计应用环境（环境温度、散热方式、电压电流参数等）。

电容器件一旦选定，寿命计算其实可归结为自身损耗及热阻参数的求取过程。

1 、寿命评估方式电解电容生命终结一般定义为电容量 C 、漏电流（ I L）、损耗角（ tan δ）这三个关键参数之一的衰退超出一定范围的时刻。

在众多的寿命影响因素中，温升是最关键的一个。

而温升又是使用损耗的表现，故额定寿命测试往往被定为“在最大工作温度条件下（常见的有 85degC 及 105degC ），对电容施以一定的 DC 及 AC 纹波后，电容关键参数电容量 C 、漏电流（ IL ）、损耗角（ tan ）的衰竭曲线”。

如下图所示：2 、环境温度与寿命的关系一般地（并非绝对），当电容在最大允许工作环境温度以下工作时（一般最低到 + 40degC 的温度范围），电解电容的期望寿命可以根据阿列纽斯理论（ Arrhenius theory ）进行计算。

该理论认为电容之寿命会随温度每十摄氏度的上升而减半（每上升十摄氏度将在原基础上衰减一半）。

数字万用表测电解电容的步骤

数字万用表测电解电容的步骤用数字万用表测电解电容呀，这就像是给电容做个体检一样。

咱得先把数字万用表准备好，就像医生准备好他的听诊器那些工具一样。

这万用表得是能测电容功能的那种哦。

要是没有这个功能，那就像是厨师没锅铲，根本没法做菜嘛。

拿到万用表后，先看看它的表笔，这表笔就像是万用表的手，得保证它们是好的，没有破损啥的。

要是表笔破破烂烂的，那测量的时候就可能出乱子，就像你走路穿着破鞋子，指不定啥时候就摔倒了。

现在可以开始对电解电容下手啦。

电解电容长啥样呢？它就像个小圆柱子，有的大有的小。

在测量之前，一定要先把电解电容的两个引脚给弄干净。

你想啊，要是引脚上全是脏东西，就好比你的手沾满了泥巴去拿东西，肯定拿不稳也拿不准啊。

接下来把万用表打到电容测量档。

这档就像是专门为电容准备的一个小房间，只有在这个房间里才能准确地知道电容的情况。

如果选错了档，那就像是把兔子放到了老虎的笼子里，完全不对路啊。

然后把电解电容的两个引脚插入万用表对应的测量孔里。

注意哦，电解电容是有正负极的，就像电池有正负极一样。

要是把正负极插反了，这就好比你把鞋子穿反了，虽然看起来可能没那么严重，但对测量结果的影响可不小呢。

就像你走路穿反鞋，虽然也能走，但是走得肯定不舒服，测量结果也不会准确。

这时候万用表上就会显示出一个数值啦。

这个数值就是电容的容值。

但是这个数值有时候可能和电容上标的数值不太一样，这正常吗？这就像你去称体重，每次称的数字可能都有点小波动一样。

如果这个差值不是特别大，那一般是没问题的。

要是差得太多，那就像你本来一百斤，称出来两百斤，这肯定有问题啦。

可能是电容坏了，也可能是测量的时候有啥干扰因素。

除了容值，我们还得看看电容有没有漏电。

怎么看呢？万用表在测量电容的时候，数值会慢慢稳定下来。

如果这个数值一直在变，就像水一直在滴一样，那就说明这个电容可能有漏电的情况。

这就好比水桶有个小漏洞，水会一直流出去，这电容里的电也像水一样在慢慢漏掉呢。

简述用指针万用表检测电解电容的方法

简述用指针万用表检测电解电容的方法使用指针万用表检测电解电容是一种常见的电子检测方法。

以下是一个简述：1.准备工作：在开始检测之前，首先确保你的工作区域是安全的，并且准备好你的工具和材料。

这包括一个指针万用表（最好具有电容测试功能），以及一些纸和笔来记录你的发现。

2.测试电解电容器的两极：电解电容器通常有两个极，一个是正极，另一个是负极。

首先，使用万用表的电容测试功能（通常是一个在万用表上方的单独的电容测试刻度），来测试电容器的两极。

将万用表调整到电容测试功能，并将红表笔（代表正极）连接到电解电容器的正极，将黑表笔（代表负极）连接到电解电容器的负极。

如果万用表的读数在几微法拉到几百微法拉之间，那么这个电解电容器就是好的。

如果读数为零或者无穷大，那么电解电容器可能已经短路或开路。

3.检查电解电容器的充放电时间常数：这个步骤是为了检查电解电容器的充放电时间常数是否在正常范围内。

首先，将万用表调整到电容测试功能，然后同时将红、黑表笔短接，使万用表对地短路放电。

之后，将黑表笔（代表负极）连接到电解电容器的负极，红表笔（代表正极）连接到电解电容器的正极。

观察万用表的读数，如果电解电容器的充放电时间常数在正常范围内（一般在几十毫秒到几百毫秒之间），那么这个电解电容器就是好的。

如果充放电时间常数过长或者过短，那么电解电容器可能有问题。

4.检查电解电容器的漏电电阻：这个步骤是为了检查电解电容器的漏电电阻是否在正常范围内。

在将红、黑表笔短接放电后，将黑表笔（代表负极）连接到电解电容器的负极，红表笔（代表正极）连接到电解电容器的正极。

观察万用表的读数，如果电解电容器的漏电电阻在正常范围内（一般在几百欧姆到几千欧姆之间），那么这个电解电容器就是好的。

如果漏电电阻过低或者过高，那么电解电容器可能有问题。

5.记录和总结：在完成所有的测试步骤后，记录下你的发现。

如果电解电容器在所有的测试中都表现正常，那么它就是好的。

如果有任何一项测试表现出问题，那么电解电容器就可能是坏的或者性能不佳。

数字万用表怎样测量电解电容？

数字万用表怎样测量电解电容？（1）用电容档直接检测某些数字万用表具有测量电容的功用，UT51其量程分为200μ和20μ两档。

测量时先将红表笔接到电流端孔，黑表笔接到COM端孔，功能档位选择电容档位，再用红黑表笔接已放电的电容两引脚（注意极性），选取适当的量程后就可读取显示数据。

（2）用蜂鸣档初步判断电容的好坏: 使用数字万用表的蜂鸣器档，可以高速检验电解电容器的质量好坏。

测量方法如上图所示，将数字万用表拨至蜂鸣器档，用两支表笔区分与被测电容器Cx的两个引脚接触。

接着，再将两支表笔对调测量一次，蜂鸣器应发声，此种情况标明被测电解电容基本正常。

此时，可再拨至20MΩ或200MΩ高阻档测量一下电容器的漏电阻，即可判别其好坏。

测试时，假设蜂鸣器不断发声，标明电解电容器内部曾经短路；若重复对调表笔测量，蜂鸣器不响，仪表总是显示为“1”，则标明被测电容器内部断路或容量消逝。

用数字万用表测量大于20μF的电容注意这个方法很实用。

（3）用电阻档初步检测电容实际证明，使用数字万用表也可观察电容器的充电进程，这实践上是以屏幕的数字量反映充电电压的改动情况。

下面引见的是运用数字万用表电阻档检测电容器的方法，关于未配置电容档的仪表很有适用价值。

此方法适用于测量0.1μF～几千微法的大容量电容器。

将数字万用表拨至适宜的电阻档，红表笔和黑表笔区分接触被测电容器Cx的两极，这时显示值将从“000”开端逐渐添加，直至显示溢出符号“1”。

若不断显示“000”，标明电容器内部短路；若不断显示溢出，则能够时电容器内部极间开路，也可以够时所挑选的电阻档不适宜。

检验电解电容器时须要留意，红表笔（带正电）接电容器正极，黑表笔接电容器负极。

电解电容的测量方法

万用表检测电容器万用表--检测电容器电容器是一种最为常用的电子元件。

电容器的外形及电路符号如图所示。

电容器的通用文字符号为“C”。

电容器主要由金属电极、介质层和电极引线组成，两电极是相互绝缘的。

因此，它具有“隔直流通交流”的基本性能。

用数字万用表检测电容器，可按以下方法进行。

一、用电容档直接检测某些数字万用表具有测量电容的功能，其量程分为2000p、20n、200n、2μ和20μ五档。

测量时可将已放电的电容两引脚直接插入表板上的Cx插孔，选取适当的量程后就可读取显示数据。

2000p档，宜于测量小于2000pF的电容；20n档，宜于测量2000pF至20nF 之间的电容；200n档，宜于测量20nF至200nF之间的电容；2μ档，宜于测量200nF至2μF之间的电容；20μ档，宜于测量2μF至20μF之间的电容。

经验证明，有些型号的数字万用表（例如DT890B＋）在测量50pF以下的小容量电容器时误差较大，测量20pF以下电容几乎没有参考价值。

此时可采用串联法测量小值电容。

方法是：先找一只220pF左右的电容，用数字万用表测出其实际容量C1,然后把待测小电容与之并联测出其总容量C2，则两者之差（C1－C2）即是待测小电容的容量。

用此法测量1～20pF的小容量电容很准确。

二、用电阻档检测实践证明，利用数字万用表也可观察电容器的充电过程，这实际上是以离散的数字量反映充电电压的变化情况。

设数字万用表的测量速率为n次/秒，则在观察电容器的充电过程中，每秒钟即可看到n个彼此独立且依次增大的读数。

根据数字万用表的这一显示特点，可以检测电容器的好坏和估测电容量的大小。

下面介绍的是使用数字万用表电阻档检测电容器的方法，对于未设置电容档的仪表很有实用价值。

此方法适用于测量0.1μF～几千微法的大容量电容器。

1．测量操作方法如图5-11（a）所示，将数字万用表拨至合适的电阻档，红表笔和黑表笔分别接触被测电容器Cx的两极，这时显示值将从“000”开始逐渐增加，直至显示溢出符号“1”。

电解电容纹波及寿命测试方法

Electrolytic Capacitor Ripple Current Derating Test Method and Life Time EvaluationFrom：郭雪松Date：Oct-27-04 一．SPEC1.电解电容零件工程规格书中之Standard Rating表格，其中规定了不同规格的电解电容Rated Ripple Current值，例如：Sharp机种PWPC C904(滤波电容) 67L215L-820-15N (CNN公司KXG Series)2.此电容用于电源输入端滤波，因此采用120Hz时的Rated Ripple Current规格715mA。

3.而用于评估电解电容Ripple Current之Spec要依据以下公式：SPEC=Spec（component）×频率系数（FM）×温度系数（TM）注：FM/TM取值方法见附表4.OTPV 评估电解电容Ripple Current的Derating规格为85％，因此测试值<SPEC×85％时判定OK。

二．Test Method将电解电容接地端吸开串联一导线，直接用电流计探头测试该导线电流的有效值（rms），测试时要调整输入电压值（90V～264V）达到纹波电流最大。

见图示：Irms三．附表（FM&TM取值方法）：NCC公司产品为例1.Multiplying Factors on KMG Series（radial lead type）Frequency MultipliersTemperature Multipliers2. Multiplying Factors on KY SeriesFrequency MultipliersTemperature Multipliers3. Multiplying Factors on KXG SeriesFrequency MultipliersTemperature Multipliers*Temperature multipliers shows the guide limits of the maximum available ripple current at each of the temperature,of which the life time at the rated maximum operating temperature is expected.四．电解电容寿命评估测试方法1.Calculation Formula:电容寿命Life Time= Life(spec)×2(Ts-Tt)/10Life(spec)：指spec中标明的寿命值Ts：电容最高使用温度值Tt：电容本体温度测试值2.判定方法：以上计算得出之寿命值与整机MTBF目标值比较，若大于目标值则判定OK。

电解电容寿命测试方法

Chemcal condenser life ｉｎ　Main Power Measure in w ｏｒｓｔ　20.6℃保証値の欄はコンデンサメーカの資料をもとに記載する。

上昇値は、室温に対してコンデンサの温度上昇の値（⊿Ｔ）温度はセット外温度　（上昇値と温度を加えた値がコンデンサ表面の温度となる。

）推定寿命と、リップル電流（補正済み）の欄は計算式が入力されており、その他のデータを入力する事により計Guaranteed value column is described based on the materials of the capacitor manufacturer.For the room temperature value of the temperature rise of the capacitor value is rising, (⊿ T)Temperature set out (The value obtained by adding the temperature rise value and the temperature of the s And life expectancy, the ripple current column (corrected) The formula has been input, the calculation resultTest time:90minsTest conditions:90Vac with projector operation modeoutside temperature :102T x T o Lo Lx -⨯⨯=入力する事により計算結果が記載される。

rising, (⊿ T)nd the temperature of the surface condenser is temperature)input, the calculation result is described by inputting the other data.周周围温度（Tx ）= 表面温度-ΔT/系数αΔT=[实际纹波电流/(额定纹电流*頻率补正系数)]2*ΔTo ΔT o=5 ；125˚C 和大多数105˚C 电容器，螺丝端子型ΔT o=10；大多数器多数85˚C 电容。

电解的寿命设计测试方法

电解的寿命设计测试方法电解是电路板上不可缺少的元件之一，现在的电子电路中有98%都在使用电解做为滤波，这种元件有它的特殊性，就是体积小，容量大，目前还不容易被其它元件所取代。

这种元件在常温下特性非常好，可是在温度在高与低的情况下就显得精疲力竭，温度低时由于里面的胺接近凝固，容量大幅减小。

热时会膨胀，电解的封装不是太严密，胺会蒸发到外面，慢慢的容量就减小了，容量到60%以下，在电路已经失去一些作用，被视为寿命中止。

但是在一般电路上仍能使用一段时间，最后会使里面的其它电解发热，或者电路上失去一些功能，影响正常使用，所以说用胺作为媒介不是太理想的原料，但是到现在还没有找到能替代的材料。

前些年出来的钽电解，虽然稳定些，但是只能用于低压电路上面。

我们通常说的电容寿命指的是电容的“复合寿命”比如说普通品2.2/400V 8*12MM 2000小时！2000小时是指产品使用时,温度105℃耐压400V的情况下寿命可达到2000小时，温度每降低10℃寿命增加2倍！比如：105℃ 2000小时、95℃ 4000小时、85℃ 8000小时、75℃ 16000小时………以此类推（为什么节能灯不能用普通品呢? 因为节能灯通常使用的温度比较高通常是95℃了），所以电容的寿命保障范围,跟是否对应正确的产品!很大关系! 希望我们正确选择！我们说一个电解的额定寿命多少小时，都是在其额定参数相同的工作环境下的实际寿命。

同时也是设计寿命。

主要影响电解电容寿命的因素有以下几点：环境温度、电压、纹波电流、频率。

1、频率，首先请断定，使用的电解电容为高频电解电容。

保证在频率一项不影响您电源的实际工作频率。

2、纹波电流：这个参数在电解规格书里可以查到额定的纹波电流，按照电源本身的纹波电流来选用合适的电解。

以上2项要考虑参数的余量，一般按照1.5倍计算足以。

下面是影响寿命的主要参数3、环境温度：按照目前最普遍的电容寿命估算方法，实际工作温度比电容额定温度低10度，寿命增加1倍的理论。