实验一_TTL集成逻辑门功能与参数测试
ttl集成逻辑门的功能与参数测试实验原理
ttl集成逻辑门的功能与参数测试实验原理一、功能ttl（Transistor-Transistor Logic）集成逻辑门是一种常用的数字逻辑门，可以实现各种逻辑功能。
常见的ttl逻辑门包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
这些逻辑门可以通过不同的输入信号产生不同的输出信号，实现数字电路中的逻辑运算。
ttl集成逻辑门的主要功能是实现数字信号的逻辑运算。
通过将多个逻辑门组合起来，可以构建复杂的数字电路，实现各种复杂的逻辑运算和功能。
二、参数测试为了保证ttl集成逻辑门的正常工作，需要对其参数进行测试。
主要包括以下几个方面：1. 电压参数测试：测试输入电压的范围和输出电压的稳定性。
输入电压必须在规定的范围内才能正常工作，而输出电压需要保持稳定，以确保正常的逻辑运算。
2. 时序参数测试：测试输入信号的上升沿和下降沿的时间，以及输出信号的延迟时间。
这些参数对于数字电路的时序要求非常重要，需要保证信号的传输和处理能够在规定的时间内完成。
3. 功耗测试：测试逻辑门的功耗情况，包括静态功耗和动态功耗。
功耗的大小直接影响数字电路的能耗和散热情况，需要在合理范围内进行控制。
4. 噪声测试：测试逻辑门的噪声情况，包括输入噪声和输出噪声。
噪声对数字电路的稳定性和可靠性有很大影响，需要进行合理的噪声控制和抑制。
三、实验原理ttl集成逻辑门的实验原理主要涉及到晶体管的工作原理和数字电路的逻辑运算原理。
1. 晶体管的工作原理：ttl集成逻辑门中使用的是双极性晶体管（BJT），它由三层半导体材料组成。
晶体管通过控制输入电流的大小来控制输出电流的开关状态，从而实现逻辑运算。
2. 数字电路的逻辑运算原理：ttl集成逻辑门通过将多个晶体管组合在一起，形成逻辑电路。
输入信号经过逻辑门的处理，根据不同的逻辑关系产生相应的输出信号。
例如，与门的输出信号为两个输入信号的逻辑与运算结果，或门的输出信号为两个输入信号的逻辑或运算结果。
实验一集成ttl门逻辑功能参数测量
实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。
⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。
⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。
二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。
⒉认真阅读讲义，明确各参数的定义、测试条件及测试方法。
⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。
⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。
三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。
四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门，按缺口标志向左排列，放入实验箱多孔插座板上。
参照图14-1，再按图14-2所示接好线。
输入端分别接不同的逻辑开关K，输出接发光的二极管器L。
(2)改变逻辑开关，实现各输入端高、低电平的转换；用发光二极管观察输出端逻辑状态，并用万用表测出对应电平值。
图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。
列出真值表。
⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列，按图14－-4所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，用发光二极管观察输出状态。
(3)记录各输入与输出对应状态，并列出真值表。
⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门)，插入实验箱多孔插座板上。
参照图14-5 74LS136引脚排列，按图14-6所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，观察输出状态。
(3)记录各输入与之对应的输出状态，并列出真值表。
⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一：(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。
数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试
实验内容二：参数测试4
输入 电压 0 （V）
输出 电压 （V） 输入 电压 1.2 （V） 输出 电压 （V） 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一：逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台 万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一：逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图，7脚接地，14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时：发光二极管灯亮为逻辑 “1”，灯灭为逻辑“0” 6 完成下表，推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二：参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路 截止时的电源电流ICCH
实验内容二：参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL（灌电流）和 高电平输入电流IIH（拉电流，较小）
实验内容二：参数测试3
间接测量低电平扇出 系数：如图连线，调 节电位器，使电压表 达到0.4伏，记录电 流表示数IOLM。低电 平扇出系数 N=IOLM/IIL ， 注意，N要取整。
实验内容二：参数测试4
测试门电路的电压传输特性
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试引言:本实验通过测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数，旨在增进对TTL 逻辑门的理解和应用能力。
TTL（Transistor-Transistor Logic，双极晶体管逻辑）是一种广泛应用的数字逻辑家族，通常用于数字系统中的逻辑操作。
实验步骤:1.认识TTL集成逻辑门TTL集成逻辑门是由若干个双极晶体管和二极管组成的，具有与门、或门、非门等多种门电路。
通常在电路图中用特定的代号代替。
常见的TTL集成逻辑门有AND门（7408）、OR门（7432）、NOT门（7404）等。
2.实验材料-TTL集成逻辑门芯片（AND门、OR门、NOT门）-逻辑信号发生器-示波器/数字万用表-电压表-电阻-连线电缆3.实验步骤-步骤一：连接AND门将AND门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接AND门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤二：连接OR门将OR门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接OR门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤三：连接NOT门将NOT门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，将逻辑信号发生器的输出端连接到NOT门的输入端，示波器的探头连接NOT门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
4.结果分析:根据实验数据和观察到的波形，可以进行以下分析：-分析AND门的逻辑功能和参数AND门在两个输入端都为1时，输出为1，否则输出为0。
通过实验可以发现，AND门的输出波形为非线性的，并且脉冲宽度与输入信号的频率有关。
实验一TTL门电路的逻辑功能测试
实验一TTL门电路的逻辑功能测试一、实验目的：1.了解TTL门电路的基本原理和逻辑功能；2.掌握TTL门电路的实验方法；3.学会使用逻辑分析仪测试TTL门电路的逻辑功能。
二、实验原理：TTL（Transistor-Transistor Logic）是一种基于晶体管的数字集成电路。
TTL门电路由NPN型和PNP型晶体管构成，通过输入端的电平状态控制输出端的电平状态。
常用的TTL门电路有与门、或门、非门、与非门、或非门等。
1. 与门（AND gate）：只有当所有输入端都为高电平（逻辑1）时，输出端才为高电平；否则输出端为低电平（逻辑0）；2. 或门（OR gate）：只要有任意一个输入端为高电平，输出端就为高电平；否则输出端为低电平；3. 非门（NOT gate）：输出端与输入端的电平相反；4. 异或门（XOR gate）：当输入端的逻辑状态不同时，输出端为高电平；否则输出端为低电平；5. 与非门（NAND gate）：当所有输入端都为高电平时，输出端为低电平；否则输出端为高电平；6. 或非门（NOR gate）：只要有任意一个输入端为高电平，输出端为低电平。
三、实验仪器和器件：1.实验仪器：逻辑分析仪、示波器、直流电源、万用表；2.实验器件：TTL芯片（具体选用与门、或门、非门、与非门、或非门等）。
四、实验步骤：1.确定使用的TTL芯片，并查阅该芯片的技术手册，了解其引脚的功能和使用要求；2.将TTL芯片插入到实验面包板或焊接板上，根据技术手册连接相应的电源、输入端和输出端；3.打开逻辑分析仪，并将TTL芯片的输出端连接到逻辑分析仪的输入端，将TTL芯片的输入端连接到逻辑分析仪的输出端；4.打开逻辑分析仪的电源，并设置逻辑分析仪的采样频率和采样时间；5.根据TTL芯片的引脚定义和逻辑功能，设计特定的输入信号，并观察逻辑分析仪输出的波形；6.根据逻辑功能的定义，验证TTL芯片的输出是否与预期一致；7.记录实验数据，并分析实验结果。
ttl集成逻辑门的功能与参数测试实验原理
ttl集成逻辑门的功能与参数测试实验原理以ttl集成逻辑门的功能与参数测试实验原理为标题在数字电路中，逻辑门是实现各种逻辑运算的基本构建模块。
而TTL（Transistor-Transistor Logic）则是一种常用的逻辑门集成电路技术。
本文将探讨TTL集成逻辑门的功能以及参数测试实验原理。
一、TTL集成逻辑门的功能TTL集成逻辑门是通过晶体管和电阻等元件的组合来实现逻辑运算的。
常见的TTL逻辑门包括与门（AND Gate）、或门（OR Gate）、非门（NOT Gate）、与非门（NAND Gate）、或非门（NOR Gate）和异或门（XOR Gate）等。
1.与门（AND Gate）与门是一种逻辑门，当且仅当所有输入信号都为高电平时，输出信号为高电平。
与门的逻辑符号为“&”。
2.或门（OR Gate）或门是一种逻辑门，当任意一个输入信号为高电平时，输出信号为高电平。
或门的逻辑符号为“|”。
3.非门（NOT Gate）非门是一种逻辑门，它的输出与输入信号相反。
非门的逻辑符号为“~”。
4.与非门（NAND Gate）与非门是一种逻辑门，当且仅当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
与非门的逻辑符号为“|~”。
5.或非门（NOR Gate）或非门是一种逻辑门，当任意一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
或非门的逻辑符号为“&~”。
6.异或门（XOR Gate）异或门是一种逻辑门，当输入信号中只有一个为高电平时，输出信号为高电平。
异或门的逻辑符号为“⊕”。
TTL集成逻辑门的功能包括实现逻辑运算和信号转换等，可以广泛应用于数字电路中。
二、TTL集成逻辑门的参数测试实验原理为了保证TTL集成逻辑门的正常工作和可靠性，需要对其进行参数测试。
常见的参数测试包括输入电压范围、输出电压范围、功耗、响应时间等。
1.输入电压范围输入电压范围是指TTL逻辑门可以接受的输入电压范围。
一般来说，TTL逻辑门的输入电压范围为0V到Vcc（供电电压）之间。
西北工业大学2011级数电实验报告一TTL集成逻辑门参数测试
实验一TTL集成逻辑门参数测试学号：姓名：班级：日期：一．实验目的（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。
（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。
（3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。
二．实验设备数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器。
三．实验内容1、函数信号发生器A路产生1kHz，0~5V 的方波信号，用数字示波器观察波形并测量频率/周期、峰峰值：①方波、②频率、③峰峰值、④偏移2、测试与非门的功能将每一个与非门分别接入电路，即检查与非门。
F＝AB当输入均为“１”时，实验箱的指示灯不亮，当其中一个为“０”时，指示灯亮。
依次检测每一个与非门电路。
3、用与非门实现与门、或门和异或门○1F=AB＝1•AB用原有的一个与非门直接接输入Ａ和Ｂ，其输出的接入下一个与非门的输入端，另一个输入端悬空。
在输出即达到与非门实现与门的目的。
○2F=A＋B＝B1用三个与非门即可实现，一个门输入Ａ信号另一•1•A•个输入悬空，一个门输入Ｂ另一个输入悬空；两个输出分别接入下一个门的输入端，接出输出即达到与非门实现或门的目的。
○3Ｆ=A ○+B＝AB••用一个A和B输入构成与非门（用两次）A•ABB将其输出非别再次将A和B输入接下来的两个与非门。
再将这两个输出接到下一个与非门的输入端，输出即可到达与非门实现异或门的目的。
四．实验结果1、F=AB=AB•1A B F0 0 00 1 01 0 01 1 1A••B•12、F=A+B=13、F=A○+B=A AB••B•AB五．故障排除在做非用与非门实现与门中，不管如何改变输入变量灯一直亮，在74LS00 集成电路无故障情况下，最终检测出一根接输入信号的导线断路，替换有问题导线即可。
六．心得体会这种集成与非门的逻辑器件体积较小，且可以实现多种逻辑电路的连接，很大程度上简化了电路。
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试绪论：集成逻辑门是计算机电路中最基本的部件之一，广泛应用于数字电路的设计与实现。
TTL（Transistor-Transistor Logic）是一种常见的集成逻辑门技术，通过使用晶体管和电阻来实现逻辑功能。
在本实验中，我们将测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数。
实验目的：1.了解TTL集成逻辑门的基本原理和工作方式；2.测试TTL集成逻辑门的逻辑功能，包括与门、或门、非门等；3.测试TTL集成逻辑门的参数，包括输入电平、输出电平和功耗等。
实验设备：1.TTL集成逻辑门芯片（例如74系列）；2.逻辑状态测试仪；3.电源供应器；4.连接线。
实验步骤：1.连接电路：根据逻辑门芯片的引脚图，将芯片连接到电源供应器和逻辑状态测试仪上；2.逻辑功能测试：a.与门测试：将两个输入端分别接地和5V电压，测量输出电平，验证与门的功能；b.或门测试：将两个输入端分别接地和5V电压，测量输出电平，验证或门的功能；c.非门测试：将输入端接地，测量输出电平，验证非门的功能；3.参数测试：a.输入电平测试：按照逻辑门的输入电平要求，分别给输入端施加低电平和高电平，测量输出电平；b.输出电平测试：根据逻辑门芯片的DC参数表，给定适当的输入电平，测量输出电平；c.功耗测试：测量逻辑门芯片在不同输入电平下的功耗。
实验注意事项：1.在操作过程中，应注意芯片引脚的连接正确性；2.不要超过逻辑门芯片的最大电源电压和最大输入电压范围，以免损坏芯片；3.测量时，应使用适当的测量工具和方法，减少误差；4.为了保证实验结果的稳定性和可靠性，建议多次测量并取平均值。
实验结果分析：根据实验数据和测量结果，可以得出以下结论：1.TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能，能够实现与门、或门、非门等基本逻辑操作；2.TTL集成逻辑门具有较高的输入电平和输出电平容限，可以适应不同的输入和输出电平要求；3.TTL集成逻辑门具有适当的功耗，在允许的电源范围内，能够正常工作。
ttl逻辑门功能与参数测试实验报告
ttl逻辑门功能与参数测试实验报告TTL逻辑门功能与参数测试实验报告引言：逻辑门是数字电路中的基本组成单元，其功能是根据输入信号的逻辑关系产生输出信号。
TTL（Transistor-Transistor Logic）逻辑门是一种常见的数字逻辑门，其采用晶体管作为开关元件，具有高速、低功耗等优点。
本实验旨在研究TTL逻辑门的功能和参数，并进行相应的测试。
一、实验目的本实验的目的是通过测试TTL逻辑门的功能和参数，深入了解其工作原理和性能特点。
二、实验器材和原理1. 实验器材：- TTL逻辑门芯片（如74LS00、74LS02等）- 示波器- 电源- 连接线等2. 实验原理：TTL逻辑门是由晶体管、二极管和电阻等元件组成的。
其工作原理是根据输入信号的逻辑关系，控制晶体管的导通和截止，从而产生输出信号。
三、实验步骤1. 连接电路：将TTL逻辑门芯片与电源、示波器等设备连接起来，确保电路连接正确、稳定。
2. 功能测试：依次测试TTL逻辑门的各个输入端和输出端。
通过输入不同的逻辑电平（如高电平、低电平），观察输出端的变化情况。
记录下每个逻辑门的真值表，分析其逻辑功能是否正确。
3. 参数测试：测试TTL逻辑门的各项参数，包括功耗、传输延迟等。
通过测量电路的功耗和延迟时间，分析逻辑门的性能特点。
四、实验结果与分析1. 功能测试结果：根据测试数据，可以得到每个TTL逻辑门的真值表。
通过比对真值表和理论值，可以判断逻辑门的功能是否正确。
若功能正确，则说明TTL逻辑门芯片工作正常。
2. 参数测试结果：测量得到的功耗和传输延迟等参数可以用于评估TTL逻辑门的性能。
功耗越低，说明逻辑门的能耗越少；传输延迟越短，说明逻辑门的响应速度越快。
根据测试结果，可以对TTL逻辑门的性能进行评估和比较。
五、实验总结通过本次实验，我们深入了解了TTL逻辑门的功能和参数。
通过功能测试，我们验证了逻辑门的正确性；通过参数测试，我们评估了逻辑门的性能。
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测定
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测定TTL集成逻辑门是一种常见的数字电路元件，它可以实现多种逻辑功能，如与门、或门、非门等。
在数字电路设计中，TTL集成逻辑门是必不可少的元件之一。
本文将介绍TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数测定。
一、TTL集成逻辑门的逻辑功能TTL集成逻辑门的逻辑功能主要包括与门、或门、非门、异或门等。
其中，与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平；或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平；非门的逻辑功能是将输入信号取反输出；异或门的逻辑功能是当输入信号相同时，输出信号为低电平，否则输出信号为高电平。
TTL集成逻辑门的逻辑功能可以通过其内部的晶体管电路实现。
在TTL 集成逻辑门中，晶体管的开关状态决定了输出信号的电平。
当输入信号为高电平时，晶体管处于导通状态，输出信号为低电平；当输入信号为低电平时，晶体管处于截止状态，输出信号为高电平。
二、TTL集成逻辑门的参数测定TTL集成逻辑门的参数测定主要包括输入电压、输出电压、输入电流、输出电流等。
这些参数的测定可以帮助我们了解TTL集成逻辑门的工作状态，从而更好地设计数字电路。
1. 输入电压TTL集成逻辑门的输入电压通常为5V。
在实际应用中，输入电压的波动会对TTL集成逻辑门的工作产生影响。
因此，需要测定TTL集成逻辑门的输入电压范围和稳定性。
2. 输出电压TTL集成逻辑门的输出电压通常为0V和5V。
在实际应用中，输出电压的稳定性和噪声水平会对数字电路的工作产生影响。
因此，需要测定TTL集成逻辑门的输出电压范围、稳定性和噪声水平。
3. 输入电流TTL集成逻辑门的输入电流通常为几微安到几毫安。
在实际应用中，输入电流的大小和波动会对数字电路的工作产生影响。
因此，需要测定TTL集成逻辑门的输入电流范围和波动。
4. 输出电流TTL集成逻辑门的输出电流通常为几毫安到几十毫安。
在实际应用中，输出电流的大小和波动会对数字电路的工作产生影响。
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
一、实验目得1、掌握TTL集成与非门得逻辑功能与主要参数得测试方法２、掌握TＴL器件得使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置得结构,基本功能与使用方法二、实验原理本实验采用双四输入与非门７4LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立得与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(ａ)、(b)、(ｃ)所示、(b)(a) (c)图1 ７4LS２０逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门得逻辑功能与非门得逻辑功能就是:当输入端中有一个或一个以上就是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才就是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”、) 其逻辑表达式为 Y＝２、TTL与非门得主要参数(1) 输出低电平ＶOL:输出低电平就是指与非门得所有输入端都接高电平时得输出电平值。
测试电路如图２(a)所示。
(2)输出高电平ＶOH:输出高电平就是指与非门有一个以上输入端接低电平时得输出电平值。
测试电路如图2(ｂ)所示、(a) (ｂ)图２ VＯH、V OL测试电路图(3)低电平输出电源电流ＩCCL与高电平输出电源电流I CCH与非门处于不同得工作状态,电源提供得电流就是不同得。
I CCL就是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件得电流、ＩCCH就是指输出端空截,每个门各有一个以上得输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件得电流。
通常ＩCCＬ>I CCH,它们得大小标志着器件静态功耗得大小。
器件得最大功耗为P CCL＝V CC I CCL。
手册中提供得电源电流与功耗值就是指整个器件总得电源电流与总得功耗。
IＣＣＬ与ＩCCH测试电路如图3(ａ)、(b)所示、［注意]:TＴL电路对电源电压要求较严,电源电压V CC只允许在+5V±1０%得范围内工作,超过5、5V将损坏器件;低于4、5V器件得逻辑功能将不正常、(a) (b) (c) (d)图3 TTL与非门静态参数测试电路图(4)低电平输入电流ＩｉL与高电平输入电流I iH。
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测定
TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测定1. 简介TTL（Transistor-Transistor Logic）是一种数字电路家族，常用于集成电路中。
TTL集成逻辑门是由晶体管和电阻等元件组成的，具有逻辑功能的电路。
本文将深入探讨TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数测定方法。
2. TTL集成逻辑门的分类TTL集成逻辑门主要分为以下几类：2.1 TTL与非门（TTL-NOT）TTL与非门是最简单的TTL集成逻辑门之一，也是其他TTL门电路的基础。
它的逻辑功能为将输入信号取反输出。
2.2 TTL与门（TTL-AND）TTL与门是将两个或多个输入信号进行逻辑与运算的电路。
只有当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2.3 TTL或门（TTL-OR）TTL或门是将两个或多个输入信号进行逻辑或运算的电路。
只要有一个输入信号为高电平，输出信号就为高电平。
2.4 TTL异或门（TTL-XOR）TTL异或门是将两个输入信号进行逻辑异或运算的电路。
当输入信号相同时，输出信号为低电平；当输入信号不同时，输出信号为高电平。
2.5 TTL与非门（TTL-NAND）TTL与非门是将两个或多个输入信号进行逻辑与运算后取反的电路。
只有当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
3. TTL集成逻辑门的参数测定方法为了正确使用TTL集成逻辑门，我们需要了解其参数，并进行相应的测定。
以下是常见的参数测定方法：3.1 高电平输入电压（VIH）高电平输入电压是指输入信号被认为是高电平的最小电压值。
测定方法如下： 1. 将输入信号逐渐增加，直到输出信号的状态发生变化。
2. 记录此时的输入电压，即为高电平输入电压。
3.2 低电平输入电压（VIL）低电平输入电压是指输入信号被认为是低电平的最大电压值。
测定方法如下： 1. 将输入信号逐渐减小，直到输出信号的状态发生变化。
2. 记录此时的输入电压，即为低电平输入电压。
3.3 高电平输出电压（VOH）高电平输出电压是指输出信号被认为是高电平的最小电压值。
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告引言•介绍TTL集成逻辑门的背景和作用•说明本实验旨在测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数的性能实验设计1.实验材料： TLL集成逻辑门芯片、电路板、示波器等2.实验步骤：–步骤一：搭建所需电路，将TTL集成逻辑门芯片与其他电子器件进行连接–步骤二：使用示波器进行测量和记录–步骤三：根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析1.逻辑功能测试：–对不同的输入组合进行测试，并记录输出结果–比较测试结果与预期结果的一致性2.参数测试：–测试集成逻辑门的输入电流、输出电流、工作电压等参数–记录并分析测试数据–验证芯片参数是否符合规格书上的要求结论•总结实验过程中的观察结果和数据分析•评价TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数性能•提出可能的改进和优化建议参考文献•如果有的话，列出相关参考文献附录•实验所使用的电路图•数据记录表格•其他相关数据和图表实验设计实验材料•TTL集成逻辑门芯片•电路板•示波器•逻辑分析仪实验步骤1.准备实验所需材料和设备2.按照电路图搭建TTL集成逻辑门电路3.确保电路连接正确，没有短路或接触不良的情况4.使用逻辑分析仪设置输入信号，并观察和记录输出信号5.切换不同的输入组合进行测试，并记录相应的输出结果6.使用示波器对信号进行测量和记录7.根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析逻辑功能测试•在测试过程中，我们通过改变输入信号的值，观察输出信号的变化情况。
•比较测试结果与预期结果，判断逻辑门的逻辑功能是否符合要求。
•对不同的输入组合进行测试，包括与、或、非等逻辑运算。
参数测试•我们测量了TTL集成逻辑门的输入电流、输出电流和工作电压等参数。
•记录并分析了测试数据，比较参数值与规格书上的要求。
•验证TTL集成逻辑门的参数是否在工作范围内，符合设计要求。
结论•实验结果表明，TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能和参数性能。
实验一 TTL和CMOS器件集成电路的逻辑功能及参数测试
实验一 TTL和CMOS器件集成电路的逻辑功能及参数测试一实验目的1 掌握TTL和CMOS集成电路的功能测试方法；2掌握数字集成电路的主要性能参数测试方法式；3 认识数字集成电路的引脚命名规则及封装形。
二实验器件与设备1 +5V直流电源2 双踪示波器3 连续脉冲源4 逻辑开关5 万用表6 逻辑指示灯7 74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、CD4002、CD4011、电位器 10K三实验内容与步骤1 测试TTL器件的逻辑功能(1) 测试74LS08（2输入端四与门）的逻辑功能① 引脚图VCCGND② 逻辑表达式L=AB（A、B为输入，L为输出）③ 真值表A B L0 00 11 01 1④ 输入/输出逻辑电平输入/输出测试电平（范围）VILVIHVOLVOH(2) 测试74LS32（2输入端四或门）的逻辑功能① 引脚图VCCGND② 逻辑表达式L=A+B（A、B为输入，L为输出）③ 真值表A B L0 00 11 01 1④ 输入/输出逻辑电平输入/输出测试电平（范围）VILVIHVOLVOH(3) 测试74LS04（六反相门）的逻辑功能① 引脚图V② 逻辑表达式L=A（A为输入，L为输出）③ 真值表A L1④ 输入/输出逻辑电平输入/输出测试电平（范围）VILVIHVOLVOH(4) 测试74LS00（2输入端四与非门）的逻辑功能① 引脚图② 逻辑表达式L=AB （A、B 为输入，L 为输出） ③ 真值表A B L 0 0 0 1 1 0 11④ 输入/输出逻辑电平输入/输出测试电平（范围）IL V IH V OL VOH V2 测试CMOS 器件的逻辑功能（1）测试CD4002（4输入二或非门）的逻辑功能 ① 引脚图NC② 逻辑表达式（A、B、C、C为输入，L为输出）L=A+B+C+D③ 真值表A B C D L A B C D L0 0 0 0 1 0 0 00 0 0 1 1 0 0 10 0 1 0 1 0 1 00 0 1 1 1 0 1 10 1 0 0 1 1 0 00 1 0 1 1 1 0 10 1 1 0 1 1 1 00 1 1 1 1 1 1 1④ 输入/输出逻辑电平输入/输出测试电平（范围）ILVIHVOLVOHV（2）测试CD4011（2输入四与非门）的逻辑功能① 引脚图② 逻辑表达式L=AB （A、B 为输入，L 为输出） ③ 真值表A B L 0 0 0 1 1 0 11④ 输入/输出逻辑电平输入/输出测试电平（范围）IL V IH V OL VOH V四 实验报告1 按要求填写实验表格，分析实验结果。
TTL集成门的测试与使用
实验一 TTL 集成门的测试与使用一、实验目的 （1）掌握TTL 与非门、集电极开路门和三态门逻辑功能的测试方法 （2）熟悉TTL 与非门、集电极开路门和三态门主要参数的测试方法 二、实验原理1．TTL 集成与非门 实验使用的T TL 与非门74LS 020（或T4020、T063等）是双4输入端与非门，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有4个输入端。
其逻辑表达式为 ：Y=ABCD 。
其逻辑符号如图1-1所示。
器件引出端排列图在本章末附录中可查到。
所有TTL 集成电路使用的电源电压均为VC C =+5V 。
TTL 与非门的主要参数： （1）低电平输出电源电流I C CL 和高电平输出电源电流IC C H 。
低电平输出电源电流I C CL 是指：所有输入端悬空、输出端空载时，电源提供器件的电流。
高电平输出电源电流I C CH 则是指：每个门各有一个以上的输入端接地，输出端空载时的电源电流。
通常ICC L >I CCH 。
（2）低电平输入电流IIL 和高电平输入电流II H低电平输入电流是指：被测输入端的输入电压V IL =0.4V ，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流值。
高电平输入电流是指：被测输入端接至+5V 电源，其余输入端接地，流入被测输入端的电流值。
（3）电压传输特性电压传输特性是反映输出电压VO 与输人电压V I 之间关系的特性曲线。
从电压传输特性曲线上可以直接读得下述各参数值。
1) 输出高电平电压值VO H是指与非门有—个以上输入端接地时的输出电压值。
当输出接有拉电流负载时。
VOH 值将下降。
其允许的最小输出高电平电压值V O H =2.4V 。
2) 输出低电平电压值VO L 是指与非门的所有输入端悬空时的输出电压值。
实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试
实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试实验原理：TTL和CMOS集成门电路的工作原理不同。
TTL采用双晶体管作为开关，利用基极电流来控制集电极电流。
CMOS则通过P型和N型金属-氧化物-半导体场效应晶体管（PMOS和NMOS）来实现逻辑门功能。
TTL电路的主要特点是速度快，但功耗相对较高；而CMOS电路功耗低，但速度较慢。
实验步骤：1.实验器材准备：TTL和CMOS集成门电路，功率源、万用表、数字逻辑分析仪等。
2.将TTL和CMOS集成门电路与电源连接，通过万用表测量电路的电压和电流。
3.测量功耗：通过电流表测量TTL和CMOS电路的输入功率和输出功率，计算功耗。
4.测量延迟时间：使用数字逻辑分析仪测量输入信号到输出信号之间的延迟时间，分别对比TTL和CMOS电路的延迟时间。
5.测量噪声容限：在输入信号上加入噪声，并测量输出信号的变化情况，分别对比TTL和CMOS电路的噪声容限。
实验结果和讨论：1.功耗比较：通过实验可以得到TTL电路的功耗相对较高，一般为几十毫瓦，而CMOS电路的功耗相对较低，一般为几毫瓦。
2.延迟时间比较：TTL电路的延迟时间一般在几纳秒至十几纳秒，而CMOS电路的延迟时间一般在几十纳秒至百纳秒。
3.噪声容限比较：TTL电路的噪声容限较小，输入信号受到的干扰较敏感；而CMOS电路的噪声容限较大，输入信号受到的干扰较不敏感。
实验结论：TTL和CMOS集成门电路在功耗、延迟时间和噪声容限方面有所不同。
TTL电路功耗较高，速度较快，但噪声容限较小；CMOS电路功耗较低，速度较慢，但噪声容限较大。
根据应用的具体要求选择适合的电路类型。
实验一 TTL参数测试
换一个小题目：TTL与CMOS器件能否直接相连？ 换一个小题目：TTL与CMOS器件能否直接相连？ 器件能否直接相连
单独基本门电路使用少，设计方法却十分重要； 单独基本门电路使用少，设计方法却十分重要； 目前混合电压应用越来越多，器件接口很重要。 目前混合电压应用越来越多，器件接口很重要。
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0.4V以下才是可 靠的低电平
它是衡量器件负载能力的参数，即一个门的输出能够驱 动同类门输入的个数。
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NO的测量方法
VCC
200
IOL IIL
调节电阻使输出达到 0.4V上限值
NO=IOL/IIL
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1. 万用表注意档位转换（电流和电压），否则容 万用表注意档位转换（电流和电压），否则容 ）， 易烧保险管。如果不能测量电流请更换保险管。 易烧保险管。如果不能测量电流请更换保险管。 太小，如果不能测量出来，可以不用测量。 2. IIH太小，如果不能测量出来，可以不用测量。 测量扇出系数时，注意加200 200欧姆的保护电阻 3. 测量扇出系数时，注意加200欧姆的保护电阻 （不能省略） 不能省略） 测量电压传输特性曲线时， 1V附近多测量一 4. 测量电压传输特性曲线时，在1V附近多测量一 些点。 些点。
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VCC
负载
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功 特
耗： 截止（所有输出为高）和导通（所有输出为低）功耗； 截止（所有输出为高）和导通（所有输出为低）功耗； 性： 包括功能表和传输特性曲线以及传输延迟时间； 包括功能表和传输特性曲线以及传输延迟时间；
必须高电平
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实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
一、实验目的
1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
2、掌握TTL器件的使用规则
3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理
本实验采用双四输入与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每
个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(a)、(b)、(c)所示。
（a） (c)
图1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列
1、与非门的逻辑功能
与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有
当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝
2、TTL与非门的主要参数
(1) 输出低电平V OL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
测试电路如图2（a）所示。
（2）输出高电平 V O H ：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接低电平时的输出电平值。
测试电路如图2（b ）所示。
（a ）
（b ）
图2 V OH 、V OL 测试电路图
图5 传输特性测试电路
三、实验设备与器件
1、+5V直流电源
2、逻辑电平开关
3、逻辑电平显示器
4、直流数字电压表
5、直流毫安表
6、直流微安表
7、74LS20×2、1K、10K电位器，200Ω电阻
器(0.5W)
四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。
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1、74LS20主要参数的测试
(1)分别按图2、3、4、6(b)接线并进行测试，将测试结果记入表2中。
表2
(2)接图5接线，调节电位器W i v i和v O的对应
值，记入表3中。
表3
（1）通过测试与非门输出电压进行验证。
按图7接线，与非门的四个输入
端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，
输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。
用万用表测量与非门的输出端电
压。
按表4的五种情况逐个验证集成块中两个与非门的逻辑功能。
将
所测电压填入表4右端。
74LS20有4个输入端，有16个最小项，
实验一 TTL
在实际测试时，只要通过
对输入
1111、
0111、1011、1101、1110五项
进行
检测就可判断其逻辑功能是否正常。
表4 图7 测电压验证与非门逻辑功能逻辑图
(2) 通过观察与非门输入输出电压波形进行验证。
+5V
+5V
(a) （b)
图8 测波形验证与非门逻辑功能图 分别按图8(a)、(b)接线，将其中一
个输入端接信号发生器TTL 方波（频率为1kHz ），用示波器观察两种电路的输入输出波形，记录于图9(a)、(b)。
&
Vi
Vo
Vi
接
逻 辑 开 关
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6
-1
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10
t/ms
(b) 图9
波形图
Vo/v。