外延片批量生产中的质量检验技术
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衬底片的表面检验流程图如图 1 所示 。
客户指标 中的外延指标主要包括外延类型 、 掺 杂剂、 外延厚度 和电阻率 。为了生产出高 质量 的: 外
延片 , 我们在客户指标的基础上 , 针对各类器件对外 延片的要求 , 经过不断的研究和大量的实验, 规定 了 各类外延片的内控标准 , 该 内控标准扣除了因产 品
产, 以每炉外延片产品的厚度( T / l x m ) 为例, 选取不 少于 2 5 炉生产稳定数据 , 数据见表 1 。
表 1 数据统计——分析用控制图
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独
甘
肃
科
技
第3 0卷
J
加
晒 ∞
5 l
墨
戗4 ・ 9
0 0
4 ・ 8
。 。 盎 值 弱
彭永纯
( 中国电子科技集 团公司第 四十六研究所硅外延材 料部 , 天津 3 0 0 2 2 0 )
摘 要: 随着现今外延产业 的 日益成 熟 , 外 延片 需求 量 日益增 加 , 对外延 片 的质量 提出 了更 高 的要 求。第 四十六研
究所硅外延材料部在全面质量管理阶段( T Q M) , 将质量检验技术贯穿于产品生产的全过程, 不仅利用质量检验把关 防止不合格品的非预期使用和交付, 同时, 通过过程控制预防了不合格品的产生。文章结合外延片批量生产的实际
0 . 2 0
。 。
#0 1 5
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t o
位0 - 0 5
0 . 0 0
¨ 6 7 玛 8 g 。
图5 T— A的 I —MR控 制 图— — 分 析 用
图6 T— A的 l —MR 控 制 图— — 控 制 用
控 制 图中未 出现 检 验不 合 格 点 , 该 分 析用 控 制 图可 作 为 控 制 用 控 制 图 。该 产 品 每 批 次 产 品 为 2 0 0 0片 ( 双腔 8 7炉左 右 ) , 利用 以上 检验 条 件 , 某 批 图 1 Nhomakorabea验流程
质 量 报 告
衬底 片的检验转移规则如图2所示 。
检验开始
连续 5批或少 于 5批中 有 2 批拒 收
累计 5批不
合格证
发货
发货 单
接收 < 加严
期)
图 3 外 延 片 的 检 验 流 程
2 . 2 检 验产 品的 处理 方法
放宽 检 验I
准测试仪器, 保证测试的准确性。 根据红外测试仪 和 c—V测试 仪 自身的稳定 性, 选用 不 同的周 期检定 方 法 , 除 了计 量站 的年 检之
外, 部 门选 用月检 、 季检 核半 年检 的方 法检定 测试 仪
的基础上, 制作 了分析用控制图, 利用分析用控制图
作控 制用 控制 图来 监 控 生 产质 量 , 以达 到 预 防 产 生
该控制图出现 3 处不合格红点 , 均为检验 1 , 在
T: 4 . 8 2 8处 生长 时 间调 节 2 s , T: 5 . 1 l 8处 生 长 时 间 调节 2 s , 在T : 4 . 8 3 5处 生长 时 间调节 1 s 。
次产品 A腔数据见表 2 , 控制图如图 6 所示。
我们具备独立的表面检验系统 , 具有专 门的表 面检验人员 , 由质量部门统一培训, 外延片表面检验 为全数检验, 按照检验规范进行严格检验 , 选取合格 外 延 片送货 , 不合 格 外 延 片 由质 量 部 门进 行 最终 检 验确定为降级处理、 清洗处理或报废处理。 2 . 3 . 2 参数检验要求 1 ) 设 备校准具符合 性。外延片最 主要 的参数 为外延层的厚度和 电阻率 , 测试仪器普遍使用红外 测试仪和 c—V测试 仪。设备具有 足够 的测量精 度, 而校 准测 试仪器 的样本精 度应 为测 试样 品 的 1 / 3 , 最好 为 1 / 1 0 , 我们根据外延片使用类型 , 选用
3 结论
在全面质量管理阶段 , 要生产 出高质量 的外延 片, 首先 , 在衬底片的检验中使用适合 的衬底检验流 程, 表面检验开始为全数检验 , 之后根据转移规则进 行检验, 既达到了衬底片检验的高质量水平 , 又合理
地减 少 了人 力 浪 费 , 节 约 了时 间 ; 其次 , 外 延 片 的质
I 正 常 检 验I
批次产品发货包括产品合格证 、 装箱单 和发货 单 。过程检验包括 全数表面检验、 抽样参数检验 和 过程控制 ; 最终检验包括抽样检验和批次统计 , 质量 部门将过程检验和最终检验合格产品出具 以上证书 便可发货 。
f 其他情况
或 延 迟 I , I i 堙 徭5 批
把关的 目的。但本篇详述 的质量检验 中, 仍需不断 开发新的检验手段 、 评估 检验水平 , 提高检验全 面
性、 科 学性 , 注 重过 程 控制 , 平 衡 检验 效 果 和检 验 效
率, 最终达到产品质量 的提升。
参考 文献 :
[ 1 ] G B / T 2 8 2 8 . 1—2 0 1 2 / I S O 2 8 5 9—1 :1 9 9 9 9 , 计数 抽样 检验程序 第 1 部分 : 按接受质量限 ( A Q L ) 检索的逐批
情况 , 详 细叙述 了衬底 片及外延 片的质量检验 和统 计过程控制 ( S P C ) , 具体 阐述 了衬 底 片的表面检 验流程 及转 移规 则、 外延 片的检验 流程 、 判定性检验方 法及过程控制 。 关键 词 : 质量检验 ; 外延片检验 ; 衬底片检验 ; 过程控制
中图分 类号 : T M 2 3
表 2 数据统计——控制用控制图
首先 , 控制图中的检验不合格点分为异常波动 和正常波动两种情况, 工艺调节必须在异常波动情
况下进行 , 故在 此过程 中会 存在 弃真 ( ) 和取伪
( B ) 两种风 险 ; 其次 , 出现红 点 后 的工 艺 调节 幅度 由
人为决定 , 调节正确与否仍存在风险。
l 衬底 片的检验流程
我们根据客户提供的外延片的验收标准采购衬
2 外延 片的检验
2 . 1 外延 片检 验 流程
底片 , 衬底片指标主要包括衬底类型 、 掺杂剂 、 晶向、 衬底厚度和电阻率 、 缺陷, 由于衬底片物理特性的检 验为破坏性检验 , 我们选择特殊检验水平…进行检 验, 针对缺陷检验 , 破坏性缺陷选择特殊检验水平进 行检验 , 表面检验选择全数检验方法进行 , 并按照转 移规则…进行转移 。
量检验在具符合性 的检验设备 和检验人员 的基础 上, 不 仅通 过判 定性 检 验 判 断 了成 品外 延 片 的合 格
性, 同时 , 通 过外 延 片 生产 的过 程 控 制 调 节工 艺 , 降
低了外延片生产 的不合格率 , 将质量检验技术贯穿
于整个 外延 片 生产 中 , 达 到 了预 防为 主 和质 量检 验
质量稳定性 而造成的偏差 和因测 量误 差导致 的 偏
差。 ’
外 延 片检 验 流程 图如图 3所 示 。
面涵面
内控指标 检 验规 范
检 验报 告
表面检验 不合格 参数检验
— — 。 —
测 试 仪器 操 作 规 程
封装
不合格 装箱革
- — —
抽 捡
一
厚 度 和 电阻率不 同的 多种 校 准 片 , 已适 用 于 不 同 的 生产需 要 , 同时 , 选用 参数 偏差 为 0 . 3 % 的校 准 片校
同类型外延片的处理过程 , 根据不 同职能的生产人 员进行 有针对 性 的培训 , 使 同一 级 别 的 生产 人 员 掌
握 同样的测试能力 , 保证测试结果的准确性 和统一
不合格 品的目的 , 并结合 S P C图调节工艺 , 保证产
品质 量 。 下 面以某 产 品为例 , 分析过 程控 制 的全过 程 。 选取 C S D外 延 炉 单 腔 ( A / B) 进 行 外 延 片 的 生
器, 选择客户反馈较好的产 品批 中的外延 片制作为 校准片, 并结合生产实际情况增加或缩短检定时间。 最终 , 按照测量设备管理制度 , 建立台账 , 按照 周 期检 定 和校准 计划进 行实 施 、 监 督 和考核 , 做检 定 及校准状态标识 , 并作动态管理 , 保存记录。在 日常
第3 0卷
第 2期
. . —
甘 肃科 技
Ga n s uS c i e n c e a n d T e c h n o l o g y
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Ⅳ0 . 2
2 0 1 4年 1月
J a n . 2 01 4
外 延 片 批 量 生产 中的质 量 检 验 技 术
性, 同时便 于分析 测试 事故 的原 因 。
2 . 4 过 程控 制 外 延片 的生产 过程 中 主要控 制产 品的厚 度 和 电
阻率 , 在工艺调节中, 结合 S P C过程控制来判断产
品的质 量 。
由于外延片的参数为计 量值数据 , 服从正态分
布 一N( , 【 『 ) , 通过 m i n i t a b软件在 一系列 稳定 数 据
工艺人员根据此控制图调节工艺 , 出现检验 1 、 2 、 3 , 通过调节生长时间来 实现 , 出现 4 、 7 、 8 , 则需检
查 外延 炉条 件 。
检验 抽样 计划 [ G] . [ 2 ] 上海质量 管理科学 研究 院. 六 西格 码 实施技 巧 : 绿带
读本 [ M] . 北京 : 中国标准出版社 , 2 0 0 3 .
f l 接收
图 2 衬底 片的检验转 移规则
5 6 2 . 3 判 定性 检验 2 . 3 . 1 表 面检验 要 求
甘
肃
科
技
第3 O卷
的测试过程中, 根据《 记录控制程序》 填写测试记录
并存档 。 2 ) 测 试人 员 需 掌 握 测 试 设 备 的 特 性 。针 对 我 们的人员配备 , 并未设置专门的测试人员 , 但在整个 生产过 程 中 , 设 置测 试工程 师 , 由测 试工程 师统 一 培 训班组 人员 , 包括 外延 片 的测试 原理 、 氧化 过程 及不
客户指标 中的外延指标主要包括外延类型 、 掺 杂剂、 外延厚度 和电阻率 。为了生产出高 质量 的: 外
延片 , 我们在客户指标的基础上 , 针对各类器件对外 延片的要求 , 经过不断的研究和大量的实验, 规定 了 各类外延片的内控标准 , 该 内控标准扣除了因产 品
产, 以每炉外延片产品的厚度( T / l x m ) 为例, 选取不 少于 2 5 炉生产稳定数据 , 数据见表 1 。
表 1 数据统计——分析用控制图
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0 0
4 ・ 8
。 。 盎 值 弱
彭永纯
( 中国电子科技集 团公司第 四十六研究所硅外延材 料部 , 天津 3 0 0 2 2 0 )
摘 要: 随着现今外延产业 的 日益成 熟 , 外 延片 需求 量 日益增 加 , 对外延 片 的质量 提出 了更 高 的要 求。第 四十六研
究所硅外延材料部在全面质量管理阶段( T Q M) , 将质量检验技术贯穿于产品生产的全过程, 不仅利用质量检验把关 防止不合格品的非预期使用和交付, 同时, 通过过程控制预防了不合格品的产生。文章结合外延片批量生产的实际
0 . 2 0
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图5 T— A的 I —MR控 制 图— — 分 析 用
图6 T— A的 l —MR 控 制 图— — 控 制 用
控 制 图中未 出现 检 验不 合 格 点 , 该 分 析用 控 制 图可 作 为 控 制 用 控 制 图 。该 产 品 每 批 次 产 品 为 2 0 0 0片 ( 双腔 8 7炉左 右 ) , 利用 以上 检验 条 件 , 某 批 图 1 Nhomakorabea验流程
质 量 报 告
衬底 片的检验转移规则如图2所示 。
检验开始
连续 5批或少 于 5批中 有 2 批拒 收
累计 5批不
合格证
发货
发货 单
接收 < 加严
期)
图 3 外 延 片 的 检 验 流 程
2 . 2 检 验产 品的 处理 方法
放宽 检 验I
准测试仪器, 保证测试的准确性。 根据红外测试仪 和 c—V测试 仪 自身的稳定 性, 选用 不 同的周 期检定 方 法 , 除 了计 量站 的年 检之
外, 部 门选 用月检 、 季检 核半 年检 的方 法检定 测试 仪
的基础上, 制作 了分析用控制图, 利用分析用控制图
作控 制用 控制 图来 监 控 生 产质 量 , 以达 到 预 防 产 生
该控制图出现 3 处不合格红点 , 均为检验 1 , 在
T: 4 . 8 2 8处 生长 时 间调 节 2 s , T: 5 . 1 l 8处 生 长 时 间 调节 2 s , 在T : 4 . 8 3 5处 生长 时 间调节 1 s 。
次产品 A腔数据见表 2 , 控制图如图 6 所示。
我们具备独立的表面检验系统 , 具有专 门的表 面检验人员 , 由质量部门统一培训, 外延片表面检验 为全数检验, 按照检验规范进行严格检验 , 选取合格 外 延 片送货 , 不合 格 外 延 片 由质 量 部 门进 行 最终 检 验确定为降级处理、 清洗处理或报废处理。 2 . 3 . 2 参数检验要求 1 ) 设 备校准具符合 性。外延片最 主要 的参数 为外延层的厚度和 电阻率 , 测试仪器普遍使用红外 测试仪和 c—V测试 仪。设备具有 足够 的测量精 度, 而校 准测 试仪器 的样本精 度应 为测 试样 品 的 1 / 3 , 最好 为 1 / 1 0 , 我们根据外延片使用类型 , 选用
3 结论
在全面质量管理阶段 , 要生产 出高质量 的外延 片, 首先 , 在衬底片的检验中使用适合 的衬底检验流 程, 表面检验开始为全数检验 , 之后根据转移规则进 行检验, 既达到了衬底片检验的高质量水平 , 又合理
地减 少 了人 力 浪 费 , 节 约 了时 间 ; 其次 , 外 延 片 的质
I 正 常 检 验I
批次产品发货包括产品合格证 、 装箱单 和发货 单 。过程检验包括 全数表面检验、 抽样参数检验 和 过程控制 ; 最终检验包括抽样检验和批次统计 , 质量 部门将过程检验和最终检验合格产品出具 以上证书 便可发货 。
f 其他情况
或 延 迟 I , I i 堙 徭5 批
把关的 目的。但本篇详述 的质量检验 中, 仍需不断 开发新的检验手段 、 评估 检验水平 , 提高检验全 面
性、 科 学性 , 注 重过 程 控制 , 平 衡 检验 效 果 和检 验 效
率, 最终达到产品质量 的提升。
参考 文献 :
[ 1 ] G B / T 2 8 2 8 . 1—2 0 1 2 / I S O 2 8 5 9—1 :1 9 9 9 9 , 计数 抽样 检验程序 第 1 部分 : 按接受质量限 ( A Q L ) 检索的逐批
情况 , 详 细叙述 了衬底 片及外延 片的质量检验 和统 计过程控制 ( S P C ) , 具体 阐述 了衬 底 片的表面检 验流程 及转 移规 则、 外延 片的检验 流程 、 判定性检验方 法及过程控制 。 关键 词 : 质量检验 ; 外延片检验 ; 衬底片检验 ; 过程控制
中图分 类号 : T M 2 3
表 2 数据统计——控制用控制图
首先 , 控制图中的检验不合格点分为异常波动 和正常波动两种情况, 工艺调节必须在异常波动情
况下进行 , 故在 此过程 中会 存在 弃真 ( ) 和取伪
( B ) 两种风 险 ; 其次 , 出现红 点 后 的工 艺 调节 幅度 由
人为决定 , 调节正确与否仍存在风险。
l 衬底 片的检验流程
我们根据客户提供的外延片的验收标准采购衬
2 外延 片的检验
2 . 1 外延 片检 验 流程
底片 , 衬底片指标主要包括衬底类型 、 掺杂剂 、 晶向、 衬底厚度和电阻率 、 缺陷, 由于衬底片物理特性的检 验为破坏性检验 , 我们选择特殊检验水平…进行检 验, 针对缺陷检验 , 破坏性缺陷选择特殊检验水平进 行检验 , 表面检验选择全数检验方法进行 , 并按照转 移规则…进行转移 。
量检验在具符合性 的检验设备 和检验人员 的基础 上, 不 仅通 过判 定性 检 验 判 断 了成 品外 延 片 的合 格
性, 同时 , 通 过外 延 片 生产 的过 程 控 制 调 节工 艺 , 降
低了外延片生产 的不合格率 , 将质量检验技术贯穿
于整个 外延 片 生产 中 , 达 到 了预 防为 主 和质 量检 验
质量稳定性 而造成的偏差 和因测 量误 差导致 的 偏
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外 延 片检 验 流程 图如图 3所 示 。
面涵面
内控指标 检 验规 范
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表面检验 不合格 参数检验
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不合格 装箱革
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厚 度 和 电阻率不 同的 多种 校 准 片 , 已适 用 于 不 同 的 生产需 要 , 同时 , 选用 参数 偏差 为 0 . 3 % 的校 准 片校
同类型外延片的处理过程 , 根据不 同职能的生产人 员进行 有针对 性 的培训 , 使 同一 级 别 的 生产 人 员 掌
握 同样的测试能力 , 保证测试结果的准确性 和统一
不合格 品的目的 , 并结合 S P C图调节工艺 , 保证产
品质 量 。 下 面以某 产 品为例 , 分析过 程控 制 的全过 程 。 选取 C S D外 延 炉 单 腔 ( A / B) 进 行 外 延 片 的 生
器, 选择客户反馈较好的产 品批 中的外延 片制作为 校准片, 并结合生产实际情况增加或缩短检定时间。 最终 , 按照测量设备管理制度 , 建立台账 , 按照 周 期检 定 和校准 计划进 行实 施 、 监 督 和考核 , 做检 定 及校准状态标识 , 并作动态管理 , 保存记录。在 日常
第3 0卷
第 2期
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I 2 - 3 0
Ⅳ0 . 2
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J a n . 2 01 4
外 延 片 批 量 生产 中的质 量 检 验 技 术
性, 同时便 于分析 测试 事故 的原 因 。
2 . 4 过 程控 制 外 延片 的生产 过程 中 主要控 制产 品的厚 度 和 电
阻率 , 在工艺调节中, 结合 S P C过程控制来判断产
品的质 量 。
由于外延片的参数为计 量值数据 , 服从正态分
布 一N( , 【 『 ) , 通过 m i n i t a b软件在 一系列 稳定 数 据
工艺人员根据此控制图调节工艺 , 出现检验 1 、 2 、 3 , 通过调节生长时间来 实现 , 出现 4 、 7 、 8 , 则需检
查 外延 炉条 件 。
检验 抽样 计划 [ G] . [ 2 ] 上海质量 管理科学 研究 院. 六 西格 码 实施技 巧 : 绿带
读本 [ M] . 北京 : 中国标准出版社 , 2 0 0 3 .
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图 2 衬底 片的检验转 移规则
5 6 2 . 3 判 定性 检验 2 . 3 . 1 表 面检验 要 求
甘
肃
科
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第3 O卷
的测试过程中, 根据《 记录控制程序》 填写测试记录
并存档 。 2 ) 测 试人 员 需 掌 握 测 试 设 备 的 特 性 。针 对 我 们的人员配备 , 并未设置专门的测试人员 , 但在整个 生产过 程 中 , 设 置测 试工程 师 , 由测 试工程 师统 一 培 训班组 人员 , 包括 外延 片 的测试 原理 、 氧化 过程 及不