光学合成孔径成像系统的杂散光分析与抑制

ＤＯＩ：１０．１６１８５／ｊ．ｊｘａｔｕ．ｅｄｕ．ｃｎ．２０２１．０４．００８ｈｔｔｐ：
／／ｘｂ．ｘａｔｕ．ｅｄｕ．ｃｎ光学合成孔径成像系统的杂散光分析与抑制
陈　靖，田爱玲
（西安工业大学光电工程学院，西安７１００２１
）摘　要：　为了提高光学合成孔径成像系统的成像质量，减小杂散光对成像系统的影响，文中结合杂散光辐照度计算结果和相机参数对光学合成孔径系统进行了杂散光分析。

在杂散光分析软件ＴｒａｃｅＰｒｏ中建立了系统的光机模型，对系统进行杂散光追迹，分析了杂散辐射主要来源。

仿真分析结果表明：设计的遮光罩，采用设置光阑、消杂光螺纹和发黑、涂消光漆等杂散光
抑制措施，在光学系统太阳光与光学系统光轴夹角大于１°时，点源透过率均≤１０
－４
，达到了杂散光抑制的要求，
验证了文中杂散光抑制方法的有效性。

关键词：　光学合成孔径；杂散光分析；光线追迹；点源透过率中图号：　Ｏ４３９ 文献标志码：　Ａ
文章编号：　１
６７３ ９９６５（２０２１）０４ ０４３２ ０６犃狀犪犾狔狊犻狊犪狀犱犛狌狆狆狉犲狊狊犻狅狀狅犳犛狋狉犪狔犔犻犵犺狋犻狀犪狀犗狆狋犻犮犪犾犛狔
狀狋犺犲狋犻犮犃狆犲狉狋狌狉犲犐犿犪犵犻狀犵犛狔
狊狋犲犿犆犎犈犖犑犻狀犵，犜犐犃犖犃犻犾犻狀犵
（ＳｃｈｏｏｌｏｆＯｐｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｘｉ’ａｎＴｅｃｈｎｏｌｏｇｉｃａｌＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ
，Ｘｉ’ａｎ７１００２１，Ｃｈｉｎａ）犃犫狊狋狉犪犮狋：　Ｉｎｏｒｄｅｒｔｏｉｍｐｒｏｖｅｔｈｅｉｍａｇｉｎｇｑｕａｌｉｔｙｏｆａｎｏｐｔｉｃａｌｓｙｎｔｈｅｔｉｃａｐｅｒｔｕｒｅｉｍａｇｉｎｇｓｙ
ｓｔｅｍａｎｄｒｅｄｕｃｅｔｈｅｉｎｆｌｕｅｎｃｅｏｆｓｔｒａｙｌｉｇｈｔｏｎｔｈｅｉｍａｇｉｎｇｓｙｓｔｅｍ，ａｎａｎａｌｙｓｉｓｏｆｓｔｒａｙｌｉｇｈｔｏｆｔｈｅｏｐｔｉｃａｌｓｙｎｔｈｅｔｉｃａｐｅｒｔｕｒｅｓｙｓｔｅｍｗａｓｍａｄｅｂａｓｅｄｏｎｔｈｅｃａｌｃｕｌａｔｉｏｎｒｅｓｕｌｔｓｏｆｓｔｒａｙｌｉｇ
ｈｔｉｒｒａｄｉａｎｃｅａｎｄｔｈｅｃａｍｅｒａｐａｒａｍｅｔｅｒｓ．ＡｎｏｐｔｉｃａｌｍｏｄｅｌｏｆｔｈｅｓｙｓｔｅｍｗａｓｅｓｔａｂｌｉｓｈｅｄｉｎＴｒａｃｅＰｒｏ，ａｓｔｒａｙｌｉｇｈｔａｎａｌｙｓｉｓｓｏｆｔｗａｒｅ，ｔｏｔｒａｃｅｓｔｒａｙｌｉｇｈｔａｎｄｔｏａｎａｌｙｚｅｔｈｅｍａｉｎｓｏｕｒｃｅｓｏｆｓｔｒａｙｒ
ａｄｉａｔｉｏｎ．Ｂａｓｅｄｏｎｔｈｅｓｉｍｕｌａｔｉｏｎａｎａｌｙｓｉｓｒｅｓｕｌｔｓ，ａｓｈｉｅｌｄｗａｓｄｅｓｉｇｎｅｄ，ａｎｄｏｔｈｅｒｍｅａｓｕｒｅｓｓｕｃｈａｓｓｅｔｔｉｎｇａｐｅｒｔｕｒｅｓａｎｄｅｌｉｍｉｎａｔｉｎｇｓｔｒａｙｌｉｇｈｔｓｃｒｅｗｓ，ｂｌａｃｋｅｎｉｎｇ，ａｎｄａｐｐｌｙｉｎｇｅｘｔｉｎｃｔｉｏｎｐａｉｎｔ，ｗｅｒｅａｄｏｐｔｅｄｔｏｓｕｐｐｒｅｓｓｓｔｒａｙｌｉｇ
ｈｔ．Ｗｈｅｎｔｈｅａｎｇｌｅｂｅｔｗｅｅｎｔｈｅｓｕｎｌｉｇｈｔｏｆｔｈｅｏｐｔｉｃａｌｓｙｓｔｅｍａｎｄｔｈｅｏｐｔｉｃａｌａｘｉｓｗａｓｇｒｅａｔｅｒｔｈａｎ１°，ｔｈｅｐｏｉｎｔｓｏｕｒｃｅｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅｗａｓｌｅｓｓｔｈａｎｏｒｅｑｕａｌｔｏ１０－４，ｗｈｉｃｈｖｅｒｉｆｉｅｓｔｈｅｓｔｒａｙ?ｌｉｇｈｔｓｕｐｐｒｅｓｓｉｏｎｍｅｔｈｏｄｓａｄｏｐｔｅｄｉｎｔｈｉｓｐａｐ
ｅｒｉｓｅｆｆｅｃｔｉｖｅ．犓犲狔狑
狅狉犱狊：　ｏｐｔｉｃａｌｓｙｎｔｈｅｔｉｃａｐｅｒｔｕｒｅｉｍａｇｉｎｇｓｙｓｔｅｍ；ｓｔｒａｙｌｉｇｈｔａｎａｌｙｓｉｓ；ｒａｙｔｒａｃｅ；ｐ
ｏｉｎｔｓｏｕｒｃｅｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ（ＰＳＴ）第４１卷第４期２０２１年８月 西　安　工　业　大　学　学　报ＪｏｕｒｎａｌｏｆＸｉ’ａｎＴｅｃｈｎｏｌｏｇｉｃａｌＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ
Ｖｏｌ．４１Ｎｏ．４
Ａｕｇ．２０２１ 收稿日期：
２０２１ ０６ ２８基金资助：陆军装备预研项目（３０１１０２２２××××）；西安市智能探视感知重点实验室项目（２０１８０５０６１ＺＤ１２ＣＧ４５）。

第一作者简介：陈　靖（１９７６－），男，西安工业大学讲师，主要研究方向为光电测试与仿真，Ｅ?ｍａｉｌ：ｊｘｎｋｃｊ＠１６３．ｃｏｍ。

　引文格式：陈靖，田爱玲．光学合成孔径成像系统的杂散光分析与抑制［Ｊ］．西安工业大学学报，２０２１，４１（４）：４３２
４３７．ＣＨＥＮＪｉｎｇ
，ＴＩＡＮＡｉｌｉｎｇ．ＡｎａｌｙｓｉｓａｎｄＳｕｐｐｒｅｓｓｉｏｎｏｆＳｔｒａｙＬｉｇｈｔｉｎａｎＯｐｔｉｃａｌＳｙｎｔｈｅｔｉｃＡｐｅｒｔｕｒｅＩｍａｇｉｎｇＳｙｓｔｅｍ［Ｊ］．ＪｏｕｒｎａｌｏｆＸｉ’ａｎＴｅｃｈｎｏｌｏｇｉｃａｌＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ
，２０２１，４１（４）：４３２?４３７．Copyright©博看网 . All Rights Reserved.
高分辨率的望远成像系统由于光学组件存在
衍射极限，在光波波长确定的情况下，只能通过扩大光学系统的孔径来获取更高清晰的成像。

而光学合成孔径，
就是通过设计、制造一系列难度小的小孔径系统优化排列拼接成合成孔径光学系统，以实现大孔径系统的高分辨率要求。

有效解决大口径镜片制造、检测瓶颈与成像高分辨率之间的矛
盾，是实现高分辨率探测的重要技术手段之一［１２］。

为了获得高分辨率成像，还需要消除系统受杂散光的影响。

杂散光指除了目标物遵循光学设计通过光学系统正常成像的光线外，其他所有进入像面的光线。

杂散光会降低像面对比度与信噪比，导致对目标成像质量的下降，严重的杂散辐射会淹没目标信号，对光学系统的探测、识别和成像等带来
严重干扰［３
５］。

所以分析光学系统的杂散光水平，
并采取相应措施降低或者消除杂散光影响，是实现高成像能力的重要前提。

１９７０年前后，Ａｒｉｚｏｎａ大学的Ｂｒｅａｕｌｔ等成立杂散光研究机构，
较早研究杂散光分析算法以及探索杂散光模型测量［６］。

文
献［７］通过光线追迹法，定位了光学系统中的光阑，研究了杂散光系数和望远镜光学系统性能的关系；西安电子科技大学的裴琳琳等通过系统的点源透过率对超分辨卫星载荷光学系统的杂散光进行了
研究［６
］，获得了有效的抑制效果；华北光电技术研
究所的栗洋洋等对卡塞格林系统的红外波段的杂散辐射进行了分析，
提出了针对卡塞系统红外辐射的有效抑制措施［８］；国防科技大学的孙可等对典型
双镜大反射结构进行仿真和实验，
对杂散光的来源和影响有了量化的分析［９］。

以上的研究虽然都达
到了既定的目标，但是都是基于本身单个孔径的光学系统的杂散光进行分析和抑制。

多个子单孔径组成的光学合成孔径成像系统应用在航天和军事等多领域，
杂散光的分析研究是不可或缺的。

现有的单个孔径的光学系统的杂散光抑制措施虽然有一定参考意义，但因为光学合成孔径成像系统的光机结构与单孔径光学系统差异较大，因此对光学合成孔径系统进行杂散光的分析和抑制非常重要。

而光学合成孔径系统杂散光分析尚未见有相关报道。

文中针对合成孔径光学系统通过对光机结构进行建模，由点源透过率（ＰｏｉｎｔＳｏｕｒｃｅｓＴｒａｎｓｍｉｔ ｔａｎｃｅ
，ＰＳＴ）为评价指标，对光学系统进行杂散光分析与抑制进行研究，以提高系统成像质量。

１　合成孔径系统的结构
合成孔径成像系统根据孔径的结构排列特点，可分为迈克尔逊干涉和菲索干涉两种。

两者相比较，采用菲索干涉的光学系统结构更加紧凑，具有瞬时成像特点，
更适用于捕捉对快速移动目标。

菲索型合成孔径光学系统有共次镜和望远镜阵列组合两种结构，如图１所示。

共次镜结构中，所有子孔径共用同一个次镜，这种结构能够减少系统的中心遮拦；
望远镜阵列结构中，各个子孔径是独立的望远镜光路，从望远镜输出的光束通过光束汇聚组
件组合在一起，形成像次镜成像［２］。

图１菲索型合成孔径望远镜
Ｆｉｇ．１Ｆｉｚｅａｕ?ｔｙｐｅｓｙｎｔｈｅｔｉｃａｐｅｒｔｕｒｅｔｅｌｅｓｃｏｐ
ｅ 文中研究的光学合成孔径系统为菲索型四孔径卡塞望远镜阵列结构，探测波段为３８０～７８０ｎｍ，系统焦距１４００ｍｍ。

２　杂散光分析
杂散光包括两部分：①来自光学系统外部的
３
３４　第４期 陈　靖，
等：光学合成孔径成像系统的杂散光分析与抑制Copyright©博看网 . All Rights Reserved.
杂散辐射（如太阳光、地球表面物体的散射光及大气漫反射光等），称为外部杂散辐射或外杂光；②光学系统本身由于温度等方面的变化产生的内部
辐射。

对可见光系统，
起主要作用的是外杂光［８
］。

由于卡塞格林系统的自身结构特点，杂散辐射
对其成像质量影响较大［１０
］。

因此，为了提高光学
系统的成像质量，
需要分析研究光学系统的杂散辐射特性，如需要则要提出相应的防护和抑制措施。

由于文中的合成孔径系统中的各子系统卡塞系统的视场角都小于等于±０．２°，在绝大多数情况下，
太阳光不会直接进入视场。

所以可将太阳视为一个视场外的杂散辐射源。

３　杂散辐射评价方法
ＰＳＴ是一种常用的评价光学系统杂散光影响
程度的指标。

通常被定义为入射在光学系统焦平面上的杂散光总量与入射在光线系统入瞳出的光总量的比值，其定义有多种，一般的光参量为光通量或辐照度。

ＰＳＴ反应光学系统本身对杂散光光源的衰减能力，而与杂散光源的辐射强度、探测器
和系统口径的大小无关［１１］。

ＰＳＴ越小表示系统杂
光抑制能力越强。

文中采用ＰＳＴ作为系统的杂散辐射水平的评估指标。

计算太阳辐射在该波段范围内的辐射量［６
］。

在３８０～７８０ｎｍ的可见光波段内太阳在光学系统入瞳处的等效辐照度为
犈ｏ＝τ犚２ｓ犕ｓ
犾
２ｃｏｓ犪（１
）其中：τ为可见光在大气中的透过率，
此处取平均值０．７０［１２］，犚ｓ为太阳的半径，犾为太阳与光学系统
入瞳之间的距离；α为太阳和入瞳连线与入瞳法线的夹角；犕ｓ为太阳从３８０～７８０ｎｍ辐射出射度，由普朗克黑体公式可知，太阳的辐射出射度为
犕犛＝
∫
λ２
λ１
犮１
λ５ｅｘｐ
犮２λ
（）犜－［］
１ｄλ（２
）其中：λ为波长，单位ｎｍ；λ１＝３８０ｎｍ；λ２＝７
８０ｎｍ；犮１为第一黑体辐射常数，犮１＝３
．７４１７７４９×１０－
１６Ｗ·ｍ２；犮２为第二黑体辐射常数，犮２＝１
．４３８７６９×１０－
２ｍ·Ｋ；犜为太阳平均温度，犜＝５９００Ｋ［１
３］。

计算得到太阳光的可见光波段在系统入瞳表面的辐
照度为５３９．６ｃｏｓαＷ·ｍ－２。

结合系统所采用的ＣＭＯＳ相机的参数，根据所计算的系统入瞳的辐照度及相机的噪声等效辐照度，确定ＰＳＴ的数量级小于或等于１０－４时，系统的杂光抑制效果满足要求。

４　系统建模
４．１　建立光机系统模型
目前常用的杂散辐射分析软件有Ｚｅｍａｘ、Ｔｒａ
ｃｅＰｒｏ、ＳＰＥＯＳ和ＡＳＡＰ等［１３
］
，文中采用ＴｒａｃｅＰｒｏ软件进行杂散辐射的仿真和计算。

合成孔径光学系统的参数见表１。

表１　合成孔径光学系统的参数
Ｔａｂ．２　Ｐａｒａｍｅｔｅｒｓｏｆｏｐｔｉｃａｌｓｙｎｔｈｅｔｉｃａｐ
ｅｒｔｕｒｅｉｍａｇｉｎｇｓｙ
ｓｔｅｍ分类无焦子望远系统
合束镜系统
入瞳直径／ｍｍ６０４０焦距／ｍｍ∞４００放大率５／全视场角／°
０．２
０．７
将表１中的初始结构参数在光学设计软件中
建模，
在第三块曲面反射镜与像面间的位置中设置折镜，考虑相机外形尺寸及固定方式的影响，将像面转出光轴，经过优化后获得的光学系统结构如图２所示。

图２　光学系统模型Ｆｉｇ．２　Ｍｏｄｅｌｏｆｏｐｔｉｃａｌｓｙ
ｓｔｅｍ４．２　设置相关参数
由于合成孔径成像系统的子孔径的光机模型是典型的卡塞格林系统，在未进行杂散光抑制处理时，相关的参数设置见表２。

表２　杂散光抑制前的表面参数设置Ｔａｂ．２　Ｓｕｒｆａｃｅｐａｒａｍｅｔｅｒｓｅｔｔｉｎｇｓｂｅｆｏｒｅｓｔｒａｙ
ｌｉｇｈｔｓｕｐｐ
ｒｅｓｓｉｏｎ项目吸收率反射率散射率反射镜表面０．０１０．９８７７０．００２３结构件表面０．８５０．１００．０５探测器表面
０．９９
０．０１
０
系统初始光机结构组成如图３所示。

４
３４ 西　安　工　业　大　学　学　报 第４
１卷Copyright©博看网 . All Rights Reserved.
图３　遮光外罩示意图
Ｆｉｇ．３　Ｔｈｅｄｉａｇｒａｍｏｆｔｈｅｏｐｔｉｃａｌｓｙ
ｓｔｅｍｈｏｏｄ４．３　设置光源模型
由于光学系统是在地表进行观测使用，因此把距离地球很远的太阳发出的光线可视为发散角为０．５°
的平行光。

仿真时具体光源参数设置见表３。

表３　光源模型设置
Ｔａｂ．３　Ｌｉｇｈｔｓｏｕｒｃｅｍｏｄｅｌｓｅｔｔｉｎｇ
ｓ太阳辐射
光源类型平行出射的圆形ｇｒｉｄ光源
光源尺寸／ｍｍ １５０光源位置／ｍｍ１４０
（主镜前）光线数量／万
１０００
５　仿真及分析
由于卡塞格林系统的轴对称性特点，所以在分析太阳光的入射方向只需考虑太阳光与光学系统
光轴的夹角为１°～９
０°的情况［１４
］。

在ＴｒａｃｅＰｒｏ软件中对光学系统的光机模型进行光路追迹，其中太阳光与光轴的夹角为５°时的光线仿真如图４所示。

图４　太阳光与光轴的夹角为５°时在ＴｒａｃｅＰｒｏ中的仿真图Ｆｉｇ．４　ＳｉｍｕｌａｔｉｏｎｉｍａｇｅｉｎＴｒａｃｅＰｒｏｗｈｅｎｔｈｅａｎｇ
ｌｅｂｅｔｗｅｅｎｓｕｎｌｉｇｈｔａｎｄｔｈｅｏｐ
ｔｉｃａｌａｘｉｓｉｓ５°计算得到太阳光与光轴的夹角为５°时的ＰＳＴ为０．０１０２，远大于１０－４，
会严重影响光学系统的成像质量。

由图４可以看出，当太阳光与光轴的夹角大于系统视场角时，入射光线会直接通过主镜的通光孔进入卡塞系统及后方的成像光路中，并最终进入像面。

同时光线经过主、
次镜反射，及结构件的散射，镜筒的散射，及内壁面的散射最终有部分非成像光线进入了探测器，成为杂散光。

需要对整体通光路径进行发黑处理，涂消光漆并附加挡光环设计，同时采取在主镜镜筒内壁设计消杂光螺纹。

文中设
计了主镜外罩，各个主镜外罩尺寸内孔直径为 ８０ｍｍ×１１０ｍｍ，
如图５所示。

图５　主镜外罩图
Ｆｉｇ．５　Ｖｉｅｗｏｆｐｒｉｍａｒｙｍ
ｉｒｒｏｒｃｏｖｅｒ为了进一步抑制主次镜的散射光线，为每个子孔径的主镜筒内壁增加消杂光螺纹，在次镜后设置光阑，尺寸为内孔直径为 １２ｍｍ，厚度为４ｍｍ，如图６所示。

图６　子孔径消杂光示意图
Ｆｉｇ．６　Ｔｈｅｄｉａｇｒａｍｏｆｓｔｒａｙｌｉｇｈｔｓｕｐｐ
ｒｅｓｓｉｏｎｍｅａｓｕｒｅｓｏｆｔｈｅｓｕｂａｐ
ｅｒｔｕｒｅ对各外罩和镜筒内壁及光阑进行表面发黑处理，同时根据测得加工的表面材料的ＢＲＤＦ曲线和涂消光漆测试结果如图７～８所示的参数进行光路追迹。

由此得到镜面的积分散射率为ＴＩＳ＝
０．００２３，犅＝１．８９５７Ｅ４，犵＝１
．５０００，犃＝１．９１２９Ｅ４。

５
３４　第４期 陈　靖，
等：光学合成孔径成像系统的杂散光分析与抑制Copyright©博看网 . All Rights Reserved.
其中，表面粗糙度σ＝２．５ｎｍ，波长λ＝０．６６０μｍ，散射率ＴＩＳ＝０．００２３。

图７　光滑表面的ＢＲＤＦ曲线
Ｆｉｇ
．７　ＢＲＤＦｃｕｒｖｅｓｏｆｔｈｅｓｍｏｏｔｈｓｕｒｆａｃ
ｅ图８　消光黑漆表面ＢＲＤＦ测试结果
Ｆｉｇ
．８　ＢＲＤＦｔｅｓｔｒｅｓｕｌｔｓｏｆｔｈｅｍａｔｔｅｂｌａｃｋｐａｉｎｔｓｕｒｆａｃｅ文中分析了太阳光与光学系统光轴的夹角为１°～４
０°的系统的ＰＳＴ，并通过光线追迹求出在不同夹角下的ＰＳＴ。

采取一系列消杂散光的措施之后，再次仿真计算系统的ＰＳＴ（去掉ＰＳＴ为０的
值）。

采取杂散光抑制措施前后的ＰＳＴ计算结果如图９所示。

图９　采取杂散光抑制措施前后的ＰＳＴＦｉｇ．９　ＰＳＴｂｅｆｏｒｅａｎｄａｆｔｅｒｔｈｅａｄｏｐｔｉｏｎｏｆｓｔｒａｙ
ｌｉｇｈｔｓｕｐｐ
ｒｅｓｓｉｏｎｍｅａｓｕｒｅｓ由图９可以看出，采取添加遮光罩、光阑及发黑、涂消光漆处理等抑制杂散光的措施后，在各个角度上的ＰＳＴ数值均有明显的下降。

当太阳光与光学系统光轴的夹角小于２５°时，系统的ＰＳＴ由大
于１０－４下降为小于等于１０－４。

夹角为５°时ＰＳＴ最大，由大于１０－２下降为小于１０
－４。

进行杂散光抑制前后的ＰＳＴ结果见表４。

由表４中的数据可以看到，
太阳光与光学系统光轴的夹角大于１°的ＰＳＴ均小于等于１０－４。

夹角为５°时的ＰＳＴ从１．０２×１０－２下降为６．０７×１０
－５，太阳杂散光被有效抑制。

可见，采取上述杂散光抑制措施可以明显地抑制太阳杂散辐射。

表４　采取杂散光抑制措施前后的ＰＳＴ计算结果
Ｔａｂ．４　ＰＳＴｒｅｓｕｌｔｓｂｅｆｏｒｅａｎｄａｆｔｅｒｔｈｅａｄｏｐｔｉｏｎｏｆｓｔｒａｙｌｉｇｈｔｓｕｐｐ
ｒｅｓｓｉｏｎｍｅａｓｕｒｅｓ角度／°１３５１０２０２５３０３５４０抑制前２．８６Ｅ３１．０６Ｅ?３１．０２Ｅ?２１．８２Ｅ?３１．０８Ｅ?３８．３Ｅ?４３．４６Ｅ?
４９．１Ｅ?５０抑制后
２．７４Ｅ?
４５Ｅ?
５６．０７Ｅ?
５２．６６Ｅ?
５１．０５Ｅ?
５７．２５Ｅ?
６０
０
０
６　结论
文中讨论了合成孔径光学系统的杂散辐射来源，并针对杂散辐射进行了研究。

以ＰＳＴ作为指标评估系统对太阳杂散辐射的抑制水平。

在Ｔｒａ ｃｅＰｒｏ软件中导入光机系统模型，设置光源，并进行光线追迹，通过像面杂散光的仿真结果，计算得到系统的ＰＳＴ。

设计了遮光罩并采取了添加光阑及发黑、涂消光漆处理等消除杂散光的措施。

结果表明，采取抑制杂散光的措施后，太阳光与光学系
统光轴的夹角大于１°的ＰＳＴ均小于等于１０
－４
，夹角为５°时ＰＳＴ最大，由大于１０－２下降为小于１０－４，验证了该杂散光抑制方案的有效性。

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Ｏｒｂｉｔｅｒ［Ｃ］／／ＰｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓｏｆＳｏｌａｒＰｈｙｓｉｃｓａｎｄＳｐａｃｅ
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（编辑、校对　苗　静）
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　第４期 陈　靖，等：光学合成孔径成像系统的杂散光分析与抑制
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