表面微观波纹度检测仪操作规程

表面微观波纹度检测仪操作规程
1目的
为了规范表面微波纹度检测仪的操作流程，提高员工对精密设备的操作维护，特制定以下操作管理规定。

2适用范围
适用于品控部所有质检员。

3职责和权限
品控部为本文件的编制及管理部门。

4工作程序
4.1日常操作
4.Ll用手按下电脑开关，打开微波纹度检测仪主机开关，电脑启动完毕后，自动进入测量窗口（非故障状态下,无需此步骤操作，电脑及微波纹度检测仪主机保持常开）O4.1.2手佩防尘手套，双手持样片边缘，日光灯下检测样片表面有无碎屑、划伤及脏污，避免异常数据值的产生。

5.1.3将被测样片锡面向上，两端平放于载玻台上，放置样片时不允许碰到探针。

6.1.4待样片完全静止于载玻台上，目测测试量程是否满足测试设定量程。

7.1.5用鼠标点击测量键，探针接触玻璃开始进入自动测量。

8.1.6测量结束后形貌仪自动升起探针,复位至起点。

9.1.7测量分析窗口自动弹出，测量结果显示WFPD值，记录WFPD值即为波纹度值，测量完成。

10..8用鼠标点击转换窗口键，自动返回原测量窗口。

11.1.9用鼠标点击粗糙度测量键返回测量，归位，等待下次测量。

4.2探针校正：
4.2.1为保证波纹度值的准确性，每日值班长负责完成探针校正，记录于《微波纹检测仪校正记录》。

异常情况下（调试设备后），第一时间完成探针校正，如实记录。

4.2.2准备校正基准片，3.17HinRa基准片校正值标准范围为：±0.05,0.41UmRa基准片校正值标准范围为±0.03O
4.2.3进入测量窗口，鼠标点击“条件”下拉栏“测量-条件”选中“粗糙度测量”，鼠标点击“校正”选中“利用标准片进行校正”。

4.2.4将3.17UmRa基准片垂直放于探针下方,保证探针下落后接触到银色被测区域,此步骤严禁探针下落后偏离银色被测区域，以免对探针造成损坏。

4.2.5点击测量键，自动进行基准片测量，测量完毕自动返回起点。

4.2.6点击弹出窗口”利用标准片校正结束”，点击校正窗口“校正结束”。

4.2.7再次点击测量键，进行基准片校正值测量，测量结束自动弹出测量值Ra值，
3.17μmRa基准片校正值标准范围为：±0.05。

4.2.8将0.41μmRa基准片移至探针正下方，点击测量键，测量结束自动弹出测量值Ra值，0.41μmRa基准片校正值标准范围为±0.03。

4.2.9将测量Ra值与基准片标准范围进行比对，确认是否正常。

5引用文件
无
6相关记录
6.1《微观波纹度检测仪点检记录》
6.2《微观波纹度检测仪校正记录》
6.3《质检三班日志》
7附件
无。