CompactecoX-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和
x射线荧光光谱仪 测镀层厚度
射线荧光光谱仪测镀层厚度
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种分析仪器，用于测量材料中元素的种类和含量。
在测镀层厚度方面，X射线荧光光谱仪具有一定的局限性，因为镀层厚度测量会受到多种因素的影响，如镀层成分、厚度范围、样品形状等。
然而，通过合适的测量方法和参数设置，XRF可以用于镀层厚度的初步估算。
要使用X射线荧光光谱仪测量镀层厚度，需要注意以下几点：
1. 选择合适的仪器：根据测量需求，选择波长色散（WD-XRF）或能量色散（ED-XRF）X射线荧光光谱仪。
WD-XRF 在元素分析方面具有较高的分辨率，而ED-XRF在镀层厚度测量方面具有较好的灵敏度。
2. 制备样品：确保样品表面清洁、平整，无明显的凹凸不平。
样品厚度应尽量均匀，以减少测量误差。
对于不同厚度的镀层，可以采用多次测量后取平均值的方法提高准确性。
3. 设置测量参数：根据镀层成分和厚度范围，调整X 射线荧光光谱仪的测量参数，如射线能量、束流、探测器灵敏度等。
合适的参数设置有助于提高测量结果的准确性。
4. 数据处理：测量得到的原始数据可能包含基体和镀层的信号，需要通过数据处理软件进行分离和校正。
通常情况下，XRF测量结果会受到基体效应、化学计量误差等因素的影响，需要进行相应的校正。
5. 计算镀层厚度：根据测量得到的元素含量和已知镀层成分，可以通过合适的计算方法（如康普顿散射法、掠入射法等）估算镀层厚度。
需要注意的是，X射线荧光光谱仪在测量镀层厚度方面具有一定的局限性，对于非常薄或成分复杂的镀层，测量结果可能存在误差。
在这种情况下，可以考虑采用其他方法（如原子力显微镜、扫描电子显微镜等）进行精确测量。
涂层测厚仪工作原理
涂层测厚仪工作原理涂层测厚仪是一种用于测量涂层厚度的仪器，广泛应用于汽车、航空航天、建筑等行业。
它的工作原理主要包括电磁感应法、X射线荧光法和激光法等几种。
首先，我们来介绍电磁感应法。
这种测厚仪利用涡流效应来测量涂层厚度。
当仪器的感应线圈靠近被测物体表面时，涡流感应电流将在被测物体中产生。
根据涡流感应电流的大小，仪器可以计算出涂层的厚度。
其次，是X射线荧光法。
这种测厚仪利用X射线照射被测物体表面，被照射的原子会发出特定能量的荧光。
通过测量荧光的能量和强度，仪器可以计算出涂层的厚度。
这种方法通常用于测量金属涂层的厚度。
另外，激光法也是一种常用的测厚原理。
激光测厚仪利用激光束照射到被测物体表面，然后通过接收器接收反射回来的激光，并根据反射激光的时间来计算涂层的厚度。
这种方法适用于测量非金属涂层的厚度，如油漆、塑料等。
无论是哪种原理，涂层测厚仪的工作都离不开精密的传感器和先进的数据处理技术。
传感器的精度和稳定性直接影响着测量的准确性，而数据处理技术的先进程度则决定了仪器的性能优劣。
在使用涂层测厚仪时，我们需要注意一些问题。
首先，要选择合适的测量原理，根据被测物体的材料和涂层类型来选择合适的仪器。
其次，要保证仪器的传感器处于良好的状态，避免受到外界干扰。
最后，要根据仪器的使用说明进行正确的操作，以确保测量结果的准确性。
总的来说，涂层测厚仪通过电磁感应法、X射线荧光法和激光法等原理来测量涂层的厚度，具有广泛的应用前景。
随着材料科学和技术的不断发展，涂层测厚仪的工作原理和性能也将不断得到改进和提升，为各行各业提供更加精准和可靠的涂层厚度测量技服。
x荧光测厚仪原理
x荧光测厚仪原理
荧光测厚仪是一种用于测量表面涂层厚度的仪器。
其原理基于荧光测量技术。
荧光测厚仪的工作原理是通过激发被测涂层的荧光，测量荧光的强度来推算涂层的厚度。
它利用荧光的特性，当被测涂层受到特定波长的激发光照射时，会发出特定波长的荧光信号。
通过检测荧光的强度，可以得到涂层的厚度。
具体来说，荧光测厚仪通常使用的是紫外光作为激发光源。
被测涂层表面会吸收紫外光，并转化为可见光的荧光信号。
测厚仪接收到荧光信号后，会通过光电传感器将信号转化为电信号。
经过信号处理和计算，可以确定涂层的厚度。
为了保证测量的准确性，荧光测厚仪通常会校准后再使用。
校准时会使用已知厚度的标准样品进行比对，得到荧光信号与厚度的关系曲线。
在测量过程中，荧光测厚仪会根据荧光信号与校准曲线进行匹配，从而得到涂层的实际厚度。
荧光测厚仪具有非接触和快速测量的优点，可广泛应用于涂层厚度测量、质量控制和表面处理等领域。
它在工业生产和科学研究中有着重要的应用价值。
关于X射线荧光镀层测厚仪产品的应用阐述
关于X射线荧光镀层测厚仪产品的应用阐述
XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。
用于在整个电镀行业范围内验证镀层的厚度和成分。
其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。
对于镀层分析，XRF镀层测厚仪将此信息转换为厚度测量值。
在进行测量时，X 射线管产生的高能量x射线通过光圈聚集，并照射在样品非常小的区域（该区域的大小为光斑尺寸）。
这些X射线与光斑内元素的原子相互作用。
XRF镀层测厚仪相机帮助用户准确定位测量区域。
某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以准确定位需要测量的区域。
样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样品台上。
快速或慢速移动对于找到测试位置很重要，随后聚焦于准确的区域进行测量。
工作台移动的精准度是带来测试定位准确的一个因素，并进提升仪器的整体准确度。
特点：
适应性设计，可对各种产品进行可靠分析
自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
多准直器设计为每个样品提供高准确性
选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
符合行业规范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
光学分析单层和多层镀层，包括合金层
简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果。
XRF2000测厚仪测量功能
XRF2000 測厚儀測量功能Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度. 可测元素范围：钛（Ti）–铀（U）可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV（程控）准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm电脑系统：IBM相容,17”显示器综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.1. 可測綠油厚度(在Cu 或其他金屬中).方法是客戶自行準備二片不同厚度的板.先用其他方法把綠油厚度測出來.然後用此二片板做一檔案即可.誤差約15%.視乎不同厚度有所不同.2. 可測板來料Cu 厚度(選購件).會另配一探頭於機上.可測0.5oz 至4.0oz Cu 厚度. 誤差約5%.視乎不同厚度有所不同.3. 可測溶液濃度(選購件).方法是先用AA 機測溶液濃度.然後用此溶液做檔案即可.誤差約10%(視乎不同濃度有所不同).4. XRF2000 可測六層.誤差大約如下:第一層(5%).第二層(10%).第三層(15%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.5. 以下是一些應用參考.應用XRF2000 可測範圍Au/Ni/Cu Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch.Au/Ni-P/Cu Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch.SnPb/Cu Sn 100% 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch.Ag/Cu Ag 4-2000uinch.Au/XX Au 0.5-320uinchSn/Ni/XX Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch. Sn/XX Sn 40-2500uinch.。
荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪
荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪●荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
◆薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。
此外，也适用于无铅焊锡的应用。
◆备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
●测量原理如图1所示，物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
照射X射线镀层的荧光X射线●镀层厚度的测量方法镀层厚度的测量方法可分为标准曲线法和FP法（理论演算方法）底材的荧光X射线2种。
标准曲线法是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。
之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。
FP法即是Fundamental Parameter Method的简称。
即基本参数法。
①标准曲线法图2 镀层厚度的测量如图2所示，经X射线照射后，镀层和底材都会各自产生荧光X射线，我们必需对这2种荧光X射线能够辨别，方能进行镀层厚度的测量。
也就是说，镀层和底材所含有的元素必需是不完全相同的。
这是测量镀层厚度的先决条件。
图3是表示对某种金属镀层样品进行测量时，基于镀层厚度、状态的不同，所产生的荧光X射线的强度也不一样。
镀层厚度测量时，可采用2种不同方法，1种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度，称为激发法。
另1种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度，称为吸收法。
这2种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。
镀层厚度测量时，测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系，并做出标准曲线。
X射线光谱法测量镀层厚度的适用范围的研究
High & New Technology︱28︱2017年7期X 射线光谱法测量镀层厚度的适用范围的研究石鹏远中国电子科技集团公司第十三研究所，河北 石家庄 050051摘要：镀层厚度对微电子封装外壳的可靠性具有重要影响。
分析了X 镀层测厚的原理以及单一镀层测量的饱和厚度。
通过工艺实验总结出了双层镀层厚度测量的基线范围。
关键词：微电子封装外壳；镀层厚度；X 射线；测量极限；中图分类号：TL271+.4 文献标识码：B 文章编号：1006-8465（2017）07-0028-02前言 微电子封装外壳镀层厚度对外壳的性能有重要影响。
镀层厚度不足，会影响外壳的耐腐蚀性能，容易造成产品后续使用过程中失效；若镀层厚度过厚，引线的疲劳强度下降，造成外壳引脚断裂。
因此，目前微电子封装外壳的国军标中对外壳的镀层厚度有明确的要求。
测量方法主要有横断面显微镜法、称量法、阳极溶解库伦法、X 射线光谱法和β反向库伦法。
其中X 射线光谱法以其方便、快捷且无损的特点在微电子封装外壳镀层测厚中有广泛的应用。
目前，在实际使用过程中，微电子封装外壳镀层测试过程中，随着镀层厚度的增加，测试数据逐渐波动较大，对X 射线测厚的极限进行了探究。
1 X 射线测厚原理 X 射线光谱法的基本原理是：多色X 射线与试样互相作用，产生了不同波长的具有镀覆层元素和基本元素特征的二次辐射。
在饱和厚度范围内，镀覆层厚度与二次辐射强度存在着函数关系，利用已知镀覆层厚度的标准样品，即可求得二次辐射强度与厚度之间的定量关系。
图1 X 射线光谱法原理示意图对于裸基体，这种镀覆层二次辐射的强度最小，仅有一些散射辐射构成；对于纯镀覆层金属试样或者是镀覆层厚度大于饱和厚度的试样，在给定条件下，这一辐射的强度最大；对于镀覆层厚度小于饱和厚度的试样，这一辐射强度将为中间值。
X 射线的二次辐射的强度，取决于启发能、镀覆层和基体金属的原子序数、受一次射线照射的面积以及镀覆层的厚度。
荧光测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY操作规程
荧光测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY操作规程一．仪器用途荧光测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY用于测量涂镀层厚度及成分，分析合金成分，测量镀液主盐离子浓度。
二．开机及关机步骤1．开机步骤1）开启仪器电源；2）开启打印机和计算机；3）5分钟左右后打开高压钥匙开关（仪器如果长时间不用，要30分钟打开高压钥匙开关）；4）打开FTM软件，按“确定”完成开机步骤。
2．关机步骤1）关闭FTM软件；2）关闭高压钥匙开关；3）关闭仪器电源；4）关闭计算机及打印机。
三．测量准备１．预热仪器为了保证测量的精确性和稳定性，仪器开启后必须进行充分的预热。
预热方法如下：完成正常的开机步骤后，点击图标进入“光谱”子程序。
按动图标开始不间断测量。
30分钟后按动图标停止测量，再按动图标退出“光谱”子程序后，即完成预热过程。
2．基准测量注意：这个步骤非常重要。
注意：在进行基准测量之前，必须先预热仪器。
因为仪器是以元素Ag为基准进行测量的，所以必须精确定位元素Ag的位置，不能偏移。
一般说来，一个星期做一次“基准测量”就可以了。
基准测量步骤如下：1）将元素Ag置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。
2）选择菜单“一般—→测量基准”，按动“开始基准测量”按钮开始基准测量。
3）Ag测完之后，会提示放入原素Cu，（将元素Cu置于工作台上，使其显示在视频窗口十字线中央。
在按确定。
4）基准测量结束时，显示“基准测量完成，接受？”信息，按“确定”完成基准测量。
(如果显示“不需要做基准测量”信息，则按“确定”，再按“取消”退出即可。
)四．进行测量1．完成开机步骤，并进行预热及基准测量后，就可以开始测量样品了。
2．进行测量的步骤如下：1）根据待测样品的镀层情况，点击菜单“产品程式—→选择．．．或点击”选相应的产品程式。
2）将样品置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。
3）按显示屏左下角的按钮“开始(s)”或仪器控制台上的“START”键开始测量，倒计时结束后即完成一次测量。
x射线测厚仪工作原理
x射线测厚仪工作原理
X射线测厚仪是一种利用X射线测量物体厚度的仪器。
它的
工作原理是通过发射X射线束并将其照射到待测物体上，然
后测量反射回来的X射线束的强度，从而得出物体的厚度信息。
X射线是一种高能电磁波，具有很强的穿透力。
当X射线束
照射到物体上时，其中一部分射线会被物体吸收，而另一部分射线会穿过物体并反射回来。
测厚仪通过测量反射回来的X
射线束的强度，来推断物体的厚度。
具体来说，测厚仪通常包含一个X射线发射器和一个X射线
探测器。
X射线发射器会发出连续不断的X射线束，照射到
待测物体上。
X射线束穿过物体时，会与物体内部的原子发生相互作用。
这些相互作用会导致X射线的吸收、散射和衍射。
反射回来的X射线束会被X射线探测器接收并测量其强度。
根据X射线的强度变化，可以推断出物体的厚度。
因为X射
线吸收和散射的程度与物体的厚度有关，当物体越厚，反射回来的X射线束的强度就越弱。
为了获得准确的测量结果，测厚仪还需要进行校准。
通常会使用已知厚度的标准物体进行校准，以确保测量结果的精度和准确性。
总的来说，X射线测厚仪利用X射线的穿透力和被物体吸收
的特性，通过测量反射回来的X射线束的强度来确定物体的厚度。
它在工业生产和质量检测中具有重要的应用价值。
镀层测厚仪
ROHS有害元素筛查
• ROHS 简介：
RoHS指令欧盟立法制定的一项强制性标准，对检测有害物质提出 要求：《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》 (Restriction of Hazardous Substances)
微量啊!
ROHS检测试验方法
筛 查
本设备 1、常规方法：有塑料、线缆等基体背景低材料 的检测程序方法。可检测。 2、金属材料基体背景强，无现成的检测方法。
测厚仪做 ROHS有害 元素筛查
原因： 金属基体背景太强，其背景似大山，微量元素 对应着半山腰的几棵树，怎么测？？ （比喻恰当不？） 但安泰大部分产品都属于金属材料，需开发新程序方法。
检出限
ROHS检测方法开发（定标）
1、 非晶焊锡要求检测铅Pb
购买了焊锡标准样品进行XRF定量分析，建立专用的焊锡Pb、 Cd检测程序。（ 由于标样的原因， Pb的效果比较好）。
X-射线镀层测 厚及ROHS筛查
XRF for analysis of trace elements and coating thickness
内容
一、 X荧光测厚仪简介
二、 X荧光测厚原理
三、测试描述及举例
四、 样品要求
一、测厚仪简介
英国牛津公司，X-Strata980 X-射线测厚仪。
XRF for analysis of trace elements and coating thickness 其前身为牛津CMI 900系列、 XStrata920 ，但其硬件、软件、精度都有较
高性能能量色散光谱仪、可迅速、无损微区分析多层金属镀层厚度 及痕量元素分析P16 to U92 最多测试5种金属镀层厚度（4层镀层+底材）及15种常见元素分析 可同步进行25种常见元素含量分析 经过第三方认证测厚标准片 (42个）: Infinity Standards: Au, Co, Cu,CuZn, Ni, Pt, Zn,Sn, In, Epoxy,W ,Mo,Cr ,Ti, V,Zr共16片 Infinites c980 alibration card (includes Ag, Sn, Zr, Ge, Zn, Cu, Pb, Ti, Cr, Fe, Co and Ni) 12纯元素片； Foil Standards: Au @ 30uin；Co @ 80uin；Ni @ 80uin & 400uin； Cu@ 80uin & 360uin；CuZn@ 100uin；Pt@ 100uin ；Sn@ 200uin Ti@ 160uin ；Zn@ 100uin & 600uin；Cr@40uin 共14片(1uin = 0.0254um)。 遵循ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 and IEC 62321
x射线测镀层厚度原理
x射线测镀层厚度原理
X射线测量镀层厚度的原理基于X射线的特性和材料吸收X射线的能力有关。
X 射线是一种高能电磁辐射，能够穿透固体材料。
当X射线照射到材料上时，一部分X射线会被材料吸收，另一部分会透射穿过材料。
镀层厚度测量中使用的X 射线是非常高能的射线，能够穿透较厚的材料。
当X射线照射到镀层上时，一部分X射线会被镀层吸收，而另一部分会透射穿过镀层和基材。
测量镀层厚度的主要方式是通过测量透射X射线的强度来推断镀层厚度。
根据X射线的特性，透射X射线的强度与穿过材料的路径长度和材料的吸收能力有关。
厚度较小的镀层，透射X射线的强度较大，而厚度较大的镀层，透射X射线的强度较小。
通过将测量数据与已知厚度的标准样品进行比对，可以建立一个测量结果与镀层厚度之间的关系，从而确定未知镀层的厚度。
需要注意的是，X射线测量镀层厚度的方法在实际应用中需要考虑到材料的组成和密度等因素，以及X射线的能量和探测器的灵敏度等参数。
镀层厚度检验方法
镀层厚度检验方法镀层厚度是指在金属表面镀上一层保护性涂层或其他材料的厚度。
它对产品的品质和性能具有重要的影响。
因此，对镀层厚度进行检验是保证产品质量的一个重要步骤。
以下是几种常用的镀层厚度检验方法：1.直接测量法：这是最常见和直接的方法，适用于已经制成的产品。
它使用厚度测量仪器，如千分尺、千分表、涡流测厚仪等直接测量镀层的厚度。
此方法操作简单，测量结果准确可靠。
但是，对于非导电性基材或复杂形状的产品，该方法可能不适用。
2.X射线荧光法：X射线荧光法是一种非接触式的测量方法，适用于大批量产品的快速检测。
它使用X射线荧光分析仪器，通过测量镀层上荧光射线的能量和数量来计算出镀层的厚度。
该方法具有高精度、无损伤和非接触的特点，但对于特殊镀层（如镀铬）的测量有一定的局限性。
3.金相显微镜法：这是一种显微镜检测方法，适用于样品薄片的测量。
通过在样品表面切割薄片，并使用金相显微镜观察薄片上的镀层厚度。
该方法具有高分辨率和高准确性的特点，但对于大型产品不适用。
4.数字图像处理法：数字图像处理法使用计算机和图像处理软件来分析镀层图像，计算出镀层的厚度。
它可以通过光学显微镜或扫描电子显微镜拍摄镀层图像，并使用图像处理软件进行测量和分析。
此方法操作简单，测量结果准确，适用于各种形状和尺寸的产品。
以上是几种常用的镀层厚度检验方法。
在实际应用中，根据具体的产品和需求，可以选择适合的方法进行检测。
无论使用何种方法，都需要注意仪器的校准和保养，以确保测量结果的准确性和可靠性。
X射线测厚仪
XRF-2000 X射线测厚仪镀层测厚仪测金机膜厚仪X-射线镀层测厚仪的特征:1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
一．韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪（全新原装进口）XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。
只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。
全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。
超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。
是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。
可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛(Ti) –铀(U) 原子序22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能二．美国Thermo 第二代X射线荧光测量仪器（高端型测厚仪）实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器。
MicronX可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（Å）至微米（μm）,它也能测量多至20个元素的块状合金成分。
其准确度、精密度和稳定性是独一无二的。
世界首创光学准直器，光束最少可达0.025mm；集中X-射线光束，强度加强5-8倍；适合较薄镀层测量，测量时间为正常的1/5；配有ZOOM功能，图象可放大至最高200倍；更新FP方法，适合多层厚度测量。
ZXR/LXR系统：用于小样品的经济型。
X射线荧光测厚仪
产生X射线的最简单方法是用加速 后的电子撞击金 属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能（其 中的1％）会以光子形式放出，形成 X光光谱的连续部分， 称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量 增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层 形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波 长在0ห้องสมุดไป่ตู้1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量 是量子化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分， 形成了X光谱中的特征线，此称为特性辐射。
第一页，共15页。
过程演示
冷却水
X射线
电子
金 属 靶
铍窗口
X射线
X射线管剖面示意图
第二页，共15页。
玻璃
钨灯丝
接变压器
金属聚灯罩
某型号国产X射线管外观
第三页，共15页。
连续X射线
具有连续波长的X射线， 构成连续X射线谱，它 和可见光相似，亦称多 色X射线。
第四页，共15页。
连续X射线谱产生机理
能量为eV的电子与阳极靶的原子碰撞时，电 子失去自己的能量，其中部分以光子的形式 辐射，碰撞一次产生一个能量为hv的光子， 这样的光子流即为X射线。单位时间内到达 阳极靶面的电子数目是极大量的，绝大多数 电子要经历多次碰撞，产生能量各不相同的 辐射，因此出现连续X射线谱。
第五页，共15页。
标识X射线谱产生机理
第九页，共15页。
X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。 X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。 能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射 线荧光光谱仪相同 。
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。 前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低 含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探 测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能 量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量 测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率 差。
X射线荧光测厚仪的特点及维护和修理保养及技术交流
X射线荧光测厚仪的特点及维护和修理保养及技术交流X射线荧光测厚仪利用被测元素的特征X射线荧光强度与镀层中待测元素和基材构成有关而研制的仪器设备。
相对其他测定方法，具有快速、便利、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程掌控和检测使用，是目前应用广泛的分析仪器。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更精准的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
仪器特点：1、可测元素：钛Ti22———铀U92间各元素。
2、可测镀层：5层镀层（含基材层），15种元素共存校正。
3、测量时间约10秒，快速得出测量结果。
4、测量结果精准明确到微英寸。
5、测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息。
6、供应宝贵金属分析和金纯度检查（即Au karat评价）。
X射线测厚仪的维护和修理保养：1、高压掌控箱里有大量的接线端子和高压电源等设备由于C型架来回运动.它的接线端子简单松动一般需要每年打开检查—次对松动的部分加以紧固。
2、测头是用来反馈X射线发射量和衰减量的设备,它把接受到的X射线信号转换成电压和电流信号反馈到掌控室形成闭环掌控测头紧要是靠水冷却，需要检查水冷是否良好。
3、射源箱是供应X射线的紧要设备，在日常维护时打开上面的查油孔螺栓检查高压绝缘油是否有漏油现象。
4、X射线源是用高压绝缘油作为冷却和绝缘使用，因此应做好设备的冷却工作。
5、高压绝缘油在长期使用过程中，受温度的影响会发生炭化导致绝缘效果下降从而会影响X射线源的使用寿命，需定期更换高压绝缘油。
6、保持射源箱的良好密封性不让其他油污或杂质混入避开高压绝缘油泄漏。
7、削减外界条件的影响，避开电焊弧光对X射线源的损害。
8、保证稳定牢靠的电源供应。
涂层测厚仪的特点有哪些涂层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
既可用于试验室，也可用于工程现场。
镀层测厚仪简介
镀层测厚仪简介镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。
为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。
这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X 射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。
β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。
电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。
测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。
它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
工作原理：镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。
测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。
同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
测量原理：一．磁吸力测量原理及测厚仪永jiu磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。
这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。
鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。
测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。
磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。
当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。
新型的产品可以自动完成这一记录过程。
不同的型号有不同的量程与适用场合。
x射线荧光光谱仪 测镀层厚度
x射线荧光光谱仪测镀层厚度摘要：1.X 射线荧光光谱仪的概念与原理2.X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度中的应用3.X 射线荧光光谱仪的优势与局限性4.结论正文：一、X 射线荧光光谱仪的概念与原理X 射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF 光谱仪）是一种非破坏性的物质测量方法，可以用于检测样品中的元素组成和含量。
它利用高能量X 射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X 射线进行分析。
当材料暴露在短波长X 光或伽马射线中，其组成原子可能发生电离，随后回补过程会释放出多余的能量，这些能量以光子形式释放。
X 射线荧光光谱仪通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X 射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。
二、X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度中的应用X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有广泛应用。
在测镀层厚度时，X 射线荧光光谱仪可以分析从轻元素的钠（Z11）到铀（Z92）等各个元素。
测镀层厚度的方法主要有两种：直接法和间接法。
直接法是将X 射线照射到待测镀层上，通过测量产生的特征X 射线的强度来确定镀层厚度。
间接法则是通过测量镀层中的元素含量，结合该元素在镀层中的分布规律，推算出镀层厚度。
三、X 射线荧光光谱仪的优势与局限性X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有许多优势，例如：测量速度快、非破坏性、精度高、范围广等。
然而，它也存在一些局限性，例如：对于轻元素的测量精度较低、受到样品形状和尺寸的限制、需要对不同样品进行校准等。
四、结论总的来说，X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有很大的优势，为工业生产和科研领域提供了一种高效、准确的检测手段。
x射线荧光测厚仪原理
x射线荧光测厚仪原理
X射线荧光测厚仪利用了X射线的特性。
当X射线照射到被测物体表面时，它们会被吸收或散射，但是一部分X射线将穿过物体进入物体内部。
如果物体是厚度均匀的，则从物体另一侧发出的X射线也是均匀的。
但是，如果物体存在厚度变化，则从物体另一侧发出的射线的强度也会发生变化。
X射线荧光测厚仪利用了这个原理，通过测量从物体另一侧发出的射线的强度变化来确定物体的厚度。
此外，荧光显微镜能够检测出特定物质比如钴、铜和铝等特征元素产生的光谱图。
通过测量这些光谱图，可以确定物体中这些元素的浓度。
这种技术非常适用于测量薄金属膜、化学与材料分析、及超薄物质积累量的测量。
射线测厚仪工作原理
射线测厚仪工作原理
射线测厚仪的工作原理是基于X射线穿透被测材料时，X射线的强度变化与被测材料的厚度相关的特性。
当射线穿过被测材质时，一部分射线被材质吸收导致强度减弱。
被测材质位于放射源和核探测器之间，射线穿过被测材质后进入核探测器，其强度将有所衰减。
对于同一种材质，厚度越大，则射线的衰减越大。
X射线测厚仪以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，以达到要求的轧制厚度。
它还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
在使用射线测厚仪时，需要注意一些维护事项，如检查压缩空气的洁净和压力的稳定，关注冷却水流量及冷却系统温度，及时更换冷却系统内的脱盐水，按周期对测厚仪进行标定以保证测量精度，以及定期检查C型架的限位开关与行走机构，防止C型架晃动等。
总之，射线测厚仪是一种非接触式的动态计量仪器，可广泛应用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，具有重要的应用价值。
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UPA X射线测厚仪标准片镀层标准片膜厚片测厚仪标准片
品牌：UPA 产地：美国
创思达科技总代理UPA一系列标准片，标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证，UPA是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。
应用：适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray （X射线测厚仪）、Beta-ray及磁感式与涡电流等多种原理之各种规格与尺寸。
特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好
X-Ray、Beta-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。
也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。
之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。
对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。
如: 单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx，化学镀层：Ni-P/xx。
（所有标准片都附有NIST认证证书）
我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.
我们除了可以提供测厚仪标准片之外，还可以提供β射线测厚仪的标准片和库仑测厚仪的标准药水。
并有X射线测厚仪、β射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。
创思达科技是一精密测试仪器代理商，为顾客提供最优质的产品及服务。
我公司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及美国Thermo第二代光学准直器X荧光测量仪。
此两种仪器主要用于涂镀层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。
欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!我们将竭力为您服务。
十多年来，我们一直服务于PCB 厂商、电镀行业、科研机构、半导体生产、微电子、光电子、光通讯等电子行业。
我们提供高质量的产品和最优质的服务都得到顾客最高的奖励，在未来,我们将继续履行顾客的期望、要求和需要，愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！。