一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法[发明专利]

专利名称：一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法专利类型：发明专利
发明人：薛占强,郭翠,潘奕
申请号：CN201910912443.0
申请日：20190925
公开号：CN110579458A
公开日：
20191217
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。

荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。

本发明通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。

申请人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司,深圳市太赫兹系统设备有限公司
地址：518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
国籍：CN
代理机构：深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人：李海宝
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