中子反射实验常用标定方法

中子反射实验常用标定方法
李新喜;王燕;黄朝强;王云
【期刊名称】《现代科学仪器》
【年(卷),期】2014(000)005
【摘要】中子反射谱仪是用于精确获取薄膜样品微观结构信息的有效手段之一.中子反射谱仪在建成后以及后期的实验中,通常需要进行中子反射谱仪实验参数标定,从而提高实验精度.本文介绍了中子反射实验常用的标定方法,并对标定误差进行了理论分析;采用几何光学方法对部分实验参数的理论计算方法进行了探讨分析,可为中子反射实验标定提供参考.
【总页数】5页(P12-16)
【作者】李新喜;王燕;黄朝强;王云
【作者单位】中国工程物理研究院核物理与化学研究所绵阳 621999;中国工程物理研究院中子物理学重点实验室绵阳621999;中国工程物理研究院核物理与化学研究所绵阳 621999;中国工程物理研究院中子物理学重点实验室绵阳621999;中国工程物理研究院核物理与化学研究所绵阳 621999;中国工程物理研究院中子物理学重点实验室绵阳621999;中国工程物理研究院核物理与化学研究所绵阳621999
【正文语种】中文
【中图分类】TL817+.9
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