快氢分子离子在碳膜中的能量损失测量
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快氢分子离子在碳膜中的能量损失测量
杨百方;缪竞成;师勉恭;雷晓兰
【期刊名称】《原子与分子物理学报》
【年(卷),期】1990(0)S1
【摘要】六十年代初发现H<sub>2</sub><sup>+</sup>和
H<sup>+</sup>在薄膜中的能损有差异。
它反应了分子离子和原子离子在碰撞过程中有不同的规律。
由于在薄膜中快粒子的入射和出射能量差值很小,透射能谱有一定的展宽,这给直接测量决定能损带来困难。
本工作利用高分辨库能爆炸技术(能量分辨率为1.8×10<sup>-4</sup>FWHM)直接测量了
H<sub>2</sub><sup>+</sup>和H<sup>+</sup>在薄膜中的能量损失。
【总页数】2页(P247-248)
【作者】杨百方;缪竞成;师勉恭;雷晓兰
【作者单位】四川大学原子核科学技术研究所;四川大学原子核科学技术研究所【正文语种】中文
【中图分类】O4
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