空间相机消杂光设计及仿真

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眼底相机的均匀照明及消杂光干扰设计_李淳

眼底相机的均匀照明及消杂光干扰设计_李淳

图 3 改进后的人眼照明系统 Fig.3 Improvedilluminationsystem
36 6
中国光学与应用光学
第 3卷
上 , 将孔径光阑移至集光镜的后表面上 。 这样 , 光 源通过匀光镜 、集光镜和聚光镜在角膜处成实像 , 集光镜位于一次像面处 , 在此处安放一环形光阑 可以在角膜处得到环形照明光斑 ;视场光阑通过 集光镜和聚光镜成像于眼底 , 视场光阑处于均光 系统出口 , 为均匀光场 , 因而眼底被照明区域也为 均匀光场 。 由于视场光阑和眼底的位置为物像共 轭 , 在视场光阑处放一可调节的光阑 , 便可控制眼 底被照明区域的大小和形状 。 2.3 消除鬼像
图 2 柯勒 照明应用于人眼照明系统 Fig.2 Kohlersystemusedinfundusillumination
从图 2可以看出 , 该照明光路主要由集光镜 、 聚光镜 、视场光阑和孔径光阑组成 。光源通过集 光镜成一实像 , 在该像面上安放一个可调的孔径 光阑 , 可以控制照明区域的亮度 ;集光镜通过聚光 镜成像于眼角膜 , 在集光镜附近位置放一视场光 阑 , 可以用来控制入射人眼光斑的大小及形状。
现行的眼底相机系统的基本结构主要包括两 部分 :照明系统和成像系统 。 照明系统完成对视 网膜的照明 , 成像系统将视网膜成像在探测器上 。 相机系统多采用共轴照明方式 [ 2] , 即照明系统和 成像系统通过一块半反半透板来共用一组网膜物 镜 。不仅成像系统的优劣对眼底相机的性能有重 要影响 , 而且照明系统也是决定眼底相机性能的 重要环节 , 尤其是照明区域亮度的均匀性直接影 响到成像质量 ;其次还要考虑如何屏蔽掉角膜和 网膜物镜所产生的杂散光 , 这些杂散光一旦进入 成像系统将会严重降低成像画面的对比度 。虽然 在现行的眼底相机设计中充分考虑了以上因素 , 但是 最 终 的 设 计 结 果 均 较 为 复 杂 。 以 Visual Pathways公司的产品为例 [ 3] , 该公司所生产的眼

偏视场用三反系统消杂光设计及仿真

偏视场用三反系统消杂光设计及仿真

过 计算得 到 了系统 P T曲线 。由曲线 可以看 出, S 系统 P T整体 上是 下降的 , 在 离轴 角 2 o S 且 5 时达 到 1- 08 量级 。计算 杂光 系数 为 35 %, . 9 完全 满足要 求。实验结果证 明 了设计 的可行性, 为应 用提供 了依 据 。
关 键词 :杂散 光 ; 外遮 光罩 ; 挡光 片 ; 点源透射 比 ; 偏 视 场三反 系统
i l wa o -xi i d r c o fed s f a s n Y ie t n,a e ti d ma d n h e x e a ln h o wa p o o e .So o — i c ran e n o t e tr l e s o d n s rp s d b x
闫佩 佩 -, 学武 , . 樊 邹刚毅 , 利 华 1 何 建伟 , 杨 , 2, z ( . 国科 学 院西安 光 学精 密机械 研 究所 空 间光 学研 究 室 , 1中 陕西 西安 70 1 : 1 19 2 .中 国科 学 院研 究生 院 , 北京 1 04 ) 00 9 摘 要 :分析 了偏视 场用三反 系统的 杂散 光特 性 , 根据 遮光 罩设计 的基 本原 则 , 介绍 了利 用计 算机仿真
第4 0卷 第 l 0期
Vo1 o.0 . N 1 40
红 外 与 激 光 工 程
I fa e n srE gn ei g n r d a d La e n i e rn r
2 1年 1 01 0月 OC . 0 1 t2 1
偏 视 场 用 三 反 系统 消杂 光 设 计 及 仿 真
技 术进行 消杂散光设 计和评价 的原理 。系统为特殊 的矩形视 场 , 且在 Y方 向视 场偏轴 , 为此 , 计 了盒形 设

弱目标成像遥感相机杂光改进设计概述

弱目标成像遥感相机杂光改进设计概述
4 结束语
对于不同水质的原水处理,单一的消毒剂或消毒工艺已不足 以满足当前净水的需求。因此现在采用多种工艺联用的方式对传 统工艺加以改进,用来解决副产物的问题,如紫外-氯胺、臭氧-光 催化等工艺,从源头到深度处理,控制消毒副产物的生成。
TECHNOLOGY AND INFORMATION
科技论坛
图2 成像时杂光现象
3 杂光路径分析 根据光学设计和三维结构模型建立杂光模型,相机遮光罩
表面为铝合金黑色阳极化实测BRDF,安装透镜的机械结构表
面为钛合金发黑实测BRDF,透镜透过率为99%,入射光源波长 400~1000nm,计算相机微光通道的PST曲线,PST计算结果如 图3所示。可以看到原相机视场外的抑制能力约为E-4量级。
引言
杂散光,是指光学系统中除了目标光线外,扩散于探测 器表面上的其他非目标光线,以及通过非正常光路到达探测器 的目标光线[1-3]。对于常规成像光学系统,杂散光会使目标的信 噪比降低,引起图像对比度的下降,从而干扰目标的识别;严 重时可能会在探测器上出现的杂散光汇聚点,使被探测的目标 信号完全湮没在杂散光背景中,从而导致整个系统失效[4-6]。大 多数的空间遥感仪器在实际应用中,都会受到杂散光的影响。 例如,GOES-I/M和Meteosat-5/7成像仪,因为受到太阳直射
图1 结构设计
2 弱目标成像杂光问题 相机在成像工作时,在某时刻出现的杂光现象如图2所
示。从图中显示,相机在对暗目标成像时,当相机一侧亮目标
逐渐接近相机视场,直到出现在相机视场过程中,在图像左侧 出现杂光。从图像上可以初步推测,是亮目标通过结构散射在 探测器形成亮条纹。
188 科学与信息化2020年4月下
科学与信息化2020年4月下 189

大视场空间可见光相机的杂散光分析与抑制

大视场空间可见光相机的杂散光分析与抑制
(1)减小入射的杂光能量或减小上一级表面 所出射的杂光通量 ds;
(2)研 究 机 械 表 面 处 理 的 新 方 法,或 寻 找 BRDF值更小的涂层,及使用消光漆等;
(3)给 系 统 加 上 挡 光 结 构,如 遮 光 罩、光 阑 等,以减小几何构成因子 GCF。
图中,Dபைடு நூலகம்为 光 学 系 统 通 光 口 径,D1为 遮 光 罩 外口径,ω是光学系统的视场角,θ是杂散光源的
第 3期
陈 醒,等:大视场空间可见光相机的杂散光分析与抑制
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light,andthatthepointsourcetransmittanceoutoftherejectionanglesofthesystem isat10-7.Thesystem candetectatleast65M stars.Thesuppressiontechniqueisproventobeeffectiveandcanbeusedasarefer enceforfurtheroptimizationanddesign. Keywords:widefieldofviewspacecamera;baffle;analysisofstraylight;pointsourcetransmittance(PST)
采用空间相机探测上述空间目标时,属于暗 弱目标探测系统,对杂散光十分敏感。对于大视 场光学系统而言,杂散光的影响则尤其严重。一 旦杂光到达像面,会在探测器表面形成杂散辐射 噪声,轻则降低像面对比度,降低信噪比,严重时 会令目标 完 全 淹 没,致 使 相 机 无 法 正 常 工 作[5]。 因此,对杂散光的有效抑制是保证大视场空间相 机探测性能的关键技术之一。
本文所研究的空间可见光相机不仅具有超大 的视场,而且由于工程限制,其对遮光罩尺寸具有 一定的要求,导致杂光的抑制工作具有相当大的 难度。为满足其轻小型、轻量化的要求,本文对其 展开杂散光的分析,结合具体指标分析杂散光来 源,总结杂光抑制手段,并完成遮光罩、挡光环以 及光阑等消杂光结构的设计,并使用 TracePro软 件进行光 线 追 迹 仿 真,利 用 点 源 透 过 率 (PST)作 为评价杂光抑制水平的指标。仿真结果表明本文 的消杂光设计具有很好的效果,可以兼顾杂散光 抑制。

一种新型空间相机遮光罩的设计与仿真

一种新型空间相机遮光罩的设计与仿真
c m e aSsr y l h r a c ltd b h tn a d o et r e r h n s i h i d t ce y t e s a e c mea Ba e a r ’ ta i ta e c lu ae y t e sa d r ft g tb i t e swh c s e e t d b h p c a r . s d g h a g o es p r s i n i d c t r, c o d n ot e fa u e f p c a r n eh o e in p i cp e , — ls h ed n t u p e so i a o s a c r i g t t r so a ec me a a d t o d d sg r i ls a t ca ss il h n h e s h n wo wa e i n d h oe s a e c me a wa mu a e n t e T a e r .I i p o e h wh l p c a r s e lt d i h r c P o t s r v d t a h e i o h ed c n g n h

种 新 型 空 间相 机 遮 光 罩 的设 计 与仿 真
李 芸 ,相 里 斌 ,李 立 波
(1 .中国科学院西安光学精密机械研究所 ,西安 7 0 1 ; 1 19 2 .中国科学院光 电研究院 ,北京 10 8 ) 000
摘要 :本文所分析的 空间相机视场 角 大,引进的杂散光较难消除 ,故对遮光罩的设计提 出了挑战。本文以点 比较
A sr c : e a s f h p c a r’ lreFe f iw ( O , t yl h r i c lt l n t. h rfr, b ta t B c u eo e a ec mea g i d o e F V) s a g t s t s Sa l V r i i mo e f ut Oei a T eeoe di mi e

眼底相机的均匀照明及消杂光干扰设计

眼底相机的均匀照明及消杂光干扰设计
Gulta d e sa d r y o e s u e n t e s se ,a d a u i r il l r n L t n a d e e m d lwa s d i h y t m s n nf m l o umi ae r a wih te u i r i n t d ae t h nf m t o y
第 3卷
第 4期
中 国光 学 与 应 用 光 学
C ie eJ un l fOpisa d Ap l d Opis hn s o r a t n p i t o c e c
V0 . No. 13 4
Au 2 0 g. 01
21 0 0年 8月
文章编号
17 —9 5 2 1 )406 - 642 1 ( 00 0 -3 30 6
摘要 : 给出了一种新 型眼底相机 照明系统 的设计方案 。针对现行 眼底相机照 明系统复杂 的问题 , 对经典 的柯 勒照明光路 进行改 良设计 , 到了一个结构简单 的眼底照 明系统 。结构 中除网膜物 镜外 , 得 只需用 到 4片透镜 , 眼底 照 明区域直径 且 连续可调 , 充分利 用了光能 。通过在 照明光路 中添加黑点板 和环形光 阑 , 屏蔽 了系统 9 % 以上 的杂散 光 , 眼底 相机成 9 使 像画面 的信噪 比达到 2 B以上 , 0d 提高 了对 比度。同时在 G l t n _ e 准眼模 型上 , ulr dL 标 sa 得到一个均匀度达 9 %以上的照 5
Absr t t ac :A e d sg fi u n t y t m s d i un u a r swa r p s d.Th e n wa m- n w e in o l mi a i s se u e n f d s c me a s p o o e l ng e d sg s a i p o e y tm a e p n Ko l ri u nain,a d i u e h e r ifa e i h ih c ud n tb etb rv d s se b s d u o h e l mi to l n t s d te n a nr r d lg twh c o l o e fl y h ma y o d a t h r b e o rss rnknge fc e l u n e e t e lwih t e p o l m fi h i i i fe twh n il n tn ih a h d.Thed sg d o - umi ai g lg tf s e l e in ha n

轻型空间相机遮光罩组件的研制

轻型空间相机遮光罩组件的研制
纤维预浸料 的适用性使得帽形光栅就能用高热导和 高模量的沥青基碳纤维复合材料 制备 , 以满足 系统
CI RS M遮光罩组 件见 图 l 图 2 它 由一个复 和 , 合材料圆筒和 3 内光栅组成。最上面的顶板由钛 个
( 北京空间机 电研究所


文章介绍 了空间遥感相机遮光罩的结构特 点及其功能。重点介绍 了一种用于可见 一红外光
空间相机 遮光 罩 研 制
谱仪上的轻型遮光罩, 该仪器安装于 20 年美国发射的火星勘测轨道飞行器( R ) 05 M 0 上。
关 键词
S e gL i C e ig S n D n h a h n e h nPn u o g u
遮光罩既能遮挡部分地气光和除地气光之外 的 其它杂光进入窗 口玻璃和相机镜头 中, 又可利用遮
光罩长度和遮光罩 内的光栅及 表面材料特性 , 最大
霍普金斯 大学应用 物理学实 验室 ( PJ A I 设计 和制 ) 造, 用于寻找火星上水沉积物 的证据和绘制火星表
面地质和矿物 图。C I RS M遮光罩的结构形式为 内部 嵌有多个光栅 的圆筒 , 遮光罩组件由高热导率、 高模 量的沥青基碳纤维复合材料制成。文章简要介绍该 轻型遮光罩的研制情况。
4 2
盛磊等 : 轻型空 间相机 遮光罩组件的研制
2 结构设计
CI RS M遮光罩组件所处的环境条件远比大多数
航天器要复杂。C IM仪器和相连的遮光罩组件 的 RS 刚度要求是必须能够经受 3 的准静载荷 , 0g 因此要
求其 固有频率要大于 8 z R 0H 。M O航天器进入火星
( 铝蜂窝或 Nm x o e 蜂窝等 )在裸露蜂窝的表面喷涂 , 无光黑漆, 以确保在相机工作谱段范围内, 吸收系数

空间光学系统杂散光抑制设计与仿真

空间光学系统杂散光抑制设计与仿真

空间光学系统杂散光抑制设计与仿真
空间光学系统杂散光抑制设计与仿真是一项应用于航天领域,为保证星表精度和目标探测性能的关键技术之一。

在空间环境下,由于宇宙尘埃、飞船垃圾、太阳辐射等因素的影响,光学系统会产生大量的杂散光,从而降低系统成像质量。

因此,需要通过改进光学系统的设计和优化反射镜的形状、控制系统的热漂移等方法,来抑制杂散光的产生和传播。

典型的空间光学系统杂散光抑制方法包括:使用靶面和反射镜来选择入射光线,掌握杂散光的路径和抑制措施,设计灰度均匀的光阀,使用颜色选通滤波器和相位板等。

同时,还需要进行光学系统杂散光的仿真和评估,模拟不同情况下的光学成像效果,并通过比较结果,选择最优方案进行实际应用。

总的来说,空间光学系统杂散光抑制设计与仿真是一项复杂的工程技术,在实际应用中需要考虑多方面的因素,比如光学元件的制造和安装误差、环境因素的影响、成像质量的要求等。

内掩式透射地基日冕仪中杂光鬼像的消除

内掩式透射地基日冕仪中杂光鬼像的消除

内掩式透射地基日冕仪中杂光鬼像的消除卜和阳;卢振武;张红鑫;孙明哲【摘要】为了消除杂散光对日冕仪成像质量的影响,分析了工作波段为530~ 555 nm的内掩式透射地基日冕仪(其视场为±1.1~3R⊙,分辨率为13.5 μm,口径为120 mm,系统F数为8.2)物镜的多次反射形成的鬼像.基于鬼像形成原理,完成建模模拟,提出了结构性遮拦措施,并通过实验论证了遮拦结构对鬼像有良好的遮拦效果,同时验证了鬼像的光强和物镜边缘衍射光基本一致.实验还显示:鬼像的尺寸和模拟基本一致,直径均约为0.9 mm.消除鬼像后,内掩式透射日冕仪消杂光能力和成像质量进一步提高,实现了对日冕的有效观测.【期刊名称】《中国光学》【年(卷),期】2013(006)002【总页数】6页(P231-236)【关键词】内掩式透射地基日冕仪;鬼像;杂散光;结构遮拦【作者】卜和阳;卢振武;张红鑫;孙明哲【作者单位】中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电技术研发中心,吉林长春130033;中国科学院大学,北京100049;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电技术研发中心,吉林长春130033;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电技术研发中心,吉林长春130033;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电技术研发中心,吉林长春130033;中国科学院大学,北京100049【正文语种】中文【中图分类】TH754;TH751日冕是太阳的外层大气,不仅有高速外流的太阳风,还有强烈的日冕物质抛射(CME),会发射出很强的紫外和X射线辐射。

日冕的活动与日地空间环境及空间通讯有着密切的关系,而且影响太空环境及地球磁场等,所以对日冕的观测,尤其是CME现象的观测,可以对影响地球及日地空间的灾害性天气进行预警。

根据对日冕的监测资料可以深入研究和理解CME的成因以及CME与周围日冕结构、日冕活动(例如耀斑,日珥的爆发以及日冕震荡等)的相互作用。

“高分四号”卫星相机杂散光分析与抑制技术研究

“高分四号”卫星相机杂散光分析与抑制技术研究

“高分四号”卫星相机杂散光分析与抑制技术研究石栋梁;肖琴;练敏隆【摘要】“高分四号”卫星相机工作在杂光环境严峻的地球静止轨道,必须进行深入的杂散光分析与抑制设计以减小杂散光的影响。

文章分析了相机的杂散光来源,介绍了适合“高分四号”卫星相机的杂散光评价指标,并结合“高分四号”卫星相机太阳规避分析和相机R-C光学系统特点分析,详细设计了主遮光罩及挡光环、蜂窝结构的次镜遮光罩、中心消光筒及挡光环、杜瓦内多级冷屏等杂光抑制结构。

在此基础上,建立了相机结构的几何模型和表面属性,利用Tracepro杂光分析软件分别对“高分四号”卫星相机的各个通道进行了杂散光分析,并根据分析结果对相机的杂光指标进行了计算和评价。

计算得到了可见光和中波红外两个通道的杂光系数以及不同角度下的点源透射比曲线,其中可见光通道杂光系数1.1%,中波红外通道杂光系数0.63%,两通道的点源透射比均低于1×10–6。

最终结果表明,“高分四号”卫星相机杂光抑制措施有效,各通道杂光抑制效果良好。

%GF-4 satellite camera works in an environment with severe stray light, so stray light analysis and suppression must be done in-depth. Stray light assessment indexes (inclued veiling index and point source transmittance) are introduced in this paper, which are applicable for GF-4 satellite camera. By analyzing the stray light sources and avoiding of sunlight invasion, together with characteristics of GF-4 optical system, baffles, vans and other stray light restrain structures are designed. Stray light analysis is done in each optical channel of GF-4 satellite camera, and with the result of analysis, stray light index is calculated and assessed. Results show that the veiling index of visible channel and middle infrared channel are 1.1% and0.63% respectively, the PSTs of both channel are less than 1×10–6. The results indicate that stray light restrain structures get its effectiveness and GF-4 satellite camera has a low stray light level.【期刊名称】《航天返回与遥感》【年(卷),期】2016(037)005【总页数】9页(P49-57)【关键词】杂光系数;杂散光分析;杂光抑制;“高分四号”卫星;光学遥感相机【作者】石栋梁;肖琴;练敏隆【作者单位】北京空间机电研究所,北京 100094;北京空间机电研究所,北京100094;北京空间机电研究所,北京 100094【正文语种】中文【中图分类】V447+.1“高分四号”卫星工作在36 000km的地球静止轨道(GEO)上,能够对关注区域进行实时观测,满足连续长期监测的需求。

薛梦轩—空间相机设计与试验

薛梦轩—空间相机设计与试验

仪系列中的顶级产品,几乎可测量
所有类型光学系统的光学参数。 光谱范围:UV:190—400nm;NIR:700—1000nm;MWIR3—5µm 最大通光口径:450mm; 样品承载重量:50kg 测量方位角:360度
德国TRIOPTICS GmbH公司
德国TRIOPTICS GmbH公司 设计的ImageMaster&Universal 是ImageMaster光学传递函数测量
胶片型空间相机—典型恒星相机设计案例
光机扫描仪—概述
光机扫描仪是光学机械扫描式 多光谱扫描仪的简称,是星载遥感
系统中最早使用的传输型遥感器之
一,又称多光谱扫描仪。其利用反 射镜扫描成像的方式扩大了观测市 场,是最早的实现星载遥感之一。
光机扫描仪—组成
光机主体
光机多光谱扫描仪一般组成系统
电子线路硬件
焦平面列阵凝视成像探测器件画幅式拍照
空间相机特点
能经受剧烈震动、过载冲击、噪声等恶劣力学环境 能在真空/低气压下工作,考虑大气与真空折射率差异 快门或其他活动部件在真空环境下工作,要防冷焊设计 适应空间 特点 环境特殊: 技术措施 地面装校检测环境,有机材料真空挥发可能造成光污染 地球辐射带离子辐射会降低透过率,甚至不透光
因为输出图像的对比度总小于输入图像的对比度,所以MTF值介于0~1之间。 MTF越大,表示系统的成像质量越好。
空间相机基本技术指标—光谱特性和谱段选择
空间相机的光谱特性包括光谱范围、谱段宽度和数目及光谱分辨率。
光谱范围:指相机获取图像来自的光谱段 谱段宽度和数目:反映了谱段的设置要求
光谱分辨率:是指在光谱曲线上能够区分的两个相邻波长的最小间隔。
2 主要内容
空间相机基本技术指标

“资源三号”卫星多光谱相机技术

“资源三号”卫星多光谱相机技术

“资源三号”卫星多光谱相机技术范斌;蔡伟军;张孝弘;黄颖;焦文春【摘要】The multi-spectral camera mounted on ZY-3 satellite has been developed according to the requirement of a mapping camera. Many advanced techniques have been adopted for image quality of the camera. High MTF and low distortion of the lens with wide field of view have been reached by off-axis TMA system. High stability has been achieved by flexible fixing technique. The radiometric quality of the camera system has been improved by high integration and low noise technology of the electrocircuit. By testing in orbit,the functions and performances of the camera are completely meet and some beyond the requirements. The camera intrinsic parameters remain stable. After geometrical test and correct ,the location accuracy achieves high level. The paper describes the technology of design, fabricating, alignment and tests of the camera. The result will be usefull for the development of other similar cameras.%"资源三号"多光谱相机按照测绘相机的要求开展研制,采用了离轴TMA光学系统、柔性卸载技术、高集成与低噪声电路技术等多项先进技术保证相机成像品质,在轨测试显示,多光谱相机功能、性能满足研制要求,关键项目性能优于指标要求,内方位元素保持高精度稳定,经过几何检校后,定位精度达到国际先进水平。

【doc】星载光学遥感器消杂光技术现状与发展

【doc】星载光学遥感器消杂光技术现状与发展

星载光学遥感器消杂光技术现状与发展.一中国空间科学技术995年6月CHINESESPACESCIENCEANDTECHNOLOGir第3期星载光学遥感器消杂光技术现状与发展郝云彩肖淑王丽霞(j.,北京100076)7了.?菇,{)擅要通过对国内外杂散辐射理论发展状况的研究和消杂光技术的探讨,归纳出杂光技术领域目前的国际水平以及该项技术的发展趋势}分别从散射理论,分析软件,测试造径以及杂光抑制措施等7个方面,力圈全面系境地阐述该嘎技术的诸方面内容.文章从国情出发,根据当前中国消杂光技术琬状和未来高水平空间遥感器的要求,提出下一步中国消杂光技术发展的建议.主_调杂散光散射抑.J卫星追感方法宪勰日考}钚1前言70年代以来,随着军事,地质,测绘,环境,资源以及宇宙探索等各项领域里越来越多地对高性能空间光学遥感器的需要,迫使人们投入大量的人力物力重新研究曾一度被忽视而又直接影响到成像质量的杂光问题.杂光的概念笼统地说就是光学系统中除了成像光线外,扩散于像面上的其它非成像光线.它包括来自系统外部的辐射源(如阳光,地气光等)和内部辐射源(如光学元件,结构件等)以及散射表面的非成像光能量.其危害是;降低像面对比度和调制传递函数;使整个画面的层次减少,清晰度变坏,严重时会形成杂光斑点.所以人们从2O年代起就开始了杂光研究,通过70年来尤其是近2O年的研究,杂光理论与杂光分析得到了较快的发展人们普遍认为,杂光问题的研究还要从下列几个方面探索】:杂散辐射理论,系统杂光测试,杂光分析及软件,BRDF数据及设计,杂光抑制设计,污染效应等对于消杂光技术,我们应打破传统观念的那种仅围绕着各种光阑设计和涂层设计的局限,更新的观念应是在所建立的各种物理模型数学模型的基础上,依靠所测得的大量双向反射分布函数BRDF数据,利用大型的杂光分析软件评估初始设计,促使不断完善,最终收稿日期ll99I一09—2O1995年6月中国空间科学技术设计的加工初样应进行系统杂光测试,然后,根据其结果来判定分析设计的可靠性,并且修改局部不合理设计,以求得到改善这样设计专家的设计依据不仅是靠经验和简单的光路设计,而且利用了带有散射物质特性数据库的大型杂光分析软件围绕这一设计过程所出现的每一问题,如各种材料散射特性,BRDF测试设备,BRDF数据,各种挡板散射,衍射模型,红外透光物质散射模型,红外光机扫描系统的水仙效应.控制衍射能量空间分布的窗口整形技术等.都已形成了可独立研究的较大课题所以,一个大型的杂光分析软件就是这些研究成果的综合利用.80年代以来.国际上许多空间研究公司都已充分认识到BRDF的用途,并用它定义表面散射特性,出现了大量商业化表面BRDF数据库,已确立了ASTM公司标准,通过对某些系统实测与分析比较韵结果来看,两者符合较好….虽然如此,这个领域里仍存在着薄弱环节,如波长大于30Fm的BRDF数据是不足的或不可靠的,污染效应研究时间不长,至今未出现其分析软件等.总之,自70年代以来,国际上杂光研究侧重点已由杂光测量转向杂光分析.杂光测量作为最终设计评估的手段仍然发挥着作用,只不过没有以前那么重要了测量与分析结果比较表明:某些理论分析精确性巳接近测量精确性.除了污染分析软件以外,国外各种分析软件包齐备,且是大量的相比之下,中国在该领域则属刚刚起步的阶段,所以大力发展中国杂光分析和测量技术不仅是急迫的而且是将来空间光学遥感器上水平所必须的.2关键技术及研究水平杂光技术目前已经发展成为分支繁多,涉及学科很广的--P1综合技术其关键技术可归纳为:①系统杂光测试;②散射理论}③材料研究|④Bm)F设备与测量l⑤分析软件;⑥抑制设计|⑦污染效应这7项技术既是独立研究的课题,又是相互联系的整体杂光测试作为杂光分析的评价手段,仍不可缺少;散射理论,BRDF数据,污染效应,材料特性等都是分析软件研究的基础{而分析软件又是抑制设:十的必备工具国内对于杂光的研究可以说刚刚起步,与国外相比差距甚远-但可喜的是,也有许多尝试性的工作已经开始,如用有限元法计算星相机遮光罩的专用程序,用蒙特卡洛方法进行星载扫描仪杂光分析的程序,光学系统鬼像分析程序(GHOSTV1.O)等.这些工作说明中国光学界已经从单纯讨论杂光问题的重要性转而向进行试验与分析迈进,并取得了一定的成绩.为了能对杂光领域各项关键技术及其发展水平有个概括的了解,我们从基本概念人手,阐述它们的发展状况.2.1系统测量由于杂光影响了高性能光学系统的成像质量,所以早在本世纪20年代就有人开始系统杂光测量研究工作,到了70年代,这项技术已趋完备.杂光测量一般是指对镜头的杂光系统测量和对光学遥感器系统的杂光抑制特性测量.前者只能在若干假定条件下定性地评价镜头对杂光的抑制能力,后者则可以根据不同需要定量地培出下列数字量:轴外杂光抑制中国空间科学技术1995年6月(oAR),视场外的杂光抑制(oFvR),杂光抑制(SLR),遮挡衰减(BA),点光源抑制比(PSRR),点光源透过率(IST),规范化的辐照度透过率(PSNIT)等.轴外抑制(税场外抑制比)为轴外的杂光源射入系统.其入射能量与到达像面上的能量之比.点源抑制率为对某一给定轴外位置的光源(一般采用激光光源)射人系统到焦平面上的杂光能量与入瞳处杂光能量之比.遮挡衰减是像面的杂光辐射与入瞳的杂光辐射之比.上述量的范圈是10~1O'.系统杂光测试设备有多种,水平也不尽相同,美国加里福尼亚州田纳西阿诺尔德中心开发部设有国家级测试水平的系统杂光测试仪,这是唯一能在真空和低温环境下对整个传感器系统进行测量的仪器.一般采用高能激光光束,以一定轴外角度射入光学遥感器系统内,在像面上检测到达该处的能量,其输入输出能量之比,即为该轴外角度下的杂光衰减比或抑制比.图1为这种测量的典型范例].由于测试精度要求高,测量须在浩净度100级的真空罐暗室中进行.杂光系数为:放在亮度均匀无限大的面扩展源一点上的绝对黑体.由镜头所成像的照度与周围照度之比K;1I/(1.+lt)(1t和j.分另j表示正常成像光线和非成像光线照度).杂光系数的测量普遗采甩l黑斑法,但由于投有统一的测量标准.不同仪器测出的杂光系统可比性差,国外已有学者在比对条件方面作了探讨.图1测量系统图2.2啦射理论70年代,随着对杂光分析的需要,促使人们测量各种基底的双向反射分布函数(BRDF),从而推动了学术界研究,发展并运用表面散射理论.由于人们研究的出发点和角度不同,所以出现了多种不同的理论,根据分类的不同归纳如下.按所应用的理论层次分.可分为几何光学散射理论(适用于≥1.O)和物理光学散射理论(适用于口/^≤1.0).1995年6月中国空阃科学技术在几何光学散射理论中,按抽象的表面类型分有:镜反射点(Specularpoints)散射理论和斯帕罗(Sparrow)博士的Mirror--LideFaces散射理论.在物理光学散射理论里,按方法的物理基础分,有标量散射理论和矢量散射量理论}按方法的数学工具分,有基于微分方程的格林函数解法积分理论和基于微扰解法的理论.各种散射理论虽产生的背景不同,但都能对适合自身条件的基体表面进行分析.这里我们仅以两种典型的散射理论——矢量理论与标量理论为例加以介绍.标量理论是建立在标量衍射积分基础上,由戴维斯(Davies)和哈维(Harvey)导出来的.标量理论把全积分散射(TIS)和表面均方根粗糙度(口)联系起来,规定≤1.0?如表面度成高斯分布,则标量理论可预测入射光的TIS.TIS=1一exp[一4≈(4xo肛)0该公式不考虑偏振光,标量理论在预测散射与角的关系上是不够理想的.角散射依稹于微观不规则的高度与斜度{矢量理论考虑了偏振光和表面粗糙度的统计特性.主要是丘奇(Church),埃尔森(Elson),马文(Marvin)等人发展起来的,巳证明】:BRDF;FA××'式中=(2)'为波长因子{F.——绝缘常数值}F.一表面因子函数,由表面高度自动修正函数的傅立叶变换得到{F.=20212x(1+P?.),P为空间分辨率,声一2~(sing,一sina)/~,为入射角,日为平面内散射角.沃尔夫(Wolfe)和王(Wang)曾在一个单一样品上把实测与预测的s8,PP偏振光的数量及双向反射分布函数BRDF作了比较,除了as,PP外,其余吻合较好.说明通过这种理论建立的BRDF与RMS间的关系是可靠的,巳知表面特性即可求取表面散射特性.8O年代理论的发展,大多引用了前面所做工作的成绩,在理论研究中贡献较大的是美国EugeneL.Church和Peterz.Takas等人,其主要研究论题[1是;①BRDF与RMS的关系{②表面下散射和体积散射{③仪器效应;④抛光表面的光学与机构测量比较,.⑤不同放大目标的断面测量比较I⑥测量中的空间带宽作用和次级统计特性{⑦x射线散射{⑥金刚车削表面散射}③按Fracatal理论散射.对基础理论研究的另一个卓有成就的学者是美国的AlanW-Greynolds.其主要贡献是加强了APART/PADE程序功能,开发了ASAP光学软件,解决了折射材料的散射问题,还有2一DFracta[理论,双椭圆反射体及3一D衍射效应等.随着散射理论研究的不断深入,光学表面镀膜的散射也逐渐引起重视,由于层与层之间,膜层与基底之间粗细结构都不相同,所以这个问题较为复杂.到目前为止,散射理论虽然在某些细节上仍存在着不同程度的争论,但基本原理已经44中国空问科学技术1995年6月确定了.我国在此领域已有所进展,长春光机所应光室已对国外许多散射理论作了在国外原有小镜面散射理论基础上修改了遮挡因子,给出了散射表面较为合理的分布函数模型I同时也做了部分材料的表面散射试验.这些工作的深入将促进我国杂光分析软件的研制进程.2.3材料研制散射特性的决定因素是基体材料和表面粗糙度,材料包括基体的材料和涂层的材料.在过去的十几年中多次掀起对材料研究的热潮.从杂光的观点来看,不外乎对下列材料特性进行研究"]:低BRDF散射,吸收材料,尤其是远红外波段(大于50pxa)涂层材料的强度,特殊光学表面的双向散射分布函数(BSDF)等...对于消杂光材料的研究.国内仅少数单位在进行.而国外学者在这方面研究较多.s? 施密斯在NASA的AMESc~j做的工作表明:较薄的涂层已演变为透明涂层,散射特性除与表面RMS有关外,与基片特性也有关系此外,空间惯性基准设备(SPIRE)和克奥克里奇(OakRidge)国际试验室开发出一种难辐射挡板,这对于红外波段的杂光消除无异具有特殊意义.常规抛光表面的粗糙度已经明显降低,这种改变对散射的降低很有效,能使BRDF的数量级达到1O~.在加工工艺上也有突出的成绩,小于2×1Om的RMS粗糙度已在一些表面上完成I通过对光滑表面的抛光,改善了零件的散射.在非旋转对称的金刚石抛光表面上,粗糙度RMS已有明显下降.在一些特殊抛光表面上已实现了1O×1OI1m到15×10I1.m粗糖度I一般可期望50X10m的RMS,而对于一些特殊需要的表面,BRDF也随之降低.所有这些都表明,在材料工艺上采用难辐射,高吸收,超光滑表面对散射降低是大有好处的.2.4BRDF设备与溺量当材料选定后,人们关心的是该材料基体表面的散射特性,表面的散射特性是由反射情况下的双向反射分布函数BRDF或透射情况下的双向透射分布函数BTDF来表示的.每个方向函数是两个角和的函数,可表示为BRDF(8,,日,,毋)一等J,式中dLr是表面反射辐亮度}dE-是入射辐照度.光散射特性BRDF的测量属于弱信号的检测问题,对于不同粗糙度数量级的表面,散射光强的分布是不同的,因此测量装置也就不同.已有许多文献讨论过光散射试验方法0,并且设计了多种测量系统"].但基本原理都是相近的,如图2所示.利用激光器,扩束器和平行光管等形成某一波长的会聚光束,经反射镜照到样品上,入射角由样品旋转台控制,反射角由可旋转的辐射计转台控制.根据辐射计读数可得到归一化的BRDF结果P(IR,.0)/a(孵,孵,0),根据这些结果可以画出其BRDF曲线.由于粗糙表面主要是凌反射,散射光强分布曲线变化较平滑.反射信号存在的角度范围较大?要求探测器的测角范围也较大.而光滑的表面,散射光强主要集中于反射方向上.而其周围信号相当弱,要求探测器具有较高的灵敏度.对于有一定曲率的表面要求1995年6月中国空间科学技术圉2BRDF嗣试原理蔼,反射镜的实验技术.BRDF测试方法有多种,普遍采用的是参考样品的比对法,它是成对测量的,一是参考样品,一是未知样品.比对方法是一'v.t丑EAeos0.cos钆Ad/d.t式中,——分别是未知样品和参考样品的表面反射分布函数},——测量未知样品和参考样品时的电压值}',r,——光束路径透过率}R,,足——探测器响应;E,——入射光束在表面上的入射照度IA|,A,——样品表面的光照亮面积;,——反射光束与样品法线夹角I也——探测器接收面积}——探测器上的光能入射角}d,——探测器到样品距离.成对测量时,如果每对测量的角度和空间光路的几何路径不变,则有;?V./(2)由式(2)已知参考样品的,就可以得到未知样品的习惯上专门测量挑选具有近似朗伯特性的表面作为标准参考样品.在可见波段一般选用MgO和NaC1,更好的还有镀金砂纸以及近年来发展起来的陶瓷样品,在红外(小于10.6/tm)可用硫磺作为参考样品.当前的BRDF测试仪器在探测0.44/tm以下和2m以上的谱段时,所面临的困难仍是能量不足的问题,为此,J?Grammet,W.Wo1fe和Shcldon.Smith进行的先驱工作可以测量50~tm以内波段的几乎所有商业表面.比较有名的测量者要属美国的汤姆-伦纳德(Tom.Leonard),他在1987~1989年间分别进行过两次"循环法表面BRDF测试,都证明了标准样品的BRDF数据会随着洁净和处理控制的不同而发生变化,不同样本变化量不同,这就涉及到BRDF数据标准化问题.国际标准和技术组织(NIsT)正在建立BRDF国际参考标准网络,该网络的实现无疑对可见光,红外,近紫外波段参预评估具有重要意义.国内在BRDF测试工作上起步软晚,与国外相比还存在一定差距,仅有少数几家单位拥有BRDF测试设备,所以要想发展我国杂光分析软件,应首先增加投资,以求得突破性中国空间科学技术1995年6月进展2.5分斩软件杂光计算最早大约始于1936年,美国R.A.Hull率先利用一种新方法计算了平行平板堆的杂光率,以后加拿大,美国,日本等国学者都相继用不同方法对杂光进行了计算,归纳起来其计算方法有①蒙特卡洛法I②区域法}③光线追踪法}④光线密度法;⑤近轴近似法.各种不同的软件完成相同或不同的功能,下面介绍几种70年代和80年代普遍使用的权威性杂光分析软件.(1)APART/PADE和GUERAPI这两种软件是70年代末美国杂光软件发展的两大代表性成果.GUERAPI是美国军方资助霍尼韦尔(Honeywel1)公司发展起来的杂光分析软件它以改进的蒙特卡洛法作为基础,模拟散射,热辐射,衍射以及追踪真实的光线,能给出传播路径,图表,处理非线性光学路径,散射光学表面,复杂表面横断面,闪烁效应等]增强的版本有GUERAPI—Pc,最大特点是能较好地处理复杂的非旋转对称系统(如椭圆,桂形),缺点是计算量大,而且对.重要光线要加权.这对没有经验的用户来说不易把握,丰l孽度受到模型丰l孽度和追迹光线数目的限制.APART/PADE是NASA资助亚利桑那大学光学中心发展起来的.现已到8.7版本. 它是一个基于近轴衍射的分析软件,能用Y—Y图,近轴近似,球面法和实际光线追迹进行处理散射,衍射或热辐射能量传递,能找到或定义一系列被接收器所"看到的危险物体.其特点是能处理辐射能量传递,并处理旋转对称系统,不足的是受计算机内存容量的限制.PAPRT程序中分段区的极限数目是66,对于大型复杂的光学系统其计算丰l 孽度就远远不够了.(2)OARDS和ASAPORADS是一种利用光线追踪的杂光分析软件包,它是体斯(Hughes)飞机公司的D?罗克研究了多年的成果.能计算复杂的几何体镜反射和散射能量的传播.发现.危险"物体,计算散射光,衍射光,热辐射效应,也能计算实际任意类型的光学系统非连续光线的追踪和鬼像,3一D图表,点源透过率(PST)}它能估算非镜面多次散射,生成光线路程,而且能进行扩展光源积分和光线拦截计算.ASAP也是一种利用光线追迹计算的光学分析和杂光分析软件包.该软件包除OARDS全部功能外还能计算散射,衍射,热辐射,干涉,相干和非相干传播渡前特性,多色效应,薄膜片涂层,偏振,梯度折射率材料,相位增益与相位衰减材料,波前分离鬼像,多重像面;也能处理任意在—Y—z方向的6次以至于12次非球面,并有一个广博的容量?由多个光学设计程序相联系,如CODE--V和Synopsis等此外,还有一些实用的软件也得到了相应发展,如MINIAPART,STRAY.FOOPAC,OSAC,SOAR等,也都具有较强的功能.国内软件研究已经起步,倒如初步鬼像计算程序GHOSTV1.0;星相机遮光卓杂光分析的有限元法专用程序{蒙特卡洛法计算星载扫描仪的杂光分析程序等都在一定条件下对杂光进行了分析.但未能对热辐射等进行分析,许多模型与实际情况存在的误差还有待进一步完普,虽然如此,这些工作毕竟说明我国杂光分析工作已经开始,且为今后的发展奠1995年6月中国空问科学技术47定了基础.2.6抑制设计.为了抑制杂光到达像面,保证仪器的信噪比要求,必须对光学遥感仪器进行杂光抑制设计.对于使用目的不同的仪器,除具有不同的性能参数外,其信噪比要求也各不相同,如星敏感器要求在5以上,而对观察相机的信噪比要求则是另外值.所以杂光抑制设计是各有其特点的,但一个好的抑制系统来源于一个充分考虑消杂光能力的光学设计.目前光学设计已有新的转变:离轴系统设计更加流行;某些情况下要排除中心遮拦与支撑,次镜周围的附加反射体结构和主镜周围的附加挡板结构;利用视场光阑和立奥光阑的二次成像仪器正在使用,新式的非成像设计正在运用.所有这些改变,其目的之一是减少杂光影响.一个良好的光学设计不能代替消杂光系统,只是为消杂光提供了方便,通常杂光抑制方法有以下几种:①光阑和挡光板控制,②涂层吸收;③温度控制;④污染控制.光阑控制法是通过变迹术来达到的.通过改变光阑的衍射边缘形状来控制衍射光空间分布.此外,光学设计中的视场光阑,孔径光阑,立奥光阑也都可用于杂光控制.每种星相机系统都有光学挡扳结构,有的是以单片形式出现,有的是以一组挡板排列.一般星载相机的光阑结构有t孔径光闷,立奥光蔺,降低边缘散射的刀口叶片,参差叶片,不等间距叶片,等间距叶片,混合叶片"等.各种叶片的设计原剜是最大限度地遣拦杂光进入探测器.涂层吸收法是通过涂层材料对杂光的吸收来达到抑制的方法.目前这种方法仍然普遍采用,各种涂层材料的散射特性在国外一些空问遥感器研究公司是基本齐备的,用户可根据需要加以选择"].温控法是对系统的"危险"物悻的温度加以控制,使温控后的基体在成像谱段范围具有最低的辐射率.一般红外光学系统的"危险结构部件都需要温度控制以降低杂辐射.污染控制法是利用击除污染的各种方法,如:释气处理,喷雪花效应,离子击除法,紫外线辐射uv清洁等都是对光学表面清洁以降低其表面散射的方法.研究表明,表面RMS粗糙度的降低,会减少表面散射,而污染的消除也就是相当于RMS的降低,所以国外许多杂光分析专家正致力于此.还应强调的是杂光的抑制设计离不开杂光分析与杂光实验的配合.一个好的抑制设计经常是反复修改,反复实验得出来的最优结果.杂光抑制的模式可用图3说明.,一,目前,国内星载相机杂光抑制设计基本是根据卫星所处的空闻工作环境(轨道,太阳光照射角等)和星载相机的消杂光指标,靠简单光路计算,或借鉴国外消杂光结构形式或凭经验进行.虽然近年已有人做过杂光分析的初步探讨,也有的单位在杂光测量上做了不少的工作,但至今国内仍缺少一套对星载光学遥感器进行系统图3杂光抑翻设计模式中国空间科学技术1995年6月杂光测试的设备,且软件的研究也缺少实验的支持.例如把散射表面假设为均匀朗伯体表面,这和实际是不相符的.对于那些中分辨率以下的空间光学遥感器凭经验进行杂光抑制设计似乎还没有致命的问题,然而对于下一代中分辨率以上的空间光学遥感器的研制,杂光影响必将成为其发展的一大障碍.美国7o年代以来对杂光问题所进行的大量研究,正是基于这种形势而兴起的.因此,迅速发展我国的杂散光分析软件,大型系统杂光测试设备和BRDF测试设备是下一代空间光学遥感器研制所必须解决的关键技术之一. 2.7污染拉制70年代末,80年代柄,由于光学设计水平和加工工艺的提高,许多高性能空间光学遥感器光学表面RMs粗糙度已降得根低.由此污染问题却被暴露出来,且越来越被重视系统的污染原因是由有害环境造成的.气体中的粒子,分子及材料挥发出的分子都可能成为污染的来源.其危害是使散射增加,使杂光抑制能力部分失效(如利用反射面技术来控制杂光方向的情形).同时它还增加表面辐射率,从而增加热背景,影响传感器使用寿命.在红外工作区,污染影响尤薰,因为红外焦面处于低温环境,低温能增加分子,氧原子在探测器表面的"粘贴对问,易形成污染层.低温沉淀物对BRDF有根大改变.阿诺德(Arnold)的研究结果表明,由CO:和Ht0所形戚的低温杭淀物能使10.6btm的BRDF增加5,6个数量级.'对于污染的研究,罗马航空开发中心(RADC)做了大量的工作,这些工作集中于用28。

一种计算空间遥感相机黑斑法杂光系数的仿真建模方法

一种计算空间遥感相机黑斑法杂光系数的仿真建模方法

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用蒙特卡罗法数值模拟CCD相机的杂光

用蒙特卡罗法数值模拟CCD相机的杂光

用蒙特卡罗法数值模拟CCD相机的杂光
王平阳;夏新林
【期刊名称】《中国空间科学技术》
【年(卷),期】1999(019)002
【摘要】采用蒙特卡罗(Monte-Carlo)法对卫星CCD相机的地气杂光进行了计算。

主体段杂光系数的计算值与用积分球实验测量值属同一数量级,表明该方法和计算软件具有一定的可靠性;分析计算值与测量值产生偏差的因素发现,热物性参数的不确定性对数值模拟影响很大。

分析了遮光罩长度、反光镜扫描角度等变化对杂光系数的影响,结果表明,遮光罩长度不变,而反光镜的扫描角度为45℃时,光线的进入比例最大,而杂光系数最小。

【总页数】6页(P60-65)
【作者】王平阳;夏新林
【作者单位】哈尔滨工业大学;哈尔滨工业大学
【正文语种】中文
【中图分类】V445.8
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钱伟新;李泽仁
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第17卷 第3期2009年3月光学精密工程Optics and P recision EngineeringVo l.17 N o.3 M ar.2009收稿日期:2008-09-05;修订日期:2008-10-27.基金项目:国家863高技术研究发展计划资助项目(N o.2007A A 12Z113)文章编号 1004-924X(2009)03-0621-05空间相机消杂光设计及仿真钟 兴1,2,贾继强1(1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033;2.中国科学院研究生院,北京100039)摘要:针对空间相机中的杂光会引起像质模糊和对比度下降问题,设计了空间相机消杂光机构。

研究的空间相机基于同轴三反系统,消杂光机构主要由内外镜筒、视场光阑、里奥光阑和挡光板组成。

在内外镜筒的设计中参考了卡塞格林系统的设计方法并利用CA D 建模进行辅助设计。

为了对消杂光效果进行评价,采用了基于计算机随机光线M onte -Car lo 仿真方法。

介绍了对表面的散射特性进行描述的双向散射模型、关键面的选取和模型的建立。

利用计算机分析得到了空间相机的杂光系数和点源透射比的曲线,子午方向+10b 入射的杂光在像面造成的杂光系数在0.35%以下,0~20b 的非成像视场点源透射比为10-6量级,该结果可作为进一步优化设计消杂光系统的参考依据。

关 键 词:空间相机;同轴三反;杂光;仿真中图分类号:V 475.2;V241.03 文献标识码:AStray light removing design and simulation of spaceborne cameraZH ON G Xing 1,2,JIA J-i qiang1(1.Changchun I nstitute of Op tics ,Fine Mechanics and P hy sics ,Chinese A cademy of S ciences,Changchun 130033,China;2.Gr aduate Univ er sity of Chinese A cad emy of Sciences ,Beij ing 100039,China)Abstract:A stray light removing m echanism is designed for improving imag e contr ast and im ag e de -blurring in a spacebor ne camera.T he spacebo rne cam era researched in this paper is based on on -ax is Three M ir ror A nastigm atics(T M A),and the stray light r em oving m echanism co nsists of inner and outer baffles,field stop,Lyot stop and blocking board.Cassegrain system is taken as a reference in the CAD modeling fo r desig n of inner and o uter baffles and the random light Mo ente -Car lo simulation method is adopted to evaluate the effect o f str ay light r em oving.M oreover,the Bidirectional Scattering Distribution Function(BSDF)for describing the scatter char acter of surfaces,cho ice of key surfaces and the establishm ent of model are introduced and the stray light ratio and Point Source T ransmittance (PST )curv es ar e acquired by computer analysis.Results show that the stay lig ht ratio is below 0.35%w hen stay light incidents at +10b m eridional direction and the PST is at the level of 10-6in 0~20b .These results can o ffer a g ood reference for the further optimization design.Key words:spaceborne camera;on -axis T hree M irror Anastigmatics(TM A);str ay lig ht;simulatio n1引言空间相机的杂光指到达光学系统像面的非成像光线,它对光学系统的影响表现为像面对比度的下降,从而引起传递函数的退化和信噪比的降低。

特别是对于以光谱细分应用为目的的光学遥感设备如成像光谱仪,杂散光可引起光谱响应的失真。

杂散辐射的主要来源分为3类[1]:(1)外部辐射。

对空间光学遥感器而言主要指太阳光、地物散射光和大气漫射光。

外部辐射经光学系统内部多次折反射到达探测器。

(2)内部辐射。

指电机、温控热源等产生的红外辐射。

(3)成像光线非正常传递。

指由于路径中光学表面引起的杂散辐射。

第二类和第三类杂散光主要针对特定的成像系统而言,而第一类杂散光则普遍存在于所有的成像光学系统中。

本文研究的空间相机基于同轴三反光学系统,其口径达到5500mm。

同轴三反系统具有筒长短、焦距长和相对孔径小的特点,可以看作是从卡塞格林系统演化而来,它与卡塞格林系统的共同点是具有同轴安装的主镜和次镜。

因此,在本文的研究中,主镜和次镜间的消杂光设计借鉴了卡塞格林系统的设计方法。

对于消杂光效果的测试,实验室主要采用整体包覆后用积分球测试的办法。

本文采用计算机仿真评价消杂光效果,得到了该光学系统加上消杂光措施后的特定入射角度杂光的杂光系数曲线和大角度范围内的点源透射比曲线。

根据得到的结果,认为本文的消杂光设计可满足空间遥感的应用要求。

2消杂光设计消杂光机构主要由内外镜筒、视场光阑、里奥光阑和挡光板组成。

内外镜筒可消除大部分一次杂光,其内部挡光环采用多级设计;视场光阑放置在一次像面处;里奥光阑放置在出瞳处,消杂光的同时可控制轴外像点弥散;挡光板位于光路的折叠部分,可消除直接入射到焦平面上的残余一次杂光。

光路和内外镜筒的示意图如图1所示。

主次镜之间为了尽量减少杂散光到达一次像面,采取的措施是加上外镜筒、内镜筒和次镜遮图1消杂光设计光路Fig.1Optical path o f st ay light r emoving desig n光罩[2]。

图2中,光线1为主镜外直径决定的视场边缘光线,光线2是由遮拦比决定的内孔径光线。

次镜遮光罩点C是由光线2和光线1经主镜反射后光线的交点。

内镜筒点A是由光线1经主镜、次镜依次反射后的光线和光线2经主镜反射后的光线交点。

外镜筒的边缘点D是由A C 连线延长线与外镜筒的交点[3-5]。

图2遮光罩与杂光路径Fig.2Baffle and pathway of str ay light外镜筒可以阻止外界杂散光直接入射到像面,但外镜筒本身具有一定的反射率,射到外镜筒上的光线有可能反射到反射镜面,多次反射后到达像面形成干扰。

因此,除对外镜筒内壁的吸光涂层有一定要求外,还要进行内挡光环的设计。

如图3所示,虚线为不加挡光环时外镜筒的位置,采用等高挡光环设计,挡光环的高度为h。

外界杂散光由次镜遮光罩边缘点B入射,挡光环设置的目的是隔断B点射到镜筒壁上的绝大部分杂散光到达主镜的路径。

在加上高度h后的外镜筒壁(实线表示)上选择靠近F的一点与E点和B点连接作为外镜筒接收杂散光的最小角度路径。

在此路径与虚线的交点处设置两个挡光环,与外镜筒壁交点为H和G。

推广下去,由最小角度路径与虚线的交点进行B、E点的连接,便622光学精密工程第17卷图3外镜筒挡光环位置确定示意图Fig.3Po sitio n o f blocking ring s可确定其余挡光环的位置,直到接近外镜筒边缘,设置最外一级挡光环。

本文在1180mm的长度内一共设计了12级挡光环。

通过在CAD中精确建模,分析杂散光的路径,可以容易地得到各级挡光环的间隔距离,从而避免繁琐的数学计算和公式推导。

遮光罩采用高比刚度的碳纤维复合材料,其质量仅为5.3kg。

3随机光线M ento-Carlo仿真3.1基于计算机仿真的杂光分析传统的积分球检验的办法很难应用于此类大口径的光学系统,计算量也很大。

近年来,人们越来越多地采用计算机仿真的方法对光学系统的杂散光进行计算,特别是对于大口径的光学系统。

目前使用较多的有光学设计软件CODE V的杂散光分析模块LightTo ols、杂散光分析软件ASA P和SOLID WORKS光学插件OPT I WORKS。

此外,由Lambda Research公司编写的在车灯及背光源设计行业广泛应用的T ra-cePro软件,也可以用于光学系统杂光的分析。

对杂光进行计算,主要采用基于随机模拟的Mento-Carlo统计法和基于光传播规律的光线追迹法,本文使用前者。

仿真软件一般以杂光系数和点源透射比(Po int Source Transm ittance, PST)作为杂散光评价的输出结果。

一般而言,杂光系数体现的数据比较详细,可用于细部分析;但对于整体消杂光性能分析而言,PST更有意义。

杂光系数G定义为:G(x,y)=L s(x,y)L s ,(1)式中,L s(x,y)表示杂光在焦面坐标为(x,y)处引起的亮度,L s为入射杂光原始亮度,而点源透射比由(2)式定义[6]:PST(<)=P d(<)P d(0),(2)式中,P d(<)是从离轴为<的点源落在探测器上的辐射通量;P d(0)是从位于轴上的同一点源落在探测器上的辐射通量。

3.2表面散射属性在计算机分析中,需要准确地描述与杂光有关的散射表面如粗糙内壁、碳纤维表面的散射属性。

因此,定义了双向散射分布函数(Bidirection-al Scattering Distribution Function,BSDF)[7]。

图4双向散射函数定义示意图Fig.4Definition of BSDF如图4所示,对于一个小的照亮区域d A而言,BSDF被定义为从给定方向入射的光被该表面散射后从另一给方向出射的辐射通量。

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