V777测试系统DA／AD测试技术的研究
V777测试机基础
编程调试：功能测试图解
Vih Vih
Vil Driver
rate td tw stbd stbw
stbd
VDD Vol
DUT
Input VSS
Vil
Comparator
Output
Vol
NF/RZ/NRZ
输入 0或1
Timing Generator
采样延迟
Formatter
Local Memory
OP,PA文件是 Q7格式向量转 换成的机器可 以识别的码值
Compare L / H / X
Q7格式向量包含了 输入输出逻辑值 01011 01111 11000
to Sequencer to decide Pass/Fail
C文件中需要设置的内容： 1.设置时钟频率及时钟脉冲延迟，宽度和采样点 2.设置输入驱动电平和输出比较电平 3.设置pin脚的波形格式:NF/lo/hi/rz/nrz等
test(“func”,0x0,0xffff,0xffff,0xffff，fin3);
}
//跑向量
编程调试
测试程序
rate0
100ns
25ns 0ns 51ns 114ns
rate1
220ns
….. rate7
xxxns
###
RATE 0
###
rate(100NS);
td(25NS); td1(0NS); tw(51NS); tw1(20NS);
Pattern Data
0
1
TG lo
波形调制模式 (10种)
hi nrz inrz rz irz xor ixor nmod
rt1
编程调试
试验六AD转换实验和DA转换实验
试验六AD转换实验和DA转换实验试验六：AD 转换实验和 DA 转换实验在电子技术的世界里，AD 转换和 DA 转换是两个非常重要的概念和实验。
它们就像是电子信号世界的“翻译官”，将模拟信号和数字信号相互转换，为各种电子设备的正常运行和数据处理提供了关键的支持。
AD 转换，也就是模拟数字转换（AnalogtoDigital Conversion），其作用是把连续变化的模拟信号转换为离散的数字信号。
想象一下，我们生活中的声音、光线、温度等各种物理量都是模拟信号，它们的变化是连续且平滑的。
但计算机和数字系统只能处理数字信号，所以就需要 AD 转换器来把这些模拟量转换成计算机能够理解和处理的数字形式。
AD 转换的过程通常包括采样、量化和编码三个步骤。
采样就像是在连续的信号流中按一定的时间间隔“抓取”瞬间的值；量化则是把采样得到的值划分到有限的离散级别中；最后编码就是把量化后的级别用数字代码表示出来。
在进行 AD 转换实验时，我们会用到专门的 AD 转换芯片，比如常见的 ADC0809 。
以 ADC0809 为例，它是 8 位逐次逼近型的 AD 转换器。
在实验中，我们需要给它提供合适的输入模拟信号，设置好时钟频率、参考电压等参数，然后通过读取转换后的数字输出，来验证转换的准确性和精度。
比如说，我们要测量一个 0 5V 的模拟电压信号，将其输入到ADC0809 中。
通过设置合适的时钟和参考电压，当模拟电压为 25V 时，理想情况下转换后的数字输出应该接近 128（因为 25V 是 5V 的一半，8 位数字量的中间值就是 128）。
但实际中可能会存在一定的误差，这就需要我们分析误差的来源，是由于芯片的精度限制，还是输入信号的噪声干扰，或者是电路设计的不合理。
DA 转换，即数字模拟转换（DigitaltoAnalog Conversion），则是与AD 转换相反的过程，它把数字信号转换回模拟信号。
DA 转换在很多领域都有重要应用，比如音频播放、自动控制、通信系统等。
ad与da实验报告
ad与da实验报告AD与DA实验报告一、引言AD（模拟-数字）和DA（数字-模拟）转换技术在现代电子领域中起着重要的作用。
AD转换将连续的模拟信号转换为数字信号，而DA转换则将数字信号转换为模拟信号。
本实验旨在通过AD与DA转换器的实际应用，深入了解其原理和性能。
二、实验目的1. 理解AD转换原理和工作方式；2. 理解DA转换原理和工作方式；3. 学习使用AD和DA转换器进行模拟信号和数字信号的转换；4. 掌握AD转换器和DA转换器的性能评估方法。
三、实验装置1. AD转换器：采用XX型号的AD转换器；2. DA转换器：采用XX型号的DA转换器；3. 信号发生器：用于产生模拟信号；4. 示波器：用于观察和分析信号波形。
四、实验步骤1. 连接实验装置：将信号发生器输出端连接至AD转换器的输入端，将DA转换器的输出端连接至示波器，确保连接正确无误；2. 设置信号发生器：根据实验要求，设置信号发生器的频率、幅度和波形等参数；3. 进行AD转换实验：将信号发生器输出的模拟信号输入AD转换器，观察并记录数字信号的输出结果；4. 进行DA转换实验：将数字信号输入DA转换器，观察并记录模拟信号的输出结果；5. 分析结果：根据实验数据，分析AD和DA转换器的性能，如分辨率、信噪比等。
五、实验结果与分析通过实验，我们观察到AD转换器将连续的模拟信号转换为离散的数字信号。
数字信号的输出结果与信号发生器输入的模拟信号存在一定的误差，这是由于AD转换器的分辨率和量化误差所导致的。
分辨率越高，AD转换器对模拟信号的采样精度越高，输出的数字信号越接近原始模拟信号。
而DA转换器则将数字信号转换为模拟信号。
我们观察到，数字信号经过DA 转换后，输出的模拟信号与原始模拟信号基本一致。
这是因为DA转换器能够根据数字信号的数值精确地还原出模拟信号的波形。
然而，在实际应用中，DA 转换器也存在一定的失真，如量化误差和抖动等。
根据实验数据，我们可以计算AD和DA转换器的性能参数。
实验2(AD与DA实验)
实验三ADC0804模/数转换和DAC0832数/模拟换接口一、实验目的1.了解模／数转换基本原理，掌握ADC0804的使用方法。
2.了解D/A转换的基本原理。
3.了解D/A转换芯片D AC0832的单极性双极性接口及编程方法。
二、实验仪器和设备1. 单片机实验板一台2. 计算机一台三、实验简介1、实验内容利用实验板上的AD C0804做A/D转换器，利用实验板上的电位器W1提供模拟量输入。
编制程序，将模拟量转换成二进制数字量，用共阳极的八段数码管显示。
利用DAC0832，编制程序产生锯齿波、三角波、正弦波。
三种波轮流显示，用示波器观看。
2、实验线路及连接图1.电路原理图3、实验说明A/D转换器大致有三类:一是双积分A/D转换器，优点是精度高，抗干扰性好，价格便宜，但速度慢;二是逐次逼近法A/D转换器，精度，速度，价格适中;三是并行A/D转换器，速度快，价格也昂贵。
实验用的ADC0804属第二类，是八位A/D转换器。
图1中，D B1到D B8这8个口连接到P1口。
CS-AD这个是片选端口，低电平表示选中，RD写入信号，WR读出信号。
使用是需要将AD-IN口的1和2短接。
CS AD接口连着P0^7.RD接口P3^6，WR连着P3^7.D/A转换是把数字量转换成模拟量的变换，从本书D/A电路输出的是模拟电压信号。
要想实现实验要求，比较简单的方法是产生三个波形的表格，然后通过查表来实现波形显示。
产生锯齿波和三角波的表格只需由数字量的增减来控制，同时要注意三角波要分两段来产生。
要产生正弦波，较简单的手段是造一张正弦数字量表。
即查函数表得到的值转换成十六进制数填表。
这样做虽然简单，但是费时费力，没有充分发挥单片机的能力。
利用嵌入式定点、浮点运算子程序库可方便的完成正弦波的波形表生成工作。
D/A转换取值范围为一个周期，采样点越多，精度越高些。
本例采用的采样点为256点/周期。
图1中CS-DA接口连着P3^2，低电平有效。
AD_DA原理及主要技术指标
AD_DA原理及主要技术指标AD-DA（模拟-数字/数字-模拟）转换是现代电子设备中常见的基本电路和技术。
它负责将模拟信号转换为数字信号或将数字信号转换为模拟信号。
AD-DA转换在诸如音频处理、图像采集、仪器仪表等领域都有广泛应用。
AD转换即模拟到数字转换，它将连续的模拟信号转换为离散的数字信号。
AD转换通常涉及样本化、量化和编码三个步骤。
样本化是指将连续的模拟信号离散化为一系列时序的采样值。
在样本化过程中，模拟信号将被周期性地采样，并将每个采样点的幅值记录下来。
量化是指将每个采样点的幅值映射到一组离散的量化级别。
通过将连续的幅值区间映射为有限的离散级别，量化将模拟信号的无限细节化为数字形式。
编码是指将每个量化级别映射到二进制代码。
编码将每个量化级别分配一个特定的二进制代码，使得每个样本点都能准确地表示为二进制形式的数字。
DA转换即数字到模拟转换，它将离散的数字信号转换为连续的模拟信号。
DA转换通常涉及解码和重构两个步骤。
解码是指将数字代码转换为对应的模拟量化级别。
解码使用逆编码来将二进制代码映射回量化级别。
重构是指使用一定的插值或滤波技术来重建连续的模拟信号。
由于数字信号是离散的，重构步骤有助于消除数字信号中的采样误差，并使其逼近原始模拟信号。
在AD-DA转换中，有几个重要的技术指标需要考虑：1. 分辨率：分辨率是指数字信号中能够表示的最小变化量。
它通常以比特（bit）来表示。
分辨率越高，表示数字信号可以更准确地表示模拟信号。
2.采样率：采样率是指单位时间内进行采样的次数。
它通常以赫兹（Hz）来表示。
采样率的选择要根据所采集信号的频率范围进行，以避免采样失真。
3.带宽：带宽是指AD-DA转换器能够有效处理的频带范围。
带宽通常以赫兹（Hz）表示。
带宽决定了AD-DA转换器的频率响应范围。
4.信噪比：信噪比是指信号的强度与背景噪声的强度之比。
它通常以分贝（dB）表示。
信噪比越高，表示信号与噪声的区别越大，传输的信号质量也就越好。
单片机AD与DA转换实验报告
AD与DA转换实验报告一．实验目的⑴掌握A/D转换与单片机接口的方法；⑵了解A/D芯片0809转换性能及编程方法；⑶通过实验了解单片机如何进行数据采集。
⑷熟悉DAC0832 内部结构及引脚。
⑸掌握D/A转换与接口电路的方法。
⑹通过实验了解单片机如何进行波形输出。
二．实验设备装有proteus的电脑一台三．实验原理及内容1.数据采集_A/D转换（1）原理①ADC0809由一个8路模拟开关、一个地址锁存与译码器、一个A/D转换器和一个三态输出锁存器组成。
多路开关可选通8个模拟通道，允许8路模拟量分时输入，共用A/D转换器进行转换。
三态输出锁器用于锁存A/D转换完的数字量，当OE端为高电平时，才可以从三态输出锁存器取走转换完的数据。
②ADC0809引脚结构：D7 ~ D0：8位数字量输出引脚。
IN0 ~ IN7：8位模拟量输入引脚。
VCC：+5V工作电压。
GND：地。
REF（+）：参考电压正端。
REF（-）：参考电压负端。
START：A/D转换启动信号输入端。
ALE：地址锁存允许信号输入端。
（以上两种信号用于启动A/D转换）.EOC：转换结束信号输出引脚，开始转换时为低电平，当转换结束时为高电平。
OE：输出允许控制端，用以打开三态数据输出锁存器。
CLK：时钟信号输入端（一般为500KHz）。
A、B、C：地址输入线。
（2）内容和步骤1.硬件电路设计：设计基于单片机控制的AD转换应用电路。
AD转换芯片采用ADC0809。
ADC0809的通道IN3输入0－5V之间的模拟量，通过ADC0809转换成数字量在数码管上以十进制形成显示出来。
ADC0809的VREF接＋5V电压。
2. 软件设计：程序设计内容(1) 进行A/D转换时，采用查询EOC的标志信号来检测A/D转换是否完毕，经过数据处理之后在数码管上显示。
(2) 进行A/D转换之前，要启动转换的方法：ABC＝110选择第三通道。
ST＝0，ST＝1，ST＝0产生启动转换的正脉冲信号2.D/A转换及数字式波形发生器（1）原理典型D/A转换DAC0832芯片V cc 芯片电源电压, +5V ～+15V VREF 参考电压, -10V ～+10VRFB 反馈电阻引出端, 此端可接运算放大器输出端 AGND 模拟信号地 DGND 数字信号地DI7~ DI0数字量输入信号。
试验六AD转换实验和DA转换实验
试验六AD转换实验和DA转换实验嘿，伙计们！今天我们来聊聊一个非常有趣的话题——AD转换实验和DA转换实验。
你们知道这两个实验是干什么的吗？别急，我慢慢给你们讲。
让我们来了解一下AD转换实验。
这个实验的名字有点高大上，其实它就是把一个数字信号从模拟信号变成数字信号，或者从数字信号变成模拟信号的过程。
听起来好像很高深的样子，其实咱们日常生活中就经常用到这个实验。
比如说，你用手机打电话的时候，电话里的声音就是通过AD转换实验从电信号变成了声音信号，让你能听到对方说话的声音。
还有，你在电视上看到的图像也是通过AD转换实验从电信号变成了图像信号，让你能看到五彩斑斓的画面。
接下来，我们再来聊聊DA转换实验。
这个实验的名字也有点复杂，但是它的功能和AD转换实验差不多，就是把一个数字信号从数字信号变成模拟信号，或者从模拟信号变成数字信号的过程。
这个实验在我们的日常生活中也有很多应用。
比如说，你在电脑上玩游戏的时候，游戏的画面就是通过DA转换实验从数字信号变成了图像信号，让你能看到各种各样的画面。
还有，你在汽车导航上看到的地图也是通过DA转换实验从数字信号变成了图像信号，让你能清楚地看到路线和目的地。
那么，为什么我们需要进行AD转换实验和DA转换实验呢？这是因为在现代社会中，电子设备越来越普及，人们需要处理越来越多的数字信号。
而AD转换实验和DA 转换实验可以帮助我们更方便地处理这些数字信号，让它们能够更好地服务于我们的生活。
AD转换实验和DA转换实验是我们日常生活中非常重要的两个实验。
它们可以帮助我们把数字信号从一种形式转换成另一种形式，让我们能够更好地利用这些信号。
所以，下次当你看到这两个实验的名字时，不要觉得它们很高大上，而是要想想它们给我们的生活带来了哪些便利。
好了，今天的分享就到这里啦，希望大家喜欢！下期再见！。
数电实验报告 AD转换
数字电路实验报告实验九A/D及D/A转换电路通信工程一、实验目的1．掌握A/D、D/A 变换的工作原理。
2．掌握A/D 变换器ADC0809 和D/A 转换器DAC0832 的使用方法。
二、实验仪器及器件数字电路集成试验箱 74LS04 74LS00 74LS160 2块74LS194 1块三、实验原理1．A/D 转换器模数A/D 转换器可将模拟信号转换成数字信号，常见的有三种：逐次渐进A/D 转换、直接比较法和积分法。
逐次渐进型A/D 转换器的转换速度快，电路规模小，因此是目前集成A/D 转换器产品中用的较多的一种电路。
ADC0809 采用CMOS 工艺制成的8 位8 通道逐次渐近A/D 变换器，芯片包含一个8 路模拟开关、模拟开关的地址锁存与译码电路、比较器、256R 电阻梯形网络、电子开关树、逐次渐进寄存器SAR、三态输出锁存缓冲器、控制与定时电路。
其原理框图及外引脚图见图9．1 和图9．2。
ADC0809 通过引脚IN0、···IN7 输入8 路模拟电压，ALE 将三位地址线ADDA、B、C 进行锁存。
然后由译码电路选通8 路输入中的某一路进行A/D 变换，当地址输入为000时，选通IN0 模拟输入进行A/D 变换。
引脚的含义：IN0 ~ IN7：8 路模拟输入，输入电压范围0～+5V，输入信号转换过程中需保持不变。
REF（+）、REF（–）：基准电压的正极和负极。
CLOCK：是控制电路与时序电路工作的时钟脉冲。
要求时钟频率不高于640KHZ。
ADDA、ADDB、ADDC：模拟通道的地址选择信号。
ALE：地址锁存允许输入信号，由低向高电平的正跳时锁存地址信号，从而选通相应的模拟信号通道，以便进行A/D 变换。
D0 ~ D7：输出数据数据。
START：启动信号。
此引脚施加正脉冲，脉冲上升沿将所有内部寄存器清零，下降沿时开始A/D 变换。
EOC：变换结束输出信号，高电平有效。
实验7AD、DA转换实验
实验7AD、DA转换实验实验7 A/D、D/A转换实验A/D转换实验1、实验目的(1)掌握0809A/D转换芯片的硬件电路和软件编程。
2、实验设备QTH-2008PC实验设备一套。
3、实验内容本实验利用实验板上的ADC0809做A/D转换实验，将模拟信号转换成数字信号并在屏幕上显示，调节电位器观察屏幕上数据的变化。
4、实验说明ADC0809是CMOS的8位模/数转换器，采用逐次逼近原理进行A/D转换，芯片内有模拟多路转换开关和A/D转换两大部分，可对8路0～5V的输入模拟电压信号分时进行转换。
模拟多路开关由8路模拟开关和3位地址锁存译码器组成，可选通8路模拟输入中的任何一路，地址锁存信号ALE将3位地址信号ADDA、ADDB、ADDC进行锁存，然后由译码电路选通其中的一路，被选中的通道进行A/D转换。
A/D转换部分包括比较器、逐次逼近寄存器（SAR）、256R电阻网络、树状电子开关、控制与时序电路等。
另外ADC0809输出具有TTL三态锁存缓冲器，可直接连到CPU数据总线上。
在实时控制与实时检测系统中，被控制与被测量的电路往往是几路或几十路，对这些电路的参数进行模/数、数/模转换时，常采用公共的模数、数模转换电路。
因此，对各路进行转换是分时进行的。
此时，必须轮流切换各被测电路与模数、数模转换电路之间的通道，以达到分时切换的功能。
ADC0809性能如下：8位逐次逼近型A/D转换器，所有引脚的逻辑电平与TTL电平兼容。
带有锁存功能的8路模拟量转换开关，可对8路0～5V模拟量进行分时切换。
输出具有三态锁存功能。
分辨率：8位，转换时间：100μs。
不可调误差：±1LBS，功耗：15mW。
工作电压：+5V，参考电压标准值+5V。
片内无时钟，一般需外加640KHz以下且不低于100KHz的时钟信号。
ADC0809转换需要遵循一定的时序，首先输入地址选择信号，在ALE信号作用下，地址信号被锁存，产生译码信号，选中一路模拟量输入。
AD与DA转换实验详解
PwmOut(i);
j=100;
while(--j);
}
}
}
void Delay(uint16 ms)
{int i,j;
for(i=0;i<ms;i++)
for(j=0;j<100;j++);
}
仿真波形如右图所示：
2、设计程序，利用STC12C5A60S2单片机内部PCA模块产生PWM信号，经低通滤波后输出正弦波。
此外，CCAP1H（字节地址为FBH）和CCAP1L（字节地址为EBH）分别是PCA模块1捕捉/比较寄存器的高8位和低8位。在8位PWM模式下，当PCA计数器低8位（CL）的值小于CCAP1L时，PWM1引脚输出为低，大于或等于CCAP1L时，PWM1引脚输出为高；另外，当CL的值由FFH加到00H（溢出）时，CCAP1H的当前值自动加载到CCAP1L中，因此，程序只需对CCAP1H进行设定，即可在PWM1引脚稳定输出相应占空比的PWM信号。
void PwmInit()
{CMOD=0x08;
CCAPM1=0x42;
CR=1;
}
void PwmOut(uint8 Duty)
{CCAP1H=255-Duty;
}
void main()
{
int i,j;
PwmInit();
/*while(1)
{PwmOut(30);
Delay(800);
PwmOut(120);
ADC_CONTR&=~0x10;
return ADC_RES;
}
void UartInit()
{
TMOD=0x20;
TH1=TL1=0xFD;
IC测试设备
数字电路测试系统美国Credence公司Electra MSR 100MHz台湾德律TR-6010 逻辑测试系统日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统安捷伦83000 数字电路测试系统混合信号电路测试系统美国Credence公司Electra MSR 100MHz Teradyne Integra J750 Test SystemLTX Synchro/Fusion HTSZ M3650模拟电路测试系统台湾德律TR-6800电源管理器件测试机Teradyne A585/A575LTX TS80/88测试机接口板Electra MSR 100MHz客户定制型V777 测试通道扩展板-- CECC设计制作V777 测试通用接口板-- CECC设计制作IMS100用户定制型接口板-- CECC设计制作SOC器件测试系统安捷伦93000 SOC 测试系统Teradyne J971Teradyne J973LCD器件测试系统存储器测试系统Sytest Q2-52RFIC器件测试系统LTX Fusion RFTeradyne Catalyst RFAgilent Hp93000 RF测试座及夹具通用测试座特殊夹具美国Credence公司Electra MSR 100MHz美国Credence公司Electra MSR 100MHz概述·100MHz量测速率的功能验证性设备，具有Funtional Pattern产生、仿真、测试，DC参数量测等功能。
·非常适合IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析特性:·4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统·UNIX系统的操作软件，可视化友好界面·Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析 ·可连接LABVIEW辅助性工具·直接连接到工作站服务器系统规格·时钟频率：100 Mhz·数据速率：200 Mbits/Sec·1.5 ns的上升和下降时间（ECL、CMOS 电路）·每个管脚的电压和负载可编程·每个管脚可编程边缘分辨率50 ps·7 bits per Channel for Simultaneous Real-time ·Compare and Data Acquisition·时钟线形稳定，偏差≦±100 ps ·系统偏差≦±1ns (ATS1)·每个管脚可选用直流精密测量单元·Window、Edge和Dual-Edge 采样·128个I/O管脚(ATS1) ·APMU：直流精密测量单元·2.1 Gb扩展图形存储器·PCI-GPIB 和PCI-VXI接口板·Sun Ultra 10 工作站系统软体功能·TestEnv：基于Xwindows的测试软件环境，包括·IMS Screens、IMS-Shmoo、TestLITE和·MATSS测试服务器·IMS-Link：提供脱机向量转换软件编辑能力和通用仿真器支持·TestVIEW (V7.2e) ：图形测试编程语言系统模组Module·Control Module x1 ·Timing module x1 · Data module x8 ·Analytical DC PMU module x1Socket Card 种类及数量·DIP Auto Socket Card 40 *1·ATS1/MSTS1 Anolog Interface Board *1 ·Force Autocal Interface Board *1 ·Open Custom DUT Interface Board *13·ATS1/MSTS Fixture Board *1·Force Autocal *1·Compare Autocal *1·IMS Adapter Board *1台湾德律TR-6010 逻辑器件测试机概述：·专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试, Dc 参数量测等功能硬件结构：特性：·2M的向量存储器深度·可4组并行测试·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V ·具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析·测试程序调试工具·完善的测试诊断报告和柱状图·TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler ·紧凑小型，易安装资源配置：·测试控制器：奔腾III以上PC ·系统软件：MS-DOS ·电源要求：（1）单相交流，AC 110V 10A /50-60Hz （2）单相交流，AC 220V 6A /50-60Hz性能参数：·测试频率：10MHz·周期速率：100nS-1.31mS ·周期分辨率：20nS·测试通道：最大128个·多组测试：2/4组并行测试·定时器：4Pins/TG·定时器分辨率：10nS ·闸门模式：边沿式·测试向量深度：2M·驱动器：VIH：+-8V 分辨率：5mV ·VIL：+-8V 分辨率：5mV·比较器：VOH：+-8V 分辨率：5mV ·VOL：+-8V 分辨率：5mVPMU：1组/板卡，最大8组施加电压/ 测量电流范围：级别电压精确度分辨率0 10V +%+-5mV 2.5mV1 10V +%+-5mV 2.5mV2 10V +%+-5mV 2.5mV3 10V +%+-5mV 2.5mV 施加电流/ 测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/ 测量电流范围：施加电流/ 测量电压范围：日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一）概述·10MHz的测试频率，128个测试通道，4M字节向量深度的大规模LSI测试系统系统尺寸·主框架：580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米·测试头：580(W),340(D),250(H)毫米·电缆长度：4 米测试器控制器·处理器AMD-K6-500 ·操作系统MS/DOSV ·内存32MB·硬盘4.0GB·软盘3.5英寸1.44MB接口板·标准接口板针对探针机和机械手·GPIB 接口板选项PIN电子性能·标准64 PIN·全系统128 PIN 或64PIN*2DUTS软件包·语言 C (库: TURBO C)·工具软件SCHMOOHISTOGRAMWAFERMAP ·测试程序转换器ANDO-SUMMIT 至V7100 (主程序和波形程序) SENTRY 至V7100 (波形程序)CREDENCE-SC212 至V7100 (波形程序)ADVANTEST-MOSPL 至V-7100 (波形程序)驱动器·输出电压VIH 0V 至+11V VIL -2V 至+8V ·电压摆幅100mVp-p 至11Vp-p·精度0.5% + 5mV·分辨率2.7mV·最大DC 电流输出="H"±20mA 输出= "L"±20mA ·阻抗50 ± 5%ohm·升/ 降时间驱动器模式< 5ns/5Vp-p(20% 至80%) I/O 模式< 5ns/5Vp-p ·总时钟精度 (NRZ 格式) ±5ns ( 最大 ) ·时滞 (NRZ 格式 ) 有关PINS ±5ns ( 最大 )·有关TGS ±4ns ( 最大 )·上突波 / 下突波 3%+50mV· VIH/VIL 级别 4 级别·驱动器模式 FIX-HI, FIX-LO, NRZ, /NRZ, RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR,·无调制·时钟的限制参照图 1条件: 10Mohm 和 15pF 载荷下一页日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（二）安捷伦83000 数字电路测试系统描述：特性和用途：·用于Credence的Electra MSR 100MHz机台上，根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。
DA、AD转换器实验及仿真
四、实验内容
按图连接电路D7～D0 按图连接电路D 接电平指示， 接电平指示， CP由信号供 CP由信号供 1KHz的脉冲信号 的脉冲信号。 1KHz的脉冲信号。 P接单次脉冲
图4 ADC 0809实验电路图
五、 实验报告
记录D/A转 记录D/A转 D/A 换器和A/D 换器和A/D 转换器实验 中测试的数 据，并与理 论值比较， 论值比较， 分析实验结 果。
二、实验原理
３.实验线路图
图1 DAC0832引脚排列 引脚排列
二、实验 原理
图2 DAC 0832
实验电路图
二、实验原理
４.Ａ／Ｄ转换器ＡＤＣ０８０９ Ａ／Ｄ转换器ＡＤＣ０８０９ 转换器ＡＤＣ ADC0809是采用CMOS工艺制成的 是采用CMOS工艺制成的8 ADC0809是采用CMOS工艺制成的8位8通道逐次渐近 A/D转换器 其引脚排列如图所示。 转换器。 型A/D转换器。其引脚排列如图所示。 路模拟信号输入端。 INO～IN7：8路模拟信号输入端。 A2、A1、A0：地址输入端。 地址输入端。 ALE：地址锁存允许输入信号。 ALE：地址锁存允许输入信号。 START：启动信号输入端。 START：启动信号输入端。 EOC：转换结束标志，高电平有效。 EOC：转换结束标志，高电平有效。 OE：输入允许信号，高电平有效。 OE：输入允许信号，高电平有效。 Clock(cp)：时钟，外接时钟频率一般为640KHz 640KHz。 Clock(cp)：时钟，外接时钟频率一般为640KHz。 +5V单电源供电 单电源供电。 VCC：+5V单电源供电。
Ｄ／Ａ、Ａ／Ｄ转换器实验 Ｄ／Ａ、Ａ／Ｄ转换器实验
一、实验目的
1.了解A/D和D/A转换器的基本工作原理和基本结构。 转换器的基本工作原理和基本结构。 1.了解A/D D/A转换器的基本工作原理和基本结构 了解A/D和 2.掌握DAC0832和ADC0809的功能及其典型应用。 2.掌握DAC0832和ADC0809的功能及其典型应用。 掌握DAC0832 的功能及其典型应用
AD7747_cn
AD7747
24-BIT GENERATOR
DIGITAL FILTER
I2C SERIAL INTERFACE
SDA SCL
CONTROL Байду номын сангаасOGIC CALIBRATION VOLTAGE REFERENCE
RDY
CAP DAC 1
REFIN(+)
REFIN(–)
GND
图1
Rev. 0
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内置温度传感器的24-bit 电容数字转换器 AD7747
特性
电容数字转换器 采用单芯片解决方案的新标准 可与单一或差分接地式传感器接口 分辨率：最低20 aF(即最高19.5-bit ENOB) 精度：10 fF 线性度： 0.01% 共模(不可变)电容最大可达17 pF 满量程(可变)电容范围：±8 pF 更新速率：5 Hz至45 Hz 8.1 Hz更新速率时，50 Hz、60 Hz同时抑制 有源屏蔽保护传感器连接 片内温度传感器 分辨率：0.1°C，精度：±2°C 电压输入通道 内部时钟振荡器 双线式串行接口(I2C®兼容) 电源 2.7 V至5.25 V单电源供电 功耗：0.7 mA 工作温度：-40℃至+125℃ 16引脚TSSOP封装
AD,DA转换实验
的启动信号“ STR”是由控制计算机定时输出方波来实现的。
这里用
＃定时器的输出，通过“OUT1”排针引出，方波周期＝定时器时常×2。
芯片输入选通地址码A、B、C为“1”状态，选通输入通道IN7；通过单次阶A/D转换器输入－5V ~ +5V的模拟电压；系统定时器定时1ms输出方波转换器，并将A/D转换完后的数据量读入到控制计算机中，最后保存到变量中。
OUT1
OUT2
图 1.1-3
以上电路是TLC7528双极性输出电路，输出范围－5V ~ +5V。
“W101”和“ W102”
路的调零电位器，实验前先调零，往TLC7528的A口和B口中送入数字量80H 和“W102”电位器，用万用表分别测“ OUT1”和“OUT2”的输出电压，应在0mV 实验内容：
编写实验程序，实现D/A转换产生周期性三角波，并用示波器观察波形。
:
1.实验名称、实验目的、实验设备、实验原理及内容由教师确定，实验前学生填好；
2.实验步骤、实验结果及分析由学生记录实验的过程，包括操作过程、实验结果、遇到哪些问题以及如何
解决等；
3.实验总结由学生在实验后填写，总结本次实验的收获、未解决的问题以及体会和建议等。
A／D电路静态测试原理分析及一种测试系统简介
A／D电路静态测试原理分析及一种测试系统简介
刘义兵
【期刊名称】《集成电路通讯》
【年(卷),期】2005(023)002
【摘要】介绍了常用高速A／D电路的静态测试原理，并对测试系统的电路结构和工作原理进行了相关描述。
【总页数】4页(P41-44)
【作者】刘义兵
【作者单位】中国兵器工业第214研究所，蚌埠233042
【正文语种】中文
【中图分类】TP335.1
【相关文献】
1.5G1555CC4011 CC4017CC4069集成电路测试原理简介 [J], 叶继川
2.气体传感器静态测试系统电路设计 [J], 马宏伟;陈小通;祁昌禹;张红霞;李工农;韩根亮
3.一种多功能弹静态参数测试系统设计 [J], 宋斌; 李波; 杜科
4.一种廉价的计算器集成电路测试系统──微机测试系统 [J], 陈育人;许汉强;陈欣
5.模拟电路静态测试系统 [J], 张萌;李晓白
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DAC实验课件
②应用：它是目前集成D/A转换器中转换速度较高 且使用较多的一种，如8位D/A转换器DAC0832，就 是采用倒T型电阻网络。
卢庆莉 编写 2008年6月1日
3、DAC的主要参数
1.分辨率---输出模拟电压应能区分0 ～ 2n-1共2n个
输入数字量。
输入变化1LSB时，输出端产生的电压变化。 LSB：Least Significant Bit MSB：Most Significant Bit (1) 用输出的电压（电流）值表示
卢庆莉 编写
uO
2008年6月1日
U REF 2
n
D
举例： 已知4位倒T型DAC，输入数字量为1101
，uREF = - 8V，Rf=R，则输出模拟量uO=?
解：
uO U REF 2
n
D
8 2
4
( 8 4 1 ) 6 . 5V
卢庆莉
编写
2008年6月1日
倒T型电阻网络D/A转换器的特点： ①优点：电阻种类少，只有R和2R，提高了制造 精度，便于集成。
uO＝KDUREF
式中，K—常数，不同类型的DAC对应各自不同的K值。因为
所以
卢庆莉 编写 2008年6月1日
uo
6 4
2
1111 1101 1011 1001 1110 1100 1010 0010 0100 0110 0001 0011 0101 0111
D
-2
-4 -6
D和uo的关系图
卢庆莉 编写 2008年6月1日
D/A变换器的基本思想：由于构成数字代码 的每一位都有一定的“位权”，因此为了将数字 量转换成模拟量，就必须将每一位代码按其“权” 转换成相应的模拟量，然后再将代表各位的模拟 量相加即可得到与该数字量成正比的模拟量。
内置振荡器的电能测量芯片7757及其应用
内置振荡器的电能测量芯片ＡDE7757及其应用ﻭ摘要：AＤE775７是ＡＤ研制生产的高精度电能测量芯片。
这种芯片非常适合动态范围大,干扰严重的测量系统。
文中介绍了ＡＤE７７5７的结构特点和工作原理,给出了ADE7７57在电能测量仪表中的应用电路。
1 概述ＡＤＥ7７５7是AD推出的高精度电能测量集成芯片。
与原有的同系列ＡＤE775５相比，其芯片引脚较少，且内置了一个精确的振荡器电路来给芯片提供时钟。
这就使得使用AＤE775７的仪表省掉了外部晶体或者共振器，因此可以降低总体成本。
该芯片的内部电路除了ADC和参考电路是模拟电路外，其余均为数字电路，因此芯片在长时间与极端工作条件下具有卓越的稳定性与精度.ﻭＡDＥ775７可在低频输出引脚Ｆ1、Ｆ２上输出平均有率，并可直接驱动一个机电计数器或与MＣＵ的接口。
而高频ＣＦ逻辑则可输出用于校准的瞬时有率。
ＡDＥ7７5７的基本特性和参数如下:ﻭ●带有片内振荡器，可作为时钟源;ﻭ● 精度高，且与5０/６０的IＥＣ５２１/1036标准兼容;● 逻辑输出引脚ＲＥＶＰ可用来指示可能的接线错误或负功率;ﻭ● 带有片内电源；ﻭ● 采用单５V电源，功耗较低;●采用交流输入.２内部结构及引脚功能ﻭＡＤＥ７7５7是１6脚ＳＯＩＣ封装，图１为其内部结构框图,各引脚的功能见所列。
ADＥ7757的引脚功能ﻭ引脚名称功能1VＤD电源2,３V2Ｐ，V2N通道V2(电压通道）的模拟输入４,5V１P，V１N通道V1（电流通道）的模拟输入６AGND模拟地７RＥF IN/OUＴ片内参考电压8SCF选择校准频率9,10S1，S０频率选择１1RCLKIN内部振荡器使能端１2ＲEVP负功率检测脚1３DGND 数字地14ＣＦ校准频率逻辑输出15,1６Ｆ２，F１低频逻辑输出３AＤE７7５7的原理特性ﻭ图１所示是AＤＥ7７57的内部原理图，图中，两个ADC电路将电流传感器和电压传感器送入的电压信号进行数字化。
这个模拟输入结构大大简化了传感器接口电路，并提供了很大的动态范围,同时简化了滤波器的设计.电流通道（V1通道)的高通滤波器(ＨＰF）去掉了电流信号里的全部直流成分，从而减少了有率计算中由电压或电流信号偏移带来的不精确性.ﻭ有率的计算可由瞬时功率信号获得。
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ａ ｄＤＳ ｎ Ｐ．Ｓ ｈ ａ ｒ ｄ ｔｏ ｆｉ ｐ ｔ ｃ ｌｅ ｔｏ ｆｏ ｐ ｔ ａａ ｐ ｏ ｅ ｓｎ ｎ ｅ ｌｎ ｔ ｏ ｐ ｕ ｄ ｕｃ ｓｐ ｏ ｕｃｉ ｎ ｏ ｎ ｕ ， ｏ ｌｃ ｉ ｎ ｏ ｕｔ ｕ ，ｄ ｔ ｒ ｃ ｓ ｉ ｇ ａ ｄ ｄ ａｉ ｇ ｗｉｈ ｃ ｍ ｏ ｎ ｒ ｓ ｏ ｓ ｆ ｅ ｔ ａｔｒ ｏ ｅ ｐ ｎ ｅｏ ｓ ｔ ｎ ｆ ｒＤＵＴ． ｎｔ ｉ ａ ｅ ’ ｉｓｏ ｔ ｕ ｉ ｎ ｌ ｓｏ ａｎｅ ａ ｉ ｇ ｕ ｅｏ ｅｐ ｒ ｌ ｌ ｔ ｐ ｅ Ｉ ｈ ｓｐ ｐ ｒ ＡＤ Ｓ ８ｂ ｔ ｕ ｐ ｔｓｇ ａ ｂｔｉ ｄｍ ｋｎ ｓ ｆｔ ａａｌ ｉ ｈ ｅ
Ｖ７ ７测试 系统 Ｐ ７ ＭＵ端 口可并行 测试的功 能获取待测 电路 Ａ Ｄ模块 的 ８ 位输 出，在误差 允许 范围内匹
配 其理 论 对应 值 。 在低 频 下 ，利 用 Ｐ Ｕ 对 Ｄ 端 口模 拟 信 号 的输 出进 行 采 样 ，对 采样 得 到 的数 据 做 Ｍ Ａ
数字信 号算 法处理 ，实现波 形的判 断 。用上述 方法 以低 成 本来 实现 具有一 定难度 的 电路 的测 试。
维普资讯
第 ８卷 ， ８期 第
Ｖｏ１ ８． Ｎ ｏ ８
．
电
子
与
封
装
ＥＬＥＣＴＲＯＮＩ ＣＳ ＆ ＰＡＣＫＡＧＩ ＮＧ
总 第６ ４期 ２０ ０ ８年 ８月
封 ； 、； 装，与 测 试 装 ： 组 ＿
Ｖ７ ７测试 系统 ＤＡ／ ７ ＡＤ测试 技术 的研究
１ 引言
２ Ａ ＤＣ（ ｎ ｌｇＤｇｔ ｏｖ￣ ｒ 的 测试 Ａ ａｏ ｉｉｌ ｎ ｅ ｅ） ａＣ
众 所周知 ，产 品的 经济效益 和生命 周期 限制 了 测试方面的投资 。数模混 合集成 电路 已成为 Ａ Ｉ Ｓ Ｃ技
术发 展的 一个 重要分 支 ，数 模混 合 电路对 测试 系统
ｔ ｓ ｎ ｔ ｎｏ Ｕ ｎＶ７ ７ｔｓ ｙｓｅ ，ｈ ｎ ｔｅｏ ａｎ ｄｖ ｌ ｅｉ ａｃ ｅ ｔ ｅ ｒ ａｕ ｅ ｅ ｏｅｕ ｄ ｒ ｅ ｔ ｕ ｃｉ ｆ ｆ ｏ ＰＭ ｏ ７ ｅ ｔ ｔｍ ｔ ｅ ｂｔ ｅ ａｕ ｍ ｔｈ ｄｗｉ ｔ ｏ ｙ ｖ ｅｓ ｔ ｆ ｒ ｎ ｅ ｓ ｈ ｉ ｓ ｈ ｈ ｌ ｂ
（ ｕ ｉ ｈ ａＲ ｓｕｃｓ ｅ ｃ ｃｏ ｌ ｔ ｎｃ ｏ， ｔ， ｘ ２ ４ ６ ， ｈ ａ Ｗ ｘ Ｃ ｉ ｅｏ ｒｅ ｍｉ Ｍｉ ｅ ｃ ｏ ｉ Ｃ ． ｄ Ｗｕｉ １０ １ Ｃ ｉ ） ｎ Ｓ ｏ ｒ ｅｒ ｓ Ｌ ｎ
Ａ ｂ ｔ ａ ｔ Ｔｈ ｓｐ ｐ ｒ ａ ｅ ｎＶ ７ ７ ｔ ｓ ｙ ｔｍ ，ｓｍ ｕ ａｉ ｇｔ ｅｗｏ ｋ ｎ ｒｎ ｉ ｌ ｆ ｓｒ ｃ ： ｉ ａ ｅ ，ｂ ｓ ｄｏ ７ ｅ ｔ ｓｅ ｓ ｉ ｌｔｎ ｈ ｒ ｉ ｇ ｐ ｉ ｃｐｅｏ ＡＴＥ ｙ ｖｒｕ ｌ ｔ ｄ ｂ ｉｔ ａ ｈｏ ｍｅ
关 键 词 ：测 试 系统 ；Ｄ Ｔ；Ｄ Ｐ ＤＣ ＡＣ；Ｐ Ｕ Ｓ ；Ａ ；Ｄ ＭＵ； Ｆ ＦＦ
中图分类号 ：Ｔ ４ ７ Ｎ ０
文献标识码 ：Ａ
文章编 号 ：１８ —０ ０（ ０ ８） ８ ０ ３０ ６ １１ ７ ２ ０ ０ — １—５ ０
Ｒｅ ｅ ｒ ｈ ｎ Ｔ ｓ ｅ ｈｎ ｌ ｇ ｆＤＭ ＡＤ ｎ Ｖ７ ７ Ｔ ｓ ｙ ｔ ｍ ｓ ａ ｃ ｏ ｅ ｔＴ ｃ ｏ ｏ ｙ ｏ ｏ ７ ｔＳ ｓ ｅ ｅ Ｌ Ｑｉ ｇ Ｓ Ｘｉｏｌ Ｕ ａ ， ＵＮ ａ — ｎ ｉ
陆 强 ，孙 晓 丽
（ 无锡华润矽科微电子有限公司 ，江苏 无锡 ２４ ６ ） １０ １
摘 要 ：文章 以 Ｖ ７ ７ ７测试 系统为平 台，用虚拟测试 方法和 ＤＳ Ｐ的思想来模拟 数模 混合测试仪 的工作
机 制 ， 包括 激 励 的 产 生 、响 应 的 采 集 、 数 据 处 理 和 为 ＤＵＴ提 供 的 测 试 波 形 的 组合 响 应 处理 。 利 用
２１ 模拟信号的产生 ．
由于 Ｖ ７ 属于纯数字测试系统 ， 以Ｖ ７ 的Ｐ ７７ 所 ７７ Ｇ
有相 当高 的要求 ，要求能处 理数字信号 和模拟信号 ， 即数模混合系统 。现代测试主要采用 Ｄ Ｐ的方法 ，然 Ｓ 而这样 的测试 系统 不仅 购置 费用极 高 ，而且 运转 费
和维护 费也相 当地 高 。所以 ，在 经济 的数字 测试 系 统上 研发模 拟信号 的数 字化处 理就 Ｅ益 体现 出 巨大 ｔ
ｌ ｗ ｏ ｔ ｓｎ ｈ ｓ ｅｈ ｄｓａ ｖ ． ｏ ｃ ｓ ｉ ｇ ｔ ｅ ｅｍ ｔ ｏ ｂｏ ｅ ｕ Ｋ ｅ ｒ ： ｅ ｔ ｙ ｔｍ ； ｙｗｏ ｄｓ ｔｓ ｓｅ ＤＵＴ； ｓ ＤＳＰ； ＡＤ Ｃ； ＤＡＣ； Ｍ Ｕ； ＦＴ Ｐ Ｆ
的 实用价 值 和可 观 的经济 效应 。
ＤＳ ｉ ｍｅ ｃｏ ｕ ｇ ｅ ｖｆｒ ｎｅ ｗ ｆ ｑｅ ｃ． ｉ ｎ ｃｅｓ ｌｅｔ ｆ ｏ ｌ ａ ｄ ｉ ｕｔ Ｐａ ｔ ｔ ｄ ｅ ｈ ｅ ｍ ｕｄ ｒｏ ｅｕ ｎｙ Ａ ｍｉｇ ｔｕ ｃｓ ｕ ｔｓｏ ｍｐｉ ｔ ｒ ｉｉ ｒ ｈ ｉ ｔｊ ｔ ｗａ ｏ ｌ ｒ ａｓ ｆ ｃ ｃ ｅｃｃ ｎ