台阶仪XP-1操作规程
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台阶仪(XP-1)操作规程
一﹑XP-1型台阶仪工作原理
图1. 工作原理示意图
高度测量原理:
当探针Stylus 在样品表面扫描时,随着样品表面的起伏变化,使探针绕着弹性轴承Pivot 转动,从而使反射镜Mirror 的角度变化,最终导致经Mirror 反射后打在光电探测器Photo Detector 上的光斑的位置发生变化。
光斑位置的变化会使Photo Detector 上的电压值发生变化,而电压的变化经AD 转换后就能重现样品表面的起伏变化。
力的控制原理:
F :探针对样品的压力;
G :弹性轴承Pivot 左侧的净自重;F c :磁耦合线圈Force Coil 对轴承右侧的力,其正比于一个可在电脑中设定的参数Force Value (这里用a 表示)。
原理:当a 增大时,F c 增大;而G 是不变得,所以F 随着a 的增大而减小。
二﹑操作步骤
1. 仪器的启动和初始化
首先打开稳压器,然后启动电脑并将台阶仪的电源打开。
等10秒后双击电脑桌面上的台阶仪图 ,启动台阶仪操控软件时会弹出一个是否要初始化的对话框,点击“是”,将系统初始化。
图2. XP-1型台阶仪软件主界面
2. 样品的定位
初始化完成后,点击“Z+”键,使探针抬起,确保探针到台面的高度远大于样品的高度时,将样品放到样品台上,然后将它贴着样品台推到样品台中央。
(注意:一定要保证探针高于样品。
然后移动样品台,使样品待测区域大致地在探针正下方。
)
点击“Engage”键,使探针自动地缓慢下降逼近样品。
当探针逼近到样品表面时,即在视频窗口中看到探针(右)针尖及其影子(左)的针尖接触上时,探针会自动停止下降逼近。
这时在视频窗口中还可以观察到样品表面的形状特征,如图2。
注意:探针在样品表面上时不能移动样品或样品台。
点击“Z+”键,使探针抬起一点,但保证探针的影子还在视频窗口中。
这样才能看清楚样品表面的形状特征。
移动样品台,使探针精确地定位在需要测量的台阶的起始位置。
点击“Engage”键逼近样品,查看定位是否合适。
反复抬起探针,再逼近样品,直到探针定位在所测台阶的起始位置。
图3. 左侧的红色旋钮用于前后微调,中间的红色旋钮用于左右微调
3. 设置扫描参数
点击软件主界面的“Setup”键,选择“Scan”标签页,这时将看到各种扫描数,如图4。
图4. 扫描参数
Speed:扫描速度。
可设值分别是0.01mm/s ,0.03 mm/s ,0.05 mm/s ,0.07 mm/s ,0.1 mm/s ,0.12mm/s ,0.15mm/s ,0.17mm/s ,0.2 mm/s 。
一般使用的速度为0.07 mm/s 或0.1 mm/s 。
Length:扫描长度,即探针沿图4中的扫描方向上扫描的长度。
最大值30mm。
最小值的条件是扫描时间(Length/Speed)大于3秒。
一般使用的值是0.4mm~1mm。
Range:扫描量程,即能扫描的台阶的最大高度。
Stylus Force:扫描过程中探针对样品的作用力。
软的样品,如光刻胶,应该用最小的力扫描,这样才能保证扫描过程中对样品没有划伤。
硬的样品,如硅片,可以用大的力,这样压的更稳,受外界环境影响更小。
Filter Level:控制Data Points。
一般使Data Points的值为1000左右。
Profile Type:扫描的线型。
都用第三种线型。
4. 点击“Scan”开始扫描
如是发现左下方的扫描线(红线)有较大的偏移,则“stop”,并按“Z+”抬起探针,调节机器里的黑色调节盘,哪边低向哪边转,如图5。
图5
5. 分析数据
图6 数据分析界面
当扫描完成后,会弹出如图6所示的数据分析界面。
a.右键点击一下数据图形区域,将会弹出如图6所示的下拉菜单。
b.选择“Size Cursors”,R和M光标变为展宽模式。
分别拖动R和M光标的左右边界,使R和M光标展宽到所需的宽度。
c.右键点击一下数据图形区域,使光标退出展宽模式。
d.将R和M光标分别拖动到需要拉平的区域。
e.在“Level Method”里选择“Cursor Locations”模式。
f.点击“Level Data”拉平数据,如图7。
g.将M光标移到台阶上,这时就能直接得到台阶高度了,即Delta Height值,如图8。
图7 数据拉平图8 数据测量
三、台阶仪标定
当使用一定时间(2星期)后,应对台阶仪进行重新标定。
步骤为将标样(图9)取出(必须带胶皮手套),对中央的“H型”中间的台阶进行测量,重复操作步骤,数据分析步骤,若得到的台阶高度与标样的实际高度(1939A o)相差较大,则点击右键,点击calibrate hight(图10所示),输入1939A o,即可。
图9图10。