2020年AECQ100详解：起源、包含项目及目的作用

2020年AECQ100详解：起源、包含项⽬及⽬的作⽤AECQ100的起源
AEC全称：Automotive Electronics Council ，中⽂名：汽车电⼦协会。

由Chrysler（克莱斯勒）、Ford（福特）、GM（通⽤）发起并于1994年创⽴。

AEC⽬的：针对车载应⽤，汽车零部件，汽车车载电⼦实施标准规范，建⽴车载电⼦部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准，提⾼车载电⼦的稳定性和标准化。

AECQ即国际汽车电⼦协会车规验证标准。

包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q104(多芯⽚组件)、AEC-Q200(被动组件)。

进⼊汽车领域，则必须取得汽车电⼦协会的AECQ可靠度标准，以及零失效（Zero Defect）的供应链质量管理标准IATF16949规范。

AEC-Q100包含项⽬
对汽车车载电⼦零部件测试标准以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200为最常见。

其中AEC-Q100是AEC的第⼀个标准，于1994年6⽉⾸次发表，现经过了⼗多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电⼦系统的通⽤标准。

对于车⽤芯⽚来说AEC-Q100也是最常见的应⼒测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q100详细规定了⼀系列的测试，同时定义了应⼒测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。

这些测试包括7个测试群组：
测试群组A(环境压⼒加速测试，Accelerated Environment Stress)
测试群组B(使⽤寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation)
测试群组C(封装组装整合测试，Package Assembly Integrity)
测试群组D(芯⽚晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability)
测试群组E(电⽓特性确认测试，Electrical Verification)
测试群组F(瑕疵筛选监控测试，Defect Screening)
测试群组G(封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity)
此外，为了达到汽车电⼦产品对⼯作温度、耐久性与可靠度的⾼标准要求，组件供货商必须采⽤更先进的技术和更苛刻的测试程序来达成最佳化的设计⽅法。

因此，AEC-Q100⼜分为不同的产品等级，其中第⼀级标准的⼯作温度范围在-40⾄125之间；最严格的第0级标准⼯作温度范围可达到-40⾄150 。

AEC在AEC-Q100之后⼜陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101和针对被动组件的AEC-Q200等规范，以及AEC-
Q001/Q002/Q003/Q004等指导性原则（Guideline）。

以下供⼤家参考使⽤：
AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应⼒测试标准（不包含测试⽅法）
AEC-Q100-001 邦线切应⼒测试
AEC-Q100-002 ⼈体模式静电放电测试
AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及⼯作寿命的测试
AEC-Q100-006 热电效应引起的寄⽣闸极漏电流测试
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009 电分配的评估
AEC-Q100-010 锡球剪切测试
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC - Q101 Rev - C: 分⽴半导体元件的应⼒测试标准（包含测试⽅法）
AEC - Q101-001 - Rev-A: ⼈体模式静电放电测试
AEC - Q101-002 - Rev-A: 机械模式静电放电测试
AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦线切应⼒测试
AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性测试⽅法
AEC - Q101-005 - Rev-A: 带电器件模式的静电放电测试
AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC - Q200 Rev - C: 半导体被动元件的应⼒测试标准（包含测试⽅法）
AEC - Q200-001 - Rev-A: 阻燃性能测试
AEC - Q200-002 - Rev-A: ⼈体模式静电放电测试
AEC - Q200-003 - Rev-A: 断裂强度测试
AEC - Q200-004 - Rev-: ⾃恢复保险丝测量程序
AEC - Q200-005 - Rev-: PCB板弯曲/端⼦邦线应⼒测试
AEC - Q200-006 - Rev-: 端⼦应⼒（贴⽚元件）/切应⼒测试
AEC - Q200-007 - Rev-: 电压浪涌测试
AEC-Q100的⽬的作⽤
AEC-Q100：主要⽤于预防产品可能发⽣各种状况或潜在的故障状态，引导零部件供货商在开发的过程中就能采⽤符合该规范的芯⽚。

AEC-Q100对每⼀个芯⽚个案进⾏严格的质量与可靠度确认，确认制造商所提出的产品数据表、使⽤⽬的、功能说明等是否符合最初需求的功能，以及在连续使⽤后个功能与性能是否能始终如⼀。

AEC-Q100标准的⽬标是提⾼产品的良品率，这对芯⽚供货商来说，不论是在产品的尺⼨、合格率及成本控制上都⾯临很⼤的挑战。