SPC统计过程控制管理程序

XX 汽车零部件有限公司文件编号版本号A/0 SPC 统计过程控制管理程序
制定部门生效日期
1.目的
使用适当的统计技术来验证和分析过程能力、产品特性、过程特性和其他与质量相关的数据、资料，以发现问题，并进行原因分析和采取对策，确保过程稳定及降低不良率，进而提高产品质量。

2．适用范围
适用于本公司物料进料检验、计量测试、过程控制、成品检验、可靠性测试、客户投诉及内部质
量审核结果等资料的统计分析。

3．职责
3.1品保部:负责统计技术的选用，人员培训，对产品和过程特殊特性、重要特性进行数据的收集、
分析及处理 ,采用相应的的SPC 统计控制图控制 ,并组织相关职能部门制定纠正和预
防措施，验证效果。

3.2各部门负责各自相关数据的传递及纠正预防措施工的实施.
4．定义（无）
5.管理流程：
作业流程图
负责部门输入
SPC 数据收品保部
数据收集
统计技术分类
品保部相关部门统计技术
SPC 管理程序
过程重点提示
进料检验、试产/量产、过程控制和
成品检验、生产过程中各项统计资料收集，
依《控制计划》表所列统计方法要求的方
法实施。

推移图：分析品质状况的趋势。

特性要因图（鱼骨图）：分析各种
品质问题原因，以掌握真正原因，
并提出对策。

柏拉图：品质问题的重点分析，适
用于客户退回品、制程不良品问题
分析。

平均数 -极差图：分析和管制制程能
力，适用于重点尺寸、特性的管制。

不良率管制图：不良率的控制，适用
于制程不良率的管制。

统计工具的选择：在产品质量先期
策划阶段期间，需先针对每项制程，
妥当地决定选择其适当的统计
输出文件 /表单
《控制计划》
《初始过程能力
研究计划表》
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工具，并纳入控制计划内。

公司目前根据实际情况，参阅
《SPC 统计制程控制工作指引》，对于
计量型统计数据，使用平均值-极差控制
图。

对于计数型统计数据，使用不良率
控制图填写《初始过程能力研究计划
表》。

选取运作稳定的工序，收集质量特
性值，数据收集需 100 个以上。

X-R 控制图
以每 4 个或 5 个数据为一组，将数
据分成 20 ～25 组，并记录到表格上。

计算平均值（ x）
x=X1+X2+X3+Xn/n
（精确到比观测值多一位小数）
计算总平均值（ x）
x=x1+x2+x3+xn/n
（精确到比观测值多二位小数）
计算各组数据极差 R
平均值 -极
R=Xmax-Xmin
品保部差控制图计算极差的平均值（ R）
的绘制R=R1+R2+R3+ Rn/n
计算 x 图上下控制界限
UCL=x+A2R
LCL=x-A2R平均值 -极差图
计算 R 图上下控制界限
UCL=D4R
LCL=D3R
画控制线
x 图画在控制图的上方， R 图在下方，
以组号或时间为横坐标，以值或R 值为
纵坐标在图上描出各点，并将各点用折
线连接。

XX 汽车零部件有限公司 文件编号
版 本 号
A/0
SPC 统计过程控制管理程序
制定部门
生效日期
控制图的 8 种 判定标准
检定规则 1
：(2/3 A)3 点中有 2 点在
A 区或 A 区以外者。

检定规则 2：(4/5 B)5 点中有 4 点在 B
区或 B 区以外者。

检定规则 3
：(6 连串 )连续 6 点持续地
上升或下降者
SPC 控制图判
检定规则 4
：(8 缺 C) 有 8 点在中心线 相关部门
SPC 判定
上方或下方。

检定规则 5
：(9 单侧 )连续 9 点在中心
线上方或下方。

检定规则 6
：(14 升降 )连续 14 点交互
著一升一降者。

检定规则 7 ：(15C) 连续 15 点在 C 区。

检定规则 8 ：(1 界外 )有点在 A 区以外
者。

公式一
PPK:
PPK 、CPK 计
Ppk = Min （
PPU ,
USL
X
x LSL
3 s )
PPL
3s
CPK1 :
过程能力
品保部
公式运用
PPK 、CPK 计算
Cp ×（ 1-︱Ca ︱）（CPU ；CPL 最小值）
Cp=（USL-LSL ）/6 σ （初期制程能力）
Cp=（USL-LSL ）/6 σ（R/d2 ）（量产中制
程能力
Ca=︱ x- μ︱ /（T/2 ）
公式一 Ca 是制程准确度，制程中心
值
与规格中心值的相差程度， Ca 越大偏移越大，反之越小。

Cp 是制程精密度，制程特性的一致 性
程度，制程特性越大越集中， 越小则越
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分散。

CPK2:
USL X X LSL
Cpk = Min （CPU,)CPL
33
CPU 、CPL 为单边规格的上、下限能力
指数
CPU= （ Tu-x ） /3 σ
CPL= （x-TL ）/3 σ
USL 、 LSL 为双边规格上、下限值。

标准差即
σn ( x i x )2
i 1
n
n ( x i x ) 2
S
i 1n1
σ为量测中制程估计标准差。

R、 d2 则是制程使用的 x-R 管制图，即
σ =R/d2
相关部门记录X-R 图标准
统计分
品保部
析、改善对上述所涉及的统计项目经分析后，参
照《纠正和预防措施管理程序》
初期制程能力：针对客户所指定每一
项新制程管制特性实施，并须符合客户
要求，制程能力指数（PPK ）须达到
≥1.67。

量产中制程能力：量产中的制程能
力要求，由客户规定，若尚未规定时，则
制程必须稳定，制程能力指数须达到
CPK≥ 1.33 。

统计分析后，如发现有重大质量异
常现象，由品保部依《纠正与预防及持续
改进控制程序》，以“纠正与预防措施实施
《纠正与预防
措施实施单》
P控制图
计数型数
品保部
据单”通知相关部门，分析原因及拟定改
进措施。

定期由品保部负责召开质量会议，
依据统计资料的统计结果作质量目标验
证及客户每月检讨。

品保部利用适当时机，将统计技术
及使用时机基本概念，实施教育训练，使
全厂员工均能了解。

收集数据
选择子组的容量、频率和数量
子组容量：子组容量足够大（最
好能恒定），并包括几个不合格品。

分组频率：根据实际情况，兼大容量
和信息反馈快的要求。

子组数量：收集的时间足够长，使
得可以找到所有可能影响过程的变差源。

一般为 25 组。

计算每个子组内的不合格品率（P）
n 为每组检验的产品的数量； np 为每
组发现的不良品的数量。

选择控制图的坐标刻度《P 控制图》一般不良品率为纵坐标，子组别（小
时/天）作为横坐标 ,纵坐标的刻度应从 0
到初步研究数据读数中最大的不合格率
值的 1.5到 2倍。

将不合格品率描绘在控制图上
描点，连成线来发现异常图形和趋
势。

在控制图的“备注”部分记录过程的变
化和可能影响过程的异常情况。

计算过程平均不合格品率（P）
式中： n1p1 ；nkpk分别为每个子组内
的不合格的数目
相关部门记录制程改善
相关部门记录记录保存
6．参考文件：
6.1 《SPC 参考手册 V2》
6.2 《纠正与预防及持续改进控制程序》
6.3 《记录控制程序》
7．使用表单：
7.1 《初始过程能力研究计划表》
7.2 《平均值 -极差图》
7.3 《纠正与预防措施实施单》
n1 ；nk 为每个子组的检验总数
计算上下控制限（ UCL ；LCL ）
UCL =P + 3P ( 1– P ) / n LCL =P – 3P ( 1– P ) / n
P为平均不良率； n 为恒定的样本容量
画线并标注
过程平均（ P ）为水平实线，控制限（USL ；LSL ）为虚线 (初始研究时，这些被认为是试验控制限。

）寻找并纠正特殊原因
当有任何变差时，应立即进行分析，以便识别条件并防止再发生，由于控图
发现的变差一般是由特殊原因引起的，
希望操作者和检验员有能力发现变差原
因并纠正 ,并在备注栏中详细记录。

重新计算控制限
初次研究，应排除有变差的子组，重新计算控制限。

过程能力解释
计数型数据控制图上的每一点直接
表明不符合顾客要求的不合格品的百分
数和比值，这就是对能力的定义填写《P
控制图》
参照《纠正与预防控制程序》
参照《记录控制程序》。