晶体光学必备知识点
晶体光学基础
A、垂直光轴（ ⊥OA ）切面 为圆切面，半径为 Nm，不发生双折射现象，也不改变振动方向，该切面显均质性。 二轴晶有两个这样的切面。
填餐慨缄篷坪圭果盔诽娃驻口癣砧狮棵斟稀右蜀男靛递熄蔼坏讥眩抽蓟殃晶体光学基础晶体光学基础
B、平行（∥OA）光轴切面 为椭圆切面，长、短半径分别为 Ng和Np 。 当光线垂直该切面通过时，发生双折射形成两种偏光，其振动方向分别平行于椭圆切面的长、短半径。 双折射率=Ng-Np，最大。 二轴晶只有一个这样的切面。
4. 光在晶体中的传播
固体
非晶质体（均质体）
晶体
均质体
非均质体
光性均质体与光性非均质体：
光性均质体：
凿蕴们冲料耍靖患凤掂尧武尝纶择直机忱履察阔堑孤奥陌楼堪眶植课滞凶晶体光学基础晶体光学基础
光性非均质体：
概念：光学性质随方向而改变物体，包括中级晶族和低级晶族矿物。 光传播特点：光通过非均质体物质时，除特殊方向外，要发生双折射现象，即分解为振动方向相互垂直，传播速度不同，折射率不等的两种偏光，两种偏光的折射率差称为双折射率。 非均质体折射率不只有一个。
一轴晶光率体主要切面：
A、垂直光轴（ ⊥OA ）切面 为圆切面，半径为 No 。 当光线沿C轴入射时，不发生双折射现象，也不改变振动方向，该切面显均质性。 一轴晶只有一个这样的切面。
欧勉抡遭磅氏丛躯蜀坎痘撮瑟贵拯资封托晴钮践研嘲撤庇荐江亢典猜激危晶体光学基础晶体光学基础
B、平行（∥OA）光轴切面 为椭圆切面，长、短半径分别为 Ne和No 。 当光线垂直该切面通过时，发生双折射形成两种偏光，其振动方向分别平行于椭圆切面的长、短半径。 双折射率=Ne-No，最大。
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第一章晶体光学基础
§5 光率体
一、均质体的光率体
光在均质体中传播时，无论振动方向如何，折 光率值相等。 图形特点：均质体光率体是以折光率值为半径的圆 球体（包括：等轴晶系矿物和玻璃质）。 均质体的光 率体的切面
Bxa“//”Ng，Ng=Bxa，Bxo一定“//”Np，即 Bxo= Np。相应的矿物叫二轴晶正光性矿物。
2.二轴晶负光性光率体（-）： 当Ng-Nm＜Nm-Np时，为负光性光率体。
Bxa=Np，Bxo=Ng。 相 应 的 矿 物 叫 二 轴 晶 负 光 性 矿物。
二 轴 晶 光 率 体
三、二轴晶光率体
微观结构不同，折光率值是透明鉴定矿物最可 靠的常数之一。
三、全反射及其临界角
1.全反射临界角 当光从光密介质射入光疏介
质，折射光线沿界面传播时相应 的入射角叫全反射临界角。
2、产生全反射的必要条件 ①从光疏介质射入光密介质。 ②入射角≥全反射临界角。
3、阿贝折光仪的制成原理 如果玻璃块上方介质为n，反射
1 nm=10 Å =10-3μ（微米） =10-6mm（毫米）
§2 自然光和偏光
根据光波的振动特点，把光可分为自然 光和偏光。 自然光：是指直接由光源发出的光，自然 光的光波振动方向在垂直于光波传播方向 的平面内，作任何方向的等振幅的振动。 偏光：自然光经过反射、折射、双折射或 选择性吸收等作用后，可以转变为只在一 个固定方向上振动的光波，称为偏振光或 偏光。
Vi/ Vγ= Sinⅰ/ Sinγ=N ……..…..③
当两种介质一定时，N值永远是一个常数， 我们把N称为折射介质对入射介质的相对折射 率，当入射介质是真空时，称N为绝对折射率 ，简称折射率或折光率。我们把③式为折射定 律。
晶体光学整理复习资料
一、名词解释（1）折射：当入射光波进入透明物后，其传播的方向和速度都发生改变的现象称为折射。
（2）矿物的消光位：矿片在正交偏光镜下处于消光位的位置，称为消光位，处于消光位时矿片光率体椭圆半径与上下偏光镜的振动方向一致。
（3）光率体：表示光波在晶体中传播，光波的振动方向与相应的折射率之间相关性指示体。
（4）干涉色：当白光通过正交偏光镜的矿片后，经干涉作用形成的颜色称为干涉色。
（5）晶体光性方向：晶体的光率体主轴与结晶轴之间的关系称为光性方向（6）全消光：在正交偏光镜间，载物台上放置均质体或非均质体垂直光轴的矿片，转动载物台360，矿片消光不改变，称为全消光。
（7）一轴晶：中级晶族中只有一个光轴方向，称为一轴晶（8）光性方向：光率体，主轴，晶体结晶轴三者之间的关系称为光性方向。
（9）二轴晶：低级晶族具有两个光轴方向，称为二轴晶。
（10）非均质体：中级晶族和低级晶族的矿物，其光学性质随方向而异称为光性非均质体。
（11）折射率的色散：同一晶体的折射率随单色光光波的波长不同而发生改变的现象称为折射率的色散。
（12）补色法则：两个非均质体除垂直光轴以外的任意方向切面，在正交偏光镜间45位置重叠，光波通过这两个矿片后，总光程差的增减称为补色法则。
（13）多色性和吸收性：在单偏光镜下转动载物台时，许多有色非均质体矿片的颜色及颜色的深浅发生变化，这种由于光波在晶体中波动方向不同，而使矿物的颜色发生变化的现象称为多色性，颜色深浅发生变化的现象称为吸收性。
（14）矿物的突起：在岩石薄片中，各种不同矿物表面高低不同，这种矿物表面突起来的现象称为突起。
（15）矿物的闪突起：在单偏光镜下，转动载物台，非均质体矿物边缘糙面及突起高低产生明显变化的现象称为闪突起。
（16）解理缝可视临界角：当解理面倾斜到一定角度时，解理缝就不见了，此时解理缝与矿片平面法线之间的夹角称为解理缝可见临界角。
（17）全反射临界角：入射光线的全部能量以反射光的形式全部返回入射介质的入射角。
晶体光学知识点总结
第一章1、晶体光学：研究可见光通过透共振、穆斯鲍尔谱学、透射电子显微镜等方法研究矿物。
2、光性矿物鉴定法：是利用不同的透明矿物显示的光学性质不同，鉴定明矿物晶体时所产生的一些光学现象及其原理的一门科学。
3、研究矿物的方法包括：化学分析、光谱分析、电子探针显微分析、X射线结构分析、差热分析、荧光分析以及晶体测量和比重、硬度精确测定等。
此外还用红外光谱、核磁透明矿物。
晶体光学是鉴定、研究透明矿物及岩石的重要方法。
是一种很好的物相研究法。
4、可见光：是电磁波，其波长范围约为390nm～770nm（纳米）是整个电磁波谱中很窄的一小段。
可见光光波波长不同，呈现颜色也不同。
白光是各种单色光按一定比例混合而成的混合光。
单色光的波长由长到短，对应的色感由红到紫。
5、纵波：振动方向与传播方向一致，不存在偏振问题；横波：振动方向与传播方向垂直，存在偏振问题。
6、最常见的光有五种：自然光、线偏振光、部分偏振光、椭圆偏振光和圆偏振光。
7、自然光：各个方向上振动振幅相同的光。
（一束自然光可分解为两束振动方向相互垂直的、等幅的、不相干的线偏振光。
）8、线偏振光（又称平面偏振光或完全偏振光）：在垂直于传播方向的平面内，光矢量只沿某一个固定方向振动。
9、部分偏振光：某一方向光振动比与之垂直方向的光振动占优势。
彼此无固定相位关系、振动方向任意、不同方向上振幅不同的大量光振动的组合，它介于自然光与线偏振光之间。
（部分偏振光可分解为两束振动方向相互垂直的、不等幅的、不相干的线偏振光）10、获得偏振光的方法：由反射与折射产生（部分偏振光）、由二向色性产生（线偏振光）、双折射晶体（偏振棱镜）产生（线偏振光）。
11、布儒斯特定律：若光从折射率为n1的介质向折射率为n2的介质，当入射角满足tgi 0=n2/n1时，反射光中就只有垂直于入射面的光振动，没有平行于入射面的光振动，这时反射光为线偏振光，折射光仍为部分偏振光。
这就是Brewster定律。
晶体光学一、二
4、光性正负 、 与一轴晶光性正负的确定有所不同，二轴晶光性正负取决于： 当Ng－Nm ＞Nm－Np （＋）。此时Nm 比较接近Np ，两个 圆切面靠近Np ，光轴则接近Ng 。所以Ng 为 Bxa 、Np 为 Bxo 。 当Ng－Nm ＜Nm－Np （－）。此时Ng为Bxo。Np为Bxa。
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无论光性如何， 无论光性如何， ⊥Bxa 切面的双折率总是小于 ⊥Bxo 切面上的 双折率。 双折率。 证明：（＋） Ng－Nm ＞ Nm－Np （⊥Bxo） （⊥Bxa） （－） Ng－Nm ＜ Nm－Np Bxa Bxo （⊥Bxa） （⊥Bxo） （5）斜交切面： 即不垂直主轴，也不垂直光轴。 a、半任意斜切面（垂直于一个主轴面的斜交切面），椭圆， 有一个半径为主轴。另一个为Ng’或Np’，比较重要的是⊥NgNp 面 （AP）的切面。含Nm。 b、任意斜交切面， 椭圆，半径为Ng’、Np’，双折率介于 O 与Ng－Np 之间。
2、一轴晶光率体的主要切面
岩矿鉴定中常 应用的是晶体不 同方向上的切面 （薄片切面）。 所以必须对光率 体几种主要切面 的形状和切面半 径所表示的折射 率值十分熟悉。
（1）⊥OA切面： 不发生双折射，不改变特点。 圆，半径为Ne ，一轴晶仅有一个。（过球心，⊥Z轴） （2）∥OA切面： 分解为两种偏光，平行两个半径。 椭圆：（＋）长半径为Ne，短No , （－）长半径为No，短Ne， 双折率为（Ne－No）,为最大双折率。 （3）斜交光轴切面（最常见） ：分解成两种偏光。 椭圆，（＋）长Ne＇，短No , （－）长No, 短Ne＇， 双折率为No与Ne＇之差，大小介于0与（Ne－No）之间。 小结：初步可知，应用光率体，可以确定光波在晶体中 的传播方向（波法线方向）、振动方向及相应折射率值之 间的关系。⊥OA方向的切面；圆，不发生双折射，非⊥OA 方向，双折射。椭圆，椭圆半径方向为振动方向。长度表 示n值，二者差为双折率。
晶体光学
k
2 x0
k
2 y0
k
2 z0
0（2.3-5）
1 n2
1
xr
1 n2
1
yr
1 n2
1
zr
单轴晶体中 的传播规律
九．波矢菲涅耳方程的解
定义三个主折射率
nx xr , ny yr , nz zr
对于单轴晶体
z
ko kzo
oθ
kyo
y
xr yr nx ny no
0n2k0
k0
E
（2.2-13）
利用 A BC B AC C A B 上式写成
D 0n2 E k0 k0 E
（2.2-14）
菲涅耳方程
将基本方程 D 0n2 E k0 k0 E 写成分量形式
光 在 晶 体 中 的 传 播 规 律
晶体中 E和 D 的关系
由（2.2-4）式可以得到
k H D
D
1
H k
（2.2-12）
将（2.2-3）代入（2.2-12）当中得到 k E 0 H
D
1
0
2
k
Ek
no2 n22
cos2 Ey
Ex 0
n22 sin
cosEz
0
n22 sin
cosE y
ne2
晶体学基础必学知识点
晶体学基础必学知识点1. 晶体的定义：晶体是由原子、离子或分子以有序排列形成的固态物质。
2. 结晶学：研究晶体的结构、性质以及晶体的生长过程。
3. 晶体的晶格：晶体具有规则的周期性排列结构，可以用晶格来描述。
4. 晶胞：晶体中最小的重复单元，可以通过平移来产生整个晶体结构。
5. 晶体的晶系：根据晶胞的对称性，晶体可以分为七个晶系，分别为三斜晶系、单斜晶系、正交晶系、四方晶系、六方晶系、菱方晶系和立方晶系。
6. 晶体的晶面和晶向：晶体表面上的平面称为晶面，晶体内部的线段称为晶向。
7. 晶体的点阵和晶格常数：晶胞中的基本单位称为点阵，晶体的晶格常数是指晶格中基本单位的尺寸参数。
8. 布拉格方程：描述X射线或中子衍射中晶体衍射角度与晶格参数之间的关系。
9. 动态散射理论：描述X射线或中子与晶体中原子、离子或分子相互作用的过程。
10. 逆格子：描述晶格的倒数空间，逆格子与晶格的结构存在对偶关系。
11. 晶体缺陷：晶体中的缺陷包括点缺陷、线缺陷和面缺陷，晶体缺陷对晶体的性质和行为有重要影响。
12. 晶体生长：研究晶体从溶液或气体中的形成过程，包括核化、生长和晶面的形态演化等。
13. 晶体的结构表征方法：包括X射线衍射、中子衍射、电子衍射、扫描电子显微镜和透射电子显微镜等。
14. 晶体结构的解析和精修：通过衍射数据和晶体学软件对晶体的结构进行解析和精修，得到晶体的准确原子位置和结构参数。
15. 晶体的物理和化学性质：晶体的结构对其性质有重要影响，包括光学性质、电学性质、磁学性质和力学性质等。
16. 晶体学的应用：晶体学在材料科学、化学、生物学、地质学和矿物学等领域有广泛的应用，如材料合成、催化剂设计、药物研发和矿石勘探等。
晶体光学必备知识点
晶体光学必备知识点关键信息项1、晶体的定义与分类晶体的概念：＿___________________________晶体的分类方式：＿___________________________常见晶体类型：＿___________________________2、晶体的光学性质折射率：＿___________________________双折射现象：＿___________________________光轴：＿___________________________3、晶体的偏振特性偏振光的产生与类型：＿___________________________晶体对偏振光的作用：＿___________________________ 4、晶体的颜色与吸收晶体颜色的成因：＿___________________________吸收光谱：＿___________________________5、晶体的光学观测方法显微镜观测：＿___________________________偏光显微镜的使用：＿___________________________11 晶体的定义与分类晶体是由原子、离子或分子在空间按一定规律周期性地重复排列构成的固体物质。
其具有规则的几何外形、固定的熔点和各向异性等特征。
111 晶体的分类方式多种多样，常见的有以下几种：按化学成分分类，可分为无机晶体和有机晶体。
无机晶体如石英、氯化钠等，有机晶体如尿素、蔗糖等。
按晶体结构分类，可分为七大晶系，分别是立方晶系、四方晶系、正交晶系、单斜晶系、三斜晶系、六方晶系和菱方晶系。
按功能分类，可分为光学晶体、电学晶体、磁学晶体等。
112 常见的晶体类型包括：离子晶体，由正负离子通过离子键结合而成，具有较高的熔点和硬度，如氯化钠。
原子晶体，由原子通过共价键结合而成，具有很高的熔点和硬度，如金刚石。
分子晶体，由分子通过分子间作用力结合而成，熔点和硬度通常较低，如干冰。
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晶体光学-必备知识点以上是吉林大学鸽子楼老师多年课件总结经典内容。
第一章晶体光学基础晶体光学涉及某些重要的物理光学原理和结晶矿物学基础知识，本章要求学生重点掌握光的偏振现象、折射及折射率、光在晶体中的传播特性、晶体中的双折射现象、光率体和光性方位。
其中重点是晶体中的双折射现象和光率体的构成；难点是光性方位。
一、光的基本性质及有关术语·光具有“波粒”两相性。
晶体光学主要利用的是光的波动理论。
·光波是一种横波。
光的传播方向与振动方向互相垂直。
晶体中许多光学现象与此有关。
·可见光：电磁波谱中波长范围390—770nm的一个区段，由波长不同的七色光组成。
·自然光：在垂直光波传播方向的断面内，光波作任意方向的振动，且振幅相等。
·偏振光：在垂直光波传播方向的断面内，光波只在某一固定方向上振动。
自然光转化为偏振光的过程称偏振化。
·折射定律：Sin i（入射角）/ Sin a（折射角）= V i（入射速度）/ V a（折射速度）=N i-a N i-a为介质a对介质i的相对折射律。
当介质i为真空时，N i-a称介质的(绝对)折射律，以N表示。
N是介质微观特征的宏观反映，是物质的固有属性之一，因此它是鉴定矿物的重要光学常数之一。
·全反射临界角和全反射：当光波从光密介质入射到光疏介质时，入射角i总是小于折射角a ，当a = 90 °时，i =φ，此时入射角φ称为全反射临界角。
当入射角i> φ时，折射光波不再进入折射介质而全部返回到入射介质，这种能量的突变称为全反射。
二、光在晶体中的传播根据光在物质中的传播特点，可以把自然界的物质分为光性均质体和光性非均质体。
性均质体：指光学性质各方向相同的晶体。
包括等轴晶系的矿物和非晶质物质。
·光波在均质体中的传播特点：光的传播速度不因光的振动方向不同而发生改变（各向同性），联系折射定律可知，均质体的折射率只有一个。
·光性非均质体：光性非均质体的光学性质因方向不同而改变（各向异性）。
包括中级晶族(一轴晶)和低级晶族(二轴晶)的矿物。
·光波在非均质体中的传播特点：光的传播速度因光波在晶体中的振动方向不同而发生改变。
因而非均质体的折射率也因光波在晶体中的振动方向不同而改变。
·有关术语介绍：双折射、双折射率、光轴、一轴晶矿物、二轴晶矿物。
（1）双折射：光波射入非均质体，除特殊方向外，将分解成振动方向互相垂直，传播速度不同，折射率不等的两种偏光，这种现象称为双折射。
（2）双折射率：两种偏光的折射率值之差称为双折射率。
许多晶体光学现象与此有关。
（3）光轴：光波沿非均质体的特殊方向入射时，不发生双折射，这种特殊的方向称为光轴。
中级晶族具有一个这样的特殊方向，称为一轴晶矿物；低级晶族具有两个这样的特殊方向，称为二轴晶矿物。
三、光率体光率体是表示光波在晶体中传播时，折射率值随光波振动方向变化的一种立体几何图形或一种光性指示体。
其作法是设想自晶体中心起，沿光波振动方向按比例截取相应的折射率值，再把各个线段的端点连接起来便构成了光率体。
·均质体光率体：其传播速度不因振动方向不同而发生改变，即折射率值各方向相等。
因此均质体光率体是一个球体，球体的半径代表该晶体的折射率。
·一轴晶光率体：一轴晶光率体是一个以C轴为旋转轴的旋转椭球体。
（1）有关术语解释：光学主轴（Ne轴、No轴）；主折射率（Ne、No）；折射率（Ne’）；正光性（Ne>No）；负光性（Ne<No）；最大双折射率（∆）。
（2）主要切面类型：1）垂直光轴切面：圆切面。
半径为No，光波垂直该切面入射不发生双折射。
2）平行光轴切面：椭圆切面。
长短半径分别为Ne或No，光波垂直该切面入射发生双折射，双折射率等于Ne与No的差的绝对值，为一轴晶晶体的最大双折射率。
3）斜交光轴切面：椭圆切面。
长短半径分别为Ne’或No，双折射率等于Ne’与No的差的绝对值，介于零与最大值之间。
·二轴晶光率体：二轴晶光率体是一个三轴不等的椭球体。
（1）有关术语解释：光学主轴(Ng、Nm、Np轴)；主折射率（Ng、Nm、Np；且Ng＞Nm＞Np）；主轴面；两根光轴(OA)；光轴面（AP）；光轴角(2V)；锐角等分线(Bxa)；钝角等分线(Bxo)；正光性；负光性。
（2）主要切面类型：1）垂直一根光轴切面（OA）：圆切面。
半径为Nm，光波垂直该切面入射不发生双折射。
2）平行光轴面切面（AP）：椭圆切面。
长半径为Ng，短半径为Np，光波垂直该切面入3）垂直Bxa切面：椭圆切面。
对于正光性，长半径为Nm，短半径为Np，双折射率等于Nm-Np；对于负光性，长半径为Ng，短半径为Nm，双折射率等于Ng-Nm。
4）垂直Bxo切面：椭圆切面。
正光性和负光性的长短半径的特点与垂直Bxa切面相反。
5）斜交切面：椭圆切面。
长短半径分别为Ng’和Np’（Ng’大小介于Ng与Nm之间；Np’大小介于Nm与Np之间），双折射率等于Ng’- Np’。
四、光性方位指光率体在晶体中的位置，即光率体主轴（No、Ne轴或Ng、Nm、Np轴）与结晶轴（a、b、c轴）之间的相互关系。
对低级晶族（二轴晶）矿物具有重要的鉴定意义。
·高级晶族:可不考虑其光性方位问题。
·中级晶族（一轴晶）：结晶轴C轴与光轴Ne轴一致。
·低级晶族（二轴晶）：分为以下三种情况。
（1）斜方晶系：三个主轴分别平行结晶轴。
（2）单斜晶系：晶体的b轴与三个主轴之一平行。
（3）三斜晶系：三个主轴与三个结晶轴均斜交。
第二章偏光显微镜（透射）偏光显微镜是岩矿综合鉴定的精密光学仪器，与一般生物显微镜的主要区别在于安装有两个偏光镜。
本章教学目的是结合实物使学生了解偏光显微镜的基本构成、必备附件、使用方法及养护规则。
一、偏光显微镜的构成·机械系统主要部件（1）镜座与镜臂：支撑显微镜及连接光源、物台、镜筒。
（2）镜筒：连接目镜和物镜的部件.（3）物镜转换器：用于安装、选择不同倍数的物镜。
（4）载物台：放置薄片用的可3600转动的圆形平台（5）焦准设备(升降系统)：分粗调和微调，作用是调节焦距，使物象清晰。
（6）聚光镜架：连接聚光镜、下偏光镜、上锁光圈等的部件。
（7）上、下锁光圈：控制光的通过量。
·光学系统主要部件（1）光源：分为自然光源和人工光源，目前多数显微镜采用人工光源。
（2）下偏光镜：在聚光镜架底部，作用是把自然光转变为偏光。
其振动方向一般为东西向。
（3）聚光镜：在聚光镜架上部，作用是把偏光转变为锥光，使显微镜处于偏光系统。
（4）物镜：由多组透镜组成，连接在物镜转换器上，是决定放大倍数及成像质量的重要部件。
按放大倍数分为三类：高倍镜（40倍和100倍）中倍镜（10倍和20倍）、低倍镜（2.5´和4四倍）。
（5）目镜：由眼透镜和场透镜组成。
目镜中附有十字丝，倍数有10倍和8倍两种。
（6）上偏光镜：位于目镜和物镜间，振动方向与下偏光振动方向垂直，可自由推入或拉出。
（7）勃氏镜：位于目镜和上偏光镜间，可自由的推入或拉出，与聚光镜和高倍镜配合使用。
二、偏光显微镜的调节与校正·选择并装配物镜和目镜：按需要选择物镜和目镜，在安装目镜时注意其内十字丝的方向。
·调节照明：打开光源灯，调节变压器旋扭，直到亮度适度为止。
·焦准：将薄片置于物台上，在教师指导下，用粗调或微调调焦至物象清晰。
在此过程中，千万注意，物镜前透镜不要与薄片接触，以免打碎薄片或损坏镜头。
·物镜中心的校正：物台旋转轴、物镜中轴、镜筒中轴、目镜中轴必须保持在一条直线上，偏光显微镜才能正常使用，目前有关物镜中心的校正将由指导教师来完成。
·下偏光镜的检查：下偏光镜的振动为东西向。
当黑云母的解理平行下偏光镜的振动方向时颜色最深，据此可以检查、调节下偏光镜的振动方向。
·上偏光镜的检查：移去薄片，视域黑暗，说明上偏光振动方向与下偏光振动方向互相垂直。
否则，需要进行调节，调节工作由指导教师来完成。
三、偏光显微镜的养护偏光显微镜价格昂贵并且是我们日常教学和科研中必备的光学仪器。
要想保证偏光显微镜的良好使用状态，延长偏光显微镜的使用寿命，就必须精心养护，有关偏光显微镜的使用规定及养护原则请参见实验室管理规定及教科书第49页。
第三章单偏光系统下晶体的光学性质单偏光系统是指在只使用下偏光镜(起偏镜)的情况下，观察和测定矿物光学性质的系统。
在单偏光系统下，自光源发出的光波通过下偏光镜后变成振动方向平行下偏光镜振动方向的偏光，然后通过薄片到达目镜，将产生一系列光学现象。
矿物的外表特征（形态、解理等）、与矿物吸收性有关的光学性质(颜色、多色性、吸收性等)、与矿物折射率有关的光学性质（突起、闪突起、糙面、边缘、贝克线、色散线等）。
其中难点是突起及其判断标志。
一、矿物的形态（1）控制因素：矿物成分、内部结构、物化条件、晶出顺序。
（2）观察内容：矿物自形程度、矿物单体形态、矿物集合体形态。
·矿物自形程度：自形晶、半自形晶、它形晶。
·矿物单体形态：粒状、针状、板（条）状、柱状、片状。
·矿物集合体形态：纤维状、放射状、球粒状、网状、交生状、雏晶状。
（3）观察方法：同一矿物不同切面特点不同（图3-1），因此需要综合不同切面的特征，才 能正确判断出矿物的单体形态。
图3-1同一单体不同切面形态示意图二、解理及解理夹角（1）解理的表现形式：在薄片中，解理表现为沿一定方向平行排列的细缝(解理缝)。
缝中 为树胶所充填，因矿物的折射率与树胶不同而使解理缝得以显现。
（2）解理等级的划分：薄片中的解理按其完善程度可以分为三级。
·极完全解理：解理缝很细、很密集、很清楚，且贯穿整个晶体，例如黑云母的解理。
·完全解理：解理缝清楚，疏密中等，不完全贯穿晶体，例如角闪石的解理。
·不完全解理：解理缝宽而稀疏，不清楚，断续通过晶体，例如橄榄石的解理。
（3）影响解理缝清晰程度的因素：主要应考虑以下三方面。
·矿物解理的完善程度：解理缝清晰程度解理的完善程度成正向关系。
·切片的方向：切片的法线方向与解里面平行时解理最清楚。
随着两者夹角增大，解理缝变得不清楚。
增大到一定角度时，解理缝就看不见了，这个角度称解理可见临界角。
·矿物折射率：矿物折射率与加拿大树胶折射率的差值.决定着解理缝的可见临界角。
（4）解理等级和组数的判定：综合观察多种切片才能得出正确的结论（图3-2A ）。
（5）解理缝与裂纹的区别：解理缝较细密、平直，且缝的间距大致相等，以此区别于裂纹。