低温下含Zn，Ag或Sc的8090合金正电子寿命谱分析
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低温下含Zn，Ag或Sc的8090合金正电子寿命谱分析高英俊;吴伟明;冯冠之;许少杰;阮向东
【期刊名称】《金属学报》
【年(卷),期】1995(31)2
【摘要】在２５—２７５Ｋ范围内，测量了正电子在８０９０合金和含Ｚｎ，Ａｇ或Ｓｃ的８０９０合金的湮没寿命．结果表明，τ１＝１７５—１８７ｐｓ是典型的正电子在共格粒子δ＇（Ａｌ３Ｌｉ）上的湮没寿命；τ２对温度Ｔ有明显的依赖关系．只要同时考虑空位、晶界对τ２的影响，就可以很好地对这四种样品的τ２－Ｔ曲线作出解释，并可对空位的存在形式作出推断．
【总页数】6页(PB091-B096)
【关键词】正电子湮没;寿命谱;铝锂合金;锆;银;钪
【作者】高英俊;吴伟明;冯冠之;许少杰;阮向东
【作者单位】广西大学
【正文语种】中文
【中图分类】TG146.21
【相关文献】
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