基于单片机的频率特性测试仪设计
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基于单片机的频率特性测试仪设计
韩忠华;马斌;王石;王长涛
【期刊名称】《电子产品世界》
【年(卷),期】2010(017)006
【摘要】本文介绍了基于DDS技术的频率特性测试仪的设计方法.在设计中扫频信号源采用DDS芯片AD9851实现,以单片机AT89C52为控制核心,控制整个系统协调工作并实时对所测数据进行处理,LCD显示幅频特性和相频特性曲线,实现了系统的小型化和全数字化.
【总页数】3页(P29-30,36)
【作者】韩忠华;马斌;王石;王长涛
【作者单位】沈阳建筑大学信息学院,辽宁沈阳,110168;沈阳建筑大学信息学院,辽宁沈阳,110168;沈阳建筑大学信息学院,辽宁沈阳,110168;沈阳建筑大学信息学院,辽宁沈阳,110168
【正文语种】中文
【相关文献】
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