CT系统参数标定及成像技术

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潘嘉震 柳 梁盛开 李照映
三亚学院理工学院
潘嘉震（1999-）男，浙江温州人，三亚学院理工学院电子信息工程专业学。

基金项目：2019年国家级大
本文针对
学生创新创业训练计划项目
（编号：201913892029）
图1 托盘坐标设定图
图2 接受强度距离图
第一种临界状态存在于X射线第1－54次旋转之间，也随X射线旋转方向的变化而变化。

第二种临界状态存在于X射线第55－145次旋转之间，
化简得：
Radon变化是二维分布函数在一定角度下的线积分，既实际的射线投影p，再采用Radon逆变换，通过一定量的投影角度下的投影数据p可重建物体断层图像
图3 临界状态示意图
图4 Radon逆变换参数示意图
图5 图像重构
（不含噪声数据）
图6 图像重构
（含噪声数据）
0.49。

当介质均匀时，吸收率数据为1，为了寻求重建图像的灰度值与模板的几何信息的吸收率基准值的关系，CT系统得到的未知介质的接收信息的原始数据作二倍增益处理，对新数据进行重建，得到输出图像椭圆部分的灰度值为0.98。

实现了灰度值与吸收率的统一，得到所求10个
9），数值结果图9 10个特征点位置重建2
图7 10个特征点位置图8 10个特征点位置重建1
图10 新模板模型。