一种适用于ASIC的可测性设计标准单元库

一种适用于ASIC的可测性设计标准单元库
韩继国
【期刊名称】《集成电路应用》
【年(卷),期】2014(0)4
【摘要】本文介绍了一种适用于ASIC的可测性设计标准单元库，论述了其设计思想和实现方法。

该单元库支持通用的扫描通道可测性设计技术，能较好地适应现有的ASIC设计和EDA环境。

使用该单元库，设计人员可以不需要经过严格的可测性设计方面的训练，就能方便地设计出具有可测性设计特征的ASIC电路。

【总页数】2页(P32-33)
【作者】韩继国
【作者单位】
【正文语种】中文
【中图分类】TN402
【相关文献】
1.用标准单元库进行专用IC(ASIC)的设计 [J], 张开华;管少龙
2.GaAs ASIC标准单元库建库技术研究 [J], 廖斌;吴洪江
3.采用标准单元库和阵列方法的混合模拟/数字ASIC设计 [J], 于宗光;林如霭;张宝元
4.一种适用于标准单元设计的缓冲器插入及布线算法 [J], 任杰;毛军发;李晓春
5.一种适用于标准单元库的低电源噪声输出驱动器 [J], 郭新伟;任俊彦;李宁
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