集成电路高温动态老化测试系统的设计
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第 ２ ９卷第 １ ２期
Ｖ０ ＿９ ｌ２ Ｎｏ １ ．２
企 业 技 术 开 发
Ｔ ＣＨＮＯＬ Ｅ ＯＧＩ ＡＬ ＤＥ Ｃ ＶＥ ＯＰ Ｅ Ｔ Ｌ Ｍ ＮＴ ＯＦ ＥＮ ＥＲＰ Ｓ ＲＩ Ｅ
２１年 ６ ００ 月
Ｊ ｎ ．０１ ｕ ｅ２ ０
集成 电路 高温动态老化 测试 系统 的设 计
投入使用 ， 会发现该批产 品在开始时失效率 很高 ， 但很快 时老化 ｌ ４种不 同的芯片 。 系统最大老化工位数 。 ③ 同时 就逐渐降低 ， 这就是 “ 早期失效 ” 现象 ， 其原因是 由于元器 老化 １ 块板 ，每芯 片可检测最大输 出路数据为 ８ 。 ４ 路 以 件的制造缺陷所至。对 电子元器件进行老化筛选试 验的 Ｄ Ｐ４ 或 ＤＰ ６ 为 例 ， 统 可 老 化 数 量 为 ：４×１＝ ２ Ｉ１ （ Ｉ１ ） 系 １ ６２４ 目的 正是 剔 除 易 发 生 “ 期 失 效 ” 早 的元 器 件 ， 批 量 元 器 片 。 使 件 缩 短 失 效期 ， 前 进 入 稳 定 的 工 作 期 ， 而 提 高整 机 可 ４２ 设 计 指 标 提 从 ． 靠性 。 ①功 能。 可对 门电路 、 计数器 、 发器等类 型的集成 触
电路进行高温 老化并动态测试 ；可实时查看被 老化芯片 的加载信号及逻辑功能 ； 具备数据保存 功能， 方便查看。 ②测试 原理 。依 据 Ｉ ｃ器 件的逻辑关 系进行状 态判
定。
③ 测 试 周期 。 续 工 作 时 间 不小 于 ９ 。 连 ６ ｈ ④ 巡 检 时 间 为 ５ ｉ。 ｎ ｍ ⑤ 测 试 项 目。４ ４系 列 Ｉ 片 的 逻辑 功能 测 试 。 ７／ ５ Ｃ芯
１ 国内同类产品的现状 ， 发展趋势及对比分析
在国内同类产 品中，经相关用户使用后反映较好 的
是 杭 州 可 靠 性仪 器 厂生 产 的高 温 动 态 老 化 系 统 ，它 通 用 性 好 ， 试 工 位 多 ， 缺 点 是 测 试 功 能 少 ， 能 测 试 老 化 测 但 只 板两 边 几 个 芯 片 的输 出信 号 ， 余 的 测 不 到 ， 其 且价 格 比较
３ 设 计 的基 本 原 则
⑧单板老化电源 。输 出范 围 ：测试板端 ： Ｃ ４７ ～ Ｄ ． ５ ． ／Ａ；烘 箱 内部 转 接 端 ： Ｃ４７ ５２ ／． Ａ 具 ２ Ｄ ． ５～ ． Ｖ０ ５ 。 ５ ４ 该系统是一个集信号检测 、数据传输 和处理于一体 ５ ５Ｖ２
有 过压 保 护 功 能 。 ⑨单板线性 电源 。 输出范围 ： Ｃ ５± ． ／ 内负载 、 Ｄ １ ０５ 机 Ｖ Ｄ 一 ５ ． ／ 内负 载 、 Ｃ ０５ ／ 内 负载 ，输 出 共 Ｃ １ ±０ Ｖ 机 ５ Ｄ ５± ． 机 Ｖ
潘 志 强
（ 西 长 岭 电子 科 技 有 限 责任 公 司 ， 西 宝 鸡 ７ １０ ） 陕 陕 ２０ ６
摘 要 ： 了替 换 早 期 失 效 的 Ｉ 芯 片 ， 一 步 提 高 整 机 的 产 品 质 量 ， 章 针 对 系 统 采 用 的上 位 机 、 住 机 ， 过 为 ｃ 进 文 下 通
串口通 信 ， 成 分散 式检 测 系统 ， Ｉ 芯 片进 行 高 温 老 化 并检 测 。 并 且 本 系统 已成 功 应 用 于 本公 司 筛选 室对 入 构 对 ｃ 厂 的 Ｉ 芯 片进 行 老化 筛选 ， 试 出效 果 良好 。 ｃ 测 关键 词 ： 成 电路 ； 温老 化 ： 态 测 试 集 高 动
高。 比之下 ， 相 文章介绍 的设 计方案虽没有那 么多工位 ， 但 针 对 性 强 ， 且 对 每 个 输 出管脚 都 进行 完 备 性 测 试 ， 而 有
比较 低 。
⑥输人 信号指标 。 型 ： 类 方波 ；０ Ｈ １０ｋ ｚ以下 （ １０ 含 ０ 数据可查 （ 保存历史数据 ）还有 自动巡检功 能等 ， ， 价格也 ｋ ｚ 占空比 ２ Ｈ） ０％ ～ ０％可选 ，０ Ｈ （ ８ １０ｋ ｚ不含 １０ｋ ｚ以 ０ Ｈ ） 上为 ５ ０％； 频率 ： ～２０ｋ ｚ 系统提供 １ 个 固定频率点 ８ ０ Ｈ ， ２
供 用 户选 择 。
２ 设 计 依 据
⑦高温烘 箱（ 空载 ）具有超温双 重 自动识别 断电保 。 本 系统根 据集 成 电路 的电性能 及老化 的具体 要求设 护功能 ； 温度范 围 ： Ｔ １ ￣ ２ ０ 使 用环境 ： １ｃ ～ Ｒ ＋ ０Ｃ～ ０ ℃； 一 ０Ｉ ＝ 计。 ５ ℃ ；升温 速 度 ：平 均 每分 钟 ≥２５Ｃ；温 度 均 匀 度 ： ０ ．ｏ ≤ ３ｃ； 度 偏 差 ： ±２ 工 作 电源 ： Ｃ２０ ｃ 温 ≤ ￣ Ｃ； Ａ ２Ｖ±１％。 ０
中 图分 类 号 ：Ｎ ７ Ｔ ４
文 献标 识码 ： Ａ
百度文库
文 章 编 号 ：０ ６ ８３ （００ １— ０９ ０ １０ — ９７ ２ １） ２ ０ １— ２
． 随着信息技 术的迅猛发展 ，半导体集成 电路被 广泛 ４１ 检 测 规 模 地应 用 于 各 个 领 域 ， 成 电路 的可 靠 性 也 越 来 越 得 到 人 集 ① 单板 老化 数 量 。 Ｉ ４和 Ｄ Ｐ １ ：单板 最 多可 老 ＤＰ １ Ｉ ６ 们 的关 注 。 所周 知 ， 子元 器 件 的失 效 现 象 因工 作 阶 段 化 １ 片 ； Ｉ ０ 单板最多可 老化 １ 众 电 ６ ＤＰ ２ ： ２片 。 ②单 次老化 品 （ 电应力时间 ） 加 而异 ， 可分为“ 早期失效” “ 、随机失效” 和 种 。 据 Ｉ 需 工 作 电 压 划 分 ， 多 可 同 时 老 化 ４种 不 根 Ｃ所 最 “ 耗损失效” 批量很大 的一批产品 ， 。 未经任何老化措施 即 同工作电压 的芯片 ； 如果是相 同的工作电压 ， 最多可 同 则
Ｖ０ ＿９ ｌ２ Ｎｏ １ ．２
企 业 技 术 开 发
Ｔ ＣＨＮＯＬ Ｅ ＯＧＩ ＡＬ ＤＥ Ｃ ＶＥ ＯＰ Ｅ Ｔ Ｌ Ｍ ＮＴ ＯＦ ＥＮ ＥＲＰ Ｓ ＲＩ Ｅ
２１年 ６ ００ 月
Ｊ ｎ ．０１ ｕ ｅ２ ０
集成 电路 高温动态老化 测试 系统 的设 计
投入使用 ， 会发现该批产 品在开始时失效率 很高 ， 但很快 时老化 ｌ ４种不 同的芯片 。 系统最大老化工位数 。 ③ 同时 就逐渐降低 ， 这就是 “ 早期失效 ” 现象 ， 其原因是 由于元器 老化 １ 块板 ，每芯 片可检测最大输 出路数据为 ８ 。 ４ 路 以 件的制造缺陷所至。对 电子元器件进行老化筛选试 验的 Ｄ Ｐ４ 或 ＤＰ ６ 为 例 ， 统 可 老 化 数 量 为 ：４×１＝ ２ Ｉ１ （ Ｉ１ ） 系 １ ６２４ 目的 正是 剔 除 易 发 生 “ 期 失 效 ” 早 的元 器 件 ， 批 量 元 器 片 。 使 件 缩 短 失 效期 ， 前 进 入 稳 定 的 工 作 期 ， 而 提 高整 机 可 ４２ 设 计 指 标 提 从 ． 靠性 。 ①功 能。 可对 门电路 、 计数器 、 发器等类 型的集成 触
电路进行高温 老化并动态测试 ；可实时查看被 老化芯片 的加载信号及逻辑功能 ； 具备数据保存 功能， 方便查看。 ②测试 原理 。依 据 Ｉ ｃ器 件的逻辑关 系进行状 态判
定。
③ 测 试 周期 。 续 工 作 时 间 不小 于 ９ 。 连 ６ ｈ ④ 巡 检 时 间 为 ５ ｉ。 ｎ ｍ ⑤ 测 试 项 目。４ ４系 列 Ｉ 片 的 逻辑 功能 测 试 。 ７／ ５ Ｃ芯
１ 国内同类产品的现状 ， 发展趋势及对比分析
在国内同类产 品中，经相关用户使用后反映较好 的
是 杭 州 可 靠 性仪 器 厂生 产 的高 温 动 态 老 化 系 统 ，它 通 用 性 好 ， 试 工 位 多 ， 缺 点 是 测 试 功 能 少 ， 能 测 试 老 化 测 但 只 板两 边 几 个 芯 片 的输 出信 号 ， 余 的 测 不 到 ， 其 且价 格 比较
３ 设 计 的基 本 原 则
⑧单板老化电源 。输 出范 围 ：测试板端 ： Ｃ ４７ ～ Ｄ ． ５ ． ／Ａ；烘 箱 内部 转 接 端 ： Ｃ４７ ５２ ／． Ａ 具 ２ Ｄ ． ５～ ． Ｖ０ ５ 。 ５ ４ 该系统是一个集信号检测 、数据传输 和处理于一体 ５ ５Ｖ２
有 过压 保 护 功 能 。 ⑨单板线性 电源 。 输出范围 ： Ｃ ５± ． ／ 内负载 、 Ｄ １ ０５ 机 Ｖ Ｄ 一 ５ ． ／ 内负 载 、 Ｃ ０５ ／ 内 负载 ，输 出 共 Ｃ １ ±０ Ｖ 机 ５ Ｄ ５± ． 机 Ｖ
潘 志 强
（ 西 长 岭 电子 科 技 有 限 责任 公 司 ， 西 宝 鸡 ７ １０ ） 陕 陕 ２０ ６
摘 要 ： 了替 换 早 期 失 效 的 Ｉ 芯 片 ， 一 步 提 高 整 机 的 产 品 质 量 ， 章 针 对 系 统 采 用 的上 位 机 、 住 机 ， 过 为 ｃ 进 文 下 通
串口通 信 ， 成 分散 式检 测 系统 ， Ｉ 芯 片进 行 高 温 老 化 并检 测 。 并 且 本 系统 已成 功 应 用 于 本公 司 筛选 室对 入 构 对 ｃ 厂 的 Ｉ 芯 片进 行 老化 筛选 ， 试 出效 果 良好 。 ｃ 测 关键 词 ： 成 电路 ； 温老 化 ： 态 测 试 集 高 动
高。 比之下 ， 相 文章介绍 的设 计方案虽没有那 么多工位 ， 但 针 对 性 强 ， 且 对 每 个 输 出管脚 都 进行 完 备 性 测 试 ， 而 有
比较 低 。
⑥输人 信号指标 。 型 ： 类 方波 ；０ Ｈ １０ｋ ｚ以下 （ １０ 含 ０ 数据可查 （ 保存历史数据 ）还有 自动巡检功 能等 ， ， 价格也 ｋ ｚ 占空比 ２ Ｈ） ０％ ～ ０％可选 ，０ Ｈ （ ８ １０ｋ ｚ不含 １０ｋ ｚ以 ０ Ｈ ） 上为 ５ ０％； 频率 ： ～２０ｋ ｚ 系统提供 １ 个 固定频率点 ８ ０ Ｈ ， ２
供 用 户选 择 。
２ 设 计 依 据
⑦高温烘 箱（ 空载 ）具有超温双 重 自动识别 断电保 。 本 系统根 据集 成 电路 的电性能 及老化 的具体 要求设 护功能 ； 温度范 围 ： Ｔ １ ￣ ２ ０ 使 用环境 ： １ｃ ～ Ｒ ＋ ０Ｃ～ ０ ℃； 一 ０Ｉ ＝ 计。 ５ ℃ ；升温 速 度 ：平 均 每分 钟 ≥２５Ｃ；温 度 均 匀 度 ： ０ ．ｏ ≤ ３ｃ； 度 偏 差 ： ±２ 工 作 电源 ： Ｃ２０ ｃ 温 ≤ ￣ Ｃ； Ａ ２Ｖ±１％。 ０
中 图分 类 号 ：Ｎ ７ Ｔ ４
文 献标 识码 ： Ａ
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文 章 编 号 ：０ ６ ８３ （００ １— ０９ ０ １０ — ９７ ２ １） ２ ０ １— ２
． 随着信息技 术的迅猛发展 ，半导体集成 电路被 广泛 ４１ 检 测 规 模 地应 用 于 各 个 领 域 ， 成 电路 的可 靠 性 也 越 来 越 得 到 人 集 ① 单板 老化 数 量 。 Ｉ ４和 Ｄ Ｐ １ ：单板 最 多可 老 ＤＰ １ Ｉ ６ 们 的关 注 。 所周 知 ， 子元 器 件 的失 效 现 象 因工 作 阶 段 化 １ 片 ； Ｉ ０ 单板最多可 老化 １ 众 电 ６ ＤＰ ２ ： ２片 。 ②单 次老化 品 （ 电应力时间 ） 加 而异 ， 可分为“ 早期失效” “ 、随机失效” 和 种 。 据 Ｉ 需 工 作 电 压 划 分 ， 多 可 同 时 老 化 ４种 不 根 Ｃ所 最 “ 耗损失效” 批量很大 的一批产品 ， 。 未经任何老化措施 即 同工作电压 的芯片 ； 如果是相 同的工作电压 ， 最多可 同 则