TMS570LS系列是业界首款基于ARMCortex-R4F处理器

TMS570LS系列是业界首款基于ARM Cortex-R4F处理器的占为,锁步双内核车载微处理器。

该款微处理器基于两个Cortex-R4F处理器,针对IEC61508 SIL3安全标准的应用于而精心设计,使得设计人员可以根据性能要求实现单双高精度浮点数学算法,加速的乘法,除法以及平方根功能。

这些算法可与MATHWORKS等开发环境实现物理模型化实例,以提高工程师的效率。

其集成了ARMCortex_R4F处理器,在浮点运算方面提供了1.6DMIPS/Mhz的性能。

该系列内置了不同的闪存和数据存储器,其外设包括Flexray协议控制器,多达三个的CAN以及两个LIN模块。

另外,它还集成了一些常用的串行总线,如SCI, SPI以及LIN等。

此外,其还包括TI高端定时器协处理器与两个12位ADC。

对于ARM Cortex-R4F 32位RISC的CPU,其支持高效的1.6DMIPS/MHz8级流水线,支持单精度/双精度浮点运算,有存储器保护单元,还支持第三方的开放架构。

对于其工作特性,其系统时钟还高达160MHz,而其内核供电电压为1.5V,外部10供电电压为3.3V.对于这种架构的处理器,其特性包括:全系列型号都有相同的存储器映射,可产生实时中断的OS Timer,其具有向量中断模块,其集成了CRC校验功能。

由于这款处理器定位于汽车安全应用,所以其内置的模块包括了Flexray, CAN, LIN,MIBSPI, UART, NHET (高端定时器),MIADC等。

硬件功能框图-：
内部功能框如图：
可以看出,此芯片核心是2x CortexR4F模块,然后根据比较逻辑结果进行切换。

此芯片使用了一系列提高可靠性的措施,比如说冗余循环校验,系统自检, 可编程自检等。

对于可编程自检(PBIST, Programmable Build-in self test),其提供一个随系统运行的可编程的存储器引擎,以用于纠正不同层次的嵌入式RAM。

PBIST体系包括了一个具有专用于检测RAM存储器的指令集的CPU,这个CPU包含了控制和指令寄存器,以便于执行独立的内存算法。

为了最小化测试时对系统资源的占用,一旦算法被载入指令寄存器,其就可以用于不同大小和不同类型的存储器。

存储器配置信息和测试算法代码被存于一个片上ROM。

下面对其模块进行分别介绍。

经过以下介绍,可以对其安全性及可靠性有更深的了解。

设计中遇到的问题：
开始时不知道如何控制外部ERROR引脚？
通过查询芯片手册我知道了，此错误管脚常被一个外部器件用于重启控制器或者将系保持在一个故障安全状态。

该引脚与ESM模块中的错误通道有关，后来通过查阅资料，我学会了使用ERROR引脚。

通过本次设计我熟悉了TMS570LS芯片的使用.。