ZYGO干涉仪说明书ppt课件
ZYGO干涉仪使用说明书
1目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
2范围本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
3 录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SAVE保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SAVE DATE保存。
4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
4.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view 界面观察条纹。
4.6 标准镜 干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
ZYGO干涉仪使用说明
1目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
2范围本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
3 录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SA VE保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SA VE DATE保存。
4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
4.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view界面观察条纹。
4.6 标准镜 干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
zygo激光干涉仪原理
zygo激光干涉仪原理
ZYGO激光干涉仪是一种精密光学测量设备，利用干涉原理测量光程差来评估物体表面的形状和大小。
该设备通过发射激光光束，并将其分为两个光路，然后将这两个光路重新合并，形成一系列干涉带。
当测量物体表面发生微小变形时，两条光线的光程差就会发生变化，因此干涉带也会发生变化。
该变化通过计算和分析验证，可以得出物体表面的形状和大小的毫米级测量精度。
ZYGO激光干涉仪主要应用于半导体、光学和航空航天等领域的研究中，以提高产品质量和性能。
ZYGO干涉仪使用指导书
ZYGO干涉仪使用指导书
ZYGO干涉仪使用指导书
本文档旨在为用户提供关于ZYGO干涉仪的详细使用指导。
请按照以下章节逐步操作，以确保正确使用干涉仪并获取准确的测量结果。
1：干涉仪简介
1.1 仪器概述
1.2 技术原理
2：仪器安装与连接
2.1 安装步骤
2.2 供电与连接
3：仪器参数设置
3.1 参数调节与选择
3.2 光路对齐
3.3 系统校准
4：测量准备
4.1 样品准备
4.2 测量环境设置
5：测量操作
5.1 测量步骤
5.2 数据记录与分析
6：维护与保养
6.1 日常维护
6.2 故障排除
7：附件使用及注意事项
7.1 附件清单
7.2 使用方法
7.3 注意事项
8：法律名词及注释
8.1 法律名词解释
本文档涉及附件：
附件一、ZYGO干涉仪操作示例视频附件二、ZYGO干涉仪参考手册
注释：
1：干涉仪：一种用来测量光程差的仪器，利用光干涉的原理
实现测量。
2：技术原理：指干涉仪工作的基本原理，主要包括光干涉理
论和干涉信号处理技术。
3：参数调节与选择：指根据具体测量要求，对干涉仪参数进
行调节和选择。
4：光路对齐：指调整光路以保证光的传输和干涉的有效进行。
5：系统校准：指对干涉仪进行系统性静态和动态校准，以提
高测量精度和可靠性。
6：数据记录与分析：指记录测量数据并进行数据处理和分析，如计算干涉图中的相位信息等。
7：日常维护：指干涉仪的日常保养和常见故障的处理。
8：附件清单：列出本文档所提及的附件名称和数量。
zygo干涉仪工作原理
zygo干涉仪工作原理介绍如下：
Zygo干涉仪（Zygo Interferometer）是一种高精度光学测试仪器，用于测量物体表面形状和平整度等参数。
它主要基于干涉原理，通过将光束分成两部分，再将其重新合并，来检测光束通过物体后发生的光程差，从而得到物体表面的高度差异信息。
下面是Zygo干涉仪的基本工作原理：
1.首先，干涉仪将一束激光光束分成两束，一束经过反射镜后被反射回来，另一束经
过被测试物体的表面后被反射回来。
这两束光线再次交汇，形成干涉。
2.在干涉的区域中，光束的光程差取决于被测试物体的表面高度差异。
如果被测试物
体的表面是平整的，两束光线会完全重合，形成明亮的干涉条纹；如果被测试物体
的表面存在高度差异，则两束光线的相位差会引起干涉条纹的相移，形成暗纹和亮
纹交替的条纹。
3.Zygo干涉仪使用一台高精度的控制器来计算这些条纹的位置和数量，并从中推断出
被测试物体表面的高度差异。
4.为了提高测量的精度和减少干涉条纹的噪声，Zygo干涉仪通常使用一些附加的技术，
如使用一个可调谐的激光源来保持干涉条纹的稳定性，以及使用相干的光源来减少
光源的噪声和干涉条纹的抖动等。
总的来说，Zygo干涉仪利用光的干涉原理来检测被测试物体表面的高度差异，具有高精度、高灵敏度和高可靠性等特点，广泛应用于光学制造、半导体制造、航空航天等领域的表面形状和平整度的测量和检测。
zygo激光干涉仪原理
zygo激光干涉仪原理
zygo激光干涉仪使用的是Michelson干涉仪的原理。
Michelson 干涉仪是一种基于光的干涉原理进行测量的仪器。
其基本原理是将激光分成两路，经过反射镜反射后再汇聚到一起，形成干涉条纹，通过测量干涉条纹的形态和位移，可以得到被测物体的形状和表面高度变化等参数。
zygo激光干涉仪使用的是双频激光干涉原理，其优点是干涉条纹的稳定性高、测量精度高、适用于复杂表面、具有三维测量功能等。
其基本原理是利用激光的相位差来测量物体表面的高度差异，通过调整激光波长差来调整干涉条纹的间距和形态，从而实现对物体表面高度的测量。
总之，zygo激光干涉仪是一种高精度、高稳定性的测量仪器，可以广泛应用于机械制造、光学制造、电子制造、医学等领域。
- 1 -。
zygo干涉仪
zygo干涉仪1. 引言干涉测量是一种非常重要的光学测量技术，广泛应用于工业制造、材料检测、精密测量等领域。
zygo干涉仪是一种高精度的干涉仪器，具有可靠性高、测量精度高、操作简便等特点，在物体形貌测量、光学元件表面质量检测等方面有着广泛的应用。
2. zygo干涉仪的原理zygo干涉仪基于激光干涉原理，利用干涉比较测量的方法来获取待测物体的表面形状、表面质量等参数。
主要包括两个核心部分：激光干涉仪和信号处理系统。
2.1 激光干涉仪激光干涉仪是zygo干涉仪的核心部分，它主要由激光器、分束器、反射镜、衍射光栅、像差补偿系统等组成。
•激光器：激光器产生单色、相干性好的激光光源，通常采用氦氖激光器。
•分束器：将来自激光器的光束分成两束，一束作为参考光束，另一束照射到待测物体上。
•反射镜：将待测物体反射回激光干涉仪，与参考光束进行干涉。
•衍射光栅：衍射光栅用于分离干涉光，提供测量干涉光波面的行程差信息。
•像差补偿系统：可根据待测物体表面形状的不同，调整光路，消除干涉图像中的像差。
2.2 信号处理系统zygo干涉仪的信号处理系统主要是将测得的干涉图像转化成数字信号，并通过数学算法对图像进行处理，最终得到待测物体表面形貌、表面质量等参数。
信号处理系统通常包括光电转换模块、数据采集卡、计算机等。
光电转换模块将干涉图像转换成电信号，数据采集卡将电信号转换成数字信号，计算机对数字信号进行处理和分析。
3. zygo干涉仪的应用zygo干涉仪具有测量精度高、表面形貌检测范围广、使用灵活等特点，因此在多个领域有广泛的应用。
3.1 光学元件表面质量检测zygo干涉仪可以用于光学元件的表面形貌检测和表面质量评估。
通过测量元件的表面高度数据、表面粗糙度等参数，可以判断元件表面是否达到要求，并对表面缺陷进行定量评估。
3.2 材料形貌测量zygo干涉仪可以用于材料形貌的测量，例如金属、陶瓷、半导体等材料的表面形状、平坦度等参数测量。
ZYGO干涉仪GPI-XP-D常用命令中文注解
Sm Aperture小孔径
Measure测量——测试按钮（也可用F1键）
Analyze分析——数据分析（对已保存数据进行分析）
Mask data屏蔽数据——区域选择（测试和参考区域）
Save data保存数据——对测试数据起保存作用
Load data载入数据——导入已保存数据的按钮
MTF调制传递函数
MTF Profile传函图
Zernikes泽尼克多项式
Intensity亮度
ISO 10110-5ISO-10110窗口
SynthFringe合成的条纹
Environment Test环境测试
Measure Attr测量属性
Analyze Attr分析属性
Process方法
Report报告
Removed远离
Auto aperture自动孔径
Aperture size孔径大小
Trimmed裁边
Trim mode调整方式
Filter滤光镜
Type类型
Window size窗口大小
Freq频率
Print Panel打印标准
Destination目的地
White白色
File文件
Color颜色
Calibrate校准——校准按钮（打开进入校准界面）
Reset复位——点击可初始化程序
Measure ctrl测量控制——数据控制按钮
Analyze ctrl分析控制
S/W Map图
S/W Profile剖面图
Slope Mag斜面图
Slope x x方向斜面
Slope y y方向斜面
PSF点列图
te删除
ZYGO干涉仪说明书 ppt课件
ZYGO干涉仪说明书
D
d
ZfYGO干涉仪说明书 R
ZYGO儀器名稱說明
凹透鏡
控制器控制桿說明
上方(放 大) ( ZOOM )
中央(焦 點) ( FOCUS )
下方(設 定) (QUICK FAS)
一倍 1X
近 Near
設定 Align
系統焦點
六倍 6X
遠 Far
顯像 View
凸透鏡 鏡片承座
左右旋鈕(水平) 前後旋鈕(垂直)
顯像器 前後旋鈕 (垂直)
zygo
ZYGO干涉仪说明书
旋鈕 (水平) 標準鏡頭
範例說明
☺ 鏡片CA為∮50，曲率-100，應用何種鏡頭?
∵ 為了檢驗∮50的範圍，光線通過待測面 直徑應≧50
R ＝ d ≧ 50
F
100 F
≧ 50
∴ 該選F=0.75或F=1.5之鏡頭
ZYGO干涉仪说明书
ZYGO 鏡頭選用及光圈判讀
1.F=f/D F: F/#=0.75, 1.5, 3.3, 7.2
f: focal length)
D: 鏡頭有效徑 (4”~100mm)
2.ZYGO 鏡頭上有2組數字:
例 F 1.5 D=4”
待測面曲率半徑
f R
=
D d
R,依d 相=似RfD三=角形RF原理,可得
最新ZYGO干涉仪-使用说明
11目的2为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干3涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
42范围5本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
63 录取数据7在检验过程中将会生成以下记录：83.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SAVE保存。
93.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SAVE DATE保存。
104 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）1112应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
13不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的1415测试。
164.2 猫眼像（cateye）17又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是18透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
14.3 镜片像1920从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干21涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息22来源。
234.4 升降台24可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式2526按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个27黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较28大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到29干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view Array界面观察条纹。
304.6 标准镜31干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
ZYGO干涉仪2
Transformations (cont)
• We apply a transformation matrix to the points to give the new points x
S ' n , i = T ⋅ yi zi
Compute merit function
Transform subapertures
Generate a ‘guess’ transformation for each subaperture
Merit function low enough? Yes Form a new data set with all points
I will concentrate on interferometry…
Copyright Zeeko Limited 2008
Recipe for Stitching
• We seek to join together several overlapping measurements of parts of a surface. • We need to minimize the discrepancy in the overlap areas a minimization problem. • We must somehow transform the data in each measurement in a way that makes it fit the other measurements, without altering the overall form information in the data • We start by visualising the measurement process...
ZYGO干涉仪使用指导书2024
引言概述：正文内容：1.原理说明1.1干涉仪的基本原理1.1.1干涉仪是通过光的干涉来实现测量的原理1.1.2干涉仪利用光程差的变化来测量物体的形状、表面粗糙度等参数1.1.3干涉仪的工作原理与Michelson干涉仪类似，基于光的分波器和合波器的原理1.2ZYGO干涉仪的特点1.2.1高分辨率和高灵敏度1.2.2宽波长范围和大工作距离1.2.3快速测量和数据处理能力2.操作方法2.1仪器准备2.1.1确保仪器位置稳定，免受振动和干扰2.1.2进行仪器校准，包括波前校正和零点校正2.2测量设置2.2.1选择适当的测量模式，如表面形状测量、表面粗糙度测量等2.2.2设置测量参数，包括光源波长、采样点数、测量范围等2.3测量操作2.3.1将样品放置在适当的位置，避免阴影和反射干扰2.3.2调整仪器参数和位置，使样品与仪器对准并获得清晰的干涉图像2.3.3启动测量程序，记录数据并保存结果2.4数据处理2.4.1利用仪器提供的数据处理软件对测量结果进行分析和处理2.4.2使用滤波、拟合等方法提取所需参数，如表面形状、曲率半径等2.5结果解释2.5.1根据测量结果解释样品的特征和性能2.5.2与标准数据或设计要求进行对比，评估样品的质量和一致性3.常见问题解答3.1仪器故障排除3.1.1仪器无法启动或无法连接到电脑3.1.2干涉图像模糊或变形3.1.3数据处理出现错误或异常3.2测量误差分析3.2.1测量环境的干扰因素分析与处理方法3.2.2探测器的噪声和非线性对测量结果的影响3.3数据处理技巧3.3.1如何选择合适的滤波算法和参数3.3.2数据拟合的方法和准确性评估4.仪器维护与保养4.1保持仪器环境的清洁和稳定4.2定期对仪器进行校准和维护4.3避免仪器受到物理损坏或电磁干扰5.应用案例分享5.1光学元件的形状和表面质量测量5.2大型镜面的检测和修正5.3精密器件的尺寸和形状测量5.4光学薄膜的厚度和折射率测量5.5表面粗糙度的测量和评估总结：。
ZYGO干涉仪GPI-XP-D常用命令中文注解
MTF Profile传函图
Zernikes泽尼克多项式
Intensity亮度
ISO 10110-5ISO-10110窗口
SynthFringe合成的条纹
Environment Test环境测试
Measure Attr测量属性
Analyze Attr分析属性
Process方法
Report报告
Delete删除
Pick选取
PickAll选取所有
BG Exc去掉背景
Auto inc自动包括
Fringes条纹
Acq默认
Test测试
Ref查询
Define定义
Show显示
Undef撤销定义
Width宽度
Height高度
Fiducials基准
Surface/warfront map表面/波前图
Zernike terms泽尼克项
Removed远离
Auto aperture自动孔径
Aperture size孔径大小
Trimmed裁边
Trim mode调整方式
Filter滤光镜
Type类型
Window size窗口大小
Freq频率
Print Panel打印标准
Destination目的地
White白色
File文件
Color颜色
Zernike sample泽尼克取样
Fr RMST均方根
Radius（nominal）半径（标称）
Radius（measured）半径（实测）
Select results选择结果
Wavelength波长
Part diameter零件直径——有效口径
zygo干涉仪工作原理
zygo干涉仪工作原理
zygo干涉仪是一种高精度的光学测量仪器，其工作原理基于光的干涉现象。
当一束光线被分成两条路径并在某个点重合时，它们将发生干涉。
通过测量干涉现象，可以获得样品表面的形状、表面粗糙度、透明度等信息。
在zygo干涉仪中，将激光光源分成两个光束，一个作为参考光束，另一个作为测量光束。
这两个光束通过一个分束器产生，然后分别经过样品和参考镜反射回来并重新重合。
两束光的相位差决定了干涉条纹的形状和位置。
通过对干涉条纹进行分析，可以计算出样品表面的形状等参数。
zygo干涉仪的精度可达到亚微米级别，广泛应用于半导体、光学、航空航天等领域。
- 1 -。
ZYGO干涉仪使用指导书
零件号
序列号
如果测量的是球面还需要在ISO10110窗口中输入曲率半径标称值、实测值、测试波长、零件有效口径。
标称半径
实测半径
波长
有效口径
9.6.3掩膜去除
去除自动掩膜在analysis control窗口中将 auto aperture栏中的ON改成
去除手动掩膜在mask窗口中选择pick然后选中需要去除的掩膜，点击
有掩膜都被清除。
测量
点击measure按钮或者控制盒上的measure按钮或按下键盘上“F1”键开始测量。
10.0 特殊测量：透过波前
10.1平面的透过波前
将干涉仪，待测平片，反射镜按光轴方向依次放置。
如果是棱镜，则将反射镜放置到与出射光垂直的位置。
白光相移式干涉仪
白光相移式干涉儀(一)廠牌與型號：ZYGO - New View 100(二)實驗目的：1.了解白光干涉儀之架構、理論。
2.量測精密儀器元件之表徵影像與形貌。
3.學習分析干涉圖形與利用演算法之計算各物理參數。
4.減少環境與實驗儀器所造成的誤差。
(三)實驗設備：1.白光干涉儀(含鹵素光源與CCD)2.干涉儀鏡頭(2.5X麥克森鏡頭，40X Mirau鏡頭)3.壓電卡與影像擷取卡(四)未來發展研究即時相移白光干涉技術，能有效的減低環境所產生的實驗誤差，並且搭配白光干涉高解析度的優點，提升精密光學量測的發展。
負責人:周厚丞LCD電視牆本電視牆包含20吋電視5台、30吋電視1台、BS高解析來源影像節目。
20吋電視為色彩自動調校的平台，可以更改其gamma LUT，讓這5台電視的色彩表現可以幾乎一模一樣。
30吋電視可以用來進行眼睛疲勞量測的實驗顯示器。
BS高解析節目可以提供實驗用的影像來源，其影像擷取自BS衛星節目，畫質達1080i。
負責人:李家豪雷射測距組裝模組主要由高反射平面鏡與固定用壓克力板構成,透過光在平板間反射增加雷射光在空間中行進的距離,以達成在有限空間測量較遠距離的目的.負責人:張明化投影顯示器光機投影實驗(一)目的1. 認識液晶顯示器之面板及偏振片運作原理。
2. 光機投影顯示應用。
3. 了解顯示系統之，穿透率、對比度、均勻度量測。
(二)實驗項目1. 穿透率量測2. 對比度量測3. 面板均勻度量測4. polarizer 與analyzer放置方向對前三項實驗所造成的影響。
(三)實驗器材投影機光機光源一組，空間濾波器一組，聚焦透鏡一組(產生平行光)，可調式光圈兩組，偏光片兩組，LCD micro display 系統一組，投影機鏡頭一組，屏幕一組，雷射護目鏡，靜電環，影像測試訊號產生器，CL200光度儀。
負責人:何國廷視覺疲勞量測實驗(一)目的：因為色序法的顯示方式，使得人眼再觀看此類的顯示器時，會有色分裂的現象發生，因此利用本儀器量測人眼屈光度的變化，以觀察其疲勞狀況。