透射电镜主要有几个

1.透射电镜主要有几个系统构成？各大系统的关
系？
答，四大系统，电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪器系统，电子光学系统为核心，其他为辅助系统
1. 基态：原子核外电子按照能量最低原理，泡利不相容原理、洪特规则分布于各能级上，此时系统处于能量最低状态，称为基态。

2. 俄歇电子：当高能级的电子向低能级跃迁时，所释放出的能量被某个壳层电子所吸收，并促使该电子受激发逸出原子形成的二次电子称为俄歇电子。

3. 物相分析：确定材料由哪些相组成和组成相的相对含量。

4. 色差：由于入射电子的波长或能量的非单一性所造成的像差。

5. 振动耦合：当两个频率相同或相近的基团在分子中靠得很近时，它们的振动可能产生相互影响，使吸收峰裂分为两个，一个高于原来的频率，一个低于原来的频率。

6. 热重分析：在程序控温下，测量试样质量与温度或时间关系的动态技术。

1. 对于X射线管而言，在各种管电压下的连续X射线谱都存在着一个最短的波长长值
，称为短波限，当管电压增大时，此值减小的。

2. 由点阵常数测量精确度与角的关系可知，在相同条件下，角越大，测量的精确度越高。

7. 根据底片圆孔位置和开口位置的不同，德拜照相法的底片安装方法可以分为：正装法、偏装法、反装法
8.
3. 两组相邻的不同基团上的H核相互影响，使它们的共振峰产生了裂分，这种现象叫自旋耦合（或者自旋干扰、耦合裂分）。

德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的偏心误差和样品的吸收误差
4. 对于红外吸收光谱，可将中红外区光谱大致分为两个区：特征频率区和指纹区。

特征频率区区域的谱带有比较明确的基团和频率对应关系。

5. 衍射仪的测量方法分哪两种：连续扫描法和步进扫描法。

6. DTA曲线描述了样品与参比物之间的温度差随温度或时间的变化关系。

7. 在几大透镜中，透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于物镜。

8. 紫外吸收光谱是由分子中电子能级（或价电子跃迁引起的。

红外吸收光谱是由分子中振动能级和转动能级跃迁引起的。

9. 有机化合物的价电子主要有三种，即电子、电子和n电子。

10. 核磁共振氢谱规定，标准样品四甲基硅 TMS ＝ 0 。

11. 红外吸收光谱又称振-转光谱，可以分析晶体的结构，对非晶体却无能为力。

此种说法正确与否？否
12. 透射电子显微镜以透射电子为成像信号，扫描电子显微镜主要以二次电子为成像信号。

14.氢核受到的屏蔽效应强，共振需要的磁场强度高（大），共振峰在高场出现，其值小。

1．凡是满足布拉格方程的皆会产生衍射，这种说法正确与否？为什么？并写出布拉格方程的矢量表达式。

（10分）
提要：错误。

产生衍射的充分必要条件是：“反射定律＋布拉格方程＋｜Ｆ｜０”布拉格方程的矢量表达式：
(s-s0)/λ=r*HKL
2．运动电子与固体作用产生的哪些信号？（5分）
提要：运动电子与固体作用产生的信号有：二次电子、俄歇电子、特征Ｘ射线、连续Ｘ射线、背反射电子、透射电子等。

3．简述扫描电镜粉末试样制备的方法。

（10分）
提要：
粉末样品需要先黏结在样品座上，
黏结的方法是先将导电胶或双面胶纸黏结在样品座上，再均匀地把粉末试样洒在上面；
用洗耳球吹去未黏住的粉末；
也可以将粉末制备成悬浮液；
滴在样品座上，待溶剂挥发，粉末就附着在样品座上得；
再镀上一层导电膜得。

一、填空：（每题2分，共20分） 1. X射线产生的三个基本条件是（产生自由运动的电子（热阴极））、（使电子高速定向运动（加速电场））、（在电子运动路径上设置障碍物使其减速（阳极靶））。

2. 电子显微分析可获得材料的（显微形貌）、（晶体结构）和（化学成分）方面的信息，并且可以将三者结合起来。

3. X射线衍射的强度主要取决于（结构）因子、（多重性）因子、（角（或洛伦兹））因子、（温度）因子和（吸收）因子。

4.（满足布拉格方程）是衍射的必要条件；（结构因子不为零）是衍射的充分条件。

5. 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的（波长短），其理论分辨本领是由（衍射效应）和（球差（或像差））综合作用的结果。

6. 透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和（衍射）衬度，其中衍射衬度主要用于解释晶体样品，（质厚）衬度主要用于解释非晶样品。

7. 在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动角时，X射线探测器应转动（2@）角；若样品固定，当X射线管转动角时，X射线探测器应转动（@）角。

8. 在透射电镜中, 明场（BF）像是用（物镜）光阑挡掉（衍射）束，只允许（透射）束通过光阑成的像。

9. 电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的（特征X射线）信号，按照对信号的色散方式不同分为（波谱仪）和（能谱仪）。

10. 俄歇电子能谱利用的是（高能电子）与固体样品作用所产生的（俄歇电子）信号，通过检测该信号的（能量）来确定所含元素的表面分析方法。

1. 分析多晶衍射花样时，若各衍射线对应的Sin2θ比（X射线衍射）或R2比（电子衍射）的序列为3：4：8：11：12……,则可确定该物相结构为（C）。

A、简单立方B、体心立方C、面心立
方D、金刚石立方
2. 立方晶系{111}晶面的多重性因子为（C）。

A、
4 B、6 C、8 D、12
3. 在TEM中进行选区电子衍射操作时，中间镜又起衍射镜作用，这时中间镜的物平面与物镜的（C）重合；选区光阑与物镜的（D）重合。

A、物平面B、主平面C、后焦面D、像平面
4. 扫描电镜形貌像的分辨率与（C）无关。

A、检测信号的类型
B、样品原子序数
C、放大倍数
D、入射束斑直径
5. 对某立方晶系样品进行TEM分析，在操作矢量1gg时观察到一条直线位错。

倾动样品，在2gg时上述位错的衬度消失；再次倾动样品，在3gg 时上述位错的衬度仍消失，那么该位错柏氏矢量b的方向为（C）。

A、21gg
B、21gg
C、32gg
D、32gg
6. 在下列材料成分分析仪器中，（B）可测试元素的范围最宽。

A、俄歇电子能谱
B、X射线光电子能谱
C、X射线波谱
仪D、X射线能谱仪
7. X射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线（B）改变；而微观应力测定利用的是衍射线（C(D)）改变。

A、强度
B、位置
C、宽度
D、形状
8. 复型技术是将材料表面形貌复制下来进行电子显微分析的方法，其中（D）可用
于金属与合金中析出相的分析。

A、塑料一级复型
B、碳一级复型
C、塑料－碳二级复型
D、萃取复型
9. 根据分析测试内容选择适当的分析仪器。

(1) 材料表面的残余应力测定E(B)；(2) 晶界析出相晶体结构分析B；(3) 晶体的点阵常数精确测定D (4) 界面化学成分测定F A、扫描电子显微镜B、X射线衍射仪C、扫描探针显微镜
D、透射电子显微镜
E、X射线应力仪
F、电子探针
X射线本质；波长很短的电磁波，具有玻璃二象性。