_第4章+光电探测器概述及光电导探测器

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2 4 KT f 2 In Gt [1 (2f t ) 2 ]
院 光
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温度噪声也具有白噪声的性质。
技 术
Gt
学 院
一、光电探测器的特性参数

原理:光敏电阻阻值对光照特别敏感,是一种典 型的利用光电导效应制成的光电探测器件。当光 照射到半导体材料时,材料吸收光子的能量,使 非传导态电子变为传导态电子,引起载流子浓度 增大,因而导致材料电导率增大。
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一、光电探测器的特性参数



类似有:

I p ( ) S I ( ) e ( )
V p ( ) SV ( ) e ( )
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光谱响应度:就是指不同波长处的响应能力, 又称为光谱灵敏度。 如果探测器对波长为λ的光辐射通量Φ 产生的 输出电流为Ip,则其光谱响应度为:

热释电

技 术
光探测器的物理效应通常分为两类:光电效应和光热效应。
相应的探测器
光电管 光电倍增管 像增强器 光电池 光电二极管 雪崩光电二极管 光电磁探测器 光子牵引探测器
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一、光电探测器的特性参数

Q(t )

而入射的瞬时光辐射能量为:

N Q(t ) / h

t 0 t





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外的测量值。 信噪比:SNR
S N

0
光电探测器的噪声
信号的随机起伏

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白噪声和1/f噪声



通常把噪声这个随机的时间函数进行傅氏频谱分析,得到噪 声功率随频率变化关系,这就是噪声的功率谱s(f)。 根据噪声的功率谱与频率的关系,常见有两种典型情况:一种 是功率谱大小与频率无关的噪声,通常称为白噪声;一种噪声 是功率谱与1/f成正比,称为1/f 噪声。






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技 术
i 4eI ( / )f
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一、光电探测器的特性参数


式中Gt为器件的热导;τt=Ct/Gt是器件的热时间常数,Ct是器 件的热容;T是周围温度(K)。 2 4 KT f 2 2 I 在低频时, (2f t) 《1 n




(4)1/f噪声(电流噪声) 因导电元件内微粒的不均匀性和不必要的微量杂质存在, 当电流流过时,在元件微粒间发生微火化放电而引起的微电爆 脉冲就是1/f噪声的起源。 CI f 2 1/f噪声的经验公式为: in f (5)温度噪声 温度噪声主要存在于热探测器中。在热探测器中,不是 由于辐射信号的变化,而是由器件本身吸收和传导等的热交换 引起的温度起伏称为温度噪声,其表达式为



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一、光电探测器的特性参数






光电测量系统噪声分类

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一般光电检测系统的噪声可分为三类: (1)光子噪声 包括:A.信号辐射产生的噪声;B.背景辐射产生的噪声。 (2)探测器噪声 包括:热噪声;散粒噪声;产生—复合噪声; 1/f 噪声;温度噪声。 (3)信号放大及处理电路噪声



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一、光电探测器的特性参数





线性度——探测器的输出光电流 与输入光的辐射通量成比例的程 度和范围。线性区的下限由暗电 流和噪声等因素决定,而上限通 常由饱和效应可过载决定。



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光照特性——光电流与入射在光电器件上的光照度 之间的关系。

技 术
2.光电特性和光照特性 光电特性——当光电器件上的电压一定时,光电流与 入射在光电器件上的光通量之间的关系。






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无光照时,光敏电阻的阻 值很大,电路中的电流 很小;
有光照时,光生载流子 迅速增加,阻值急剧减 小,在电路中形成电流。
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光敏电阻
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二、光电导器件
组成:它由一块涂在绝缘基底上的光电导材料薄膜
M
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tr
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和两端接有两个引线,封装在带有窗口的金属或塑 料外壳内 。电极和光电导体之间呈欧姆接触。
t0




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光电转换定律 光电探测器的作用是将光辐射能转换成易于测量的电学量, 所以光电探测器实质上是一种光-电转换器件。 考虑能量为的光子入射到光电探测器上所产生的光电流, 如果光子能量大于探测器材料的禁带宽度,在观察时间t内, 它产生的平均光电子数为N,则根据量子理论分析的结果, N与入射的平均光辐射能量成正比,即
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实际器件的响应都具有滞后现象(惰性)。
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一、光电探测器的特性参数
噪声N:除探测信号之
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6.探测器的探测能力
u n (t )
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t
一、光电探测器的特性参数


显然,无法用预先确知的时间 函数来描述它。 为了提高信噪比,可 长时间看,噪声电压从零向上 增大信号值或减小噪 涨和向下落的机会是相等的, 声大小。 其时间平均值一定零。所以用 时间平均值无法描述噪声大小。 然而,噪声本身是统计独立的, 所以能用统计的方法来描述。

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一、光电探测器的特性参数






(1)热噪声(又称电阻噪声或白噪声) 凡有功耗电阻的元件都有热噪声,它来源于电阻内部自由电 子或电荷载流子的不规则的热动。热噪声与温度 T成正比;与 测量仪器的电子带宽Δf成正比,与频率无关。 热噪声均方电流In2和热噪声均方电压Vn2分别由下式决定 In2=4KTΔf/R Vn2=4KTΔfR 式中:K是玻尔兹曼常数;T是温度(K);R是器件电阻值;Δf为 所取的通带宽度(频率范围)。因此,所取的带宽愈大,噪声功 率也愈大。当然并不是带宽无限增大,噪声功率也会无限增大。 在常温下,上式只适合于1012Hz频率以下范围。
P(t )dt

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一、光电探测器的特性参数


式中P为入射光辐射的平均功率。此式描述了光-电转换的基本 定律。 从光电转换定律可知: ①光电探测器输出的光电流与入射平均光功率成正比,因此, 一个光子探测器可视为一个电流源。 ②由于平均光功率与光电场强度的平方成正比,所以光电探测 器输出的光电流也与光电场强度的平方成正比。也就是说,光 电探测器的响应具有平方律特性。因此,通常称光电探测器为 平方律探测器,或者说,光电探测器本质上是一个非线性器件。

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可见光波段最灵敏的光电导器件 峰值波长0.52µm,掺铜和氯后向远红外区域延伸 时间常数与入射照度有关(100lx为几十ms) 用于自动控制灯光、自动调光调焦、自动照相机

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常见光敏电阻 1. 硫化镉(CdS)光敏电阻
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二、光电导器件

锑化铟(InSb)光敏电阻 液氮温度(77K)时峰值波长(5µm),刚好在中红外 波段大气窗口3~5µm范围内 响应时间为1µs 室温下长波极限可达7.5µm 4. 碲镉汞(HgCdTe)光敏电阻 是目前所有探测器中性能最优良、最有前途的探测器 对热红外波段8-14 m大气窗口波段的探测更为重要 ,峰值波长为10.6 m,可与CO2激光器的激光波长相 匹配 是由HgTe和CdTe两种材料的晶体混合制造的,由于配 制Cd组分(x量,一般为1.8-0.4)的不同,可得到不 同的禁带宽度,从而制造出波长响应范围不同的Hg1xCdxTe探测器,1-3 m 、3-5 m 、 8-14 m 是近、中和热红外探测器中性能最优良的探测器

光电导(本征或非本征) 光电管或光敏电阻
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内光电效应


光生伏特 pn结和pin结(反偏) 雪崩、肖特基势垒 光电磁 光子牵引 相应的探测器
(b)光热效应 效应



测辐射热计 负电阻温度系数 正电阻温度系数
热敏电阻测辐热计 金属测辐射热计 超导远红外探测器 热电偶、热电堆 热释电探测器
温差电


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当光辐射突然照射或消失时,探测器的输出信
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5.响应时间
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这些上升或下降的时间就表示了器件惰性的大
小。







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衰减弛豫(下降时间)定义为响应值下降至稳 定值的1 e 时所需的时间,此值约为37%。

起始弛豫(上升时间)定义为响应值上升至稳 定值时所需的时间1 1 e,此值约为63%;
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光电检测技术
技 术
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光电导探测器





光敏电阻应用实例

光敏电阻偏臵电路

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光电探测器的特性参数
技 术
学 院
第4章 光电探测器概述及光电导探测器
光探测器的物理基础
(a)光电效应
效应
光阴极发射光电子 外光电效应 光电子倍增 打拿极倍增

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技 术
4. 等效噪声功率和探测率
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一、光电探测器的特性参数



式中A为器件接收面积,Δf为工作带宽。 D越高,探测器的灵敏度越高,性能越好。



为对不同面积和不同工作带宽的器件进行比较 ,因此引入归一化探测率 D* (比探测率),其 值为 D D A f

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e K e e IP P(t ) P h t h

技 术
式中,P(t)是光辐射的瞬时功率。一般来说,它是一个随机量, 如果P(t)在观察时间t内没有明显的改变,则W(t)P(t) t。由此 可得光电探测器输出的平均光电流表达式:
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一、光电探测器的特性参数
参数,是单位入射功率相应的信噪比,并称之 为探测度: D 1 NEP

技 术
• 用NEP的倒数作为衡量探测器最小可探测能力的
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探测器对变化信号响应快慢的能力。




对周期变化的光强,光电器件的弛豫时间如果 比周期长得多,那么就不能反映光强的变化。


号不会立即到达最大值或下降为零,而是出现 变化缓慢的上升沿和下降沿。上升或下降的时 间就是弛豫时间,或称为响应时间或时间常数 (惰性)。这种弛豫现象表现了光电探测器对 光强变化反应的快慢。
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3.光谱特性 光电流或输出电压与入射光波长之间的关系。
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一、光电探测器的特性参数


• 是可测的信号功率最小值; • 是单位信噪比的入射光功率; • NEP越小,探测器越灵敏。




探测器无信号输入时,也会有噪声输出。 若假设此有效噪声值是相当功率的输入信号 造成的,则此功率值可作为探测器的噪声水 平的衡量。 IN IN IN IN NEP NEP SI I p P SV Vp P







技 术
结构与材料
自由载流子寿命
有效渡越时间
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二、光电导器件


近红外波段灵敏1~3.5μm , 在2μm附近的红外辐射的探测灵敏度很高,因此 ,常用于火灾的探测等领域。 特性与工作温度有关 响应时间太长(室温下为100~300µs)




2. 硫化铅(PbS)光敏电阻

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一、光电探测器的特性参数

(2)散粒噪声 一种由电子或光生载流子的粒子性所引起的噪声。对于内 光电效应探测器:(1)光生载流子(电子,空穴对)的产生和复合 过程的随机性,每一瞬时通过PN结的载流子数总有微小的不规 则起伏,使探测器的输出电流也随之起伏,引起散粒噪声。(2) 此外,光辐射中光子到达率的起伏在某些探测器光电转换后也 表现为散粒噪声。散粒噪声由下式决定: In2=2eIΔf 式中:I为器件输出平均电流。 可以看出,散粒噪声是与频率无关,与带宽有关的白噪声。 (3)产生—复合噪声 在平衡状态时,载流子产生和复 i 2 4eI ( / c )f 合的平均数是一定的,但其瞬间载流子 n 1 4 2 f 2 2 的产生数和复合数是有起伏的,于是载 如果频率低,满足wτ<<1时, 流子浓度的起伏引起光电器件电导率起 伏。在外加电压下,电导率的起伏使输 2 出电流中带有产生-复合噪声。 n c

I P q / hc 0.54mA
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且已知入射光功率 P 2mW ,试计算该光电阴极输出信号光电流的大小。

例:设某光电阴极的量子效率为 25% ,输入光的波长为 1.35 m

光探测器性能参数 1.量子效率η 光电探测器吸收光子产生光电子,光电子形成电流。 I=αр=(ηe/ hυ)P α:光电转换因子,α=ηe/ hυ; P/ hυ:单位时间内入射到探测器表面的光子数 I/e:单位时间内被光子激励的光电子数 η=Ihυ/ep :单位时间内探测器传输出的光电子数与 入射到探测器表面的光子数之比。 对于理想的探测器,η=1,实际上 η<1。 显然,量子效率越高越好,量子效率是一个微观参数。
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