Irsolution简易操作手册

Irsolution简易操作手册第一章开机及启动软件
1、打开仪器前部面板上的电源开关；
2、打开计算机，至WIN2000界面出现；
3、双击桌面IRsolution快捷键，出现右图
输入设定的密码，然后点击OK。

第二章选择仪器及初始化
1、选择菜单条上的Environment（环境）
>Instrument Preferences（仪器参数选择）
>Instruments（仪器），选择仪器
“FTIR8000series”。

2、选择菜单条上的Measurement（测量）>Initialize
（初始化），初始化仪器至两只绿灯亮起，即可
进行测量。

第三章光谱测定
3-1测定参数的设定
点击功能条中Measure 键
1、在Data页中，设置
Measuring Mode，选择% Transmittance(透过率)；
Apodization（变迹函数）选择Happ-Genzel（哈-根函数）；
No. of Scans（扫描次数），设置40；
Resolution（分辨率），设置4 cm-1；
Range（波数范围），设置4600-400cm-1；
2、在Instrument页中，如下图设置：
Beam（光束），选择Internal（内部）；
Detector（检测器），选择standard（标准）；
Mirror Speed（动镜速度），选择2.8 mm/sec；
3、在More页中，如下图设置：
4、在Files页中，输入文件名，保存为Parameter files（参数文件．ftir）。

5、在Data file框中，写入待测谱图的文件名，选择合适的路径，在Comment框中输入文本加以
说明。

如下图：
3-2光谱测定
1、点击此窗口的键，进行背景扫描，如下图：
2、插入样品，点击键, 即可进行样品扫描，如下图：
3、自动保存或换名保存为smf文件（*．smf）
3-3显示
1、波数范围以及纵轴范围的变更
变更图谱范围十分简单，只需点击图象上X轴
Y轴，对话框中输入适当的数字即可。

2、放大谱图
按下鼠标左键拖曳产生一个方框，到合适的大小后放开左键，放大的谱图范围就定义好了。

用左键拖曳方框到需要放大的部位，松开左键，方框内的部分就被放大成整张谱图大小。

3、 范围列表
选择Graph （谱图）>Range （范围）>Range List （范围列表），对话框中输入X 轴、Y 轴范围，点击
键，添加到表中。

也可点击
将其保存为范围文件（*．rng ）。

4、显示全谱
在已放大的谱图的任意位置击鼠标右键，选择Full view 谱图即恢复原状。

5、显示或隐藏谱图
右键点击文件树中文件名，对话框中点击
，选择是否显示。

用于隐藏谱图，
用于隐藏所有谱图。

6、打开或关闭谱图
打开谱图：选择主菜单File>Open，列表中选择目录并双击，选择文件类型，出现该目录下的所有
文件，双击所要打开的文件；或通过工具条中的键打开。

关闭谱图：选择主菜单File>Close，关闭激活的谱图，选择主菜单File>Close All，关闭所有打开的谱图。

7、透过谱（%T）－吸收谱（Abs）的转换
选择Graph（谱图）>Y-Axis Mode （Y轴模式），选择Tra（透过率）或Abs（吸光度）；或通过
选择工具条中的键。

8、显示叠图
选择Window（窗口）>Join Visible（重叠显示），将所有谱图显示于一个窗口中；选择Window>Split （拆分），将重叠图拆开分别显示。

重叠显示有以下几种风格：例如图
Overlay重叠图Stack Graph堆叠图Stack Spectra堆叠光谱
以及Tile水平堆叠图、Vertical垂直堆叠图、Horizontal Splitted水平分离、Vertical Splitted垂直分离等格式。

3-4数据处理
1、峰值检测
选择Manipulation 1 （操作）>Peaktable（峰表），设置参数如图：
Noise（噪音）、Threshold（峰阈值）、Min Area（最小峰面积）；
点击，各峰波数标在峰的旁边，选取峰数的多少，可通过改变
各参数值，如果对计算结果满意，点击OK。

峰表显示于View页。

点击
鼠标右键，通过选择，设置是否显示峰表。

2、基线校正：选择Manipulation 1 （操作1）>Baseline（基线校正）>Zero（零基线），基线校正操
作中可选择0、3点或多点，如图：
0点，基线调整到最大透过率为100%，（最小Abs=0）；
3点，选择谱图中3处波数，调整到预定透过率；
多点，选择谱图中多处波数，调整到最大透过率为100%；点击Add键，
利用光标在需要成为基线的波数上点击，选择多个点，完毕后，点击Calc，点击OK确认。

3-5谱图运算
1、与常数之间的四则运算，激活谱图，选择Manipulation 1
（谱图操作1）>Arithmetic（四则运算），选择一种运算(+、-、X、
÷)，输入与之计算的常数值，如图示：
点击，结果显示在下面的窗口，如对结果满意，点击OK。

2、与谱图之间的运算，以差谱为例，激活被减谱图（Source），
选择Manipulation 2（谱图操作2）>Dataset（谱图间运算），从文件
树中选择待减去的谱图（Reference），Factor框中输入因子，点击
，结果显示在下面的窗口，如对结果满意，点击OK。

各运算结
果如下所示：
Add 2 Datasets
Result = Source + Reference x Factor
Subtract 2 Datasets
Result = Source - Reference x Factor
Multiply 2 Datasets
Result = Source * Reference x Factor
Divide 2 Datasets
Result = Source / (Reference x Factor)
第四章定量分析
根据Lambert-Beer's Law，A=εcL，FTIR根据这个公式进行定量分析。

共有几种定量方法：Multipoint calibration curve method（多点校正曲线法）、Multiple Linear Regression method (MLR多线性回归)、Partial Least Squares method(PLS偏最小二乘法)。

点击工具条上键，菜单中选择Analyze Method（分析方法）>Multi Point （多点校正）。

1、充Calibration（校正）表：Name栏输入组分名称，Unit栏输入单位名称；选择文件树
中标准谱图，双击或拖曳谱图至Spectrum栏中，谱图显示于下部窗口中；Concentration栏输入各标准谱图的浓度值。

2、择定量方式：Single wavenumber（单波数）、Peak area（峰面
积）或Peak height（峰高）。

选择单波数法，Wavenumber中输入定量
波数，或点击键用鼠标在谱图中选择。

如图：
3、设置校正曲线参数：Order（曲线次数）选择Linear（一次曲线）、
Square（二次曲线）或Cubic（三次曲线），Origin（原点）选择Ignore
（忽略）、Fit（应用）和Force（强制）。

如图：
4、以上参数设置好后，点击键，校正曲线即显示在右下窗
口中，点击窗口中页，显示校正曲线方程式。

5、测量未知样品：点击窗口中页，选择文件树中未知样
品谱图，双击或拖
曳谱图至表中，测量结果即显示出。

以上方法用于分析单组分样品，进行多组分样品的分析采用MLR多点回归
分析方法。

第五章谱图检索
IRsolution软件中含有IRs ATR Reagent、IRs Polymer和IRs Reagent三个谱库，
共430多张谱图，以供检索。

检索方法如下：
1、激活未知谱图。

2、功能条中Search键
Libraries页中定义使用的谱库；
Parameters页中输入有关检索参数，Maximum hits 中输入显示命中
谱图数量，Minimum quality中输入最小匹配度（HQI分值
0~1000）；Algorithm（运算法则）中选择Pearson（皮尔森）或
Euclidean（欧几里德）；Skip Points（跳读点）中选择4；
3、点击键，显示检索结果。

上半部分是未知谱图，中间
是与之相匹配的谱图，下半部分是检索报告。

第六章打印报告
软件中有常用报告模版，也
可自己创建。

1、激活要打印的谱图。

2、选择File>Print，出现如
图窗口，点击确定，在接下
来的窗口中选择模版报告，点击打开。

3、点击Print打印报告。

4、打印前可选择File>Print Preview预览打印报告。

第七章关机
1、选择File>Exit，退出程序；
2、从计算机桌面的开始菜单中选择关机，出现安全关机提示；
3、关闭计算机电源；
4、关闭仪器电源。

第八章IRsolution 1.10软件菜单组成
File文件
Open打开
Catalog目录
Close关闭
Close All全部关闭
Save保存（GLP模式下不能用）
Save As另存为
Save All全部保存（GLP模式下不能用）
Save in Binder合并谱图，保存于一个文件当中（GLP模式下不能用）
Export变换文件格式输出，将smf 格式文件变换为JCAMP-DX 、ASCII、csv等格式Clear清除
Clear All全部清除
Merge合并，选择树结构中的谱图文件将其显示在当前激活窗口中
Peaktable峰表
Print打印
Print with Form选择打印模版
Print Preview打印预览
Print Setup打印机设置
Exit退出
Edit编辑
Cut剪切，仅对文字编辑有效
Copy复制
Copy All全部复制
Paste粘贴
Paste Special特别粘贴
Select All选择全部
Measurement测量
Initialize初始化
Sample Scan样品扫描
Background Scan背景扫描
Monitor Scan监视扫描
Threshold Scan门槛扫描（用于IRPrestig-21）
Stop停止
Diagnostics诊断
QuickStart Accessories（用于IRPrestig-21）
Sampler取样器
Auto Adjust (Fine)细调
Auto Adjust (Coarse)粗调（用于IRPrestig-21）
Graph谱图
Activate Next激活下一窗口
Cursor光标
Select选择
Zoom放大
Annotation注解
Normal正常
Cross Hair十字丝
Surfing冲浪
Annotation注释
Text本文
Line线
Arrow箭头
Image图像
Y-Axis Mode Y轴模式
Tra透过率
Abs吸光度
Log对数的
Linear线性的
Scale刻度
Stretch X伸展X轴
Shrink X收缩X轴
Stretch Y伸展Y轴
Shrink Y收缩Y轴
Adapt调整，乘一个因子使所有谱图在鼠标所指的位置强度相等
Y-MoveY向移动，加减一个常数使所有谱图在鼠标所指的位置强度相等Shift将谱图延纵轴方向排列
Unshift撤消排列
Expand伸展，沿Y向伸展激活谱图
Compress压缩，沿Y向压缩激活谱图
Reset重新设定
Range谱图范围
Range List范围列表
Store Range储存范围
Prev Range预览范围
Next Range下个范围
Full View放大撤消
All Full全部复原
Autoscale自动大小
Multi Autoscale放大部分自动大小
Compression压缩，定义波数大于2000的范围是否压缩
Overlay Bitmap
Admin管理
Configure Operation Log配置操作日志
View Operation Log显示操作日志
Log Operation日志操作
Reason for Signature签名理由（GLP模式）
Display Signature Record显示签名记录（GLP模式）
Apply Electronic Signature应用电子签名（GLP模式）
Security安全
Change Password更改密码
Manage Users管理用户
Manage Sections管理组
Manipulation 1 谱图操作1
Arithmetic四则运算
Normalize归一化，基线调零后，调整最大吸光度为1Abs或最大透过率为10%
Baseline基线校正
Zero零基线
3 Point三点基线校正
Multipoint多点基线校正
Smooth平滑
Derivative导数
Cut修剪，设置横坐标的区间并弃掉区间以外的部分
Connect连接，用直线代替选定范围的谱图
Datapoints数据点
Reduce减少数据点
Interpolate插入数据点
Horizontal Axis X轴
Frequency Convert频率变换，将横坐标的单位由波数变为波长
X Adjust X 调整
Peaktable峰表
Film Thickness膜厚
Manipulation 2谱图操作2
Dataset谱图间运算
Purity匹配度
Deconvolution去卷积
FFT快速傅立叶变换
Kubelka Munk库贝尔卡—蒙克变换，对以漫反射法测定的红外光谱进行库贝尔卡—蒙克变换，则可得到具有与KBr压片法相同波峰强度比的红外光谱
ATR Correction对ATR谱图进行校正
Kramers Kronig克拉茂—克郎尼变换，将反射谱变换为吸收谱和反射指数谱
Peak Split分峰
Atmosphere Correction大气校正
Search谱库搜索
Add Library增加谱库
New Library新的谱库Remove Library删除谱库Protect Library保护谱库Library Info谱库信息
Text Search本文搜索
Peak Search峰搜索
Spectrum Search光谱搜索Combined Search联合搜索
Quant 定量
New Table新表
Save Table保存表
Save Table As表另存为Calibrate校正
Add Component增加成份Analyze Method分析方法
Multi Point多点校正
PLS偏最小二乘法
MLR多线性回归
Print打印
New Template新建模板Template模板
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Align Top排列顶端
Align Bottom排列底部
Size X调整X轴大小
Size Y调整Y轴大小
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Delete Page删除页Select选择
Image图像
Text本文
Line线
Delete Item删除项目
Window窗口
Split拆分，将重叠图拆分
Extract提取，将激活谱图从重叠图中提取出来Remove移除，不显示激活谱图
Join Visible重叠图
Multi Spectra多谱图
Overlay重叠图
Stack Graph堆叠图
Stack Spectra堆叠光谱
Tile水平堆叠图
Vertical垂直堆叠图
Horizontal Splitted水平分离
Vertical Splitted垂直分离
Overview全图显示
Show Tree View显示文件树
Show Logfile显示日志
Show Parameter显示参数
Show Peak Table显示峰表
Show Bitmap显示位图
Environment环境
File Preferences文件参数选择
File Filters文件过滤器
Instrument Preferences仪器参数选择
Instruments仪器
FTIR红外
Auto Settings自动设定（用于IRPrestig-21）
Atmosphere Correction大气校正
Microscope显微镜
Camera Configuration图象捕获配置
Graph Preferences谱图参数选择
Print Templates打印模版，配置缺省打印模版Manipulation Preferences操作参数选择
Macro Preferences宏参数选择
Autostart自动启动
Customize定制工具条和命令
Help帮助
Help帮助
About有关软件信息
第九章压片机使用说明
准备(参考图1，图2)：
1．保持使用压片机的房间湿度较低；
2．将压片机配件③、⑤表面的油脂用四氯化碳或苯清除（否则得到的样品片有黄色。

），放入干燥器备用；
3．用玛瑙研钵一次研磨大量KBr晶体并过筛，放入烘箱中120~150℃干燥3小时，放入干燥器以备后用；
4．为避免手汗对压片的影响，准备一双白手套，研磨和压片过程中戴手套；
压片操作：
1．取400毫克备用KBr粉末于玛瑙研钵中，加入0.5%~1%样品，在红外灯下研细混匀，放入烘箱中120~150℃干燥1小时；
注意：干燥温度依样品性质而定；
2．使用丙酮（或乙醇、石油醚等溶剂）棉清洗③；
3．配件③光面向上插入①的圆形凹槽，③光面高出①的圆形凹槽约2毫米，将
⑤套在③高出凹槽的部分；
注意：①、③、⑤大小配合，没有间隙，稍有倾斜则装不进去，若装配不顺
利拿出再装，不要硬挤，正常装配时，①、③、⑤之间可以自如旋转；
4．取样品和KBr混合粉末约200毫克，放到③和⑤形成的凹槽中，用抹刀铺平；
5．将另一③光面向下插入⑤的圆孔中，旋转③使粉末均匀平铺（否则所得压片有白斑）；
注意：正常装配时，③、⑤之间可以自如旋转；
6．将⑥准确放在①上，旋转⑥以确认安装正确；
7．将弹簧⑧放在⑥上，④插入⑥中，装配好的压片模具移至压片机下；
8．○P与真空泵相连，压片前抽真空5分钟；（真空泵为选配件）
9．压片机阀门拧至lock, 加压至80KN，停留5~10分钟，停留时间越长压片越透明，但超过10分钟则没有明显变化；
10．压片机阀门拧至open，压片模具移下压片机，拆下④、⑥、⑧；
11．将连接在一起的③、⑤从①上取下，放在⑩上；
12．安装⑥（同步骤6），○11插入⑥中，置于压片机下，（无须抽真空），压片机
11的上檐与⑥接近；
阀门拧至lock，加压至○
13．压片机阀门拧至open，拆下○11和⑥，得到样品的KBr片；
14．用丙酮棉清洗所有与KBr接触过的配件，特别是③和⑤，以免生锈，放入干燥器备用。

警告：
○P拆卸前，真空泵不能停止工作，否则泵油会被倒吸至模具。

○1底座○4模压杆○7 O形垫圈○P气体出口○2 O形垫圈○5压片框架○8弹簧○S KBr样品片○3样品底座○6压片框架
图.1 KBr压片模具组装示意图
○
3 样品底座 ○5 压片框架 ○6 压片框架 ○
10 模压底座 ○11 模压冲杆 图.2 KBr 压片冲压设备组装示意图
第十章 FTIR－8400S日常维护
1．保持室内干燥，南方潮湿地区空调和除湿机必须全天开放；
2．经常检查干燥剂颜色，如果兰色变浅，立即更换；
3．设备停止使用时，样品室内放置盛满干燥剂的培养皿；
4．光路中有激光，开机时严禁眼睛进入光路；
5．放置设备的桌子应稳定（比较沉）、水平，避免震动；
6．干燥剂再生：将干燥剂在烘箱内105℃烘干至兰色（约3小时）即可；7．将压片模具、KBr晶体、液体池及其窗片放在干燥器内备用；
8．液体池使用NaCl、CaF
2、BaF
2
等晶体的用户注意，晶体很脆易碎，小心保存；
9．液体池使用KRS-5的用户注意，KRS-5晶体剧毒，使用时避免直接接触（戴手套），打磨KRS-5晶体时避免接触或吸入KRS-5粉末，打磨废弃物必须妥善处理；
10．备份红外软件，软盘注意写保护。