赛默飞ige单项检测品检测范围

赛默飞ige单项检测品检测范围
赛默飞ige单项检测品检测半导体产品分析通常通过气相分解或液滴蚀刻进行研究，然后对得到的样品溶液进行示踪元素含量分析。

范围在Si基样品由于干扰的存在，四极杆ICP-MS很难测定痕量磷，但在高分辨ICPMS中分辨模式下即可轻松完成。

通过气相分解高分辨电感耦合等离子体质谱技术(VPD-HR-ICPMS)，可实现晶圆样品中42种元素定量分析，并提高分析方法的检测限。

半导体产业对于硅片晶圆纯度通常要求在99.9999999%以上。

因此，赛默飞ige单项检测品检测需要仪器具有非常高的检测灵敏度，强大的干扰去除能力及基质耐受性，赛默飞系列创新产品如单四极杆iCAP RQ ICP-MS。

三重四极杆iCAP TQ ICP-MS及高分辨ICP-MS技术，可对晶圆表面超痕量污染物进行定量分析，从而可靠地控制硅片晶圆生产中的痕量杂质元素浓度。

赛默飞ige单项检测品检测半导体产业还会涉及其它大量的高纯材料，比如溅射靶材，高纯石墨等，赛默飞Element GD Plus GDMS技术可以很好的满足用户高纯材料检测的需求。

赛默飞ige单项检测品检测对于任何感染性疾病的出现，能及时检测
和鉴定病原体是有效控制疾病并选择合理治疗方案的关键。

赛默飞以多样化的临床需求为出发点，立足经典方法，同时不断探索和创新，针对感染性疾病研究提供基于不同检测手段的解决方案，助力患者的精准诊断和精准用药。

赛默飞ige单项检测品检测全自动微生物培养系统和各类成品培养基适用于血液、无菌体液、痰液等多种类型样本中微生物分离、培养或鉴别。