材料红外发射率

红外光谱发射率测量

红外光谱发射率测量
红外光谱发射率测量是一种分析方法，用于测定物质在红外光谱范围内的发射能力。

红外光谱发射率测量可用于研究和表征物质的红外辐射特性，例如材料的吸收、反射和透过等。

红外光谱发射率测量通常使用红外辐射源和红外光谱仪来进行。

首先，一个已知的红外辐射源校准器会发射红外辐射，该辐射将通过待测物质，并被红外光谱仪接收和分析。

然后，比较已知红外辐射源的辐射强度和通过待测物质的辐射强度，就可以计算出物质的红外光谱发射率。

红外光谱发射率测量可以应用于多个领域，例如材料科学、环境科学、化学和生物医学等。

通过测量物质的红外光谱发射率，可以了解物质的红外辐射特性，从而实现对物质的表征和研究。

此外，红外光谱发射率测量还可以用于材料的质量控制和制备过程的监测，以及红外光谱成像和红外热辐射测温等应用。

红外线测温的发射率参数及工作原理

红外线测温的发射率参数及工作原理红外线测温的发射率参数及工作原理如何设置红外线测温的发射率参数利用红外线测温仪进行温度测量时，必需保证测温仪发射率设置正确，否则会得到不精准的测温结果。

由此可见，对于红外线测温来说，发射率是一个特别紧要的指标。

如何正确设置红外线测温的发射率参数？什么是发射率？发射率是目标表面辐射出的能量与相同温度黑体辐射能量的比值；它是由物体本身的材质决议的，例如，塑料的发射率为0.95,冰的发射率为0.98,玄武岩的发射率为0.7等等。

既然如此，为了获得正确的测量温结果，我们在用红外线测温仪测量温度前；应依据被测目标的材质，来设置正确的发射率参数，如何设置红外线测温仪的发射率参数呢？紧要有三种方法。

1、涂色法。

此种方法紧要是将被目标表面涂成黑色，并将测温仪发射率设置为黑色涂料（或黑色胶布）的发射率0.97（0.93），然后用红外线测温仪测量黑色部位的温度T1；再用红外线测温仪测量与黑色部位靠近部位的表面温度T2,调整红外线测温仪的发射率值，使T2*接近于T1,此时得到的发射率值即为被测目标的发射率。

2、比对法。

找一接触式测温探头，测量被测目标表面的温度，待温度达到稳定后，调整红外线测温仪的发射率；使得红外线测温仪测得的温度值与接触式测温探头测得的温度显示一致，此时的发射率即为被测目标的发射率。

3、查表法。

依据操作手册或相关文档供应的发射率表，依据被测目标的材质，查找相对应的发射率值进行设置。

大家可以依据实际情况，来对红外线测温仪的发射率进行设置，以获得精准的测量结果。

红外测温仪的工作原理红外测温仪技术的进展，其具有使用便利、测量精度高且测量距离远等优点为用户供应了各种功能及用途的仪器。

红外测温仪从原理上来说有便携式测温仪和固定式测温仪两种，因此，在选择合适的红外测温仪用于不同的测量点时；以下的特征将是紧要的：1、瞄准器瞄准器有此作用，测温仪所指的测量块或测量点可以看到，大面积的被测物可以常常不要瞄准器。

发射率测定

发射率测定发射率测定发射率是物体汲取和辐射红外能量本领的一种度量。

它的值可以是0～1.0。

例如，镜子发射率是0.1，而“理想黑体”则达到1.0的发射率值。

假如设置了比实际发射率值更高的值则输出的读数就会低，前提是目标温度高于四周环境温度。

例如，假如您已经设置了0.95，而实际发射率是0.9，则仪器温度读数将低于实际温度。

物体的发射率可通过以下方法来测定：1.先使用RTD（电阻温度检测器，PT100）、热电偶或其他适用方法来测定材料的实际温度，下一步使用红外测温仪测量材料的温度和调整发射率设置，直到达到相同温度值。

这是被测材料的发射率。

2.对相对较低的温度（260°C,500°F以下），在待测物体上贴一张塑料不干胶贴纸。

贴纸面积应大过测量斑。

用0.95的发射率测量贴纸的温度，X后，测量物体邻近区域的温度，并调整该发射率设置，直到达到相同温度。

这是被测材料的发射率。

3.假如可能，在物体表面一部分涂上平光黑色涂料。

该涂料的发射率必需大于0.98。

用0.98的发射率测量涂料区域的温度，X后，测量物体邻近区域的温度，并调整该发射率设置，直到达到相同温度值。

这是被测材料的发射率。

典型发射率值下表供给了部分材料的发射率，可在上述方法均不可行时使用。

表中所示发射率只是貌似值，由于下面一些参数均可影响材料的发射率：1.温度2.测量角度3.几何形状（平面、凹、凸等）4.厚度5.表面质量（抛光、粗糙、氧化处理、喷砂）6.测量的频谱范围7.透射系数（如塑料薄膜）金属材料发射率（谱段8–14μm）铝未氧化的0.02‐0.1氧化的0.2‐0.4A3003合金，氧化的0.3粗加工0.1‐0.3抛光0.02‐0.1黄铜抛光0.01‐0.05磨光0.3氧化0.5铬0.02‐0.2铜抛光0.03粗加工0.05‐0.1氧化0.4‐0.8金0.01‐0.1海恩斯合金0.3‐0.8要提高表面温度测量精度，请考虑实行以下措施：•使用同样用来进行测量的仪器测定物体发射率。

红外光谱发射率测试方法的研究 (1)

（３）波段范围宽，本仪器Ｉ：作波段可从０．６７ｕｍ～２００岬：另外还有光谱分辨率高，波长准
确度高等优点。由ｒ材料的红外光谱发射率一般随温度变化而变化，我们还设计ｒ样品加热以及温度控
制装置（５０。Ｃ～４００。Ｃ）。这样，该装置可以进行波Ｋ从０６７ｐｍ～２００ｐｍ、温度从５００Ｃ至４０００Ｃ红外光谱发射率的测量。
侄计算机上计算出样品曲线与黑体曲线之比，得剑条新的曲线。这条曲线就是所测柯ｒ铺住某一’温度Ｆ的光谱发射率曲线。
如果关心被测样品在某一波段内的发射率，ｊ』！｜Ｊ可按武（２）进行计算。
４红外光谱发射率的测试结果
选取一铝片作为测试样品，将其温度控制在２００。Ｃ，对其辐射能量进行采样，得到样品辐射能量光谱曲线，见图３，２００。Ｃ的黑体辐射能繁光谱曲线见幽４。
榷忠尚主编温度计量与测试中国计量出版衬，１９９８陈道举．现代计量测试技术．中国计量出版礼，１９９０路学荣用傅立叶光谱仪测餐发射光谱的研究傅立ｎ１变换红外光谱技术及廊＿Ｌ｝ｊ研讨会论文集（＿二）海洋出版社，１９９３世森宣文通过测定反射率、透射率计算比辐射率
红外光谱发射率测试方法的研究
图２红外光谱发射率测晕装置原理框幽
红外光谱发射率测晕装置，主要由傅立ｎ｝红外光谱仪、计算机、黑体辐射源、样品加热系统、温度控制系统以及辅助光路系统组成。傅立叶红外光谱仪是该测量装置中的ｔ要设备，其功能为测量入射红外辐射的光谱分布曲线：样品加热系统主要功能为，在温度控制器的控制ｒ，将样品的温度控制在所需的温度：黑体提供标准辐射源；辅助光路系统的ｊ＿要功能是，将样品或黑体的辐射引入傅立叶红外光谱仪。虚线框内为光谱仪内部简略示意图，计算机负责采集探测器信号．并利用傅正叶变换原理完成干涉图（时域）剑光谱图（频域）的转换，最后得到样品或黑体红外辐射的光谱曲线，同时可完成｝｝｝｜线相除、积分运算等功能。

各种材料发射率

0.3~0.37
0.3~0.36
0.03
0.04
0.04~0.05
钼：
抛光未氧化
抛光轻微氧化
抛光严重氧化
粗加工未氧化
粗加工轻微氧化
粗加工严重氧化
50~1000
0.3
0.4
0.7~0.8
0.4
0.5~0.6
0.8
0.05~0.1
0.25
0.7~0.8
0.1~0.15
0.35
0.8
铂：
抛光未氧化
抛光轻微氧化
0.6
0.8~0.9
0.2
0.35~0.4
0.8~0.9
0.3
0.5
0.8~0.9
蒙乃尔：（镍、铜、铁、锰合金）
抛光未氧化
抛光轻微氧化
抛光严重氧化
粗加工未氧化
粗加工轻微氧化
粗加工严重氧化
0~600
0.25
0.45
0.7
0.3
0.6
0.8
0.1
0.4
0.7
0.25
0.55
0.8
碳
碳黑
石墨
0~1500
0~1500
0.8~0.85
搪瓷
0~200
0.9
木材
0~100
0.8~0.9
陶瓷
0~100
0.3~0.5
0.85~0.95
陶瓷镀层（金属上）
0~600
0.3~0.5
0.6~0.9
水（深50mm以上）
霜
雪
冰
0~100
-10
-10
-10
0.95
0.98
0.85
0.98

低红外发射率聚乙烯功能材料的研究

西北工业大学硕士学位论文低红外发射率聚乙烯功能材料的研究姓名：***申请学位级别：硕士专业：材料加工工程指导教师：***20070301西北Ｔ业大学Ｔ学硕十学付论文结果与讨论图３—１不同聚合物的发射率曲线ＰＰ及ＨＤＰＥ由于高的结晶度和少、短的支链结构，也具有相对较低的发射率。

ＬＬＤＰＥ分子链较为规整，支链短且少，相对于支链较多、分子链结构不够规整的ＬＤＰＥ也具有较低的发射率。

这些大分子链结构上的区别是影响发射率变化的根本原因。

但是聚四氟乙烯加工性能很差且成本很高，聚丙烯光、热老化性能很差，均不利于作为长期户外使用的热红外伪装材料的最终应用。

因此，本文最终选用聚乙烯作为低发射率材料的研究对象。

３．２颜料对发射率的影响本文研究的材料主要是应用于山林地区的背景中作为伪装材料使用，试验所选用的颜料为总后建工所多年来研制的军用绿色无机粉体颜料，该颜料的光谱反射曲线几乎与绿色植物达到了“同色同谱”的程度，且能顺利通过美军军标ＭＩＬ．Ｃ．４６１６８０（ＭＥ）绿色光谱反射限定通道【帅】，见图３－２。

同时无机颜料又具有耐侯性好和伪装寿命长的特点。

在此次研究中，同时用到了金属颜料（ＡＬ粉），目的是用来进一步降低体系的发射率。

以下是颜料对体系发射率影响的分析结果。

两北Ｔ业大学Ｔ学硕士学侍论文结果与讨论图３－３颜料的粒径分布曲线表３～１觑料粒径与红外发射率的关系从表３—１可以看出：随着颜料粉体粒径的减小，在８／ａｍ～１４９ｉｎ波段的红外发射率也随着降低。

根据红外辐射理论ｆ４舢，朝颜料粉体内漫射的红外辐射，将受到两个因素的影响而衰减：①在颜料粉体内被吸收；②被分布在颜料粉体内的散射粒子所散射。

当颜料内球状粒子的散射比较大，吸收比较小时，整个系统的红外辐射（红外辐射流）发生弥散和改变方向。

而根据Ｋｉｒｅｈｈｏ腚律，吸收小的材料，其发射率也比较ｄ，ｔ４５１。

由红外公式Ｈ６１得：，，（们＝胛２ＭＳ（Ａ，）（３—１）在（３．１）式中：ｒ（Ａ）为散射系数；ｒ为粒子半径；Ｍ为散射粒子浓度；ｓ（Ａ）为散射平均总截面积。

红外物体发射率汇总

20 20 100 1000 1000
0.3 0.5 0.75～0.85 0.4 0.6 0.8～0.85
抛光未氧化抛光微氧化抛光严重氧化粗加工未氧化粗加工轻微氧化粗加工严重氧化
0.3 0.5 0.8～0.9 0.45 0.7 0.8～0.9
抛光未氧化抛光微氧化抛光严重氧化粗加工未氧化粗加工轻微氧化粗加工严重氧化
0.3
锰
固态 0.59 液态 0.59
蒙乃尔（镍、铜、铁、
锰合金）
抛光未氧化 0.25 抛光微氧化 0.45 抛光严重氧化 0.7 粗加工未氧化 0.3 粗加工轻微氧化 0.6 粗加工严重氧化 0.8
氧化铝
粒度1～2微米粒度10～100微米
0.2～0.4
石灰石氧化锆氧化镍氧化铁氧化铝氧化钴氧化铀氧化镁氧化铜氧化钍氧化锡
王龙刚
发射率表
材料与状态
发射率（1um 附近）
抛光未氧化 0.05～0.1
抛光轻微氧化 0.45
钢
粗加工未氧化 0.25～0.35 粗加工轻微氧化 0.5～0.6
严重氧化 0.8～0.95
液态 0.35～0.45
温度范围（℃） 100～1200
铸铁
抛光未氧化抛光轻微氧化粗加工未氧化粗加工轻微氧化
20～400
黑色纳氧化钴
0.9~0.95
500
汞（液态）
0.2~0.25
铋
0.34
王龙刚
材料与状态铱
发射率（1um 附近）温度范围（℃） 0.25~0.3
钇
0.3~0.35
铀
0.5~0.55
钯锑氮化钛
0.33 0.5～0.65 0.3～0.4

红外线测温仪-发射率表

红外线测温仪-发射率表
设计和生产这样的黑体物校准器。

光学透镜
两种红外辐射的光学原理是：反射原理和折射原理。

就象他们的名称一样，反射原理的作用是反射射入的放射线。

折射原理的作用是折射并传输射入的放射线。

我们不同类型的产品都具有两种光学原理。

透镜-ST68x锗系列
用来生产红外辐射系统中的折射光学的最常见的物质是锗和硅。

锗是一种类似银的金属，是一种折射指数（n-4）非常高的一种固体。

可以利用最少量的锗透镜来设计高分辨率的光学系统。

另外，根据它的高折射指数，对于任何传输光学系统的锗来说都必须具有辐射涂层。

锗具有低散射，所以它不太可能需要变色，除非是在被应用于ST68x系列产品中的高分辨率系统中。

塑料菲（涅耳）透镜—ST65x系列
大部分色红外温度计只是简单的探测目标物的温度，而没有更高的光学性能，象长距离探测。

我们已经设计了塑料菲（涅耳）透镜，而且在大部分应用中为用户设计了较低的成本。

需要注意的是普通的玻璃不能够传送超过2.5 μm的辐射，装有保险丝的硅具有热量膨胀系数的特点。

使光学系统在改变环境条件中显的特别有用。

它的传送范围是从大约0.
3 μm 到3 μm。

金属非金属和一般建材的总发射率表

率
0.37
氧化镍
0.11-0.14 钯板 (.00005 on .0005
0.07-0.09 镍)
材质
Monel，
温度°F (° ε–发射
C)
Ni-Cu1110˚ 1110 (599) 0.46 F 时氧化
镍抛光
氧化
未氧化未氧化未氧化
未氧化电解
电解
电解电解
100 (38) 0.05 100-500
材质
合金 20-
温度°F
ε–
发射
(°C) 率抛光
Ni，24- 氧化 392 0.90 轧制
CR，55- (200)
FE，
熔融 20-
Ni，24- 氧化 932
CR，55- (500) 0.97 熔融
FE, 镀镍
60-
Ni，12- 氧化 518 0.89 陶氏合
CR，28- (270)
FE,
60氧化
200-750 0.16-0.17
(93-399)
率
金属
Ni，20- (600) CR，氧化
80Ni，20- 2372 CR，氧 (1300) 化
100-500
铂
抛光
0.02
(38-260)
"
1000-2000
抛光
0.03
(538-1093)
" 铂，黑色
0.89 海恩斯
"
合金 600-2000
C，
(93-427) 光滑
75 (24) 0.09 抛光
合金
铅
2795 (1535) 0.29
77 (25) 0.94 660 (349) 0.94 100 (38) 0.35 100 (38) 0.28

常见材料的红外发射率

常见材料的红外发射率红外发射率是指材料对红外辐射的发射能力，是红外辐射传热的重要参数之一。

不同材料的红外发射率不同，对于红外传感器、热像仪等红外设备的性能影响很大。

本文将介绍常见材料的红外发射率，以便更好地了解和应用红外技术。

一、金属材料金属材料的红外发射率很低，通常在0.1以下。

这是因为金属材料具有良好的反射性能，对红外辐射能量的吸收较少。

常见的金属材料如铝、铜、铁等，它们的红外发射率都很低。

这也是为什么在红外测温中，金属表面的温度无法直接测量的原因之一。

二、绝缘材料绝缘材料的红外发射率通常在0.8以上，这是因为绝缘材料对红外辐射能量的吸收较多。

常见的绝缘材料如塑料、橡胶、陶瓷等，它们的红外发射率较高。

这也是为什么在红外测温中，绝缘材料表面的温度可以通过红外测温仪来测量的原因之一。

三、半导体材料半导体材料的红外发射率介于金属和绝缘材料之间，通常在0.2-0.8之间。

常见的半导体材料如硅、锗、砷化镓等，它们的红外发射率相对较低。

这也是为什么在红外技术应用中，半导体材料常被用于红外光电器件的制造的原因之一。

四、玻璃材料玻璃材料的红外发射率通常在0.85以上，这是因为玻璃材料对红外辐射能量的吸收较多。

常见的玻璃材料如普通玻璃、石英玻璃等，它们的红外发射率较高。

这也是为什么玻璃器皿在红外实验中常被用作红外辐射的传递介质的原因之一。

五、涂层材料涂层材料的红外发射率与其材料成分和厚度有关，通常在0.1-0.9之间。

涂层材料的红外发射率可以通过合理设计和选择来实现红外辐射的控制。

常见的涂层材料如红外反射涂料、红外吸收涂料等，它们的红外发射率可以根据具体需求进行调整。

常见材料的红外发射率各不相同，金属材料的红外发射率较低，绝缘材料的红外发射率较高，半导体材料和玻璃材料的红外发射率介于两者之间。

涂层材料的红外发射率可以通过设计和选择来实现控制。

了解不同材料的红外发射率对于红外技术的应用和设备性能的优化具有重要意义。

红外热像仪和材料发射率的关系

红外热像仪和材料发射率的关系红外热像仪是一种能够感知物体表面温度并以图像形式显示的仪器，它通过测量物体发射的红外辐射来确定物体的温度分布，是一种非常重要的热成像设备。

而在红外热像仪的测量中，材料的发射率是一个十分重要的参数，它直接影响到测量的准确度和可靠性。

本文将着重探讨红外热像仪和材料发射率的关系，以期为相关领域的研究和应用提供一定的参考和指导。

1.红外热像仪的测量原理红外热像仪利用红外辐射测量物体表面的温度分布。

物体在温度不为零时，其表面会发射红外辐射。

根据普朗克黑体辐射定律，一个黑体的辐射率与温度的四次方成正比。

而大多数物体不是理想的黑体，它们的辐射率通常介于0和1之间，称为发射率。

红外热像仪利用物体发射的红外辐射来获取物体表面的温度信息，进而以图像的形式显示出来。

2.材料发射率的概念材料的发射率是指物体表面辐射的红外辐射能量与黑体辐射的红外辐射能量之比。

通常用ε来表示，取值范围在0到1之间。

在红外热像仪的测量中，不同的材料其发射率有很大的差异，而这些差异将对测量结果产生影响。

3.红外热像仪测量中的发射率校正由于不同材料的发射率不同，因此在使用红外热像仪进行测量时，需要对测得的温度值进行发射率校正，以减小发射率带来的误差。

一般来说，红外热像仪都会提供对发射率进行设置的功能，用户可以根据实际情况对发射率进行调整，从而得到更加准确的测量结果。

4.材料发射率与温度的关系材料的发射率与温度之间存在一定的关系。

一般来说，随着温度的升高，材料的发射率也会有所增加。

这是由于温度升高会导致材料内部原子振动加剧，从而使得发射的红外辐射能量增加，进而提高发射率。

如果在测量过程中遇到温度较高的物体，需要根据温度与发射率的关系进行相应的校正，以确保测量结果的准确性。

5.不同材料的发射率不同材料的发射率存在较大的差异，一般来说，金属材料的发射率较低，而一些非金属材料的发射率则较高。

在实际应用中，需要根据被测物体的材料特性来选择合适的发射率进行校正，以提高测量的准确性。

薄膜红外发射率_概述说明以及解释

薄膜红外发射率概述说明以及解释1. 引言1.1 概述本文将详细介绍薄膜红外发射率的概念、影响因素、测量方法，以及在不同领域的重要性和应用。

同时，还将探讨薄膜技术在红外发射率调控中的应用，并对单层和多层薄膜设计原理、薄膜材料选择以及制备技术进行深入讨论。

1.2 文章结构本文共分为五个主要部分。

首先是引言部分，主要包括对文章内容的概述，文章结构以及研究目的的介绍。

其次是关于薄膜红外发射率的阐述，包括定义和基本概念、影响因素以及测量方法。

然后，我们将讨论红外发射率在不同领域中的重要性和应用，涉及工业应用中的红外发射率控制、医疗领域的红外发射率应用以及其他领域的相关研究进展。

接下来，我们将专注于薄膜技术在红外发射率调控中的应用，包括单层和多层薄膜设计原理、薄膜材料选择以及制备技术。

最后，我们将总结全文，并展望未来的研究方向。

1.3 目的本文旨在对薄膜红外发射率进行全面的概述和解释，深入探讨其在不同领域中的重要性和应用，并对薄膜技术在红外发射率调控中的应用进行详细阐述。

通过这些内容的介绍和分析，我们希望能够增进对红外发射率相关领域的了解，为相关研究和应用提供有益信息，并为今后的研究工作提供启示。

2. 薄膜红外发射率：2.1 定义和基本概念：薄膜红外发射率指的是物体表面在红外波段下向外辐射热能的能力。

在视觉上，物体的颜色大多数时候是由于其对可见光的不同吸收和反射程度而产生的。

类似地，在红外光谱范围内，物体也对红外辐射有不同程度的吸收和反射作用，这种特性便决定了其红外发射率。

薄膜红外发射率通常用ε表示，取值范围为0到1之间。

2.2 影响因素：薄膜红外发射率受多种因素影响，其中最主要的包括材料特性、厚度、工艺和表面状态等。

首先，材料特性对红外发射率具有直接影响，不同材料具备不同的吸收和反射能力。

此外，薄膜的厚度也会直接影响其红外发射率，一般来说，随着厚度增加，红外辐射被吸收的概率也增加。

同时，在制备过程中，采用的工艺不同也会对红外发射率产生影响。

远红外纺织品法向发射率检测红外波长范围测试

远红外纺织品法向发射率检测在现代社会中，纺织品不仅仅是用来覆盖身体的物品，更是一种功能性的材料。

随着科技的进步，人们对纺织品的要求也越来越高，比如功能性、保暖性、舒适性等。

而远红外纺织品法向发射率检测，则成为了评估纺织品性能的关键指标之一。

本文将深入探讨远红外纺织品法向发射率检测，并从红外波长范围测试的角度展开讨论。

1. 远红外纺织品法向发射率概述远红外线是指波长在3-1000微米之间的红外线。

而远红外纺织品法向发射率检测，则是针对纺织品在远红外波长范围内，其对辐射能的吸收和发射能力进行测试和评估的过程。

法向发射率是指物体在特定波长下，对法线方向上辐射能流密度的比值，是表征物体辐射特性的重要参数。

一般来说，纺织品的法向发射率越高，代表着其对远红外线的吸收能力越低，反之亦然。

2. 红外波长范围测试红外波长范围是指电磁波谱中波长在700纳米到1毫米范围内的光波。

在红外波长范围测试中，我们可以通过仪器或设备来获取纺织品在不同波长下的法向发射率，并进而得出该纺织品在远红外线下的辐射特性。

在测试过程中，需要关注纺织品表面的反射、透射和吸收情况，以确定其在远红外波长范围内的法向发射率，并作出评估。

3. 远红外纺织品的意义与应用远红外纺织品法向发射率检测，能够帮助人们评估纺织品在远红外波长下的辐射特性，为纺织品的设计、生产和使用提供重要参考。

具有高法向发射率的纺织品，可以更好地反射、透射或吸收远红外线，从而在冬季保暖服装、户外运动装备等方面发挥作用。

远红外纺织品的应用前景广阔，不仅可以应用于服装、家纺、户外用品等领域，还可以拓展到医疗保健、纳米技术等领域。

4. 个人观点与理解对于远红外纺织品法向发射率检测这一话题，我认为其在纺织品领域的意义十分重大。

通过这项测试，我们可以更好地了解纺织品在远红外波长下的辐射特性，为纺织品的创新与应用提供有力支持。

在未来，随着科技的不断发展和创新，我相信远红外纺织品将会得到更广泛的应用，并为人们的生活和健康带来更多的便利与改善。

红外发射率吸收率

红外发射率吸收率红外发射率和吸收率是研究红外物理学中常用的两个参数。

红外发射率是指物体发射红外辐射的能力，而吸收率是指物体吸收红外辐射的能力。

这两个参数在红外热辐射、红外成像等领域具有重要的应用价值。

红外辐射是指波长在0.78~1000微米的电磁波辐射。

物体在常温下都会发射红外辐射，其强度与物体的温度有关。

根据斯特藩-玻尔兹曼定律，物体的红外辐射功率与物体的表面温度的四次方成正比。

其中，红外发射率是一个介于0和1之间的数值，表示物体辐射红外能量的能力。

发射率为1的物体是完全黑体，能够以最大的强度发射红外辐射；而发射率为0的物体则是完全反射红外辐射的，不会发射任何红外能量。

红外发射率与物体的表面性质有关。

具有粗糙表面的物体通常具有较高的发射率，而具有光滑表面的物体通常具有较低的发射率。

这是因为粗糙表面的物体能够更好地吸收和发射红外辐射，而光滑表面的物体则能够反射大部分的红外辐射。

此外，物体的材料也会对发射率产生影响。

不同材料的红外发射率不同，如金属材料通常具有较低的发射率，而非金属材料通常具有较高的发射率。

与红外发射率相对应的是红外吸收率。

吸收率是指物体吸收入射红外辐射的能力。

吸收率与发射率有一定的关系，它们的总和不会超过1。

对于一个完全黑体来说，其发射率和吸收率都为1；而对于一个完全反射红外辐射的物体来说，其发射率和吸收率都为0。

红外发射率和吸收率的研究在红外热辐射和红外成像技术中具有重要的应用。

通过测量物体的红外发射率和吸收率，可以获得物体的温度信息。

在红外热辐射领域，通过测量物体发射的红外辐射，可以得到物体的表面温度分布，进而研究物体的热传导和热辐射特性。

在红外成像领域，通过测量物体吸收的红外辐射，可以得到物体的红外图像，实现对物体的无接触观测和识别。

除了在红外热辐射和红外成像中的应用，红外发射率和吸收率还在其他领域有着广泛的应用。

例如，在工业生产中，可以利用红外发射率和吸收率来控制物体的温度，实现温度的精确控制和调节。

红外测温发射率表

350型
200-800 (93-427)
350型，抛光 300-1800 (149-982)
446型，抛光 300-1500 (149-815)
17-7 PH型
200-600 (93-316)
17-7 PH型
抛光
300-1500 (149-815)
C1020型，
氧化
600-2000 (316-1093)
1110 (599)
重度氧化
200 (93)
重度氧化
940 (504)
高度抛光
212 (100)
粗抛光
212 (100)
商品板材
212 (100)
高度抛光板
440 (227)
高度抛光板
1070 (577)
光面轧板
338 (170)
光面轧板
932 (500)
合金A3003，氧化
600 (316)
合金A3003，氧化
100 (38) 100-500 (38-260)
77 (25) 212 (100) 932 (500) 1832 (1000) 100 (38) 500 (260) 1000 (538) 2000 (1093)
氧化镍
1000-2000 (538-1093)
钯板 (.00005 on .0005镍)
176 (80) 77 (25) 212 (100)
476 (247) 674 (357) 494 (257) 710 (377) 530 (277)
68 (20) 68 (20) 392 (200) 752 (400) 1112 (600) 77 (25) 212 (100)
镉
77 (25)

傅立叶红外光谱仪的材料光谱发射率测量技术

系统的主要技术指标： (1) 光谱范围：1μm~25μm； (2) 光谱分辨率：0.022nm； (3) 温度范围：60℃~1500℃； (4) 控温精度：±1℃； (5) 发射率测量精度：3%； (6) 试样尺寸：Φ30mm，厚 1mm~10mm； (7) 环境温度：20℃±1℃； (8) 测量时间：小于 10s。
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哈尔滨工业大学工学博士学位论文
2.3.2 加热体的选择
如图 2-3所示，黑体炉(参考黑体)是系统中的重要设备，它的技术指标及性能直接决定了整个系统的指标和性能。由于要工作在 60℃~1500℃这样一个宽的温区，所以其设计与制造有较大难度。在 1500℃时，很多材料都要熔化、软化或失去绝缘性，给材料选择上增加了较大难度[99]。单从加热材料来说，可选的种类就非常少。表 2-2给出了常用的加热方法和加热体。
本文采用的是日本 JASCO 公司生产的傅里叶红外光谱仪(傅里叶红外光谱仪-660)，包括迈克耳逊干涉仪和 DLATGS 型红外探测器。其主要技术指
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哈尔滨工业大学工学博士学位论文
M1 S
B
D
干涉图
M2 A/D
计算机
光谱图 D/A
S-光源；B-分光板；D-探测器；M1-固定反射镜；A/D-模数转换器；M2-动镜； D/A-数模转换器。
Wbλ
=
C1λ −5
exp ⎡⎣C2 (λT )⎤⎦
−1
(2-1)
式中C1=3.740832×10-6Wm2为第一辐射常数，C2=1.438786×10-2mK为第二辐
∫ 射常数。显然，该黑体单位面积上总辐射功率为 Wb = Wbλdλ ，这一结

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