面对SoC设计挑战 Intel积极响应

面对SoC 设计挑战Intel 积极响应

在国际测试大会上，英特尔公司副总裁兼副总经理Gadi Singer 在题为应对频谱纳米技术和千兆复杂性的挑战的演讲中指出，从1940 年以来，每立方

英尺MIPS 或每磅MIPS 数每10 年就增加100 倍。虽然在平滑的曲线上一直是以指数规律变化，但是，在那个时期仍然有许多不连续性和变形点。

目前，四个不同的趋势正延伸在所有方向中的曲线，Singer 说道。首先，IC 复杂性和多样性正受到智能(便携式)设备的出现的驱使。这些新的设计包含复

杂的内核、多处理引擎、更多的存储区、专用的子系统以及在片上的多个通信系统。此外，Singer 表示，互联网的影响证明数字数据的融合的影响渗透到了所有的功能之中，并且需要增加硬件和软件的互动。

显然，Singer 表示，这种下一代系统级芯片需要在测试开发工具和技术上做出改进。扫描方法存在速度问题，并且正在接近极限。功能测试方法的自动化程度不够，并且不成标准。内建自测试(BIST)对于存储器测试而言模式有限，

而逻辑BIST 随着芯片面积的增加而越来越昂贵。改进这种状况的唯一办法就是：让一种针对X 方法的集成设计X 指的是测试、制造、良率及可靠性与即

插即用的模块性、可配置性以及针对所有IP 模块的可修改测试解决方案结合起来。

其次，功耗和性能正在朝着更低功耗和固定的预算迈进。下一代芯片他补充说，将需要在恒定的功率封包内展示更多的性能，而设计变量将必须适合不同的功率预算。针对功率的测试和针对性能的保护在一定的功率级将是至关重要的。遗憾的是，该行业需要的解决方案比现有的解决方案还要多，因为测试将必须解决功率测试、在速功率测试以及作为电池寿命中因子的在工作负载测试。