ICT_TRI_8001.讲义

另外在某些高複雜的IC如CPU與通訊IC通常會內 建Boundary-Scan的測試結構在IC的內部,這些IC 會有CLK,TDI,TDO,TMS這些控制腳位.BoundaryScan是IEEE所訂定的一個標準協定,描述IC Boundary-Scan架構的檔案一般稱為BSDL File , 測試工程師只要將BSDL 檔案經由測試轉換軟體, 可以很快的產生測試資料. 2.5 空白電路板與實板 空白電路板為提供給治具廠商(Fixture House)製 作治具時參照實際的大小規格來製作,並且用來 解決測試治具與待測的接觸的問題.實板(上有完 整元件的電路板)用來讓測試工程師發展測試程 式與除錯.
– 5.2.1 IC Parallel IC學習步驟：

1. 選擇<編輯IC腳位資料>，設定 IC 基本資 料。
2. 選擇學習設定，部份IC學習或全部IC 學習。全部 IC 學習是針對所有的 IC 執行 Parallel IC學習；部份IC學習是針對在編 輯 IC 腳位資料中欄位“ Type‖ 設定為 1 的 IC 執行Parallel IC學習。其目的在於 當使用者欲重新學習時，可以僅學習部 份IC，以節省學習時間。 3. 將一片好的電路板放於治具上，使壓 床下壓到定位。 4. 選擇<學習>。 在學習過程中，視窗右下角會以紅色長 條圖顯示學習進度比學習到 的IC保護二極體測試資料。 IC保護二極體的測試原理是測試每個 IC上的 每一個腳位對該顆 IC的電源腳與接地腳是否 有保護二極體存在，若其有保護二極體存在， 我們可以利用它來測試 IC 是否有漏件、反插、 斷腳等。在學習功能下，系統根據 IC 資料， 從一片好的電路板得到測試 IC 保護二極體所 需要的測試程式，並且將這些測試程式加到 零件測試步驟的的後面。保護二極體測試的 上下限設定為 30%，重複測試是五次，使用 者可以自行修改延遲和其他測試參數。

4. 刪除測試資料： 刪除在學習功能下得到的IC保護二極體測 試程式。 5.2 IC Parallel IC學習


學習IC Parallel IC之測試程式前，需先執行 IC 保護二極體學習，以取得 IC 保護二極體 之資料(因必頇有Jnnction Diode 之 IC 腳位 才可使用Parallel IC功能)。IC Parallel IC學 習操作方式極似 IC 保護二極體學習。

3. 標準值：Parallel IC在學習過程中會將 最佳量測值記錄於標準值中。在爾後的 測試過程中將此值與量測值比較，以判 斷並聯 IC 腳位連接是否良好。 4. 上下限%：Parallel IC之上下限%由系 統在學習過程中，依學習量測值之大小 自動設定。其法則如下： 學習電壓範圍 下限% 上限% 0.2~0.7v 30％ -1 0~7~1.2v 40％ -1 1.2v以上 50％ -1

電路圖線路分析
3.1 電源點設定 TR-8001 提供了六組固定的DUT Power Supply 與兩組可程式化的電壓﹑電流源 (Programming Power Supply),這六組固定 的電壓源規格分別為: +3.3 V 3A +5V 3A +12V 3A

-12V 1A +18V 3A +24V 3A 使用者在電源點設定工作視窗選擇為真 空/壓床(Vacuum/Press),然後在各電壓源 電流源輸入相對應的測試點號碼,軟體會 列出治具廠商所需的繞線程式,進行繞線. 3.2 User Relay Board 使用 TR-8001 也提供的可以額外控制的Relay Board 讓使用者選擇使用,使用者可以用 來作訊號的控制或是用來將測試針點與

– 5.2.2附屬功能：
1. 編輯IC腳位資料： 使用者可以輸入待測 IC 的名稱、位置、 腳位數量、和 IC 的電源腳與接地腳、探 針(Probe)、上下限、學習類別、刪略等資 料。 2. 顯示學習資料： 顯示在學習中所得到的 IC 保護二極體 測試資料。例如若第一行顯示 Step_191： U2_1_14 表示測試程式的步驟 191 是 IC 保 護二極體測試步驟，U2 的第1腳與第14腳 之間有保護二極體。又如若Step_192：

可在此驗證短路學習所得到的短路點資 料是否正確。測試結果會顯示在視窗中。 5.2保護二極體學習

選擇<學習>、< IC保護二極體學習>出現 以下視窗：
– 5.2.1 IC保護二極體學習步驟：

1. 選擇<編輯IC腳位資料>，設定 IC 基 本資料。
2. 選擇學習設定，部份IC學習或全部IC 學習。全部 IC 學習是針對所有的 IC 執行 保護二極體學習；部份 IC 學習是針對在 編輯IC腳位資料中欄位“Type‖ 設定為 1 或 3 的 IC 執行保護二極體學習。其目的 在於當使用者欲重新學習時，可以僅學 習部份IC，以節省學習時間。 3. 將一片好的電路板放於治具上，使壓 床下壓到定位。 4. 選擇<學習>。 在學習過程中，視窗左下角以紅色長條 圖顯示學習進度比率及學習過程訊息說


154、257、326五個測試點是屬於同一個 短路群。
Short Group 1 Short Group 2 Short Group 3 Short Group 4 Short Group 5 Short Group 6

< 23 57 88 132 > < 25 79 154 257 326 < 46 130 > < 71 257 > < 82 116 193 321 > < 101 109 >

第四章 治具規格

MDA 程式發展
5.1 Open/Short 為縮短使用者準備測試程式的時間，TR8001 可自動撰寫部份測試程式。包含短 路群資料、 IC 保護二極體測試程式、 IC 並聯測試程式、IC 空焊測試程式等，我 們稱為學習。系統會從一片好的電路板 學習到短路、開路、 IC 保護二極體、 IC 倒裝、IC並聯、IC空焊等測試程式。 在主功能表中選擇<學習>後有四個子功

2.4 IC 資料搜集 IC 的資料一般基本的為datasheet , datasheet 會完整的描述IC的功能及其腳 位的作用﹑動作時序圖,這些資料可以讓 工程師很快的了解IC的特性,以便來撰寫 測試資料(Library).在某些特定的IC如 ASIC,常常會有內建Tree-Chain的測試結 構,如Nand-Tree , XOR-Tree等,因此描述 這些Tree-Chain測試結構的資料也是相當 重要的,它必頇包含Tree-Chain 的型態 , 腳 位的先後順序 , 與所使用的電壓大小等.
TR-8001訓練教材
德律泰電子(深圳)有限公司 Sundy Sun
電路板測試程式發展流程
搜集資料 電路圖分析
治具製作 上線量產 程式編輯 程式除錯
搜集資料

2.1 CAD Data
在發展測試治具及程式前首先要搜集 到待測板的CAD Data , 這裡面必頇包 含板面的大小 , 所有測試點的位置資 料 , 上下板元件的位置等等.一般的檔 案名稱為*.cad 或是 *.faz 2.2 電路圖 (Schematic)

系統間的隔離,如PWM電源回饋訊號線路.
以上圖為例,紅色所標出的節點(Nail),皆為當Power ON時量測VCCP時頇隔離的測試點,因此可利用 User Relay Board 將這些測試點設為Normal Close, 當MDA測試完畢後先將所有的節點轉成Normal Open,如此可以量測更為精準的VCCP電壓. 3.3 Buffer Board 使用 TR-8001在頻率量測可以透過SWB 與Buffer Board 量測,使用Buffer Board 量測頻率可達到100MHz ,每 一片Buffer Board 有八組channel 可量測頻率,若使 用Buffer Board 來量測頻率,在治具製作前在Buffer Board 表單輸入欲量測頻率的測試點號碼並選定 channel 號碼,治具製作廠商會將治具繞線安排繞在 系統與Buffer Board 之間.

U2_10_14 U3_8_14表示測試程式的步驟 192是IC保護二極體測試步驟，而且 U2 的第10腳、第14腳與 U3 的第8腳、第14 腳有相同的測試針號碼。此時只測試 U2 的 第 1 0 腳 與 第 1 4 腳 之 間 是 否 有 保 護二 極體存在，以節省測試時間。 Step_193 顯示為 U2_12_14/，―/‖ 表示此 IC 保護二 極體與其他IC有並聯之狀況。 3. 編輯測試資料： 進入編輯器編輯學習到的測試程式。 學習過程得到的測試程式可能無法完全 正確，可利用編輯器逕行修改。


功能：短路學習、 IC 保護二極體學習、 IC Parallel IC學習、IC 空焊學習。 5.1.1短路學習
選擇 <學習 >、 <短路學習 >出現以下視窗：


– 5.1.2短路學習步驟：
1. 設定欲學習電路板的開始及結束測試 針編號。 2. 將一片好的電路板放於治具上，使壓 床下壓到定位。 3. 選擇<學習>。 在學習過程中，視窗左下角以紅色長條 圖顯示學習進度比率。在學習完成後， 視窗中間會顯示學習到的短路點資料。 以下表為例，這片電路板一共有6個短路 群。在電路板上23、57、88、132四個測 試點是屬於同一個短路群，又如 25 、 79 、

5. 模式：由系統在學習過程中，依學習量 測值之大小自動設定。 MODE 增 益 9 Gain = 1/3 10 Gain = 1/2 11 Gain = 1 6. 高點：待測腳位(並聯 IC腳位)的對應針 點。 7. 低點：非共腳腳位的對應針點。 8. 隔離點1：此IC的接地點的對應針點。 9. 隔離點 2：第2個非共腳腳位的對應針點。


電路圖描述了待測板實際的電路設計,在 製造治具及程式之前必頇要對電路圖做 仔細分析.
2.3 BOM BOM(Bill Of Material) 為待測板上所有元 件的表單 , 包括了R L C等被動元件的電 阻值 , 電容值與電感值及數位元件的型 態 , 程式轉換軟體會依照BOM的內容,自 動產生被動元件的測試程式.


路板後，系統允許重覆學習同一塊電路板或不 同之電路板，在視窗右下角顯示已學習的片數。
– 5.2.1 IC Parallel IC測試程式欄位說明
IC Parallel IC測試程式和一般的測試程式在測 試資料上略有不同。 1. 步驟：測試順序。IC Parallel IC測試程式安 排在IC 保護二極體的測試程式之後與IC空焊 測試程式之間。 2. 零件名稱：在學習時系統程式會檢查每個 IC 的並聯腳位，並找出相關之非共腳 (unique pin)，組合成一個測試步驟。例如若零件名稱 為U1-2/27，表示並聯IC腳位為第2腳，非共腳 為27腳。

(2)刪除短路群：刪除游標所在的短路群。 (3)插入腳位：插入一個新的腳位，初值 為1。 (4)刪除腳位：刪除游標所在的腳位。

2. 儲存短路點資料： 使用者可儲存在短路學習功能所得到 的短路點資料。當使用者離開本視窗時， 系統亦會詢問是否儲存短路點資料。 3. 短路測試： 短路測試功能是根據在短路學習功能 所得到的短路點資料執行短路測試。可 在此驗證學習短路所得到的短路點資料 是否正確。測試結果會顯示在視窗中。 4. 開路測試： 開路測試功能是根據在短路學習功能 所得到的短路點測試資料執行開路測試。
– 5.1.3附屬功能：
1. 編輯短路點資料： 使用者可修改在短路學習功能所得到 的短路點資料。若要插入短路群，請確 定按照測試點由小到大排序。例如要插 入一短路群(65,69),請插在短路群3,4之間 以免短路測試失敗。短路點資料編輯器 內有四個子功能： (1) 插入短路群：插入一個新的短路群， 初值為1。