asic flow中dft的基本方法(一)

asic flow中dft的基本方法(一)
ASIC Flow中DFT的基本方法
引言
在ASIC设计流程中，Design-for-Testability (DFT) 是确保芯片的可测性和可靠性非常重要的一环。

DFT方法旨在在设计过程中集成测试功能，以便在芯片制造之前能够有效地测试和故障排除。

本文将详细介绍ASIC Flow中DFT的一些基本方法，包括：
1.扫描链 (Scan Chains)
2.BIST(Built-In Self-Test)
3.Boundary Scan (JTAG)
4.Memory BIST
5.Logic BIST
扫描链 (Scan Chains)
•扫描链是一种在芯片中插入的专门用于测试的辅助电路。

•通过将芯片内部寄存器连接成一个或多个扫描链，可以在测试模式下通过将测试数据串行地输入到这些寄存器来覆盖分布在整个芯片上的存储器单元。

•扫描链方法可以有效地测试组合逻辑电路中的路径，并能捕捉和检测到芯片中的故障。

BIST(Built-In Self-Test)
•BIST是一种自测试技术，芯片内置了产生和处理测试模式的电路。

•BIST利用内置的电路生成测试模式，并将输入和输出点连接到BIST控制器。

•控制器执行自测试算法，收集测试结果，相比于扫描链方法，BIST可以更好地用于测试大型芯片，因为它能够生成更多的测试
模式。

Boundary Scan (JTAG)
•边界扫描是一种用于测试芯片输入/输出端口边界的技术。

•JTAG (Joint Test Action Group)是边界扫描技术的一种流行标准，常用于芯片级测试和板级测试。

•JTAG可以通过与芯片中的测试引脚和测试结构相互协作，实现故障检测、故障分析和故障隔离。

Memory BIST
•Memory BIST是一种用于测试内存单元的技术。

•通过在芯片内部集成BIST控制器和存储器测试模式生成器，Memory BIST可以生成和应用适用于内存单元的测试模式。

•Memory BIST能够有效地测试存储器单元的可靠性，减少故障率。

Logic BIST
•Logic BIST是一种用于测试组合逻辑电路的技术。

•Logic BIST可以在芯片内部生成特定的测试模式来覆盖所有的细节路径和状态，以测试逻辑单元。

•Logic BIST能够提供比传统测试方法更全面的电路覆盖率。

结论
在ASIC Flow中，DFT是确保芯片可靠性和可测试性的关键一环。

扫描链、BIST、Boundary Scan、Memory BIST和Logic BIST是常用的DFT方法。

通过集成这些方法，可以在芯片设计中实现有效的测试和故障排除机制，提高芯片的品质和稳定性。

以上是ASIC Flow中DFT的基本方法的详细介绍。

希望本文能够
帮助读者更好地理解和应用DFT技术。