整机可靠性测试规范讲解

版本:V2.0页数：第 1 页共 26页整机可靠性测试规范
版本 2.0
2011-07-16
拟订：郝福亮
批准：汪乐辉
版本:V2.0页数：第 2 页共 26页
版本修订状态
版本状态日期修订人修订位置和原因
1.0 2011-01-04 郝福亮原始版本
2.0 2011-07-16 郝福亮修订导线摇摆测试标准
版本:V2.0页数：第 3 页共 26页
一.环境适应性测试
测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试
测试数量：直板机10PCS 翻/滑盖 12PCS
测试流程：
1.1．低温存储（Fuctional Test）
◆测试环境：-40度
◆手机数量及状态：5台（翻翻盖/滑盖 6台）
◆测试目的：低温应用性功能测试
◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。

按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步
降温到-40℃，温度稳定后持续48小时，取出并放置2小时恢复至常温。

然后进行结构功能和电性
能检查。

对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑
开到上限位置（盒盖为3PCS，开盖为3PCS，后续环境实验样品数相同）
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试验标准：手机的射频性能指标满足要求，所有功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸
屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形；实验前/后确认按键导
光效果、LCM显示效果等是否有变异。

注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能
1.2低温工作
◆测试环境：-15℃
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机再开机
◆测试目的：低温应用性能测试
◆试验方法：将手机电池充满电，插入SIM卡及T卡，手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子
上，按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-15度，温度稳定后手机开始开机工作。

在此环
境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟（双卡手机需要测试移
动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；联通+移动；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2
锁卡1.PVT 后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/
侧键手感，电池盖拉拔力，滑/翻盖手感，长时间摄像，触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、
带TV功能手机检查TV视频播放功能）。

对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；
对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。

试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手
机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形。

电池没有起鼓、漏液等
不良失效现象；试验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。

注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.3．高温存储（Fuctional Test）
◆测试环境：+70℃（针对IML工艺，条件：+65度）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）
◆测试目的：高温应用性功能测试
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◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。

按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步
升温到+70℃，温度稳定后持续48小时之后取出，并放置2小时恢复至常温，然后进行结构功能和射频
性能检查。

对于翻盖书记应该将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖，对于滑盖手机应该将一半样品
滑开到上限位置。

试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手
机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）外壳无变形。

实验前/后确认按键导光效
果、LCM显示效果等是否有变异。

注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性能。

1.4．高温工作（Paramatric Test）
◆测试环境：+55度
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机后开机
◆测试目的：高温应用性性能测试
◆试验方式：将手机电池冲满点，插入SIM卡以及T卡手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子
上，按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+55度，温度稳定后手机开始工作。

在此环境下
前三个小时，每个小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机需测试移动、联
通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁1.PVT
后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻
盖手感，电池盖拉拔力，长时间摄像，触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。

对于翻盖手机将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机将一半样
品滑开到上限位置。

试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸
屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）可正常拨打电话、实验前/后确认按
键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。

注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
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1.5高温高湿存储：
◆测试环境：65℃ 95%RH （针对IML工艺，条件：55℃，95%RH）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机
◆测试目的：测试样机耐高温高湿性能
◆试验方法：装入电池，将手机处于关机状态，放入温湿实验箱内的架子上持续48个小时之后取出，
常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。

对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打
开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。

◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手
机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形，电池没有起鼓、漏液等不
良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否正常。

注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能。

1.6．恒定湿热（parametric Test）
◆测试环境：+40℃ 95%RH
◆测试数量：5pcs（翻/滑盖6台）
◆测试目的：高温高湿性可靠性测试
◆测试方法：将手机电池充电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。

温度稳定后手机开
机工作。

在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双
卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联
通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡 1.PVT后只做移动+联通（双开）最后1小时进行电性能参数和功能
检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，触摸屏手机还需测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。

对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖：对于滑
盖手机应将一半样品滑开到上限位置。

试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手
机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话，通话正常；电池也没
有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。

注：若手机RF测试头没有外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
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1.7．温度冲击测试（Thermal Shock）
◆测试环境：低温箱：-40℃；高温箱：+70℃（IML 工艺为65℃）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖 6台）关机
◆测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选
◆试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池设置呈关机状态，先放置于高温箱内持续1小时后，
在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后，再30秒内迅速回到高温箱。

此为一个循环，共循环
20次。

实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性
能检查。

对于翻盖手机将一半样品打开翻盖。

对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。

◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，表面喷涂无异常结构无异常，功能正常（包括按键、侧
键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可
正常拨打电话；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等。

二.破坏性测试
测试目的：模拟用户对产品进行破环性测试
测试数量：直板44PCS 滑盖/翻盖52PCS
测试流程：
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2.1.翻盖寿命测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：5台开机
◆测试目的：翻盖寿命测试
◆测试方法：将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上，旋转频率为20次-25次/分，进行10万次
翻盖测试。

每2万次检查一次
◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与电性能正常，无明显裂纹及破损，翻盖时无异响。

2.2．滑盖寿命实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：5台开机
◆测试目的：验证壳材料，FPC，滑轨的寿命以及滑盖组件的结构寿命
测试方法：被测样机不包装，处于通电待机状态，要求滑轨达到最大活动位置，以25～30次/分钟的速
度滑动滑盖，来回为一次，试验次数10 万次，每 2 万次检查一次。

◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与功能正常，无明显裂纹及破损，滑盖时无异响。

2.3．开关机稳定性实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：2台插卡/不插卡
◆测试目的：验证正常开关机是否有异常
◆测试方法：在插卡状态下（一台插移动卡，一台插联通卡）按住开机键不放，手机开机到出现网络运
营标志后关机（大约10-55S）然后再开机，重复500次。

然后再做按开机键开机，拔掉电池关机500次。

最后在取下SIM卡情况下再做重复开机100次。

◆判定标准：手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。

允许有1次出现开机时间过长及开
关机动画动画/声音失效
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2.4.自由跌落实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：直板5PCS，翻/滑盖各6PCS
◆测试目的：验证手机及电池抗多次跌落的能力
◆测试方法：被测样机不包装，处于插卡通电待机状态，从 1.5M 高度（LCD 尺寸小于2.4〞），（LCD
尺寸大于 2.4〞的机型跌落高度定为 1.2M）初始速度为0 自由跌落于大理石地板， 6 个面跌落，每个面跌
落2 次，每个面跌落后进行外观，结构及功能检查。

直板及翻盖手机：左侧面，背面，右侧面，底面，
顶面，正面。

滑盖手机：底面，顶面，背面，正面，左侧面，右侧面。

跌落过程中, 对于翻盖手机,应将
一半样品打开到使用状态,一半样品闭合为初始位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。

◆判定标准：通过基本功能，性能测试，无明显裂纹/破损，内部无零件松动及其他异常
2.5挂绳孔拉力强度实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆样机数量及状态：5PCS 关机
◆测试目的：挂绳孔结构强度测试
◆测试方法：拉住吊绳的尾端，静力50N，持续10 秒，进行 3 次.
◆判定标准：外观良好，整体不松脱
2.6. 10cm 微跌测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：5pcs
◆测试目的：验证手机在使用中产生轻微撞击的适应性
10cm 的高度自由跌落至8～10mm 厚的铝板上，顺序按照底面2500 次→正面500 次→左侧面500 次→右侧面500 次，跌落完毕为一个循环，共进行 4 个循环，每完成一个循环检查一次被测试样机的外观及基本功能。

实验速率：15 次/分钟
◆判定标准：功能测试OK，结构方面无明显的裂纹，破损，内部无零件松动
深圳市明泰电讯有限公司
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2.7.整机软压力实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：验证手机的抗压性能
◆测试方法：被测样机插卡开机，将厚度为10mm 的橡胶垫，垂直方向以200N的力正面平压手机面
（除I/O 面和天线面）持续30 秒，受力均匀，反复3000次
◆判定标准：通过基本功能测试，性能外观良好
2.8．盐雾实验
◆测试环境：35℃湿度90%RH
◆手机数量及状态：5台滑/翻盖 6PCS 关机
◆测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力
◆测试方法：试验样品不包装，装上配套电池关机放在盐雾试验箱内。

翻/滑盖样品数量4台，翻/滑
盖实验时将一半样品打开，用绳子将试验样机悬挂在盐雾试验箱内，喷雾用PH值在6.5-7.2，浓度为5.0±1% NaCL 溶液（在试验不得中途开启试验箱和取出样机，若中途继续取出进行检测，试
验时间需相应加长）。

样机竖直放置24 小时，正面放置12 小时，反面放置12 小时，以免溶液喷洒不均或表面喷洒不到位。

实验期满后，取出样机，用清水擦拭后烘干，进行检查。

◆试验标准：手机各项功能正常，外壳表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象，金属件无锈蚀和机械
损伤；开关、按键及旋钮操作应灵活可靠，无零部件松动
2.9静电测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台插卡/不插卡，插充电器/不插充电器
◆测试目的：测试样机抗静电干扰性能
◆测试方法：接触放电±6KV，空气放电±13KV，放电位置定义如下：±6KV（接触放电）仅对于样机
的金属部件，金属装饰件，金属材料或者有金属性能的涂层，±13KV（空气放电）
对于样机经常被直接接触到的有缝隙的地方，如按键，侧键，天线，转轴处，空气放电前，
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祛除所有的塞子，如充电器耳机塞子等。

每个部位放电10 次，每测试一次，同时手机对地
放电一次，做完一个部位的测试，检查手机功能，内存，信号及灵敏度，并观察手机在测
试过程中有无死机，通信链接中断，LCD 显示异常，自动关机及其他异常现象。

◆判定标准：样机出现功能暂时性（失效时间大于 3 秒）和永久性失效判定为不合格，样机出现屏闪
或3 秒内可自行恢复的异常判定为合格。

2.10．沙尘实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：5pcs 翻/滑 6PCS
◆测试目的：验证样机结构密闭性
◆测试方法：将手机装入电池处于关机状态，悬挂放入沙尘实验箱中，对于翻盖手机，应将一半样品打
开的使用位置，滑盖手机应该将一半样品滑开到上限位置。

试验箱内气流速度保证试验用灰尘均匀缓慢
沉降在试验样品上，沙尘流量为9m/S，持续四个小时，将手机从实验箱内取出，用布和离风枪清洁进行
检查。

◆判定标准：手机各项功能正常，所有活动元器件运转自如，显示区域没有灰尘，按键按键/侧键功能
及手感正常，拆开DOME片后本体及FPC（硬板）应没有沙尘。

2.11钢球跌落测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：镜片强度测试
◆试验方法：
1.针对玻璃镜片：用0.2J的弹簧锤冲击镜片表面中心及四个角落，每个地方冲击一次，1个镜片共冲
击5次
2.针对触摸屏：
A.亚克力触摸屏：用冲击试验机将直径16mm的不锈钢球从90cm的高度自由跌落（折合0.15.J的能
量）在显示屏表面上（显示屏中心及四个角），1个屏共冲击5次
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B．玻璃触摸屏：将玻璃触摸屏均分九块，每块区域用0.2J的弹簧锤冲击镜片表面，每个地方冲击一次，1个镜片共冲击9次（若厂家的标准高于公司标准则按厂家标准进行）
3.针对亚克力材料：用冲击试验机将直径16mm的不锈钢从90CM的高度自由跌落到镜片的中心及四角
（每个角距边缘1CM左右），每个点跌落三次（翻盖手机内屏不做钢球冲击实验）
◆试验标准：手机镜片无变形、无裂纹、无破损（允许有白点或凹坑），LCD功能正常
2.1
3.低温跌落测试：
◆测试环境：-10℃
◆测试数量及状态：4/8台开机
◆测试目的：测试样机在低温条件下的抗跌落性能
◆试验方法：将手机开机放置在-10℃环境试验箱内1H，然后验证手机基本功能，检验合格后取出，进
行1.2M（大屏幕手机为0.9.M）的自由跌落，每个面跌2次（要求从环境箱内取出等30S后再跌落，试验在3min内完成），对于翻盖机和滑盖机数量增加一倍
◆试验标准：手机外观、结构及功能符合要求
2.14.扭曲测试：
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：2/4台开机
◆测试目的：抗扭曲测试
◆试验方法：将样品不包装装上所配的电池，开机固定在扭曲试验机上。

两端各加持15mm，对其施加
相应的扭矩。

顺时针扭曲和逆时针扭曲各一次交错进行，频率为每分钟15-30次，共扭曲1000次。

在500、800、1000次时检查手机各项基本功能。

对折叠、滑盖及旋转结构的手持机应在其合盖状态下进
行试验（注：试验机应承受数值为其厚度（单位MM）的0.08倍）单位为N.m的扭矩（最大不超过2N.m，最小不小于0.5 N.m）.翻盖机4台，一半样品按普通直板机要求实验，一半样品测试屏所在壳
体扭曲强度（试验样机应承受数值为其厚度的0.10倍；单位为为N.m的扭矩）
◆试验标准：手机没有变形，外观及装配无异常。

功能测试测试OK
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三：寿命测试
测试目的：模拟用户对产品进行寿命测试
测试数量：20PCS
测试流程：
飞梭寿命
4小时
3.1主/侧键寿命实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试目的：手机按键使用寿命及长期按键对周围器件的影响
版本:V2.0页
◆测试数量及状态：4pcs 开机
◆测试方法：被测样机不包装，处于开机状态固定在测试夹具上，以50～60 次/分钟的速度， 3.5N
力度均匀的按键按下，松开为一次。

每进行 2 万次进行基本功能测试，记录外观结构损伤地方和功
能异常项目，总次数为10 万次。

实验结束后，检查按键弹性，表面颜色，字符及功能是否符合要
求，并开壳检查内部结构
◆判定标准：手机按键弹性、导光效果及功能均正常；拆机检查取下DOME片后按键金层是否有磨损。

3.2.电池/电池盖拆装实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试目的：验证手机电池/电池盖拆装可靠性
◆测试数量及状态：5pcs 关机
◆测试方法：将电池/电池盖拆下再装上为 1 次，每拆装1000 次检查电池盖外观及开机是否正常。

实
验次数：3000 次
◆判定标准： 1.电池/电池盖拆装顺畅，卡扣功能正常无变形，轻甩手机时电池盖不会松脱出，手机相
应位置无下陷、变形及磨损等不良，电池连接器无明显变形且无弹性不良。

2.有弹性结构电池盖插拔力标准为：
双侧弹性臂：实验前最大拉拔力不大于 3.0KG，实验后拉拔力不小于 1.0KG力，且实验前后衰减不大于30%
单侧弹性臂：实验前最大拉拔力不大于 4.0KG，实验后拉拔力不小于 1.0KG力，且实验前后衰减不大于50%
3.3手写笔插拔实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆样机数量及状态：5PCS 关机
◆测试目的：验证手写笔的使用寿命
◆测试方法：将手写笔插入手机内再拔出，插拔为 1 次，速率30 次/分钟，实验次数15000 次
◆判定标准：不允许机壳有脱漆现象，手写笔内管与外管无变形﹑漏润滑油﹑插入壁管内过松﹑过紧等
现象
版本:V2.0页
3.4耳机插拔实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试目的：验证手机长期拔插耳机对相关器件的影响
◆测试数量及状态：5pcs 开机
◆测试方法：将耳机垂直方向插入耳机孔之后，再垂直方向拔出，如此反复插拔。

实验次数：5000 次
◆判定标准：必须通过耳机话音通信测试OK，外观结构无异常
3.5.SIM卡/T-flash卡拔插实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：5pcs 关机
◆测试目的：验证手机长期拔插SIM 卡/T-flash 卡对相关器件的影响
◆测试方法：插入SIM 卡/T-flash，再拔出SIM /T-flash卡，反复安装，每插拔100 次检查外观结构、开机功能测试，实验次数：2000 次
◆判定标准：实验后SIM/T-flash 卡扣无变形松动，SIM/T-flash 卡触片无下陷及变形等外观不良，
整机的功能功能OK。

3.6。

USB数据线插拔实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：5pcs
◆测试目的：验证手机长期插拔USB 数据线对相关器件的影响
◆测试方法：被测样机不包装，处于通电待机状态，按照正常步骤，插拔USB 数据线，每插拔
100 次检查下载功能是否正常，实验次数：3000 次
◆判定标准：必须通过下载功能测试，插头，插座无变形，无损伤，无接触不良。

3.7.TP点击测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：2pcs
版本:V2.0页
◆测试目的：验证手机触摸屏的使用寿命
◆测试方法：将样品设置成开机状态，用与待测样机配套的手写笔，加载250g 力，针对软触摸屏点
击点击LCD的中心位置25万次，硬屏触摸屏点击100万次（具体可按厂家标准更
改，但不能小于150G），点击速度：每秒2次。

实验中需保证手机底部平整，每5
万次检查一次功能（先校准再检查）
◆判定标准：不应出现电性能不良，表面允许有轻微损伤
3.8. TP 划线测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：2pcs
◆测试目的：验证手机触摸屏的使用寿命
◆测试方法：将手机设置为开机状态，在统一位置划线10万次，力度250G（具体可按厂家标准更
改，但不能小于150小于G），需要保证手机底部平整度进行试验（测试台保持平整）
每5000次检查一次功能（先校准再检验）。

滑行速度60mm/s、滑行长度25mm
◆检验标准：不应出现电性能不良，表面允许有轻微损伤
3.9 飞梭寿命测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：2pcs
◆测试目的：验证手机飞梭的使用寿命
◆测试方法：将手机设置为开机状态，模拟用户使用转动飞梭10000次
◆检验标准：不出现转动不流畅，磨损等问题
四：性能测试
测试目的：模拟用户对产品性能进行测试
测试数量：8台
测试流程：
版本:V2.0页
4.1待机时间测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态： 3 台开机
◆测试目的：手机待机状态下电池的使用时间
◆测试方法：手机插上SIM 卡，装上新测试电池样品，电池电量大于满荷电量的99%，并记下电压值。

保持手机在待机状态，每隔24 小时查看在待机状态下电池的电量显示及记录详细的电
池图标信息，记录手机待机到显示低电压和进入自动关机的时间以及对应的电池电压
◆检验标准：依据设计要求
4.2.铃声冲击测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：扬声器抗大音量连续冲击能力
◆测试方法：在声音/铃声设置中将音量调到最大，选取该手机对应T卡资源的MP3/MP4资源。

2台播
放MP3，2台播放MP4设置循环播放，扬声器面朝上连续工作7天。

版本:V2.0页
◆检验标准：手机声音正常，无破音、杂音、声音小及无声等不良
4.3时钟精度测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：手机时钟精度测试
◆测试方法：将手机装上电池及SIM 卡，以电台或标准仪器的信号为标准时间，将手机开机并设置好
当前时间，然后每天同一时刻核对测试样机的时间变换，并做好记录，持续7 天
◆判定标准：7 天内与标准时间和相差最大的时刻不超过30S
4.4 摄像头测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：摄像头寿命测试
◆测试方法：将手机装入电池并开机，然后进入拍照界面观察预览效果，用手机拍摄2-3张照片留底。

再进入摄像（2台），照相（2台）模式，按数字键保持LCM背光持续点亮，持续36小时后摄像与照相模式相互切换，再持续36小时。

测试中保持12小时检查一次。

◆判定标准：摄像照相功能正常，无摄像死机及花屏、图像失真等不良
4.5.闪光灯测试：
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：闪光灯寿命测试
◆测试方法： 1.闪光灯可常亮（带手电筒功能）手机：将手机装入电池并插上旅充然后开机，并将闪光
灯设为常亮。

持续72小时，每12小时检查一次。

2.闪光灯不可常亮手机：将手机开机进入照相状态，闪光灯设置为闪光。

然后对校准色板
距离约30CM进行闪光灯测试2万次。

◆判定标准：闪光灯功能，无其他不良。