芯片EMC抗扰度自动测试方法及系统[发明专利]

专利名称：芯片EMC抗扰度自动测试方法及系统
专利类型：发明专利
发明人：赵东艳,王于波,胡哲,陈燕宁,张海峰,董广智,钟明琛,宋彦斌,单书珊
申请号：CN202210296257.0
申请日：20220324
公开号：CN114397562B
公开日：
20220621
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明实施例提供一种芯片EMC抗扰度自动测试方法及系统，属于芯片测试技术领域。

所述方法包括：获取待测芯片参数信息；基于所述待测芯片参数信息确定芯片的初始测试参数；基于对应的测试参数，进行芯片多轮测试，直到触发预设截止规则，停止芯片测试，输出测试结果；其中，每一轮测试的测试参数为经预设修调规则调整后的测试参数；其中，所述预设截止规则在最新一轮测试的测试结果为不通过的情况下触发。

本发明方案不但实现了芯片电磁兼容测试的自动化，还提高了测试方法的智能性，提高了芯片电磁兼容测试的效率。

申请人：北京智芯微电子科技有限公司,北京芯可鉴科技有限公司
地址：100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
国籍：CN
代理机构：北京润平知识产权代理有限公司
代理人：陈潇潇
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