第六章 电子与物质的交互作用

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电子与物质的相互作用及其应用

电子与物质的相互作用及其应用

电子与物质的相互作用及其应用电子束与固体样品作用时产生的信号图是电子束与固体样品作用时产生的信号。

它包括:背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征x射线、俄歇电子。

1.背散射电子背散射电子是被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子,其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。

弹性背散射电子:被样品中原子核反弹回来的,散射角大于90 的那些入射电子,其能量没有损失(或基本上没有损失)。

非弹性背散射电子:入射电子和样品核外电子撞击后产生的非弹性散射,不仅方向改变,能量也有不同程度的损失。

如果有些电子经多次散射后仍能反弹出样品表面,这就形成非弹性背散射电子。

弹性背散射电子和非弹性背散射电子的比较见表。

表弹性背散射电子和非弹性背散射电子的比较2.二次电子在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做二次电子。

3.吸收电子入射电子进入样品后,经多次非弹性散射能量损失殆尽(假定样品有足够的厚度没有透射电子产生),最后被样品吸收而成为吸收电子。

4.透射电子如果被分析的样品很薄,就会有一部分入射电子穿过薄样品而成为透射电子。

5.特征x射线当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时,原子就会处于能量较高的激发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而使具有特征能量的X射线释放出来。

6.俄歇电子在入射电子激发样品的特征X射线过程中,如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以x射线的形式发射出去,而是用这部分能量把空位层内的另一个电子发射出去(或使空位层的外层电子发射出去),这个被电离出来的电子称为俄歇电子。

表电子束与固体样品作用时产生的各种信号的比较。

电子与物质的相互作用

电子与物质的相互作用

K态(K电子去除)
原子能量
K激发
Ⅰ Ⅱ Ⅲ L态(L电子去除) L激发
M N
M态(M电子去除) N态(N电子去除) 价电子去除 中性原子
二次电子
被入射电子(E<50ev)在样品的导带和价带里打出来的电子,称为 二次电子。 ● 二次电子在样品 (5-10nm) 和容易逸出表面,可用来表征样品表 面形貌信息。 ● 扫描透射模式(STEM)利用二次成像,具有比扫描电镜像有更高的 分辨率。扫描电镜中二次电子像的分辨率为 3-6nm ,透射电镜为 2-3nm。

真空 导带 价带
入射电子束 (如 100KeV) K
特征X射线
损失能量的电子
特征x射线示意图
不同材料X射线波长 不同,所以叫特征X射线, 波长取决于阳极靶元素的 原子序数。 特征X射线谱 是叠加在连续X射线谱上 的。
10 8 6 Mo 4 2 Cr 连续光谱
15.2 W β
37.2 特征光谱 α

透射电子
透过试样的电子束携带试样的成分信息,通过对这些透射电子损 失的能量进行分析,可以得出试样中相应区域的元素组成,得到作 为化学环境函数的核心电子能量位移信息。 ● 能量损失谱 (EELS) :由于非弹性散射碰撞使电子损失一部分能量, 这一能量等于原子与入射电子碰撞前基态能量与碰撞后激发态能量 之差。 ● 如果最初电子束能量是确定的,损失的能量又可准确的测量,就 可以得到试样内原子受激能级激发态的精确信息。 ● EELS可以分析原子序数z>=1的元素。

入射高压电子束 背散射电子 俄歇电子
二次电子 特征X射线 可见光
吸收电子
样品
电子空穴对
韧致辐射X射线
弹性散射电子 透射电子

朱静-EELS讲解

朱静-EELS讲解
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU
电子与物质交互作用
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU
弹性散射与非弹性散射
电子衍射图中包含了弹 性和非弹性散射的信息
非弹性散射: Phonons Interband transition Plasma ionization
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU
电子显微镜/电子能量损失谱仪组合
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU
组合要求
具不同能量的电子有不同通道 能量色散面上显示具不同能量的
电子的分布 动能相同的电子聚焦在同一线上
磁棱镜
能量色散面的共轭面 TEM:投影镜的后焦面 DSTEM:物平面 TEMFEF:在?
Spatial resolution
取决于采集谱时,所选择的电子显微镜的模式
TEM mode: 谱仪光栏直径/放大倍率 = 1mm/100000 = 10nm 能量损失大时,受物镜色差影响,可造成偏离物位置约 100nm 适合于采用大的谱仪接收角,获得好的能量分辨率,空间分辨率差
TEM diff. : 空间分辨率 = 样品上的束斑直径 一般电镜:由选区衍射光栏确定样品上对EELS譜有贡献的区域
X orbit (the plane perpendicular to the magnetic field)
Y orbit (the plane parallel to the magnetic field)
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU
内置Ω 型 JEM2010FEF
E. M. Lab. Tsinghua, J.ZHU

电子与物质的交互作用

电子与物质的交互作用
电子、吸收电子等。
X射线与物质的相互作用
X射线衍射
入射电子 Auger电子
背散射电子
二次电子 X射线
样 品
透射电子
入射电子照射固体时,与固体中粒子的相互作用 包括: (1)入射电子的散射; (2)入射电子对固体的激发; (3)受激发粒子在固体中的传播。
18
一、散射



当一束聚焦电子沿一定方向射到固体上时,在固体原子 的库仑电场作用下,入射电子方向将发生改变,这种现 象称为(电子)散射。 有散射弹性和非弹性散射之分。 原子中的原子核和核外电子对入射电子均有散射作用。
俄歇过程和俄歇电子
各种信息的作用深度
从图中可以看出,俄 歇电子的穿透深度最 小,一般穿透深度小 于1nm,二次电子小 于10nm。
分辨本领
分辨本领的决定因素: ① 入射电子束束斑直径 是分辨本领的极限 ② 入射束在样品中的扩展效应 导致相互作用体积产生,以及信号产生的 深度和广度。

(6) 透射电子(TE)
断口分析
典型的功能陶瓷沿晶断口的二次电 子像,断裂均沿晶界发生,有晶粒拔 出现象,晶粒表面光滑,还可以看到 明显的晶界相。
扫描电子显微镜
Scanning Electronic Microscopy
扫描电子显微镜SEM


利用聚焦电子束在试样上扫描时,激发某些 物理信号,来调制一个同步扫描的显像管, 在相应位置成像。 分辨本领高、M连续可调、样品制备简单。 固体材料表面分析的有效工具。 观察材料断口和显微组织三维形态,进行表 面成分分析。

样品质量厚度越大,TE系数越小,AE系 数越大;BE系数和SE发射系数的和也越 大,达到一定值时,保持定值。

第十一电子与物质的相互作用

第十一电子与物质的相互作用
核外电子的非弹性散射
入射电子受核外电子的散射,电子偏转时有能量的变化,
此偏转可视为非弹性散射
在(re)2 圆面积内的散射,散射角θe ,称(re)2 为散
射角大于θe的非弹性散射截面
12
二、电子散射
2.1 电子散射截面与电子散射能力
散射截面:电子被散射的机会
r2
式中,r为散射中心的有效半径,实际代表了电子与散射中心 的距离。
低原子序数样品:电子偏离原方向的程度较小,穿透得较深; 形状明显地随原子序数而改变,从低原子序数的梨型(滴状)
变为高原子序数的近似半球型。
21
三、电子束与物质的相互作用区
3.2 入射电子能量的影响
对于同一物质的样品,作用区的尺寸正比于入射电子的能量; 随着入射电子能量的增大,相互作用区的横向和纵向尺寸随
对v0=0的电子,在加速电压U的作用下,速度达到v,则动 能E为:
1 mv2 eU 2
v 2eU m
v U12
2
一、电子与物质的相互作用
1.1 电子的波长
(3)电子波长与加速电压的关系
h h
1.5 1.225 U (nm)
mv 2eUm U
(4)电子波长的相对论校正
hc
e
U2
2Um0c 2 e
其中有些特征能量损失ΔE的非弹性散射电子和分析区域的成分 有关,可以用特征能量损失电子配合电子能量分析器进行微 区成分分析。
30
四、电子束与样品相互作用产生的信号
5.连续X射线
与X射线管产生连续X射线的原理一样,不同的是,这里作阳极 的不是磨光的金属表面,而是试样。当电子束轰击试样表面时,有 的电子可能与试样中的原子碰撞一次而停止,而有的电子可能与原 子碰撞多次,直到能量消耗殆尽为止。每次碰撞都可能产生一定波 长的X射线,由于各次碰撞的时间和能量损失不同,产生的X射线的 波长也不相同,加上碰撞的电子极多,因此将产生各种不同波长的 X射线——连续X射线。

电子与物质的交互作用

电子与物质的交互作用
弹性散射是电子衍射及成像的基础
核外电子的非弹性散射
2
1
一个运动的电子靠近孤立的电子时,由于库仑力的排斥作用,电子将向反方向偏转,偏转角--,的大小取决于re 的大小
非弹性散射
核外电子的非弹性散射
01
电子质量=电子的质量,电子偏转时有能量的变化,此偏转可视为非弹性散射。 在(re)2 圆面积内的散射,散射角,称(re)2 为散射角大于的非弹性散射截面。
第二篇 电子显微分析技术
《材料现代分析技术》课程建设小组
202X
202X
01
散射的基本概念
பைடு நூலகம்
02
高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息
1.电子与物质的交互作用
CONTENTS
1.1 散射的基本概念
电子:是一种带负电的基本粒子
01
Part 01
单击此处添加标题
02
Part 02
单击此处添加标题
散射:当一束聚焦电子沿一定方向射到样品上时,在样品物质原子的库仑电场作用下,入射电子方向发生改变的现象。
(1)背散射电子
(2)二次电子
定义: 在入射电子的轰击下被迫离开试样表面的试样的核外电子。
二次电子发射的广度与入射电子束直径相差无几,它对试样表面形貌敏感
主要用于显示试样的表面形貌
二次电子的能量小于50 eV,所以只有试样表层下5~10nm范围内激发出的二次电子,才有可能逸出试样表面
(2)二次电子
散射的基本概念
01
02
01
02
弹性散射:电子只改变运动方向,基本无能量变化。 非弹性散射--原子对入射电子的散射
电子不仅改变运动方向,能量也有不同程度衰减。被散射电子的波长改变,损失的能量导致物体内部的某些激发效应,其表现形式可以是次级电子、俄歇电子、标识和连续 X射线、热辐射、紫外和可见光区域的光子等,也可以是等离子体激元的激发。

电子与物质的交互作用

电子与物质的交互作用
此时.由于入射束尚无明显的侧向扩展, 因而这种信号反映的是一个与入射束直径相当 的、很小体积范围内的形貌特征,故具有较高 的空间分辨率。
目前在扫描电镜中二次电子像的分辨率— 般在3—6nm之间(取决于电子枪类型及电子光 学系统结构),在透射扫描电镜中达到2—3nm 。
3.信号收集效率高
在入射电子束作用下,样品上被照射区产生的 二次电子信号(以及后面即将谈到的其它几种信号) 都是以照射点为中心向四面八方发射的(相当于点 光源)其中在样品表面以上的半个球体内的信号是 可能被收集的。
电子与物质的交互作用
第一节 散射
当一束聚焦电子沿一定方向射到样品上 时,在样品物质原子的库仑电场作用下,入 射电子方向将发生改变,称为散射。
原子对电子的散射还可以进一步分为弹性 散射和非弹性散射。
在弹性散射中,电子只改变运动方向,基 本上无能量变化。
在非弹性散射中,电子不但改变力向、能 量也有不同程度的衰减,衰减部分转变为热、 光、x射线、二次电子等。
原子对入射电子在θn角方向的弹性散射振幅(即散射因 子)是
式中,Z代表核对入射电子的弹性散射;fx(θn)是原 子对x射线的散射因子,由于只有核外电子才对x射线有 散射作用,所以这一项代表核外电子对入射电子的散射 作用,它的负号表示核外电子的负电荷对原子核的弹性 散射的屏蔽作用。
一般说来,原子对电子的散射还较对x射线的散射 为强,因此电子在物质的内部的穿透深度要较x射 线小得多。
利用俄歇电子进行元素分析的仪器称谓俄歇电子能谱 仪(AES)。
俄歇电子具有以下特点
1.适于分析轻元素及超轻元素
因为这些元素的特征x射线产额很低,例如A1(z= 13)的δx为0.040,而C(Z=6)的δx只有0.0009,相应 的信息强度十分微弱,而这类元素俄歇电子产额很高, 因此.用其进行成分分析时灵敏度远远优于x射线。

《电工电子学》电子与物质的相互作用

《电工电子学》电子与物质的相互作用

对于多晶体而言,由于晶粒数目极大 且晶面位向在空间任意分布,多晶体 的倒易点阵将变成倒易球。倒易球与 爱瓦尔德球相交后在相纸上的投影将 成为一个个同心圆。
电子衍射结果实际上是得到了 被测晶体的倒易点阵花样,对 它们进行倒易变换从理论上讲 就可知道其正点阵的情况―― 电子衍射花样的标定。 与X射线衍射类似,遵循布拉 格定律: 2d sin n
倒易点阵是埃瓦尔德(P.P.Ewald)1920年引 入的概念,是一种虚点阵。 正点阵中每组平行晶面(hkl)相当于倒易点 阵中的一个倒易点,此点在这组晶面的公 共法线上,它到原点的距离为该组晶面间 距的倒数。
扫描电子显微镜(SEM)
1935年:德国的 Knoll提出了扫描 电镜(SEM)的概念; 1942 Zworykin. Hillier, 制成了第 一台实验室用的 扫描电镜。1965 年第一台商品扫 描电镜问世。
4)背散射电子(BE)—从距样品表面0.1-1um深度范围内散射回来的入射电子,其 能量近似入射电子能量。主要特点:a)对样品物质的原子序数敏感;b)分辨率和信 号收集率较低; 5)吸收电子(AE)—残存在样品个的入射电子,用于表面化学成份和表面形貌分析。 6)俄歇电子(AUE)—从距样品表面几Å深度范围内发射的并具有特征能量(固定值, 随元素不同而异)的二次电子。特点是用于分析轻和超轻元素和表面薄层分析 (<1nm)。 7)非弹性散射电子—入射电子受到原子核的吸引改变方向的电子。能量损失谱。 原子核(连续波长X射线)和核外电子(二次电子和特征X射线) 8)阴极荧光—入射电子束激发发光材料表面时,从样中激发出来的光子波长大约 在可见光到红外光范围之间。 9)感应电动势—对半导体物质,入射电子产生的电子-空穴对在外电场作用下,各 自运动到一定的区域积累起来,形成净空间电荷而产生电位差,形成附加电动势 10)Cherenkov 辐射 1932-1933年间,德国的Ruska和Knoll 等在柏林制成了第一台电子显微镜(1986诺 贝尔奖) ,放大率只有l2倍,表明电子波可以用于显微镜。 1939年德国的西门子公司产生了分辨本领优于100 Å的电子显微镜。 我国从1958年开始制造电子显微镜。现代高性能的透射电子显微镜点分辨本领 优于3Å,晶格分辨本领达到1-2Å,自动化程度相当高。

电子与固体的相互作用

电子与固体的相互作用

• 适用于表层化学成分分析。 • 铍是产生俄歇效应的最轻元素。
各种物理信号产生的区域
俄歇电子<1nm 二次电子<10nm 背散射电子>10nm X射线1um
X射线 1.散射(相干,非相干) 与物质相互 2.光电效应—光电子,俄歇, X-荧光 作用 3.透射 4.热
电子束 1.背散射; 与物质相互 3.透射电子; 作用 5.俄歇; 2.二次电子 4.吸收电子 6.特征X射线
电子与物质的交互作用
透射、吸收、(背)散射
试样上方接收的电子谱图
(1)背散射电子
• BE指入射电子在试样内经过一次或几次大角度弹 性散射或非弹性散射后离开试样表面的电子。 • 背散射电子的产生范围在100nm-1µm。这是由于 背散射电子有较高的能量,可在试样较深部位散射 出试样表面。
背散射电子产额
释放的具有特征能量和波长的一种电磁波。
• 入射电子使核外电子脱离原子,使原子处于激发态外层电
子会迅速填补内层电子空位,使原子降低能量趋于较稳定
状态。
● 如K激发态,E=(EK-EL)以X-射线形式释放。
K
hc E K E L2
莫塞莱定律:

K
Z
2
● 特征X射线来自试样500nm-5000nm区域。
BE的产额随试样原子序数的增加而增加。
● 背散射电子在试样内部接
近完全扩散,其广度较入射 电子束直径大若干倍,可从 试样较深部位逸出。
(2)二次电子
• 二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。
• 价电子的结合能很小,比较容易和原子脱离。在样品表面
上方检测到的二次电子绝大部分来自价电子。 • 比较接近样品表层,能量大于逸出功的电子可从样品表面 逸出,成为二次电子。 • 一个能量很高的入射电子,可以产生许多二次电子。

电子与物质的交互作用

电子与物质的交互作用
材料电子显微分析
电子显微镜 (electron microscope,EM)一般是指利用电磁场偏 析、聚焦电子及电子与物质作用所产生散射之原理来研究物质 构造及微细结构的精密仪器。近年来,由於电子光学的理论及 应用发展迅速,此项定义已嫌狭窄,故重新定义其为一项利用 电子与物质作用所产生之讯号来监定微区域晶体结构(crystal structure, CS) 、微细组织 (microstructure,MS) 、 化学成 份(chemical composition,CC) 、 化学键结(chemical bonding, CB) 和电子分布情况 (electronic structure,ES) 的电子光学装 置。
fa n
2.38
1010
s
108
in n
z
f x n
上式中:z代表原子核对入射电子的弹性散射; fx n 核外电子对入射线的散射因子
பைடு நூலகம்
原子核对电子的非弹性散射
由于这种非弹性散射,入射电子不但改变方向,并有不同程
度的能量损失,因此速度减慢。损失的能量E 转化为X射线,
它们之间的关系是:
E hv hc/
原子核对电子的弹性散射
根据卢瑟福的经典散射模型,散射角
n 的大小取决于瞄准距离 n 、核电荷
数Ze 和入射电子的能量E0,其关系如
下:
n
Zn E0 rn
可见,原子序数越大,电子的能量
越小,距核越近,则散射角越大。
入射电子与原子的交互作用 产生的各种信息的示意图
这种弹性散射是电子衍射及成像的基础,原子对入射电子在n 角方向的弹性散射振幅(即散射因子)是:
分辨率及信号收集率较低
由于背散射电子能量与入射电子相当,因而从样品上方收集到的背散 射电子可能来自样品内较大的体积范围内,使这种信息成像的空间分辨 率低。

电子与物质的相互作用

电子与物质的相互作用

电子与物质的相互作用电子与物质的相互作用与扫描电镜原理当一束聚焦电子束沿一定方向入射到试样内时,由于受到固体物质中晶格位场和原子库仑场的作用,其入射方向会发生改变,这种现象,称为散射。

如果在散射过程中入射电子只改变方向,但其总动能基本上无变化,则这种散射成为弹性散射;如果在散射过程中入射电子的方向和动能都发生改变,则这种散射成为非弹性散射。

入射电子的散射过程是一种随机过程,每次散射后都使其前进方向改变,在非弹性散射过程是一种随机过程,每次散射后都使其前进方向改变,在非弹性散射情况下,还会损失一部分能量,并伴有各种信息的产生如热、X 射线、光、二次电子发射等。

从理论上,入射电子的散射轨迹可以用蒙特卡罗方法来模拟如图2-1 所示。

并且推导得入射电子的最大穿透深度可用如下公式来描述:Zmax = 0.0019(A / Z)1.63 E01.71 /ρ式中ρ为密度;A 原子量;Z 为原子序数;E0 为入射电子的能量1-入射电子;2-二次电子;3-背反射电子;4-俄歇电子;5-X 射线;6-阴极发光;7-扩散云;Zmax -入射电子的最大穿透深度;φ-入射电子的入射角;ψ-返回表面的出射角。

如图2-1 所示,入射电子经过多次弹性和非弹性散射后,可能出现如下情况:(1)部分入射电子所累积的总散射角大于90°,重新返回表面逸出,这些电子成为背反射电子(原入射电子或称为一次电子);(2)部分入射电子所累积的总散射角小于90°,并且试样的厚度小于入射电子的最大贯穿深度,则它可以穿透试样而从另一面逸出,这部分电子称为透射电子;(3)部分入射电子经过多次非弹性散射后,其能量损失殆尽,不再产生其它效应,被试样吸收,这部分电子称为吸收电子。

系统研究表明,入射电子的散射过程可以在不同的物质层次中进行。

如果入射电子的能量是在5~30keV 之间,则可能存在如下几种情况:(1)入射电子和原子和相互作用;(2)入射电子和原子中核外电子相互作用;(3)入射电子核晶格相互作用;(4)入射电子和晶体空间中电子云相互作用。

电子与物质的相互作用

电子与物质的相互作用

4、二次电子
• 被入射电子(E<50eV)在样品的导带和价带里打出来的电子,成为二次电子。 • 二次电子在样品表面(5-10nm)和容易逸出表面,可用来表征样品表面信息。 • 扫描透射模式(STEM)利用二次电子成像,具有比扫描电镜像有更高的分辨率。 • 快二次电子:是从内壳层中激发出来的(50-200keV),会产生许多X射线,干扰X射线分析。
• 光子的产生率与半导体的能带有关或与半导体中杂质有关。 • 主要用于扫描电镜,也用于STEM。
谢谢观赏
• 透过试样的电子束携带试样的成分信息,通过对这些透射电子损失的能量进行分析,可以得出试样中相应 区域的元素组成,得到作为化学环境函数的核心电子能量位移信息。
• 能量损失谱(EELS):由于非弹性散射碰撞使电子损失一部分能量,这一能量等于原子与入射电子碰撞前 基态能量与碰撞后激发态能量之差。
• 如果最初电子束能量是确定的,损失的能量有可准确地测得,就可以得到试样内原子受激能级激发态的精 确信息。
• 透射电子 • 特征X射线 • 二次电子 • 背散射电子 • 阴极发光
1、辐照损伤
• 电子束可以打断某些物质的化学键,也可以将某些原子从格位碰撞出去,对样品带来不利的影响。 • 解决办法: • 尽可能用最大的加速电压,减少散射截面 • 尽量少使用高亮度小束斑的电子束 • 样品尽可能薄。
2、透射电子
越大。
• 核外电子对电子的排斥力为

2
F er 核外电子对入射电子的散射主要是非弹性散射e。 2
• 电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射Z倍。
(5-1)
• 原子序数越大,弹性散射就越重要,反之,非弹性散射就越重要。
• 弹性散射是电子衍射和电子显微像的物理依据。

电子与固体物质的作用ppt课件

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五、相互作用的体积和信号产生 相的互深作用度体积和的形广状和度大小
➢电子与固体试样相互作用体积的 形状和大小与入射电子的能量、试 样原子序数和电子束入射方向有关。
➢对于轻元素,相互作用体积呈梨 状;对重元素试样,相互作用体积 呈半球状。
➢入射电子能量增加只改变相互作 用体积的大小,但基本形状基本不 变。
电子与固体物质的相互作用
单目击此录处编辑C母o版n标题t样e式nts
1 电子散射 2 内层电子激发后的弛豫过程 3 自由载流子 4 电子与固体作用产生的各种信号 5 相互作用体积与信号产生的深度和广度
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一、电子散射
➢ 当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样内,在原子库仑电 场作用下,入射电子方向改变,称为散射。原子对电子的散 射可分为弹性散射和非弹性散射。 ➢ 在弹性散射中,电子只改变方向,基本无能量的变化。 ➢ 在非弹性散射中,电子不但改变方向,能量也有不同程度 的减小,转变为热、光、X射线和二次电子等。 ➢ 原子对电子的散射具体分为:
➢用检测电流的方式可以得到吸收电子的信号像,它是背散 射电子像和二次电子像的负像。
➢现在一般不采用这种方式获得照片。
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透射、吸收、背散射和二次电子之 间的强度关系
➢样品本身要保持电平衡,这
些电子信号必须满足以下关
系:
ip=ib+is+ia+it
式中:ip是入射电子强度;ib 是背散射电子强度;is是二次 电子强度;ia是吸收电子强度; it是透射电子强度。
子能量,且俄歇电子的平均自由程很小( 1nm左右),只有表面1nm左 右范围内逸出的俄歇电子才具有分析意义。因此俄歇电子特别适合表面 层的成分分析。

电子与物质的相互作用及其应用

电子与物质的相互作用及其应用

电子与物质的相互作用及其应用首先,电子散射是指电子与物质中的原子、分子或晶格发生碰撞并改变运动方向的过程。

根据散射角度的不同,电子散射可以分为弹性散射和非弹性散射。

弹性散射是指电子在与物质发生碰撞后,能量、动量和角动量守恒,只改变运动方向而不改变能量的过程。

非弹性散射是指电子在与物质发生碰撞后,除了改变运动方向外,还会转移或转化能量的过程。

电子散射的研究可以揭示物质的结构和性质,也是电子显微镜等技术的基础。

其次,电子吸收是指电子被物质中的原子、分子吸收并转化为其他形式的能量的过程。

电子吸收通常发生在原子或分子的能级间跃迁的过程中。

当电子吸收能量与物质能带结构相吻合时,电子可以激发到更高的能级上,并导致电子的离子化或电子激发。

电子吸收的研究可以揭示物质的化学成分和电子能级结构,并应用于光谱学和能谱学等领域。

最后,电子激发是指电子通过与物质相互作用,使物质中的原子、分子或晶格发生能级跃迁的过程。

电子激发通常发生在物质中的特定能级上。

当电子激发能量与物质的能级结构相吻合时,电子可以使物质中的原子、分子或晶格发生激发态到基态的跃迁,并导致发光或发射其他形式的能量。

电子激发的研究可以揭示物质的发光机制和能量转换过程,并应用于光电子学和光学传感器等领域。

基于电子与物质的相互作用,有许多重要的应用。

首先,在电子技术中,电子与物质的相互作用是电子器件工作的基础。

例如,电子与半导体材料相互作用可以产生电子在材料中的载流子,从而实现电流的传导和控制。

这种相互作用被应用于各种电子器件,如晶体管、场效应管和二极管等。

此外,电子与材料的相互作用还被用于制造和改变材料的性质,如半导体材料的掺杂和表面修饰。

其次,在材料科学中,电子与物质的相互作用被应用于制备新的材料或改变材料的性质。

例如,通过电子束物理气相沉积技术,可以在材料表面聚积一层薄膜,从而改变材料的光学、电学或磁学性质。

此外,通过电子束激光束处理,还可以实现对材料的微细加工和纳米结构的制备。

电子与物质的作用

电子与物质的作用

信号产生机制,层深,特征给出的信息BE(背散射电子)背散射电子是被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。

其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。

1.对样品物质的原子序数敏感2.分辨率及信号收集率较低背散射电子成像的衬度是由于原子序数的不同引起的,所以背散射电子一般用于区别不同的相,用来看金相试样的不同区。

能量很高,有相当部分接近入射电子能量 E 0 ,在试样中产生的范围大,像的分辨率低。

背散射电子发射系数η =I B /I 0 随原子序数增大而增大。

作用体积随入射束能量增加而增大,但发射系数变化不大。

SE(二次电子)在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子叫做二次电子。

对样品表面形貌敏感空间分辨率高二次电子的能量较低,一般不超过50eV。

大多数二次电子只带有几个电子伏的能量。

二次电子一般都是在表层5~10nm深度范围内发射出来的,它对样品的表面形貌十分敏感,因此,能非常有效的显示样品的表面形貌。

AE(吸收电子)当样品较厚时,例如达到微米数量级,入射电子中的一部分在样品内经过多次非弹性散射后,能量耗尽,既无力穿透样品,也不能逸出表面,称为吸收电子。

可以分析原子序数不同的元素在样品上各微区定性的分布情况。

随原子序数的增大,背散射电子增多,吸收电子减少,背散射电子(包括二次电子)+吸收电子=1TE(透射电子)如果样品是薄膜,例如厚度为几十至几百纳米,比入射电子的有效穿透深度小得多,就会有相当数量的入射电子穿透样品被装在样品下方的检测器接收,叫做透射电子。

1.质厚衬度效应:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域透射电子强度的改变,从而在图像上形成亮暗不同德区域,这一现象称为质厚衬度效应。

2.衍射效应3.衍衬效应:在同一入射束照射下,由于样品相邻区域位向或结构不同,以致衍射束(或投射束,二者强度互补)强度不同而造成图亮度差别(衬度),称为衍衬效应。

AES(俄歇电子能谱分析)用一定能量的电子束轰击样品,使样品原子的内层电子电离,产生俄歇电子,俄歇电子从样品表面逸出进入真空,被收集和进行分析。

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第六章电子与物质的交互作用6.1 散射散射:当一束聚焦电子沿一定方向射到样品上时,在样品物质原子的库仑电场作用下,入射电子方向将发生改变,称为散射。

弹性散射:电子只改变运动方向,基本上无能量变化。

非弹性散射:电子运动方向改变,能量也有不同程度的衰减。

6.1.1原子核对电子的弹性散射当入射电子从距原子核r处经过n时,由于原子核的正电荷的吸引作用,入射电子偏离入射方向。

此即原子核对电子的弹性散射散射角n 与瞄准距离n r、核电荷数e Z 及入射电子的能量0E 之间的关系为:n n n r E Z 0=θ可见,原子序数越大,电子能量越小,距核越近,则散射角越大。

除原子核对电子的散射外,核外电子带负电荷,对原子核的弹性散射有屏蔽作用。

由于原子对电子的散射比对X 射线的散射强得多,因此,电子在物质内部的穿透深度要比X 射线小得多。

作用:原子核对电子的弹性散射是电子衍射及成像的基础。

6.1.2原子核对电子的非弹性散射非弹性散射发生后,电子运动方向改变,能量也有不同程度的损失,损失的能量△E 转化为相应的X 射线的能量:λγ∆/hc h E ==可见,能量损失越大,X 射线的波长越短。

不利影响:产生的X射线是连续的无特征波长的X射线,不能反映样品结构或成分特征,反而产生背景信号,影响成分分析的灵敏度和准确度,对X射线衍射不利。

作用:连续X射线谱的强度数据可用于分析颗粒样品和粗糙表面样品的绝对浓度。

6.1.3核外电子对入射电子的非弹性散射散射时入射电子所损失的能量部分转变为热,部分使物质中的原子发生电离或形成自由载流子,并伴随着产生二次电子、俄歇电子、特征X射线、特征能量损失电子、阴极发光和电子感生电导等有用信息。

不利影响:在电子衍射及透射电镜成像中引起色差而增加背景强度及降低图像衬度。

作用:产生的电离、阴极发光及电子云的集体振荡等物理效应,可以反映样品的形貌、结构及成分特征,是各种电子显微分析仪器的重要信息来源。

6.2 高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息6.2.1 二次电子电离:入射电子与核外电子发生相互作用时,使原子失去电子而变成离子,这种过程叫电离。

二次电子:电离时脱离原子的电子。

价电子激发:原子的最外层电子(价电子)被电离出来变成二次电子的过程。

芯电子激发:原子的内层电子被电离出来变成二次电子的过程。

价电子激发所需的能量比芯电子激发所需的能量小得多,故价电子的激发几率远大于内层电子的激发几率。

二次电子的主要特点:1.对样品表面形貌敏感二次电子的产额(发射效率)δ与入射电子束的入射角θ有下列关SE系:θδcos 1=∝=P SE SE I I式中SE I 为二次电子电流强度,P I 为入射电子电流强度。

当样品表面不平时,入射角θ不同,二次电子的强度相应改变,用检测器检测样品上方的二次电子,则得到形貌衬度图像,这种图像就能反映出样品表面形貌特征。

见右图。

2.空间分辨率高入射电子束进入样品后,由于受到原子核及核外电子的散射,其作用范围有所扩展,见下图。

图中,(a)电子束散射区域梨形形状;(b)重元素样品的电子束散射区域半球形状。

2-俄歇电子激发区域;4-二次电子激发区域;5-背散射电子激发区域;6-初级X射线激发区域只有接近表面约10nm以内的二次电子才能逸出表面被检测器接收,在此深度入射束尚无明显侧向扩散,检测到的信号仅反映了与入射束直径相当、很小体积范围内的形貌特征,所以,二次电子具有较高的空间分辨率。

扫描电镜中二次电子像的分辨率为3-6nm,透射电镜为2-3nm。

3.信号收集效率高二次电子信号是以入射束的照射点为中心向四面八方发射的(相当于点光源)。

但由于仪器结构设计方面的困难,二次电子信号检测器的检测部分只占信号分布范围的很小一部分,这样,信号收集效率必然很低。

好在二次电子能量很低,易受电场作用。

因此,可在检测器上面加一个5-10kV的正电压,就可使样品上方的绝大部分二次电子都进入检测器。

目前,二次电子是扫描电镜成像的主要手段。

6.2.2 背散射电子入射电子照射样品后,发生弹性和非弹性散射,有些入射电子的累计散射角超过90°,它们将重新从样品表面逸出,称为背散射电子。

在样品上方能够测量的电子数目随能量的分布如下图(电子能谱曲线)。

其中,E0处为弹性散射峰,<50eV的低能段为二次电子峰,两峰之间是非弹性散射电子构成的背景,包括:背散射电子峰、俄歇电子峰、特征能量损失峰。

背散射电子的能量分布较宽。

电子显微分析仪器中利用的背散射电子是那些能量较高的(能量接近或等于E0的电子),这些背散射电子有如下特点:1.对样品物质的原子序数敏感背散射电子产额随原子序数的增大而增加,如图。

所以,背散射电子像的衬度与样品上各微区的成分密切相关,金属中各相分布易于显示。

2.空间分辨率及信号收集率较低如右图,5-背散射电子激发区域背散射电子激发区域大,空间分辨率低,只能达到100nm。

而且,背散射电子能量大,运动方向不易偏转,检测器只能接收一定方向上的及较小立体角范围内的电子,信号收集率较低。

6.2.3 吸收电子当样品较厚(达微米数量级),入射电子的一部分在样品内经过多次非弹性散射后,能量耗尽,既无力穿透样品,也不能逸出表面,这种电子称为吸收电子。

吸收电子与背散射电子(包括二次电子)是互补关系,即原子序数越大,背散射电子越多,则吸收电子越少,反之亦然。

因此,吸收电子像的衬度正好与背散射电子像相反,同样可以得到原子序数不同的元素在样品上各微区定性的分布情况。

6.2.4特征X 射线及俄歇电子入射电子照射样品,内层(K 层)电子被激发(发生电离),原子处于激发态,能量为E K ,L 2层电子填补内层电子空位,能量由E K 变为E L ,此时,可通过两种途径释放能量E K –E L :1.产生X 射线,即该元素的αK 辐射,其波长为αλk L K hc E E /=-,不同元素E K 和E L 的值不同,有特征性,αK 辐射波长不同,故为特征X 射线。

可用于成分分析、晶体结构研究等。

2.释放出的能量E K –E L 使另一核外电子电离成二次电子,它的能量随元素不同而不同,这种具有特征能量的二次电子称为KL2L2俄歇电子。

俄歇电子已用于俄歇电子能谱仪进行元素分析。

俄歇电子有以下特点:1.适于分析轻元素及超轻元素轻元素及超轻元素的X射线产额低,而俄歇电子产额高,用于成分分析灵敏度远高于X射线。

2.适于表面薄层分析俄歇电子激发区域小,能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子只限于表层以下1nm以内的深度范围。

因此,俄歇电子可用于样品表面、晶界或相界面处的成分分析。

6.2.5自由载流子形成的伴生效应当入射电子进入一些半导体、磷光体和绝缘体物质时,使内层电子激发,激发过程中还可通过碰撞电离,使满带电子被激发到导带,从而在导带和满带内产生大量电子和空穴等自由载流子。

自由载流子的形成会因物质的不同而伴生不同信息。

1.产生阴极发光在磷光体中产生电子-空穴对后,导带中的负载流子(电子)跳回基态,同时发射光而释放能量,光的波长在可见光到红外光范围内,这种现象称为阴极发光。

大多数阴极发光材料对杂质十分敏感,任何杂质原子分布的不均匀都能造成阴极发光的强度差异,因此,阴极发光信息可用于检测杂质,灵敏度比X射线发射光谱高三个数量级。

还可用于鉴定物质相。

2.产生电子感生电导入射电子在半导体中产生电子-空穴对后,在外加电场作用下可产生附加电导,这种效应称为电子感生电导。

可用于测量半导体中载流子的扩散长度和寿命。

6.2.6入射电子和晶体中电子云相互作用当入射电子通过晶体空间时,电子云会作发散回复运动,造成电子云的集体振荡现象,称为等离子激发。

同时伴随能量损失,入射电子的能量损失随元素和成分不同而异,有特征性。

如果入射电子引起等离子激发后能逸出试样表面,则这种电子称为特征能量损失电子。

若测量这种电子能量信息,可进行成分分析,则称为能量分析电子显微术。

若利用这种电子信息成像,则称为能量选择电子显微术。

6.2.7入射电子和晶格相互作用(自学)6.2.8周期脉冲电子入射的电声效应(自学)6.2.9透射电子入射电子穿透厚度为几十至几百纳米的薄膜样品,被样品下方的检测器所接收,这种电子称为透射电子。

入射电子束照射的微区在厚度、晶体结构或成分上有差别,则会引起透射电子的强度、运动方向和能量分布的变化。

1.质厚衬度效应样品不同微区质量或厚度的不同,所引起的相应微区透射电子强度的不同,进而使得图像上不同区域的亮暗程度不同,这种现象称为质厚衬度效应。

质厚衬度效应可以观察样品的组织形貌细节。

2.衍射效应入射电子束相当于波长恒定的平面单色波,可以在晶体上发生如X 射线一样的衍射现象,衍射规律同样满足布拉格方程。

测出产生衍射时掠射角的大小,由已知的电子束波长,就可算出相应的晶面间距d,以确定样品晶体结构。

若晶体结构已知,也可通过衍射效应确定晶体的空间方位及与相邻晶体间的位向关系。

3.衍衬效应入射电子束照射位向或结构不同的样品相邻区域时,会由于衍射束或与其互补的透射束强度的不同引起图像亮度的差别(衬度),称为衍衬效应。

衍衬效应可以测量单相合金晶粒的形貌、多相合金中不同相的分布及晶体内部的结构缺陷。

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