EOS是如何发生的？它是如何导致IC失效的？
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没有人喜欢IC失效，但这总是会发生。
分析失效的根本原因是需要足够的智慧的，在遇到难以重现的偶发性失效时就更是如此了。
立锚科技已经累积了大量的失效分析案例，我们发现绝大多数的问题都是发生在IC输入端的电气过应力（EOS ）上。
EOS是如何发生的呢？它又是如何导致IC失效的呢？本文将把一些答案告诉你，一些可在设计和产品中应用的解决方案也将一并奉上。
了解Buck转换器IC的输入结构
右图显示了Buck转换器IC的基本电路构成和其中含有的ESD保护单元，它们通常位于各个输入端子上。
电源输入端的ESD单元特别大，可对内部稳压器和MOSFET带来安全保护，防范高压ESD带来的伤害。
ESD保护单
高电压有关的。
元的动作电压是与IC端子的绝对最高工作电压和IC的制程能够容许的最没有人喜欢IC失效，但这总是会发生。
分析失效的根本原因是需要足够的智慧的，在遇到难以重现的偶发性失效时就更是如此了。
立锚科技已经累积了大量的失效分析案例，我们发现绝大多数的问题都是发生在IC输入端的电气过应力（EOS ）上。
EOS是如何发生的呢？它又是如何导致IC失效的呢？本文将把一些答案告诉你，一些可在设计和产品中应用的解决方案也将一并奉上。
了解Buck转换器IC的输入结构
右图显示了Buck转换器IC的基本电路构成和其中含有的ESD保护单元，它们通常位于各个输入端子上。
电源输入端的ESD单元特别大，可对内部
高电压有关的。
稳压器和MOSFET带来安全保护，防范高压ESD带来的伤害。
ESD保护单元的动作电压是与IC端子的绝对最高工作电压和IC的制程能够容许的最
高电压有关的。
为了找到IC失效发生的点位，可以对ESD单元的击穿电压进行测量，曲线测试仪可以用于这一目的，使用电流脉冲对受试元件进行加载测量也是可以的，通常还可得到更准确的点位数据。
借助测量数据，ESD单元能够承受的最大冲击能量可以被计算出来。
文章给出了不同条件下的一些测量结果，还有开盖分析的失效样例可供参考。
为了找到IC失效发生的点位，可以对ESD单元的击穿电压进行测量，曲线测试仪可以用于这一目的，使用电流脉冲对受试元件进行加载测量也是可以的，通常还可得到更准确的点位数据。
借助测量数据，ESD单元能够承受的最大冲击能量可以被计算出来。
文章给出了不同条件下的一些测量结果，还有开盖分析的失效样例可供参考。