近场光学扫描显微原理

近场光学扫描显微原理
近场光学扫描显微技术是一种利用近场摄影和透射光学进行影像采集、计算机处理、以及数据分析，用以测定微米级尺度结构表面形貌与力学性质的方法。

它将色散成像和衍射技术相结合，通过近场把现象高度放大，使得以微米级尺度下完整图像可以采回，这也使得它能够测量更加精细的结构形貌与力学性质。

具体来说，近场光学扫描显微技术所收集的影像可以被应用于表面结构的三维重建、材料结构与力学性质的测量、检测微米维度的表面缺陷以及操纵细胞体积的分析。