膜厚仪使用说明书
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述：膜厚仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器，广泛应用于电子、光学、材料等领域。
正确操作膜厚仪对于保证测量结果的准确性至关重要。
本文将详细介绍膜厚仪的操作指导，匡助用户正确使用膜厚仪。
一、仪器准备1.1 确保膜厚仪处于稳定平整的工作台上，避免仪器晃动影响测量结果。
1.2 检查膜厚仪的电源线是否接好，仪器是否处于待机状态。
1.3 确保膜厚仪的探测头干净无污染，避免影响测量结果。
二、样品准备2.1 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，确保样品表面平整。
2.2 根据样品的材料和厚度选择合适的测量模式和参数。
2.3 避免样品表面有氧化层或者其他污染物，影响测量结果的准确性。
三、测量操作3.1 打开膜厚仪的电源，等待仪器初始化完成。
3.2 选择合适的测量模式和参数，开始进行测量。
3.3 等待测量结果稳定后记录数据，并对数据进行分析和处理。
四、数据处理4.1 将测量得到的数据保存在电脑或者其他存储设备中，以备后续分析和比对。
4.2 对测量数据进行统计分析，得出样品的平均厚度和误差范围。
4.3 根据测量结果调整样品制备或者工艺参数，以提高样品的质量和性能。
五、仪器保养5.1 定期清洁膜厚仪的探测头和测量台，避免污染影响测量结果。
5.2 定期校准膜厚仪的测量精度，确保测量结果的准确性。
5.3 注意膜厚仪的使用环境，避免高温、潮湿等情况对仪器造成损坏。
结语：正确的操作膜厚仪对于保证测量结果的准确性至关重要。
希翼本文的操作指导能够匡助用户正确使用膜厚仪，提高测量效率和准确性。
同时，定期对膜厚仪进行维护和保养，可以延长仪器的使用寿命，保证测量结果的可靠性。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、背景介绍膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工业等领域。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的使用方法和操作步骤，以匡助操作人员正确、高效地使用膜厚仪。
二、设备准备1. 膜厚仪：确保膜厚仪处于正常工作状态，电源连接正常。
2. 标准样品：准备一系列已知厚度的标准样品，以进行校准和验证。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，待其启动完成后，进入待机状态。
2. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保其表面平整、干净。
3. 确认膜厚仪的测量参数设置，包括测量范围、测量模式等，根据实际需要进行调整。
4. 进行校准：使用标准样品进行校准，校准过程中需要按照膜厚仪的操作说明进行操作，确保校准结果准确可靠。
5. 开始测量：按下膜厚仪上的测量按钮，仪器开始进行测量，测量过程中需保持样品和仪器的相对位置稳定不变。
6. 测量结果记录：测量完成后，将测量结果记录下来，包括样品的厚度、测量时间等信息。
7. 数据处理：根据实际需要，对测量结果进行统计、分析和处理，生成相应的报告或者图表。
四、注意事项1. 在使用膜厚仪之前，应先阅读并熟悉仪器的操作说明书，确保正确操作。
2. 在进行测量之前，应确保待测样品表面干净、平整，以避免测量误差。
3. 在进行校准和测量过程中，应保持环境稳定，避免因温度、湿度等因素对测量结果产生影响。
4. 校准是确保测量结果准确可靠的重要步骤，应定期进行校准，并记录校准结果。
5. 在测量过程中，应尽量避免外界干扰，如震动、电磁场等，以保证测量结果的准确性。
6. 定期对膜厚仪进行维护和保养，保持仪器的正常工作状态。
五、常见问题及解决方法1. 问题：测量结果不稳定。
解决方法：检查样品表面是否干净、平整，确保样品与仪器接触良好；检查仪器是否处于稳定状态，如有异常应进行维修。
2. 问题：测量结果与标准值偏差较大。
解决方法：检查仪器的校准情况，如有需要重新校准；检查样品的表面是否有污染或者损伤，如有需要进行清洁或者更换样品。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层的厚度的仪器。
本文档旨在提供膜厚仪的详细操作指导，以确保准确测量和记录薄膜或者涂层的厚度。
二、安全注意事项1. 在操作膜厚仪之前，请确保您已经阅读并理解了使用说明书，并严格按照说明进行操作。
2. 在操作膜厚仪时，请戴上适当的个人防护设备，如手套和护目镜，以防止意外伤害。
3. 在使用膜厚仪之前，请确保仪器处于良好的工作状态，如有异常请及时联系维修人员。
三、操作步骤1. 准备工作a. 确保膜厚仪已经连接到电源，并处于开启状态。
b. 检查膜厚仪的探头是否干净，如有污垢请使用干净的布擦拭。
c. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保其表面光洁。
2. 开始测量a. 打开膜厚仪的测量程序，选择适当的测量模式。
b. 将膜厚仪的探头轻轻贴近待测样品的表面，确保探头与样品表面平行。
c. 按下测量按钮，膜厚仪将开始测量样品的厚度。
d. 等待膜厚仪完成测量，并记录测量结果。
3. 结束测量a. 将膜厚仪的探头从样品表面移开，并关闭测量程序。
b. 将测量结果记录在相应的记录表格或者文件中。
c. 清洁膜厚仪的探头和测量台，以确保仪器的长期使用。
四、常见问题与解决方法1. 仪器无法开启解决方法：检查电源连接是否正常，确认电源是否正常工作。
2. 测量结果不许确解决方法：检查探头是否干净，如有污垢请进行清洁。
同时，确保样品表面光洁，无杂质。
3. 仪器显示异常解决方法：重新启动仪器，并联系维修人员进行进一步检查和维修。
五、维护保养1. 定期清洁膜厚仪的探头和测量台，以防止污垢影响测量结果。
2. 避免将膜厚仪暴露在潮湿或者高温环境中，以防止损坏仪器。
3. 定期进行校准，以确保膜厚仪的测量结果准确可靠。
六、附录1. 膜厚仪操作说明书：提供更详细的操作指导和维护保养信息。
2. 膜厚仪测量记录表格：用于记录测量结果的表格，方便后续数据分析和比对。
本文档提供了膜厚仪的操作指导，包括安全注意事项、操作步骤、常见问题与解决方法以及维护保养等内容。
爱发科膜厚仪CRTM6000说明书
爱发科膜厚仪CRTM6000说明书膜厚仪的使用步骤一、膜厚仪测定准备1.确保电池正负极方向正确无误后设定。
2.探头的选择和设定：在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。
对准测定对象，在本体上进行设定。
二、膜厚仪测定方法1.探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP一J或LHP一J。
2.调整：确认测定对象已经被调整。
未调整时要进行调整。
3.测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。
抓住与测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。
下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。
使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。
三、膜厚仪开机顺序1.开机顺序：开启电脑——开启X——RAY电源开头(POWER)——开X——RAY V3专业测试软件。
输入密码T后，按OK，此后待电压升至47.1KV后会自动进入软件。
2.关机顺序：退出X一RAY V3专业测试软件，点击主窗口的关闭键，等电压降至OK，软件界面会随即关闭→关测试仪→关电脑。
3.每天开机后，先预热半小时。
4.预热时间满足后，点选出System Adjust窗口，用定位片放在镜头下，按下START.每天需做此动作，且在一定的时间段后软件会自动弹出System Adjust窗口，这时，必须重复定位的动作，在测试产品之前，必先保证测试的准确性，这就需要先测量膜厚标准块，测试数据在允许误差范围内(Sn 5% Ni5% Au5%)方可进行产品的测量。
5.测量产品，确定产品的底材及镀层元素，选择对应的测量程序。
时间10~30/S为宜，金层应选择上限时间。
所测产品的面要尽可能的平整，以免出现较大误差。
6.保存测试报告，在设定报告界面上，输入产品的信息，而后选择导出BMP图，也可直接打印。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层厚度的仪器，广泛应用于材料科学、电子工程、化学工业等领域。
本作业指导书旨在提供详细的操作指南，以确保用户正确、安全地使用膜厚仪进行测量。
二、设备准备1. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境，远离振动和强磁场等干扰源。
2. 检查膜厚仪的电源线是否正常连接，电源是否稳定。
3. 确保膜厚仪所需的标准样品和测试样品已准备齐全。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，待其自检完成后进入工作状态。
2. 选择合适的测试模式和参数设置，如测量范围、测量时间等。
根据具体需要，可以选择单点测量或者连续测量模式。
3. 将标准样品放置在膜厚仪的测量台上，并调整其位置，确保与探测器的光束对齐。
4. 按下“测量”按钮，膜厚仪将开始测量并显示结果。
记录测量值，并与标准样品的厚度进行比较，以验证膜厚仪的准确性。
5. 将待测样品放置在测量台上，按下“测量”按钮，膜厚仪将对待测样品进行测量，并显示结果。
记录测量值，并与标准要求进行比较，以评估样品的质量。
6. 如需连续测量多个样品，重复步骤4和步骤5，直至所有样品测量完成。
7. 关闭膜厚仪电源，清理测量台和探测器，确保设备处于良好的工作状态。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，请子细阅读并理解操作手册，确保熟悉设备的使用方法和安全注意事项。
2. 在操作过程中，应佩戴适当的个人防护装备，如手套和护目镜，以防止意外伤害。
3. 避免将膜厚仪暴露在潮湿、高温或者恶劣的环境中，以免影响其性能和寿命。
4. 定期对膜厚仪进行校准和维护，以确保其测量结果的准确性和可靠性。
5. 如发现膜厚仪存在故障或者异常情况，请即将住手使用，并联系专业技术人员进行维修。
五、常见问题解答1. 为什么膜厚仪的测量结果与标准样品的厚度不一致？可能是由于膜厚仪的校准不许确或者标准样品的厚度有误差。
请重新校准膜厚仪，并使用准确的标准样品进行比对。
2. 如何选择合适的测量模式和参数设置？根据待测样品的特性和要求，选择适当的测量模式和参数设置。
膜厚仪操作指导书
膜厚仪操作指导书膜厚仪操作指导书一、介绍膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
本指导书旨在向用户提供详细的操作说明，以确保正确、安全地使用膜厚仪。
二、安装⒈将膜厚仪放置在平稳的工作台上，确保其稳定且不易受到外界震动。
⒉将电源线插入膜厚仪的电源插座，并将其它一端插入可靠的电源插座。
确保电源的稳定和可靠性。
⒊将测量头正确安装在膜厚仪上，并根据需要连接外部控制设备。
三、操作步骤⒈打开膜厚仪的电源开关，并等待仪器的启动。
确保仪器的状态正常。
⒉根据样品需要测量的材料类型，选择合适的测量模式。
常见的模式包括单点模式、连续模式等。
根据需要进行设置。
⒊将待测样品放置在样品台上，并使用夹具固定。
确保样品与测量头接触良好。
⒋调整仪器的参数，如测量精度、测量速度等。
根据样品的特性和需求进行调整。
⒌开始测量按钮，仪器开始进行测量。
在测量过程中，保持样品台稳定，避免产生误差。
⒍测量完成后，记录膜厚值，并根据需要将数据存储或打印。
四、维护与保养⒈在使用膜厚仪之前，检查仪器是否有损坏或异物进入。
如发现问题，请及时联系维修人员。
⒉定期清洁膜厚仪的测量头和样品台，以确保测量的准确性。
⒊注意避免膜厚仪接触水或其他液体，以免损坏仪器。
⒋使用膜厚仪时，请避免剧烈震动或碰撞，以免影响仪器的使用寿命。
⒌如发现仪器出现故障或异常情况，应停止使用并通知维修人员。
不得自行维修或改动仪器。
附件：⒈膜厚仪操作手册⒉膜厚仪维修记录表⒊膜厚仪安全操作要求法律名词及注释：⒈膜厚：指材料表面上的薄膜的厚度。
⒉仪器：用于测量和检测的设备或工具。
⒊样品：参与测量或实验的材料或物品。
⒋维修人员：有经验且具备维修能力的专业人员。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述:膜厚仪是一种用于测量薄膜材料厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本文将为您介绍膜厚仪的操作指南，帮助您正确并高效地使用膜厚仪进行测量。
一、准备工作1.1 仪器检查在开始使用膜厚仪之前，首先要进行仪器检查。
检查仪器是否完好，各个部件是否正常运转，如光源、探测器等。
确保仪器的正常运行是准确测量的前提。
1.2 校准膜厚仪在使用之前需要进行校准，以确保测量结果的准确性。
校准的方法通常是使用已知厚度的标准样品进行比对。
校准过程中要注意仪器的稳定性和环境的干净程度，以避免外界因素对校准结果的影响。
1.3 样品准备在进行测量之前，需要准备待测样品。
样品应该被清洁干净，并且表面应该平整，无明显的缺陷。
如果样品表面有杂质或污渍，可能会影响测量结果的准确性。
二、测量步骤2.1 打开仪器在进行测量之前，首先要打开膜厚仪的电源开关，并等待仪器启动。
在仪器启动的过程中，要确保仪器处于稳定状态，以免影响后续的测量。
2.2 放置样品将样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保样品与测量台接触良好。
在放置样品的过程中要注意轻拿轻放，避免对样品造成损坏。
2.3 开始测量在样品放置好之后，可以开始进行测量。
根据膜厚仪的操作界面，选择相应的测量模式和参数，并开始测量。
在测量过程中要保持稳定，避免外界因素对测量结果的影响。
三、数据处理3.1 数据记录在测量完成后，要及时记录测量结果。
可以使用膜厚仪自带的数据记录功能，或者将数据导出到电脑进行保存。
确保数据的准确性和完整性，以备后续的分析和研究。
3.2 数据分析根据测量结果，可以进行数据分析。
可以计算样品的平均厚度、厚度分布等参数，并进行统计和比较。
通过数据分析，可以更好地了解样品的特性和性能。
3.3 结果解读在数据分析的基础上，对测量结果进行解读。
根据测量结果，可以判断样品的质量、工艺的合理性等。
结果解读的准确性和科学性对于后续的研究和应用具有重要意义。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述：膜厚仪是一种常用于测量薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本文将详细介绍膜厚仪的操作方法和注意事项，以帮助用户正确使用膜厚仪进行测量。
一、准备工作1.1 仪器准备在使用膜厚仪之前，首先需要确保仪器处于正常工作状态。
检查仪器的电源线是否连接稳固，仪器表面是否有损坏。
同时，还需要确认仪器内部的测量探头是否清洁，以保证测量结果的准确性。
1.2 校准膜厚仪的准确性需要通过校准来保证。
在进行测量之前，应先进行校准操作。
校准过程中，需要使用标准样品进行比对，根据标准样品的厚度值来调整仪器的测量参数，确保测量结果的准确性和可靠性。
1.3 样品准备在进行测量之前，需要准备好待测样品。
样品应具备一定的平整度，表面应清洁无杂质，以免影响测量结果。
对于柔性样品，需要将其固定在测量台上，确保测量过程中的稳定性。
二、操作方法2.1 打开仪器将膜厚仪接通电源，并按照仪器说明书的要求打开仪器。
在仪器开机后，需要等待一段时间，使其进入工作状态。
2.2 设置测量参数根据待测样品的特性，设置合适的测量参数。
一般来说，需要设置测量模式（如单点测量、扫描测量）、测量范围、测量速度等参数。
这些参数的选择应根据实际需求和样品特性来确定。
2.3 进行测量将待测样品放置在测量台上，并调整仪器的焦距，使其与样品表面保持一定的距离。
按下测量按钮，仪器将开始进行测量。
在测量过程中，需要保持样品的稳定，并确保测量探头与样品表面的接触良好。
三、注意事项3.1 避免干扰源在进行测量时，应尽量避免外部干扰源的影响。
例如，避免在有强磁场或强电场的环境中进行测量，以免影响测量结果的准确性。
3.2 防止污染膜厚仪的测量探头非常敏感，容易受到污染物的影响。
在使用过程中，应注意避免手指直接接触探头，以免留下指纹或其他污染物。
3.3 定期维护为了保证膜厚仪的正常工作和准确测量，应定期对仪器进行维护。
包括清洁测量探头、检查电源线和连接线的连接状态、更新仪器软件等。
膜厚仪介绍说明
膜厚仪介绍说明膜厚仪介绍说明（1）谙习膜厚仪表盘上各符号的意义及各个旋钮和选择开关的重要作用。
（2）进行机械调零。
（3）依据被测量的种类及大小，选择转换开关的档位及量程，找出对应的刻度线。
（4）选择表笔插孔的位置。
（5）测量电压：测量电压（或电流）时要选择好量程，假如用小量程去测量大电压，则会有烧表的不安全；假如用大量程去测量小电压，那么指针偏转太小，无法读数。
量程的选择应尽量使指针偏转到满刻度的2/3左右。
假如事先不清楚被测电压的大小时，应先选择*高量程档，然后渐渐减小到合适的量程。
a交流电压的测量：将万用表的一个转换开关置于交、直流电压档，另一个转换开关置于交流电压的合适量程上，万用表两表笔和被测电路或负载并联即可。
b直流电压的测量：将万用表的一个转换开关置于交、直流电压档，另一个转换开关置于直流电压的合适量程上，且“+”表笔（红表笔）接到高电位处，“—”表笔（黑表笔）接到低电位处，即让电流从“+”表笔流入，从“—”表笔流出。
若表笔接反，表头指针会反方向偏转，简单撞弯指针。
（6）测电流：测量直流电流时，将万用表的一个转换开关置于直流电流档，另一个转换开关置于50uA到500mA的合适量程上，电流的量程选择和读数方法与电压一样。
测量时必须先断开电路，然后依照电流从“+”到“—”的方向，将万用表串联到被测电路中，即电流从红表笔流入，从黑表笔流出。
假如误将万用表与负载并联，则因表头的内阻很小，会造成短路烧毁仪表。
其读数方法如下：实际值=指示值×量程/满偏（7）测电阻：用万用表测量电阻时，应按下列方法：a机械调零。
在使用之前，应当先调整指针定位螺丝使电流示数为零，躲避不必须的误差。
b选择合适的倍率档。
万用表欧姆档的刻度线是不均匀的，所以倍率档的选择应使指针停留在刻度线较稀的部分为宜，且指针越接近刻度尺的中心，读数越精准。
一般情况下，应使指针指在刻度尺的1/3～2/3间。
c欧姆调零。
测量电阻之前，应将2个表笔短接，同时调整“欧姆（电气）调零旋钮”，使指针刚好指在欧姆刻度线右边的零位。
膜厚仪操作说明书
應華精密表面處理(蘇州)有限公司
管理评审会议召 管理评审计 管理评审输 管理评审 评审实施计划 结 开 管理评
R
W≤10R L≤20RFra bibliotek文件編號 頁 次 版 本 生效日期 2/2 B 2007.6.10
+1mil
ENT 键→
键→重复上述操 ENT
OFF 键即可关机。
W≤10R L≤20R
+1mil
W≤10R L≤20R
膜厚儀操作說明書
一、操作步骤： 1.1 开机：按仪器表面的 ON 键即可。 1.2 校正： 1.2.1 素材校正： 按
FUNC 键→按
SUB CAL 键→将探头放在素材上并按
ENT 键。
键10次。在 ENT
按第十次时，LCD显示“1F”→将探头悬空中，按 1.2.2 标准片校正： 1.2.2.1按
FUNC 键→按
FOLL CAL键→进行四次5回程度测定（第一次为
素材测定，其余几次为标准版测定，两次测定可用相同标准板来测定）。 1.2.2.2每次5回程度测定步骤为： 将探头放在素材或标准板上作5次测试→将探头悬空，按 LCD显示“---”→输入素材值0或标准板值→按 作三次即可。 1.3 测量： 1.3.1 将探头放在要测的点上，与表面垂直，快速地按下探头外面的金属袖套， LCD上显示的数值即为被测物的膜厚。 1.3.2 每次连续测量时,须将探头移离表面约10mm,然后再垂直探下外面的袖套。 1.4 关机：按仪器表面的 二、注意事项： 2.1 在使用时，切忌用猛力按测头或在物体表面上滑行； 2.2 不能拔或扭转测头杆上的电线； 2.3 如测针上沾有灰尘或杂物，使用柔软的布抹上石油精或酒精擦拭即可。 2.4 不能使标准片弄破、弯曲或受到伤害； 2.5 为保证仪器的准确性，尽可能用多种不同厚度的校正标准片校正仪器。 2.6 当LCD的右上角显示“BAT”字样时，应立即更换电池。 三、保养及维护 3.1 每次使用完毕后，应关掉电源。 3.2 使用完毕后，将测头放置于保护套内。 3.3 如长时间不使用仪器，应将电池从仪器中取出。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本作业指导书旨在详细介绍膜厚仪的操作步骤和注意事项，以确保正确使用膜厚仪并获得准确的测量结果。
二、操作步骤1. 准备工作a. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境，远离震动和干扰源。
b. 检查膜厚仪的电源和连接线是否正常，确保电源稳定。
c. 清洁膜厚仪的测量探头，并确保其表面光洁无划痕。
2. 打开膜厚仪a. 按下膜厚仪的电源按钮，等待仪器启动。
b. 检查仪器显示屏，确保仪器处于正常工作状态。
3. 校准膜厚仪a. 使用标准样品进行校准。
选择与待测样品相似的标准样品，并将其放置在膜厚仪的测量台上。
b. 在膜厚仪的操作界面上选择校准功能，并按照提示进行校准操作。
c. 校准完成后，检查校准结果是否符合预期。
4. 测量膜厚a. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保样品与测量台接触良好。
b. 在膜厚仪的操作界面上选择测量功能，并按照提示进行测量操作。
c. 等待测量结果显示在仪器的显示屏上。
5. 记录和分析结果a. 将测量结果记录在实验记录表中，包括样品编号、测量时间、测量值等信息。
b. 根据测量结果进行数据分析，比较不同样品之间的膜厚差异，并进行必要的统计处理。
三、注意事项1. 注意安全a. 在操作膜厚仪时，避免触摸仪器的高压部分，以免发生电击事故。
b. 避免将液体或其他杂质溅入膜厚仪内部，以免损坏仪器。
2. 避免干扰a. 在测量过程中，避免将其他物体放置在膜厚仪附近，以免产生干扰影响测量结果。
b. 避免在强磁场或电磁干扰环境中使用膜厚仪，以免影响测量精度。
3. 注意维护a. 定期清洁膜厚仪的测量探头，以保持其表面的光洁度。
b. 定期进行校准操作，以确保膜厚仪的测量准确性。
四、常见问题及解决方法1. 仪器无法启动解决方法：检查电源和连接线是否正常，确保电源稳定。
2. 校准结果不准确解决方法：检查校准操作是否正确，重新进行校准操作。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是用于测量材料表面薄膜的厚度的仪器。
本作业指导书旨在为操作人员提供详细的使用指导，确保正确操作膜厚仪并获取准确的测量结果。
二、设备准备1. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中，避免直接阳光照射和强烈震动。
2. 确保膜厚仪的电源连接稳定，并处于正常工作状态。
3. 检查膜厚仪的探头是否干净，并使用棉纱蘸取少量无水酒精轻轻擦拭，以确保测量的准确性。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪的电源开关，并等待仪器初始化完成。
2. 在膜厚仪的控制面板上选择所需的测量模式，如单点测量、连续测量或扫描测量等。
3. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保样品与探头接触良好。
4. 调整膜厚仪的参数，如测量速度、扫描范围等，以满足实际需求。
5. 按下开始测量按钮，膜厚仪将开始测量样品的薄膜厚度。
6. 等待测量完成后，膜厚仪将显示出测量结果。
记录并保存数据，以备后续分析和处理。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，操作人员应仔细阅读并理解本作业指导书，并接受相关培训。
2. 在进行测量之前，必须确保样品表面干净无尘，并且样品与探头接触良好。
3. 在测量过程中，操作人员应保持仪器和样品的稳定，避免外部干扰。
4. 当测量结果不稳定或异常时，应检查探头的清洁情况，并重新进行测量。
5. 在使用膜厚仪时，应遵守相关的安全操作规程，确保个人和设备的安全。
五、维护保养1. 每次使用膜厚仪后，应将探头清洁干净，并将仪器放置在干燥通风的地方。
2. 定期检查膜厚仪的电源线和连接线是否完好，如有损坏应及时更换。
3. 定期校准膜厚仪，以确保测量结果的准确性。
4. 如发现膜厚仪存在异常情况或故障，应及时联系售后服务人员进行维修或更换。
六、总结本作业指导书详细介绍了膜厚仪的操作步骤和注意事项，希望能帮助操作人员正确使用膜厚仪，并获得准确的测量结果。
在操作过程中，务必遵循安全规程，保护个人和设备的安全。
同时，定期进行维护保养，确保膜厚仪的正常工作。
膜厚仪说明书
可以删除在数据储存器内的测定数据。 （1）按照 P.13(1),(2)的操作程序进行。
（2）按下 键，删除显示的数
据号码后，利用数字键输入 想要删除的数据号码。按下
□ 数据删除
N=0258 45.8μm
返回 全删除
则删除该项，返回测定画面。 （3）删除储存器内全部数据时，按下
键，移动到
，再按下
键全部删除，并返回测定画面。
或 键，将光标移 到上限值或者下限值处，
□ 上下限设定 Fe
上限 0251.0 OFF
下限 0050.3 OFF
返回
μm
按下 键，在删除已
输入的数值后，使用数字键，输入数值。 □ 上下限设定 Fe
利用 键，将光标移动到 on/off 的
上限 0255 ON 下限 0050.3 OFF
选择栏，再利用 或 键选择 ON。 返回
铁质地（FE-370）
铝质地（NFE-370）
标准板（6 张套）
指针适配器
电池 1.5V(单 3 碱性)×4 （可选）
移动箱
操作说明书
标准板盒
标准板（除附件以外 测定标准 LW-990 打印机 VZ-330
的厚度）
金属电缆 VAC-25
电脑电缆 VZC-53
RS-232C-USB 变换器
数据管理软件 （数据记录软 件）LDL-02
3. 表示部和本体键的说明
电池警报（P.31） 测定方式
（电磁式 Fe/涡电流式：NFe） 调整（P.24）
■ 2008/05/31 10:23
Fe 356 μm
调整 设定
日期时间或者批次，数据 No（. P.19） 测定值 测定值单位（P.21） 设定（P.12）
1 . 膜厚仪操作说明1-30页
螢光膜厚儀Fischerscope使用手冊機型﹕Fischerscope XULM-XYm(德國Fischer公司) (2006/6)(版本6.14)頁數1、儀器理想放置環境……………………………………………… P. 22、測試台簡介(包括電源開關及更換保險絲)……………………. P. 23、電源開啟…………………………………………………………P. 44、電腦開機…………………………………………………………P. 55、定位………………………………………………………………P. 56、選擇測試項目……………………………………………………P. 97、正常化(Norm)……………………………………………………P. 108、測試步驟及樣品放置方向………………………………………. P. 129、印表抬頭之編輯、更改…………………………………………. P. 1410、快速列印步驟……………………………………………………. P. 1511、刪除讀值………………………………………………………….P. 1712、測試時間之更改…………………………………………………. P. 1813、測試單位公制(um) 或英制(u”) 之選擇………………………..P. 1914、光譜分析………………………………………………………….P. 2015、樣品顯像放大倍率……………………………………………….P. 2116、中英文版軟體更換……………………………………………….P. 2217、列印測試樣品之影像…………………………………………….P. 2318、產品程式備份之製造與備份存回至電腦………………………. P. 2519、電腦當機之排除…………………………………………………. P. 3020、電腦關機步驟……………………………………………………. P. 3021、注意事項…………………………………………………………. P. 3222、輻射安全方面……………………………………………………. P. 3223、電器安全方面……………………………………………………. P. 3324、儀器和附件的維修……………………………………………….P. 3325、常用元素符號、原子序、密度及合金之代表…………………. P. 3326、列表符號意義……………………………………………………. P. 3427、列表文字意義……………………………………………………. P. 3528、測試範圍A、單層B、合金比例及厚度…………………. P. 35C、雙層…………………………………………….. P. 3629、Standard Deviation(S)標準差之計算公式及意義…………….. P. 3730、C.O.V. [%] 變動率公式………………………………………… P. 3831、影像不清、無法顯示之處理步驟………………………………. P. 3932、底材修正步驟……………………………………………………. P. 411、儀器理想放置環境A、使用工作環境：1) 溫度：10-25℃2) 濕度：40~50%RH3) 避免高溫、潮濕及酸氣腐蝕工作環境B、耗電量：5A (安培)2、測試台簡介可位移抬面X-Y：250 × 280 mmX-光管：微小聚焦型 (Mini-focus)測試孔徑(collimators)：共4組No.1 圓型、直徑：0.10 mm (4.0 mils)No.2 圓型、直徑：0.20 mm (8.0 mils)No.3 正方型：0.05 ×0.05 mm (2.0 × 2.0 mils)No.4 長方型：0.03 ×0.20 mm (1.0 × 8.0 mils)測試台左方圖示1.焦距調整2.X光開關3.電源開關4.影像輸出5.RS-232系統連結接頭6.電源接頭測試台右方圖示1.X,Y-Tatle2.系統散熱進氣口過濾海綿測試台正面圖示1.量測鍵2.停止鍵3.高壓指示燈4.燈管指示燈5.閘門指示燈6.測試蓋未緊閉指示燈7.電源指示燈8.樣品測試口電源更換保險絲:保險絲位於電源座下，請用E型起子，打開保險絲座，換上同等安培數之保險絲即可。
膜厚仪操作指导书
膜厚仪操作指导书1.0目的为正确使用及校正，明确测量和保样责任。
2.0范围品质部涉及膜厚检测人员。
3.0膜厚仪认识3.1 涂层测厚仪DUALSCOPFO是一款精美，小巧且高性能的侧厚仪器，有着较高的精度及稳定性，可测量涂层厚度和简单的镀层厚度测量。
3.2 有两种测量功能：磁感应和涡流3.2.1 :磁感应：磁感应可用来测量所有磁性基体（如钢、铁）上的非磁性镀层（如油漆，防腐层，镀锌层，镀铜层）等。
3.2.2 涡流：可用来测量所有非磁性金属（如铜，铝，不锈钢）上面的非导电层（如油漆，防腐层，氧化膜）。
3.3 MPO测厚仪特点：3.3.1 可在所有的金属（钢铁和非磁性金属）基材上测量3.3.2 仪器自动识别镀层下的基材材料并选择相应的处理方法3.3.3 出色的重复精度3.3.4 受基材透磁率、电导率和几何形状影响小4.0操作程序4.1 测量4.1.1仪器没有专门的开关，如果仪器放在非铁磁性或不导电材料上，显示屏会显示Er6，然后显示四个水平短线而不显示任何读书（？？？？）4.1.2 另一种开机方法是按（0K键4.1.3 注意：不要通过手指压迫传感器来开启仪器，这样会导致错误的测量结果。
4.1.4 一分钟不用，仪器会自动关闭。
4.1.5 镀层厚度测量：仪器开启后，把仪器放在要测量的工件上，等待仪器发出测量声响（这种模式可以自动开启仪器）测量声响后显示读数。
4.1.6 仪器开启后可以连续测量，在工件的不同部位连续测量。
4.1.7 仪器在开启状态时，读数会马上显示出来。
4.2校正4.2.1 按CAL键，显示Base,用仪器自带的FE/ NF两种模式的底才上连续测量五次，每次测量后显示当前的读数，按0K键，显示0.00和STD1即校正标准片#1）。
4.2.2再用仪器自带的标准膜厚（72.0卩m/cm）的校正塑胶片进行校正测量，测量的数据允许士1卩m的误差，即为合格。
4.2.3 把标准校正片放在底材上连续测量五次左右，每次测量后会显示当前的读数，必须符合标准片的膜厚；按0K键，完成校正程序，仪器返回测量状态。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书标题：膜厚仪作业指导书引言概述：膜厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程等领域。
正确的操作方法对于获得准确的测量结果至关重要。
本文将详细介绍膜厚仪的操作指导，以帮助用户正确操作膜厚仪，获得准确可靠的测量结果。
一、准备工作1.1 确保膜厚仪处于稳定状态：在进行测量之前，应确保膜厚仪已经处于稳定状态，温度和湿度适宜。
1.2 校准仪器：在每次使用前，应对膜厚仪进行校准，确保测量结果准确可靠。
1.3 准备样品：准备待测样品，并确保其表面平整干净，避免影响测量结果。
二、操作步骤2.1 打开膜厚仪电源：按照膜厚仪的操作手册，打开电源并等待仪器启动完成。
2.2 设置测量参数：根据待测样品的特性，设置合适的测量参数，如波长、扫描速度等。
2.3 放置样品并开始测量：将样品放置在膜厚仪的测量台上，并开始测量。
三、测量结果分析3.1 数据处理：测量完成后，将测量数据导入计算机进行处理，生成膜厚度的曲线图和数据表。
3.2 结果分析：根据曲线图和数据表分析膜厚度的分布情况，评估样品的质量和性能。
3.3 结果验证：对测量结果进行验证，确保测量结果准确可靠。
四、维护保养4.1 清洁保养：定期清洁膜厚仪的外部和内部部件，保持仪器的清洁和良好状态。
4.2 定期维护：定期对膜厚仪进行维护保养，如更换灯泡、校准仪器等。
4.3 存放保管：在不使用膜厚仪时，应将其存放在干燥通风的环境中，避免受潮和受损。
五、注意事项5.1 避免碰撞：在使用过程中，避免碰撞膜厚仪，以免损坏仪器。
5.2 注意安全：在操作膜厚仪时，注意安全，避免发生意外事故。
5.3 定期检查：定期对膜厚仪进行检查，确保仪器的正常运行。
结论：膜厚仪作为一种用于测量薄膜厚度的重要仪器，在正确操作和维护的前提下，能够为科研和生产提供准确可靠的测量数据。
希望本文的操作指导能够帮助用户正确操作膜厚仪，获得准确的测量结果。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、设备检查1.1 电源连接确认膜厚仪已正确连接电源，无松动或短路现象。
1.2 仪器校准在使用膜厚仪之前，应确保仪器已经过专业校准，以确保测量结果的准确性。
1.3 探头清洁检查探头是否清洁，无异物或磨损。
如有需要，进行清洁或更换。
1.4 参数设置根据所测材料和工艺需求，正确设置膜厚仪的参数。
二、操作步骤2.1 操作准备确保操作区域安全，无影响测量的障碍物。
穿戴适当的防护装备，如防护眼镜、手套等。
2.2 样品放置将待测样品放置在稳定的工作台上，确保探头与样品表面平行且无直接接触。
2.3 测量操作按照设定的参数，进行膜厚测量。
操作过程中应保持稳定，避免突然的移动或震动。
2.4 数据记录测量完成后，及时记录相关数据，包括测量时间、样品编号、膜厚值等。
2.5 设备关闭完成测量后，关闭膜厚仪，断开电源，整理好设备。
三、注意事项3.1 避免剧烈震动或撞击膜厚仪，以免影响测量精度。
3.2 在测量过程中，避免探头与样品表面产生直接接触，以免划伤样品或探头。
3.3 在使用过程中，确保环境温度、湿度在设备允许范围内，以获得准确的测量结果。
3.4 定期对膜厚仪进行维护和保养，确保设备的正常运行。
3.5 对于不熟悉的材料或工艺，建议先进行小范围的测试，以确认测量结果的准确性。
四、异常处理4.1 如出现设备故障或测量异常，应立即停止操作，检查设备连接和参数设置是否正确。
4.2 如问题无法解决，应联系专业技术人员进行维修或校准。
4.3 对于异常的测量结果，应进行复测，以确定数据的有效性。
如有必要，可重新测试样品。
2.膜厚仪操作说明31-61页
Au/Pd/Ni
(Au) ( 0.03 － 4.0 um) ( 1.2 － 160 u") (Pd) ( 0.3 － 30 um) ( 12 －1200 u")
Cr/Ni/Cu (Cr) ( 0.5 － 5.0 um) ( 20 － 200 u") (Ni) ( 0.5 － 20 um) ( 20 － 800 u")
( c ) Σ ( X － X )2 之值為 ： ( X1 － X )2 = 0.0064 ( X2 － X )2 = 0.0144 ( X3 － X )2 = 0.0784 ( X4 － X )2 = 0.1024
+ ( X5 － X )2 = 0.0064 總累積加成和 Σ = 0.2080
儀器必須使用三相插頭連到一個已接地的插座上。
24、 儀器和附件的維修
只有授權人員才能修理FISCHERSCOPE® X-RAY儀器。
打開儀器
儀器包含產生高壓的元件。 只有授權人員才能打開儀器。 打開儀器之前必須斷開電源! 打開儀器進行維護時必須十分小心!
25、常用元素符號、原子序、密度及合金之代表
符號 原子序 名稱
(XULM-XYm.M9A(6.14)) P.34
* EN (NiP) (化學鎳) (無電解鎳)
1) 低磷 EN：含磷量 6%以下，密度：8.315 2) 中磷 EN：含磷量 7 ~ 9%，密度：8.164 3) 高磷 EN：含磷量 10~12%，密度：8.020
* 合金銅：
1) Bronze (青銅) (銅錫合金，錫含量約 4-6%) 2) Brass (黃銅) (銅鋅合金，鋅含量約 40%) 3) Red Brass (紅銅) (鋅 15%，銅 85%) 4) Phosphor bronze (磷青銅) (銅 95%，錫 4.3~10%，磷 0.2%)
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1.6.4 探头的选用参考 表三 探头选用参考表 （1）
基体
覆盖层
有机材料等非金属覆盖层
(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)
覆盖层厚度不超过100mm
覆盖层厚度超过100mm
被测面积的直 径大于30mm 如铁、钢等磁性金属
F400型探头0猇400mm F1型探头0猇1250mm
F400型探头 0猇400mm F1型探头 0猇1250mm F10型探头 0猇10mm
F400、N400、 F1/90、F10、
CN02
F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、
通讯软件
OU3500涂层测厚仪
沧州欧谱
一、概述
本仪器根据探头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆 层厚度，并符合以下工业标准：
(b) 按 键，检查电池。 ● 开机时无显示，表示无电池或电池电压太低，无法显示。需更换电池。 ● 无低电压指示，表示电池电压充足。 ● 有低电压指示，表示电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动
关机。这时应立即更换电池。
2.2 更换电池 (a) 按 键关机； (b) 打开电池仓盖； (c) 取出电池，放入新电池； (d) 盖好电池仓盖。
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OU3500涂层测厚仪
1.4 使用环境 温度：0℃猇40℃ 湿度：20%RH猇90%RH 无强磁场环境
1.5 电源 一节9V碱性干电池
1.6 仪器各部件的名称 1.6.1 主机
沧州欧谱
1、RS232接口 （OU3500B） 2、探头插座 3、液晶显示器 4、键盘
仅用于铜上镀铬 N400型探头0猇40mm
F400型探头 0猇400mm F1型探头 0猇1250mm F10型探头 0猇10mm
-----
如铜、铝、黄铜、 锌、锡等有色金属
被测面积的直 径大于10mm
被测面积的直 径小于10mm
-----
N400型探头 0猇400mm
-----
N1型探头 0猇1250mm N400型探头 0猇400mm
磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆 等)。
N型探头采用涡流法，可测量非铁磁性金属基体(如铜、铝、锌、 锡等)和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、 阳极氧化膜等)。
1.3 仪器配置 1.3.1 标准配置
主机 ---------------------------------------1台 探头（F1或N1） -----------------------1支 基体 ---------------------------------------1块 标准片 ------------------------------------5片 9V碱性电池------------------------------1节 使用说明书 ------------------------------1本
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OU3500涂层测厚仪
沧州欧谱
(b)如果需要校准仪器，则选择适当的校准方法进行校准(参见第 三章)；
(c)测量 迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套，随着一声鸣 响，屏幕显示测量值，提起探头可进行下次测量； (d)关机 在无任何操作的情况下，大约2-3min后仪器自动关机。按一下 键，立即关机。
(c) 按 键，设置工作方式。 说明：【*】表示该组中已有校准值；
表二：探头技术参数表：H——标称值 F型：
工作原理
探头型号
F400
测量范围(mm)
0猇400
低限分辨力(mm)
1
一点校准(mm) 示值 误差
二点校准(mm)
±(3%H+0.7) ±(1%H+0.7)
最小曲率半径(mm)
测试 条件
最小面积的直径(mm)
基体临界厚度(mm)
凸
1
F3
0.2
磁感应
F1
F1/90°
被测面积的直 径小于30mm
F400型探头 0猇400mm
F1型探头 0猇1250mm F400型探头 0猇400mm
如铜、铝、黄铜、 锌、锡等有色金属
被测面积的直 N400型探头0猇400mm 径大于10mm N1型探头 0猇1250mm
被测面积的直 径小于10mm
N400型探头 0猇400mm
N400型探头 0猇400mm N1型探头 0猇1250mm
N1型探头 0猇1250mm N400型探头 0猇400mm
探头选用参考表（2）
基体
覆盖层
非磁性的有色金属覆盖层 (如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
覆盖层厚度不超过100mm
覆盖层厚度超过100mm
被测面积的直
径大于30mm 如铁、钢等磁性金属
被测面积的直
径小于30mm
F400型探头0猇400mm F1型探头0猇1250mm
基体临界厚度(mm)
涡流
N400
N1
0猇400
0猇1250
铜上镀铬 0猇40
1
1
±(3%H+0.7)
±(3%H+1.5)
±(1%H+1)
± (1%H+1.5)
凸1.5
凸3
F4
F5
0.3
0.3
CN02 10猇200
1 ±(3%H+1)
----仅为平直
F7 无限制
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OU3500涂层测厚仪
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注意：仪器长时间不使用时应将电池取出，以避免电池漏液腐 蚀仪器。
2.3 选择探头 根据被测工件选择探头（请阅1.6.3探头），安上并拧紧。
2.4 测量操作
(a)准备好待测试件,将测头置于开放空间，按一下 常开机后显示上次关机前的测量值；如：
键开机，正
D Fe
50.0 m
说明：开机时若电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动关 机。这时应立即更换电池；
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● 两种方式的转换方法： (a) 仪器开机后，自动进入直接工作方
式，工作方式区显示【D】。按 键，显示如右图:
系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据
(b) 按 键，进入系统设置；按 或 键，选择【工作方式】设置；
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
1.1 应用 本仪器是便携式 、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测
量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电 镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。
配置不同的探头，适用于不同场合。
1.2 测量原理 本仪器根据探头类型的不同，采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。 F型探头采用磁性法，可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬
1.6.3.2 探头的技术参数 用户根据需要测量工件的特点选用下列不同探头与仪器。
表一：主机可选用探头表
探头
F1
F1/90
N1
F400
N400
F10
CN02
主机
OU3500A ★
OU3500B
★
OU3500A ★
★
★
★
★
★
★
OU3500B ★
★
★
★
★
★
★
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OU3500涂层测厚仪
沧州欧谱
1.6.3 探头 1.6.3.1 探头结构
所有探头（CN02除外）都安装在滑套里，以确保探头安全稳定地 定位，并保持探头适当的接触压力。滑套前端的V型槽可保证在凸面 上准确测量。测量时须握住探头上的滑套，保持探头轴线与被测面垂 直。探头的顶端由耐用的硬质材料制成。
1、测头部分 2、滑套
3、插头 （与主机连接）
1.6.2 液晶显示
7
6
5
1
D
LIMIT
4 Fe
2
50.0 m m 3
MAX=50.2
MIN=49.9
MEAN=50.1
NO=10
1. 工作方式指示 5. 低电压指标
2. 测量厚度值 6. 设限界指示
3.统计值 7. 打印指示
4. 测头类型指标
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OU3500涂层测厚仪
沧州欧谱
说明: 1. 如果在测量中探头放置不稳，显示一个明显的可疑 值，可删除该值；
2.重复测量三次或三次以上，测量后可显示四个统计值：平均 值（MEAN）、测量次数（NO.）、最大测量值（MAX）、最小 测量值（MIN）。
2.5 功能设置 2.5.1 工作方式
该仪器具有两种工作方式：直接方式和成组方式 (a)直接方式：此方式用于随意性测量，此方式下可存储100个测 量值，当存满100个值时，新的测量值将替掉旧的测量值,总保留最新 的100个测量值。 (b)成组方式：此方式便于用户分批记录所测试的数据，一组最多 存100个测量值，总共五组，可存500个测量值。当每组存满100个值 时，屏幕将显示“存储器满”，此时，仍可进行测量，但是测量值只 显示不存储，也不参与统计计算。只有删除该组数据，才能保存新的 测量值。每组内设有一个校准值，即该组下各个数据都是基于这个校 准值测得的。成组方式下，每个测量统计计算。只有删除该组数据， 才保存新的测量值。每组内设有一个校准值都参与统计计算。因为成 组方式下，可存贮几套基于不同校准值的测量数据，因此该方式特别 适合于现场测量。
500个测量值
零点校准
√
√
√
二点校准
√
√
√
删除功能
√
√
√
自动关机
√
√
√