射频集成电路校准技术综述

射频集成电路校准技术综述
李松亭;颜盾
【期刊名称】《电子与信息学报》
【年(卷),期】2022(44)11
【摘要】射频集成电路(RFICs)对工艺偏差、器件失配、器件非线性等引入的静态非理想因素以及温度变化、增益改变、输入/输出频率变动等引入的动态非理想因素所表现出的鲁棒性较差。

该文深入挖掘影响射频集成电路性能的关键因素,并对典型的校准算法进行归纳和总结,为高性能射频集成电路设计提供理论支撑。

【总页数】17页(P4058-4074)
【作者】李松亭;颜盾
【作者单位】国防科技大学空天科学学院;湖南大学信息科学与工程学院
【正文语种】中文
【中图分类】TN43
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