电子装备可靠性预计方法概述_陈亚兰

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可靠性分析中心 P R I S M T D
述, 该标准分别确定 了 板 级 电 路 和 混 合 电 路 的 可 靠 性预计 B S 模型 。 该标准 最 新 版 本 中 给 出 的 微 电 路
1 2] : 可靠性预计模型为 [
霍尼韦尔现役产品可 靠 性 评 估 计 划 ( H I R A P)相
1 8, 1 9] 似性分析方法 [ [0] 可靠性增强方法与模型 ( R EMM) 2 d 2 1] )[ 运输可靠性评估与计算系统 ( D E R A T R A C S
[ 1, 2]
预计方法 , 列出代表这些理想方法的标准 , 并对这些 标准和方法进行对 比 , 归纳总结出在电子装备研制 过程中实现各种预计目标的建设性意见 。
2 可靠性预计方法的分类
表 1 列出国际上最常用的电子装备可靠性预计 方法 。 这些方法 可 分 为 三 大 类 : 自下而上( b o t t o m - ) , 的统计学 方 法 ( 基于外部失效数据的自上 u B S) p ( ) , 而下 t 自下而上 o d o w n 的相似分析法( T D) - p ( ) 。前 两 种 类 型 是 的失效物理法( b o t t o m- u B P) p 对失效数据进行统 计 分 析 , 后一种类型则采用失效 物理 ( 模 型。 目 前, 国际上已经发表了多篇关 P o F)
( ) 5 ( ) 6 ( ) 7
B P
[2, 2 3] 使用制造商测试结果的 A i r b u s– G i a t方法 2
C A DMP, c a l c e PWA, c a l c e F A S T 软件 E P S C ,马里兰大学 )
e [ ] 2 4 2 6 -
(C A L C E
— 自动化 工 程 师 协 会 ( ; —国 家 电 信 研 究 中 心 注: 美 国) a b ( ; — 日本电 话 电 报 公 司 ( ; —国 防 教 育 与 法国 ) 日 本) c d ; —电 子 产 品 与 系 统 计 算 机 辅 助 英国 国 防 部 ) 研究处 ( e 寿命周期工程中心 ( 美国 )
1 1 2 1 , , CHE N Y a l a n L UO J u n L I X i a o h o n g ,
( , 1. S i c h u a n I n s t i t u t e o S o l i d- S t a t e C i r c u i t s, C h i n a E l e c t r o n i c s T e c h n o l o G r o u C o r C h o n i n 0 0 0 6 0, P. R. C h i n a; f g y p p. g q g4 ’ 2. S c h o o l o M i c r o e l e c t r o n i c s, X i d i a n U n i v e r s i t X i a n7 1 0 0 7 1, P. R. C h i n a) f y,
电子装备可靠性预计方法概述
陈 亚兰1 ,罗 俊1,2 ,李 晓 红1
( ) 1.中国电子科技集团公司 第二十四研究所 ,重庆 4 0 0 0 6 0; 2.西安电子科技大学 微电子学院 ,西安 7 1 0 0 7 1
摘 要: 介绍 了 几 种与 多 个 工业 领域 相 关 对 国 际 上 常 用的 电 子 装备 可 靠 性 预 计 方 法 进 行了 分 类 , 的可靠性预计方法, 对 这些 预 计 方 法 实 现 设 定 目 标 的 能 力 进 行了 评 估 。 各 种 可 靠 性 预 计 方 法 的 优 缺点 是 在 电 子 装备 的 研 发 过程中 组 合 ( 同 时 或 按 一 定 的 顺 序 依 次) 使用各种可靠性预计方法的依 据 。 理 解 并 掌握 上 述原 则 和 方 法 , 能够 极 大 地 提 升 我 国 电 子 装备 领域 的 可 靠 性 预 计效率和 准确 度 。 关键词 : 电 子 装备 ;可 靠 性 预 计 ;统 计 方 法 ;失 效 物 理 方 法
λ= λ λ λ d i e+ a c k a e+ o v e r s t r e s s p g 式中 :
3 5 a ) e-0. + λ λ λ ( Π τ d i e= ( 1N 2) t -3 0. 6 8 ( 7 5×1 0 λ Π α Π Δ τ ) λ n 3 a c k a e=2. p g
: ; ; ; K e w o r d s r e d i c t i o n l e c t r o n i c e u i m e n t R e l i a b i l i t S t a t i s t i c a l m e t h o d P h s i c s o f f a i l u r e m e t h o d E - - p q p y y y : E E A C C 0 1 7 0 N
中图分类号 : TN 4 0 6 文献标识码 :A ( ) 文章编号 : 1 0 0 4 3 3 6 5 2 0 1 3 0 2 0 2 4 2 0 8 - - -
A n O v e r v i e w o f R e l i a b i l i t P r e d i c t i o n M e t h o d s f o r E l e c t r o n i c E u i m e n t s y q p
: A b s t r a c t o mm o n l u s e d m e t h o d o l o i e s f o r r e l i a b i l i t w e r e c l a s s i f i e d .S e v e r a l r e l i a b i l i t r e d i c t i o n r e d i c t i o n C y g y y p p
a 可靠性预计方法 A E B S S 0 M i l d b k 2 1 71 -H - [ ] [ 1 1]
C 1和 C 2 是由器件复杂性决定的失效率常数 。 在C N E T 中, Π ΠT , Π B, s分 别 是 封 装 技 术 因 子 、
技术和功能因 子 、 封 装 管 脚 数 目 因 子 。C N E T 中的 i l d b k 2 1 7 中的 ΠT 为稳态工作温度下的温 Π -H - t和 M 度加速因子 , 由器件实际工作 ΠV 为 电 压 应 力 因 子 , 由标 电压与其额 定 电 压 之 比 决 定 , Π E 为 环 境 因 子, 准给出的环境列表中的应用环境类型决定 。 这些 模 型 在 C N E T R D F 2 0 0 0中有详细的描
பைடு நூலகம்[ 1 7]
T e l c o r d i a S R 3 3 2 -
b 2 C N E T R D F 9 31 -
[ ] [ ]
3 C N E T R D F 2 0 0 01 -
[4] 英国电信 HR D 51 - [5] 西门子 S N 2 9 5 0 01 c 6 N T T r o c e d u r e1 p [ ]
C C N E T) λ= ( ΠTΠV +C Π 1Π t 2Π BΠ EΠ s) LΠ Q ( ) ( 4
( ) ) 式中 , 1 4 ~( λ G 和λ a是 由 器 件 复 杂 性 和 技 术 水平决定的通用失效率和平均 失 效 率 ; ΠQ 为 质 量 因 子, 由定期检 验 得 到 的 器 件 质 量 决 定 ; Π L为器件因 由器件 生 产 完 成 至 预 计 时 刻 持 续 的 时 间 决 定 ; 子,
3] 。 本文简要介绍了业界广泛采用的几种可靠性 标[
1 引 言
电子装备自身的特点决定了在电子装备开发过 程的不同阶段需要采用不同的可靠性预计方法 。 在 电子装备开发的各个阶段对电子装备进行可靠性预 : 1)判 断 产 品 是 否 能 够 达 到 可 )帮 助 完 成 产 品 的 可 靠 性 设 计 , 靠性目标 ; 以满足 2 用户对产品可靠性和安全性的需求 ; 3)帮助实现产
计的主要目的 是
品可靠的制造 工 艺 工 程 ; 4)评 估 潜 在 的 质 量 风 险 ; )为产品 安 全 性 分 析 提 供 输 入 ; 5 6)确 定 相 应 的 产 品支撑基线 , 如维修 、 备品 、 升级等 。 目前已成功开 发 出 多 种 可 靠 性 预 计 方 法 , 但是 没有一种可靠性预计方法能够单独实现上述全部目
第4 3 卷第 2 期 2 0 1 3年4月
微 电 子 学
V o l . 4 3,N o . 2 A r . 2 0 1 3 p
M i c r o e l e c t r o n i c s

· 动态综述 ·
表 1 国际上常用的可靠性预计方法 r e d i c t i o n T a b l e 1 C o mm o n l u s e d m e t h o d s f o r r e l i a b i l i t p y y w o r l d w i d e 类型 常用可靠性预计方法
, o s s i b i l i t r e l a t e d t o i n d u s t r i e s w e r e r e v i e w e d a n d t h e t h e o f f e r t o a d d r e s s t h e s t a t e d o b e c t i v e s w a s m e t h o d s p y y j a d v a n t a e s a n d d i s a d v a n t a e s o f e a c h m e t h o d w e r e t h e b a s i s f o r r e c o mm e n d a t i o n o f m e t h o d s i n a a s s e s s e d . T h e g g ) c o m b i n e d f a s h i o n( s i m u l t a n e o u s l o r s u c c e s s i v e l i n d e v e l o i n e l e c t r o n i c e u i m e n t s .G o o d u n d e r s t a n d i n o f t h e y y p g q p g r e d i c t i o n s r i n c i l e s a n d m e t h o d s h e l s t o s i n i f i c a n t l i m r o v e t h e a c c u r a c a n d e f f i c i e n c o f r e l i a b i l i t o f d o m e s t i c p p p p g y p y y y e l e c t r o n i c e u i m e n t s . q p
;定稿日期 : 收稿日期 : 2 0 1 2 0 5 2 9 2 0 1 2 0 7 0 2 - - - -
第2期
陈亚兰等 :电子装备可靠性预计方法概述
2 4 3
] 1, 4 9 - 。 本文 于采用统计方法进行可靠性预计的文章 [
详细阐述 了 各 种 预 计 方 法 在 不 同 条 件 下 的 应 用 情 况。
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